CN100559122C - 带有传感元件的线性阵列的惯性传感器 - Google Patents

带有传感元件的线性阵列的惯性传感器 Download PDF

Info

Publication number
CN100559122C
CN100559122C CNB2005800155143A CN200580015514A CN100559122C CN 100559122 C CN100559122 C CN 100559122C CN B2005800155143 A CNB2005800155143 A CN B2005800155143A CN 200580015514 A CN200580015514 A CN 200580015514A CN 100559122 C CN100559122 C CN 100559122C
Authority
CN
China
Prior art keywords
framework
inertial sensor
bar
flex member
substrate
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CNB2005800155143A
Other languages
English (en)
Other versions
CN1954192A (zh
Inventor
约翰·A·吉恩
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Analog Devices Inc
Original Assignee
Analog Devices Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Analog Devices Inc filed Critical Analog Devices Inc
Publication of CN1954192A publication Critical patent/CN1954192A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN100559122C publication Critical patent/CN100559122C/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C19/00Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
    • G01C19/56Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces
    • G01C19/5719Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces using planar vibrating masses driven in a translation vibration along an axis
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01CMEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C19/00Gyroscopes; Turn-sensitive devices using vibrating masses; Turn-sensitive devices without moving masses; Measuring angular rate using gyroscopic effects
    • G01C19/56Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces
    • G01C19/5719Turn-sensitive devices using vibrating masses, e.g. vibratory angular rate sensors based on Coriolis forces using planar vibrating masses driven in a translation vibration along an axis
    • G01C19/5733Structural details or topology
    • G01C19/574Structural details or topology the devices having two sensing masses in anti-phase motion

Abstract

一种惯性传感器,其包括布置成线性阵列的至少一对传感元件。各传感元件具有框架和悬置在框架内部的可动质量体。各对传感元件的框架可耦合成,允许框架沿平行轴线彼此反相位移动,但基本上防止框架彼此同相位移动。

Description

带有传感元件的线性阵列的惯性传感器
技术领域
本发明总的涉及传感器,更具体地说,本发明涉及惯性传感器。
背景技术
惯性传感器,诸如MEMS陀螺仪,通常会受到驱动频率中的旋转振动(通常称为“摆动”(wobble))的不利影响。特别是,如果MEMS陀螺仪不能区分旋转振动与旨在检测的实际运动,MEMS陀螺仪就可能产生错误的读数。
而且,具有振动质量体、例如陀螺仪的MEMS装置的形状畸变会对横向于纵向驱动指状物(drive finger)的力产生不平衡。这种不平衡会引起不能与科里奥利(Coriolis)力相区别的净力。因而陀螺仪产生假输出。这些形状畸变存在至少两个来源。一个由基板的表面剪切力(例如,切割时的释放/晶片弯曲)引发。另一个是由组件的不均匀膨胀和施加的加速度(例如,对角G×G)引发。G×G误差的一些原因论述在IEEE设计2004年会刊1-6页Geen,J.A.的“集成陀螺仪的进展”中,其全部内容在此引入作为参考。
发明内容
本发明的实施例提供了一种惯性传感器,其具有配置成线性阵列的至少两对传感元件。各传感元件具有框架和悬置在框架内部的可动质量体。各对传感元件的框架可耦合成,允许框架沿平行轴线彼此反相位移动,但基本上防止框架彼此同相位移动。
依照本发明的一个方面,提供了一种惯性传感器,其具有至少一个基板和基本上在所述至少一个基板上方的平面内配置成线性阵列的至少两对传感元件。各对传感元件包括:第一传感元件,其具有悬置在第一框架内部的第一谐振器;和第二传感元件,其具有悬置在第二框架内部的第二谐振器。所有框架大体上沿所述平面内的第一轴线对齐。每一对传感元件的框架配置成沿垂直于第一轴线的平面内的平行轴线彼此反相位移动。
通常使第一和第二谐振器沿第一轴线彼此共线、反相位移动。通常由所述至少一个基板绕垂直于平面的轴线的旋转引起框架运动。
各对传感元件可包括用于将第一和第二框架互连的第一耦合件。第一耦合件可包括耦合在第一和第二框架之间的至少一个杆,所述至少一个杆由锚固到所述至少一个基板的结构支撑,当框架彼此反相位移动时,所述结构允许所述至少一个杆绕一枢转点旋转,但基本上防止框架的同相位运动。
在一个示例性实施例中,第一耦合件包括:从其中一个框架延伸并通过第一长挠曲件(flexure)互连在一起的第一对短挠曲件;从另一个框架延伸并通过第二长挠曲件互连在一起的第二对短挠曲件;大体上在第一和第二长挠曲件的中点处将第一长挠曲件耦合到第二长挠曲件上的杆;和支撑所述杆的锚固挠曲件,锚固挠曲件与所述杆大体上在所述杆和所述锚固挠曲件的中点相交,锚固挠曲件的各个端部锚固到基板上。
在另一个示例性实施例中,第一耦合件包括:从其中一个框架延伸的第一挠曲件;从另一个框架延伸的第二挠曲件;耦合在第一和第二挠曲件之间的杆;和支撑所述杆的至少一个锚固挠曲件,每个锚固挠曲件包括在一端锚固到所述至少一个基板上并向后折叠180度以与杆相抵接的结构。
惯性传感器的布置与谐振器的相位相协调从而共享一个公共的质心。各框架通常包括指状物结构,所述指状物结构与锚固到所述至少一个基板上的、用于静电感知框架运动的固定感知指状物(sensingfinger)交错。各谐振器通常包括指状物结构,所述指状物结构与锚固到所述至少一个基板上的、用于静电移动谐振器的固定驱动指状物交错。
在线性阵列内部,其中一对传感元件的第二框架邻接另一对传感元件的第一框架。这些邻接的框架配置成彼此同相位操作。
依照本发明的另一个方面,提供了一种惯性传感器,其具有至少一个基板和基本上在所述至少一个基板上方的平面内配置成线性阵列的至少两对传感元件。各对传感元件包括:第一传感元件,其具有悬置在第一框架内部的第一谐振器;和第二传感元件,其具有悬置在第二框架内部的第二谐振器。所有框架基本上沿所述平面内的第一轴线对齐。惯性传感器还包括用于沿垂直于第一轴线的平面内的平行轴线彼此反相位操作各对传感元件的框架的装置。
惯性传感器通常还包括用于移动谐振器以便使第一和第二谐振器沿第一轴线彼此共线、反相位移动的装置。所述至少一个基板绕垂直于平面的轴线的旋转引起框架运动。
惯性传感器还可包括用于互连各对传感元件的第一和第二框架的装置。互连装置可包括:耦合在第一和第二框架之间的至少一个杆;和用于支撑所述至少一个杆以便当框架彼此反相位移动时允许所述至少一个杆绕一枢转点旋转、但基本上防止框架同相位运动的装置。
在一个示例性实施例中,互连装置包括:从其中一个框架延伸并通过第一长挠曲件互连在一起的第一对短挠曲件;从另一个框架延伸并通过第二长挠曲件互连在一起的第二对短挠曲件;大体上在第一和第二长挠曲件的中点处将第一长挠曲件耦合到第二长挠曲件上的杆;和支撑所述杆的锚固挠曲件,锚固挠曲件与所述杆大体上在所述杆和所述锚固挠曲件的中点相交,锚固挠曲件的各个端部锚固到基板上。
在另一个示例性实施例中,互连装置可包括:从其中一个框架延伸的第一挠曲件;从另一个框架延伸的第二挠曲件;耦合在第一和第二挠曲件之间的杆;和支撑所述杆的至少一个锚固挠曲件,每个锚固挠曲件包括在一端锚固到所述至少一个基板上并向后折叠180度以与杆相抵接的结构。
惯性传感器的布置与谐振器的相位相协调从而共享一个公共的质心。惯性传感器通常还包括用于感知框架运动的装置。
在线性阵列内部,其中一对传感元件的第二框架邻接另一对传感元件的第一框架。这些邻接的框架配置成彼此同相位操作。
附图说明
参考附图,从下面进一步的说明中将更全面地领会本发明的前述内容和优点,其中:
图1示意显示了依照本发明的示例性实施例配置的陀螺仪线性阵列;
图2示意显示了依照本发明的示例性实施例、用于耦合图1所示的两个框架的耦合设备;
图3示意显示了第一对陀螺仪的另一实施例的补充细节;
图4显示了图3所示的陀螺仪所使用的具体耦合设备的更多细节;和
图5显示了依照本发明的示例性实施例的具体平衡器的更多细节。
附图用于示例性目的,可以不按比例描绘。
具体实施方式
在示例性实施例中,惯性传感器具有配置成线性阵列以便所有传感元件共享一个公共的质心的至少两对单个传感元件。每个传感元件包括框架和悬置在框架内部的至少一个谐振器(质量体)。虽然不是必需的,但是各对传感元件的框架最好由耦合设备互连在一起,所述耦合设备允许框架反相位运动,但基本上防止框架同相位运动。两对传感元件通常不互连在一起。下面详细论述示例性实施例。
图1示意显示了依照本发明示例性实施例配置的微机电系统(即,“MEMS”)的阵列10。具体地说,MEMS装置的阵列10结合在一起,有效地执行单个陀螺仪的功能。为此,阵列10包括四个MEMS陀螺仪12A-D,全部MEMS陀螺仪12A-D都固定到一公共的下伏基板(未显示)上。做为选择,MEMS陀螺仪12A-12D也可以固定到不同的基板上。
每个陀螺仪12A-12D包括至少一个振动质量体(在此分别被称为“谐振器14A、14B、14C或14D”,或统称为“谐振器14”),1)所述至少一个振动质量体以恒定的频率沿X轴振动,2)所述至少一个振动质量体与单个加速度计框架(在此分别被称为“框架16A、16B、16C或16D”,或统称为“框架16”)。举例来说,谐振器14只在X轴方向是顺从(compliant)的,而框架16只在Y轴方向是顺从的。因此,任何一个陀螺仪12A-12D绕Z轴的旋转都使得谐振器14产生施加给加速度计框架16的科里奥利力。一旦接收到该科里奥利力,框架16就沿Y轴移动。电容耦合指状物18检测到该Y轴运动,并将其转换成表示角加速度大小的信号。
在示例性实施例中,陀螺仪12A-12D类似于美国专利号6,505,511和6,122,961中披露的陀螺仪,这些文件披露的全部内容在此引入作为参考。陀螺仪12A-12D也可类似于美国专利号6,877,374中披露的陀螺仪,该文件披露的全部内容在此引入作为参考。
如上所述,在示例性实施例中,不同的陀螺仪12A和12D具有公共的质心,陀螺仪产生反相位信号12B和12C。所以阵列10配置成使得陀螺仪12A-12D的位置以及各自的谐振器14的相位实现该结果。因而具体的放置、陀螺仪12A-12D的数量以及其谐振器14的相位相互协调,以保证它们共享一个公共的质心。
图1显示了产生所要求的结果的示例性配置。特别是,阵列10包括具有第一和第二陀螺仪12A和12B的第一对陀螺仪12A/B和具有第三和第四陀螺仪12C和12D的第二对陀螺仪12C/D。如图所示,各对陀螺仪的谐振器14相位错开180度操作,它们的框架16的耦合方式将在下面论述。但是,第一对陀螺仪12A/B不与第二对陀螺仪12C/D耦合。
当以图1所示的方式定位时,第一陀螺仪12A和第四陀螺仪12D同相位谐振,而第二和第三陀螺仪12B和12C同相位谐振。因此,下列等式成立:
V1+V4=V2+V3,
其中:
V1是第一陀螺仪12A到旋转点的矢量距离,
V2是第二陀螺仪12B到旋转点的矢量距离,
V3是第三陀螺仪12C到旋转点的矢量距离,和
V4是第四陀螺仪12D到旋转点的矢量距离。
注意,考虑该等式时,应当考虑矢量距离的符号。当保持该关系时,陀螺仪总体上变得基本上不再受绕旋转点的角加速度的干扰,这样以致于框架的响应相互匹配。耦合件克服了由制造公差导致的不匹配,从而改善了对角加速度的抑制。
该配置仍然不会不利地影响阵列10检测下方的角速度的设计目的。
因此,本发明的实施例基本上不会受到表面剪切力的干扰,而且如上所述,消除了角加速度噪音。
如上所述,每对传感元件内部的各个框架16以促进操作的方式耦合在一起。具体地说,框架16A和16B通过耦合件99AB耦合在一起,而框架16C和16D通过耦合件99CD耦合在一起(在此统称为“耦合设备99”)。在示例性实施例中,各对框架16耦合在一起,保证它们只能反相位(即,相位错开180度)移动,不过两对框架没有互连在一起。图2示意显示了用于固定两个框架的机械耦合设备99的更多细节。虽然耦合设备99的实施例适用于所示的任何框架16,但是为简单起见,在图2中的框架16标记为第一和第二框架16A和16B。
具体地说,第一框架16A具有与第一长挠曲件22A耦合的第一对短挠曲件20A。相应的,第二框架16B具有与第二长挠曲件22B耦合的第二对短挠曲件20B。杆24将第一长挠曲件22A固定到第二长挠曲件22B上。为了提供一定的稳定性,一对锚固器26A和26B在杆24两侧延伸,并借助于锚固挠曲件28与杆24相耦合。
当两个框架被促使成同相位移动时,该配置基本上是不顺从的。相反,当两个框架被促使成反相位移动时,该配置基本上是顺从的。换句话说,当第一框架16A被促使成沿Y轴向上运动时,第二框架16B被促使成沿Y轴向下运动。但是,如果两者都被促使成沿Y轴向上运动,该配置将基本上是不顺从的。在有些实施例中,当框架16A和16B在Y轴方向移动时,该配置允许框架16A和16B旋转一定程度。
图3示意显示了第一对框架16A和16B的另一实施例的补充细节。如图所示,该实施例也具有谐振器14、框架16、耦合设备以及其他类似于如上所述的部件。图4显示了图3所示的具体耦合设备的更多细节。注意,耦合设备可以与其他陀螺仪构造一起使用,包括图1所示的那些陀螺仪构造。
如图4所示,锚固挠曲件28大体上向外延伸,然后向后折叠180度,与杆24相抵接。另外,耦合设备还具有刻蚀补偿器。看图4的文字,注意,折叠的锚固挠曲件28允许杆24绕一枢转点旋转,但不允许垂直于杆24的轴线平移。而且,该实施例不具有各框架上的一对短挠曲件20,而是使用了各框架上的单个短挠曲件20。
除保证框架16A和16B反相位移动之外,该挠曲件配置还能减少材料收缩和G×G(G cross G)误差的潜在不利影响。该G×G误差在框架同相位运动的时候产生,该误差由耦合件抑制或降低。
该耦合设备99有效地增加了质量和对框架16的运动的刚性。由于各框架仅仅沿其一侧耦合到邻接框架上,该耦合设备99实际上打破了各框架运动的平衡。所以,阵列10最好包括若干平衡器(在此分别被称为“平衡器97A、97B、97C和97D”,或统称为“平衡器97”),以帮助补偿该耦合设备99的效应。具体地说,平衡器97最好耦合到与耦合设备99相对的各框架一侧。因此,平衡器97A沿与耦合件99AB相对的一侧耦合到框架16A上,平衡器97B沿与耦合件99AB相对的一侧耦合到框架16B上,平衡器97C沿与耦合件99CD相对的一侧耦合到框架16C上,平衡器97D沿与耦合件99CD相对的一侧耦合到框架16D上。各平衡器97的构造通常为耦合设备99的一半的等同物,因此在各自的框架16上基本上赋予了相等但相反的机械作用。
图5显示了依照本发明的示例性实施例的具体平衡器97(在该例子中,为坐落于两对传感元件之间的平衡器97B和97C)的更多细节。如图所示,各平衡器97的构造基本上为如图4所示的耦合设备的一半的等同物。应当指出,与耦合设备99不同,在两个相邻的平衡器97B和97C之间没有耦合件。
在示例性实施例中,加速度计在大约17伏运转。
在不脱离本发明的真实的范围的情况下,本发明可以包含其他的特定形式。所述的这些实施例在各个方面都被仅仅认为是示例性的,而非限制性的。

Claims (21)

1.一种惯性传感器,其包括:
至少一个基板;和
在所述至少一个基板上方的平面内配置成线性阵列的至少两对传感元件,各对传感元件包括:
第一传感元件,其具有悬置在第一框架内部的第一谐振器;和
第二传感元件,其具有悬置在第二框架内部的第二谐振器,其中:
所有框架沿位于所述至少一个基板上方的所述平面内的第一轴线对齐,每一对传感元件的框架配置成沿平行轴线彼此反相位移动,其中所述平行轴线位于所述至少一个基板上方的平面内,并且所述平行轴线垂直于所述第一轴线。
2.如权利要求1所述的惯性传感器,其中,第一和第二谐振器沿第一轴线彼此共线地、反相位地移动。
3.如权利要求1所述的惯性传感器,其中,所述至少一个基板绕垂直于所述至少一个基板上方的平面的轴线的旋转引起框架运动。
4.如权利要求1所述的惯性传感器,其中,各对传感元件还包括:
将第一和第二框架互连的第一耦合件。
5.如权利要求4所述的惯性传感器,其中,第一耦合件包括:
耦合在第一和第二框架之间的至少一个杆,所述至少一个杆由锚固到所述至少一个基板上的结构支撑,当框架彼此反相位移动时,所述结构允许所述至少一个杆绕一枢转点旋转,但防止框架的同相位运动。
6.如权利要求5所述的惯性传感器,其中,第一耦合件包括:
从其中一个框架延伸并通过第一长挠曲件互连在一起的第一对短挠曲件;
从另一个框架延伸并通过第二长挠曲件互连在一起的第二对短挠曲件;
在第一和第二长挠曲件的中点处将第一长挠曲件耦合到第二长挠曲件上的杆;和
支撑所述杆的锚固挠曲件,锚固挠曲件与所述杆在所述杆和所述锚固挠曲件的中点相交,锚固挠曲件的各个端部锚固到基板上。
7.如权利要求5所述的惯性传感器,其中,第一耦合件包括:
从其中一个框架延伸的第一挠曲件;
从另一个框架延伸的第二挠曲件;
耦合在第一和第二挠曲件之间的杆;和
支撑所述杆的至少一个锚固挠曲件,各锚固挠曲件包括在一端锚固到所述至少一个基板上并向后折叠180度以与杆相抵接的结构。
8.如权利要求1所述的惯性传感器,其中,惯性传感器的布置与谐振器的相位相协调,从而所有的传感元件共享一个公共的质心。
9.如权利要求1所述的惯性传感器,其中,各框架包括指状物结构,所述指状物结构与锚固到所述至少一个基板上的、用于静电感知框架的运动的固定感知指状物交错。
10.如权利要求1所述的惯性传感器,其中,各谐振器包括指状物结构,所述指状物结构与锚固到所述至少一个基板上的、用于静电移动谐振器的固定驱动指状物交错。
11.如权利要求1所述的惯性传感器,其中,一对传感元件的第二框架邻接于另一对传感元件的第一框架,以及其中所述邻接的框架配置成彼此同相位移动。
12.一种惯性传感器,其包括:
至少一个基板;和
在所述至少一个基板上方的平面内配置成线性阵列的至少两对传感元件,各对传感元件包括:
第一传感元件,其具有悬置在第一框架内部的第一谐振器;和
第二传感元件,其具有悬置在第二框架内部的第二谐振器,其中:
所有框架沿位于所述至少一个基板上方的所述平面内的第一轴线对齐,以及其中惯性传感器还包括用于允许各对传感元件的框架沿平行轴线彼此反相位移动的装置,其中,所述平行轴线位于所述至少一个基板上方的平面内,并且所述平行轴线垂直于所述第一轴线。
13.如权利要求12所述的惯性传感器,还包括:
用于移动谐振器以便使第一和第二谐振器沿第一轴线彼此共线地、反相位地移动的装置。
14.如权利要求12所述的惯性传感器,其中,所述至少一个基板绕垂直于所述至少一个基板上方的平面的轴线的旋转引起框架运动。
15.如权利要求12所述的惯性传感器,还包括:
用于将各对传感元件的第一和第二框架互连的装置。
16.如权利要求15所述的惯性传感器,其中,互连装置包括:
耦合在第一和第二框架之间的至少一个杆;和
用于支撑所述至少一个杆以便当框架彼此反相位移动时允许所述至少一个杆绕一枢转点旋转、但防止框架同相位运动的装置。
17.如权利要求16所述的惯性传感器,其中,互连装置包括:
从其中一个框架延伸并通过第一长挠曲件互连在一起的第一对短挠曲件;
从另一个框架延伸并通过第二长挠曲件互连在一起的第二对短挠曲件;
在第一和第二长挠曲件的中点处将第一长挠曲件耦合到第二长挠曲件上的杆;和
支撑所述杆的锚固挠曲件,锚固挠曲件与所述杆在所述杆和所述锚固挠曲件的中点相交,锚固挠曲件的各个端部锚固到基板上。
18.如权利要求16所述的惯性传感器,其中,互连装置包括:
从其中一个框架延伸的第一挠曲件;
从另一个框架延伸的第二挠曲件;
耦合在第一和第二挠曲件之间的杆;和
支撑所述杆的至少一个锚固挠曲件,每个锚固挠曲件包括在一端锚固到所述至少一个基板上并向后折叠180度以与杆相抵接的结构。
19.如权利要求12所述的惯性传感器,其中,惯性传感器的布置与谐振器的相位相协调,从而所有传感元件共享一个公共的质心。
20.如权利要求12所述的惯性传感器,其中,各框架包括指状物结构,所述指状物结构与锚固到所述至少一个基板上的、用于静电感知框架的运动的固定感知指状物交错。
21.如权利要求12所述的惯性传感器,其中,一对传感元件的第二框架邻接于另一对传感元件的第一框架,以及其中所述邻接的框架配置成彼此同相位移动。
CNB2005800155143A 2004-04-14 2005-04-14 带有传感元件的线性阵列的惯性传感器 Expired - Fee Related CN100559122C (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US56193104P 2004-04-14 2004-04-14
US60/561,931 2004-04-14

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN1954192A CN1954192A (zh) 2007-04-25
CN100559122C true CN100559122C (zh) 2009-11-11

Family

ID=34966348

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2005800155590A Expired - Fee Related CN1954193B (zh) 2004-04-14 2005-04-14 用于惯性传感器的耦合设备
CNB2005800155143A Expired - Fee Related CN100559122C (zh) 2004-04-14 2005-04-14 带有传感元件的线性阵列的惯性传感器

Family Applications Before (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN2005800155590A Expired - Fee Related CN1954193B (zh) 2004-04-14 2005-04-14 用于惯性传感器的耦合设备

Country Status (5)

Country Link
US (2) US7347094B2 (zh)
EP (2) EP1735590B1 (zh)
JP (2) JP4512636B2 (zh)
CN (2) CN1954193B (zh)
WO (2) WO2005103620A1 (zh)

Families Citing this family (72)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1735590B1 (en) * 2004-04-14 2013-11-27 Analog Devices, Inc. Coupling apparatus for inertial sensors
US7478557B2 (en) * 2004-10-01 2009-01-20 Analog Devices, Inc. Common centroid micromachine driver
EP1645847B1 (en) * 2004-10-08 2014-07-02 STMicroelectronics Srl Temperature compensated micro-electromechanical device and method of temperature compensation in a micro-electromechanical device
US7421897B2 (en) * 2005-04-14 2008-09-09 Analog Devices, Inc. Cross-quad and vertically coupled inertial sensors
FR2895501B1 (fr) * 2005-12-23 2008-02-29 Commissariat Energie Atomique Microsysteme, plus particulierement microgyrometre, avec au moins deux massesm oscillantes couplees mecaniquement
US7653214B2 (en) * 2006-01-17 2010-01-26 Avago Technologies Ecbu Ip (Singapore) Pte. Ltd. Accelerometer utilizing image-based movement tracking
KR20090052832A (ko) 2006-03-10 2009-05-26 콘티넨탈 테베스 아게 운트 코. 오하게 커플링 바를 구비한 회전 속도 센서
JPWO2008032415A1 (ja) * 2006-09-15 2010-01-21 株式会社日立製作所 角速度センサ
US8042396B2 (en) 2007-09-11 2011-10-25 Stmicroelectronics S.R.L. Microelectromechanical sensor with improved mechanical decoupling of sensing and driving modes
US8733952B2 (en) 2008-06-17 2014-05-27 The Invention Science Fund I, Llc Methods and systems for coordinated use of two or more user responsive projectors
US8936367B2 (en) 2008-06-17 2015-01-20 The Invention Science Fund I, Llc Systems and methods associated with projecting in response to conformation
US8384005B2 (en) 2008-06-17 2013-02-26 The Invention Science Fund I, Llc Systems and methods for selectively projecting information in response to at least one specified motion associated with pressure applied to at least one projection surface
US8540381B2 (en) 2008-06-17 2013-09-24 The Invention Science Fund I, Llc Systems and methods for receiving information associated with projecting
US8430515B2 (en) 2008-06-17 2013-04-30 The Invention Science Fund I, Llc Systems and methods for projecting
US8955984B2 (en) 2008-06-17 2015-02-17 The Invention Science Fund I, Llc Projection associated methods and systems
US8608321B2 (en) 2008-06-17 2013-12-17 The Invention Science Fund I, Llc Systems and methods for projecting in response to conformation
US8308304B2 (en) 2008-06-17 2012-11-13 The Invention Science Fund I, Llc Systems associated with receiving and transmitting information related to projection
US8723787B2 (en) 2008-06-17 2014-05-13 The Invention Science Fund I, Llc Methods and systems related to an image capture projection surface
US8944608B2 (en) 2008-06-17 2015-02-03 The Invention Science Fund I, Llc Systems and methods associated with projecting in response to conformation
US8267526B2 (en) 2008-06-17 2012-09-18 The Invention Science Fund I, Llc Methods associated with receiving and transmitting information related to projection
US8641203B2 (en) 2008-06-17 2014-02-04 The Invention Science Fund I, Llc Methods and systems for receiving and transmitting signals between server and projector apparatuses
US20090310038A1 (en) 2008-06-17 2009-12-17 Searete Llc, A Limited Liability Corporation Of The State Of Delaware Projection in response to position
US20090309826A1 (en) 2008-06-17 2009-12-17 Searete Llc, A Limited Liability Corporation Of The State Of Delaware Systems and devices
US8187902B2 (en) 2008-07-09 2012-05-29 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. High performance sensors and methods for forming the same
US7980133B2 (en) * 2008-08-19 2011-07-19 Analog Devices, Inc. Method and apparatus for a micromachined multisensor
IT1391972B1 (it) 2008-11-26 2012-02-02 St Microelectronics Rousset Giroscopio microelettromeccanico con movimento di azionamento rotatorio e migliorate caratteristiche elettriche
IT1391973B1 (it) 2008-11-26 2012-02-02 St Microelectronics Rousset Giroscopio microelettromeccanico mono o biassiale con aumentata sensibilita' al rilevamento di velocita' angolari
ITTO20090489A1 (it) 2008-11-26 2010-12-27 St Microelectronics Srl Circuito di lettura per un giroscopio mems multi-asse avente direzioni di rilevamento inclinate rispetto agli assi di riferimento, e corrispondente giroscopio mems multi-asse
IT1392741B1 (it) 2008-12-23 2012-03-16 St Microelectronics Rousset Giroscopio microelettromeccanico con migliorata reiezione di disturbi di accelerazione
FI20095201A0 (fi) * 2009-03-02 2009-03-02 Vti Technologies Oy Värähtelevä mikromekaaninen kulmanopeusanturi
US8256290B2 (en) * 2009-03-17 2012-09-04 Minyao Mao Tri-axis angular rate sensor
IT1394007B1 (it) 2009-05-11 2012-05-17 St Microelectronics Rousset Struttura microelettromeccanica con reiezione migliorata di disturbi di accelerazione
US9097524B2 (en) 2009-09-11 2015-08-04 Invensense, Inc. MEMS device with improved spring system
US8534127B2 (en) 2009-09-11 2013-09-17 Invensense, Inc. Extension-mode angular velocity sensor
DE102009046506B4 (de) 2009-11-06 2024-01-18 Robert Bosch Gmbh Drehratensensor
ITTO20091042A1 (it) * 2009-12-24 2011-06-25 St Microelectronics Srl Giroscopio integrato microelettromeccanico con migliorata struttura di azionamento
DE102010042438B4 (de) * 2010-01-27 2013-09-26 Robert Bosch Gmbh Sensoranordnung
ITTO20110806A1 (it) 2011-09-12 2013-03-13 St Microelectronics Srl Dispositivo microelettromeccanico integrante un giroscopio e un accelerometro
US9291638B2 (en) * 2012-01-20 2016-03-22 Mcube, Inc. Substrate curvature compensation methods and apparatus
RU2486469C1 (ru) * 2012-01-31 2013-06-27 Открытое акционерное общество "Концерн "Центральный научно-исследовательский институт "Электроприбор" Способ подавления ложного сигнала в измерителе угловой скорости с микромеханическими гироскопами
US9464896B2 (en) 2012-06-22 2016-10-11 National Institute Of Advanced Industrial Science And Technology Device for measuring rotation angle acceleration
CN102928622B (zh) * 2012-10-17 2014-03-05 中北大学 梁岛塔形压阻式三轴mems高量程加速度传感器阵列
FI125696B (en) * 2013-09-11 2016-01-15 Murata Manufacturing Co Gyroscope structure and gyroscope with improved quadrature compensation
FI125695B (en) * 2013-09-11 2016-01-15 Murata Manufacturing Co Improved gyroscope construction and gyroscope
US9404747B2 (en) 2013-10-30 2016-08-02 Stmicroelectroncs S.R.L. Microelectromechanical gyroscope with compensation of quadrature error drift
JP6248576B2 (ja) * 2013-11-25 2017-12-20 セイコーエプソン株式会社 機能素子、電子機器、および移動体
JP6189792B2 (ja) * 2014-05-19 2017-08-30 日立オートモティブシステムズ株式会社 角速度センサ
US10038443B2 (en) * 2014-10-20 2018-07-31 Ford Global Technologies, Llc Directional proximity switch assembly
WO2016097127A1 (en) * 2014-12-18 2016-06-23 Acreo Swedish Ict Ab A quadrature compensation method for mems gyroscopes and a gyroscope sensor
US20160370180A1 (en) * 2015-06-17 2016-12-22 Freescale Semiconductor, Inc. Inertial sensor with couple spring for common mode rejection
WO2017048839A1 (en) * 2015-09-14 2017-03-23 The Regents Of The University Of Michigan High-performance inertial measurements using a redundant array of inexpensive inertial sensors
ITUB20159197A1 (it) * 2015-12-29 2017-06-29 St Microelectronics Srl Giroscopio microelettromeccanico con reiezione di disturbi e metodo di rilevamento di una velocita' angolare
US10696541B2 (en) * 2016-05-26 2020-06-30 Honeywell International Inc. Systems and methods for bias suppression in a non-degenerate MEMS sensor
US10514259B2 (en) 2016-08-31 2019-12-24 Analog Devices, Inc. Quad proof mass MEMS gyroscope with outer couplers and related methods
US10697774B2 (en) 2016-12-19 2020-06-30 Analog Devices, Inc. Balanced runners synchronizing motion of masses in micromachined devices
US10627235B2 (en) 2016-12-19 2020-04-21 Analog Devices, Inc. Flexural couplers for microelectromechanical systems (MEMS) devices
US10415968B2 (en) 2016-12-19 2019-09-17 Analog Devices, Inc. Synchronized mass gyroscope
US10330476B2 (en) 2017-07-12 2019-06-25 Nxp Usa, Inc. Angular rate sensor with in-phase motion suppression structure
JP7013774B2 (ja) * 2017-09-29 2022-02-01 セイコーエプソン株式会社 物理量センサー、慣性計測装置、移動体測位装置、携帯型電子機器、電子機器および移動体
JP7215607B2 (ja) * 2017-09-29 2023-01-31 セイコーエプソン株式会社 物理量センサー、慣性計測装置、移動体測位装置、携帯型電子機器、電子機器および移動体
JP7135291B2 (ja) * 2017-10-24 2022-09-13 セイコーエプソン株式会社 物理量センサー、慣性計測装置、移動体測位装置、電子機器および移動体
JP7159548B2 (ja) * 2017-11-28 2022-10-25 セイコーエプソン株式会社 物理量センサー、物理量センサーデバイス、複合センサーデバイス、慣性計測装置、移動体測位装置、携帯型電子機器、電子機器および移動体
US10948294B2 (en) 2018-04-05 2021-03-16 Analog Devices, Inc. MEMS gyroscopes with in-line springs and related systems and methods
TWI689708B (zh) 2018-12-24 2020-04-01 財團法人工業技術研究院 具監測功能的振動感測器及其振動訊號監測方法
US11846508B2 (en) 2020-05-25 2023-12-19 Murata Manufacturing Co., Ltd. Gyroscope with mass pairs
US11193771B1 (en) * 2020-06-05 2021-12-07 Analog Devices, Inc. 3-axis gyroscope with rotational vibration rejection
EP4162281A1 (en) 2020-06-08 2023-04-12 Analog Devices, Inc. Stress-relief mems gyroscope
US11692825B2 (en) 2020-06-08 2023-07-04 Analog Devices, Inc. Drive and sense stress relief apparatus
US11519726B2 (en) 2020-06-19 2022-12-06 Analog Devices, Inc. Mechanism for selective coupling in microelectromechanical systems inertial sensors
JP7215606B2 (ja) * 2020-07-22 2023-01-31 セイコーエプソン株式会社 物理量センサーおよび電子機器
US11698257B2 (en) 2020-08-24 2023-07-11 Analog Devices, Inc. Isotropic attenuated motion gyroscope
US11525680B2 (en) 2021-02-17 2022-12-13 Nxp Usa, Inc. Angular rate sensor with centrally positioned coupling structures

Family Cites Families (102)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2309853A (en) * 1941-04-10 1943-02-02 Sperry Gyroscope Co Inc Rate and attitude indicating instrument
US4381672A (en) * 1981-03-04 1983-05-03 The Bendix Corporation Vibrating beam rotation sensor
US4654663A (en) * 1981-11-16 1987-03-31 Piezoelectric Technology Investors, Ltd. Angular rate sensor system
US4510802A (en) * 1983-09-02 1985-04-16 Sundstrand Data Control, Inc. Angular rate sensor utilizing two vibrating accelerometers secured to a parallelogram linkage
US4524619A (en) * 1984-01-23 1985-06-25 Piezoelectric Technology Investors, Limited Vibratory angular rate sensor system
US4598585A (en) * 1984-03-19 1986-07-08 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Planar inertial sensor
US4744249A (en) * 1985-07-25 1988-05-17 Litton Systems, Inc. Vibrating accelerometer-multisensor
US4744248A (en) * 1985-07-25 1988-05-17 Litton Systems, Inc. Vibrating accelerometer-multisensor
US4884446A (en) 1987-03-12 1989-12-05 Ljung Per B Solid state vibrating gyro
US5195371A (en) * 1988-01-13 1993-03-23 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Semiconductor chip transducer
US5216490A (en) * 1988-01-13 1993-06-01 Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Bridge electrodes for microelectromechanical devices
US5111693A (en) * 1988-01-13 1992-05-12 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Motion restraints for micromechanical devices
US5016072A (en) * 1988-01-13 1991-05-14 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Semiconductor chip gyroscopic transducer
US5025346A (en) * 1989-02-17 1991-06-18 Regents Of The University Of California Laterally driven resonant microstructures
US5056366A (en) * 1989-12-26 1991-10-15 Litton Systems, Inc. Piezoelectric vibratory rate sensor
US5144184A (en) * 1990-01-26 1992-09-01 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Micromechanical device with a trimmable resonant frequency structure and method of trimming same
US5016076A (en) * 1990-02-28 1991-05-14 At&T Bell Laboratories Lateral MOS controlled thyristor
US5537144A (en) * 1990-06-11 1996-07-16 Revfo, Inc. Electro-optical display system for visually displaying polarized spatially multiplexed images of 3-D objects for use in stereoscopically viewing the same with high image quality and resolution
US6155115A (en) 1991-01-02 2000-12-05 Ljung; Per Vibratory angular rate sensor
US5205171A (en) * 1991-01-11 1993-04-27 Northrop Corporation Miniature silicon accelerometer and method
US5241861A (en) * 1991-02-08 1993-09-07 Sundstrand Corporation Micromachined rate and acceleration sensor
US6295870B1 (en) * 1991-02-08 2001-10-02 Alliedsignal Inc. Triaxial angular rate and acceleration sensor
DE4106288C2 (de) * 1991-02-28 2001-05-31 Bosch Gmbh Robert Sensor zur Messung von Drücken oder Beschleunigungen
DE4107658A1 (de) 1991-03-09 1992-09-17 Bosch Gmbh Robert Montageverfahren fuer mikromechanische sensoren
ATE143489T1 (de) * 1991-03-12 1996-10-15 New Sd Inc Stimmgabelinertialsensor mit einem ende und verfahren
US5203208A (en) * 1991-04-29 1993-04-20 The Charles Stark Draper Laboratory Symmetrical micromechanical gyroscope
US5331852A (en) * 1991-09-11 1994-07-26 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Electromagnetic rebalanced micromechanical transducer
US5635639A (en) * 1991-09-11 1997-06-03 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Micromechanical tuning fork angular rate sensor
US5359893A (en) * 1991-12-19 1994-11-01 Motorola, Inc. Multi-axes gyroscope
US5329815A (en) * 1991-12-19 1994-07-19 Motorola, Inc. Vibration monolithic gyroscope
US5313835A (en) * 1991-12-19 1994-05-24 Motorola, Inc. Integrated monolithic gyroscopes/accelerometers with logic circuits
US5377544A (en) * 1991-12-19 1995-01-03 Motorola, Inc. Rotational vibration gyroscope
US5408877A (en) * 1992-03-16 1995-04-25 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Micromechanical gyroscopic transducer with improved drive and sense capabilities
US5349855A (en) * 1992-04-07 1994-09-27 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Comb drive micromechanical tuning fork gyro
US5767405A (en) * 1992-04-07 1998-06-16 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Comb-drive micromechanical tuning fork gyroscope with piezoelectric readout
GB9212099D0 (en) * 1992-06-06 1992-07-22 Lucas Ind Plc Angular rate sensor and method of production thereof
US5734105A (en) * 1992-10-13 1998-03-31 Nippondenso Co., Ltd. Dynamic quantity sensor
US5367217A (en) * 1992-11-18 1994-11-22 Alliedsignal Inc. Four bar resonating force transducer
US5650568A (en) * 1993-02-10 1997-07-22 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Gimballed vibrating wheel gyroscope having strain relief features
US5555765A (en) * 1993-02-10 1996-09-17 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Gimballed vibrating wheel gyroscope
US5492596A (en) * 1994-02-04 1996-02-20 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Method of making a micromechanical silicon-on-glass tuning fork gyroscope
US5481914A (en) * 1994-03-28 1996-01-09 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Electronics for coriolis force and other sensors
DE4414237A1 (de) * 1994-04-23 1995-10-26 Bosch Gmbh Robert Mikromechanischer Schwinger eines Schwingungsgyrometers
US5987986A (en) * 1994-07-29 1999-11-23 Litton Systems, Inc. Navigation grade micromachined rotation sensor system
US5646348A (en) * 1994-08-29 1997-07-08 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Micromechanical sensor with a guard band electrode and fabrication technique therefor
US5581035A (en) 1994-08-29 1996-12-03 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Micromechanical sensor with a guard band electrode
DE4431338C2 (de) * 1994-09-02 2003-07-31 Bosch Gmbh Robert Beschleunigungssensor
US5530342A (en) * 1994-09-30 1996-06-25 Rockwell International Corporation Micromachined rate sensor comb drive device and method
JP3412293B2 (ja) * 1994-11-17 2003-06-03 株式会社デンソー 半導体ヨーレートセンサおよびその製造方法
DE4442033C2 (de) * 1994-11-25 1997-12-18 Bosch Gmbh Robert Drehratensensor
US5763781A (en) * 1995-02-23 1998-06-09 Netzer; Yishay Coupled resonator vibratory rate sensor
GB2301671B (en) * 1995-05-30 1999-10-13 Allied Signal Inc Angular rate sensor electronic balance
US5635638A (en) * 1995-06-06 1997-06-03 Analog Devices, Inc. Coupling for multiple masses in a micromachined device
US5635640A (en) * 1995-06-06 1997-06-03 Analog Devices, Inc. Micromachined device with rotationally vibrated masses
US6064169A (en) * 1995-10-11 2000-05-16 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Motor amplitude control circuit in conductor-on-insulator tuning fork gyroscope
US5747961A (en) * 1995-10-11 1998-05-05 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Beat frequency motor position detection scheme for tuning fork gyroscope and other sensors
US5600065A (en) * 1995-10-25 1997-02-04 Motorola, Inc. Angular velocity sensor
JPH09196682A (ja) * 1996-01-19 1997-07-31 Matsushita Electric Ind Co Ltd 角速度センサと加速度センサ
JP3039364B2 (ja) * 1996-03-11 2000-05-08 株式会社村田製作所 角速度センサ
US5880369A (en) * 1996-03-15 1999-03-09 Analog Devices, Inc. Micromachined device with enhanced dimensional control
US5992233A (en) 1996-05-31 1999-11-30 The Regents Of The University Of California Micromachined Z-axis vibratory rate gyroscope
US6250156B1 (en) * 1996-05-31 2001-06-26 The Regents Of The University Of California Dual-mass micromachined vibratory rate gyroscope
US5696323A (en) 1996-06-25 1997-12-09 Alliedsignal, Inc. Two bar resonant beam Coriolis rate sensor
US5795988A (en) * 1996-07-01 1998-08-18 Alliedsignal Inc. Gyroscope noise reduction and drift compensation
JP3702412B2 (ja) * 1996-07-29 2005-10-05 アイシン精機株式会社 角速度検出装置
JPH1047966A (ja) * 1996-07-31 1998-02-20 Aisin Seiki Co Ltd 角速度センサ
DE19641284C1 (de) * 1996-10-07 1998-05-20 Inst Mikro Und Informationstec Drehratensensor mit entkoppelten orthogonalen Primär- und Sekundärschwingungen
US5892153A (en) * 1996-11-21 1999-04-06 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Guard bands which control out-of-plane sensitivities in tuning fork gyroscopes and other sensors
DE19648425C1 (de) * 1996-11-22 1998-01-02 Siemens Ag Drehratensensor
GB2320571B (en) * 1996-12-20 2000-09-27 Aisin Seiki Semiconductor micromachine and manufacturing method thereof
US5955668A (en) * 1997-01-28 1999-09-21 Irvine Sensors Corporation Multi-element micro gyro
US5911156A (en) * 1997-02-24 1999-06-08 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Split electrode to minimize charge transients, motor amplitude mismatch errors, and sensitivity to vertical translation in tuning fork gyros and other devices
US5783973A (en) * 1997-02-24 1998-07-21 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Temperature insensitive silicon oscillator and precision voltage reference formed therefrom
DE19827688A1 (de) * 1997-06-20 1999-01-28 Aisin Seiki Winkelgeschwindigkeitssensor
US6032531A (en) * 1997-08-04 2000-03-07 Kearfott Guidance & Navigation Corporation Micromachined acceleration and coriolis sensor
US6122961A (en) * 1997-09-02 2000-09-26 Analog Devices, Inc. Micromachined gyros
US6070464A (en) * 1997-09-05 2000-06-06 Motorola, Inc. Sensing structure comprising a movable mass and a self-test structure
EP1023607A2 (en) * 1997-10-14 2000-08-02 Irvine Sensors Corporation Multi-element micro gyro
JP3262082B2 (ja) * 1997-10-16 2002-03-04 株式会社豊田中央研究所 振動式角速度検出器
US6230563B1 (en) * 1998-06-09 2001-05-15 Integrated Micro Instruments, Inc. Dual-mass vibratory rate gyroscope with suppressed translational acceleration response and quadrature-error correction capability
US5920012A (en) * 1998-06-16 1999-07-06 Boeing North American Micromechanical inertial sensor
JP3882973B2 (ja) * 1998-06-22 2007-02-21 アイシン精機株式会社 角速度センサ
US6009751A (en) * 1998-10-27 2000-01-04 Ljung; Bo Hans Gunnar Coriolis gyro sensor
US6164134A (en) 1999-01-29 2000-12-26 Hughes Electronics Corporation Balanced vibratory gyroscope and amplitude control for same
JP4126833B2 (ja) 1999-03-12 2008-07-30 株式会社デンソー 角速度センサ装置
US6189381B1 (en) * 1999-04-26 2001-02-20 Sitek, Inc. Angular rate sensor made from a structural wafer of single crystal silicon
US6289733B1 (en) * 1999-05-12 2001-09-18 Hughes Electronics Corporation Planar vibratory gyroscopes
US6257059B1 (en) * 1999-09-24 2001-07-10 The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. Microfabricated tuning fork gyroscope and associated three-axis inertial measurement system to sense out-of-plane rotation
US6311555B1 (en) * 1999-11-17 2001-11-06 American Gnc Corporation Angular rate producer with microelectromechanical system technology
FR2808264B1 (fr) * 2000-04-28 2002-06-07 Commissariat Energie Atomique Structure mecanique micro-usinee et dispositif incorporant la structure
US6516666B1 (en) * 2000-09-19 2003-02-11 Motorola, Inc. Yaw rate motion sensor
JP4568997B2 (ja) * 2000-12-05 2010-10-27 株式会社豊田中央研究所 加加速度センサ
US6742389B2 (en) * 2001-01-24 2004-06-01 The Regents Of The University Of Michigan Filter-based method and system for measuring angular speed of an object
JP2003185482A (ja) * 2001-12-17 2003-07-03 Yokogawa Electric Corp コリオリ質量流量計
JP3870895B2 (ja) * 2002-01-10 2007-01-24 株式会社村田製作所 角速度センサ
US6860151B2 (en) * 2003-02-07 2005-03-01 Honeywell International Inc. Methods and systems for controlling movement within MEMS structures
US6767758B1 (en) * 2003-04-28 2004-07-27 Analog Devices, Inc. Micro-machined device structures having on and off-axis orientations
US6837107B2 (en) * 2003-04-28 2005-01-04 Analog Devices, Inc. Micro-machined multi-sensor providing 1-axis of acceleration sensing and 2-axes of angular rate sensing
US7036372B2 (en) * 2003-09-25 2006-05-02 Kionix, Inc. Z-axis angular rate sensor
JP4433747B2 (ja) * 2003-09-29 2010-03-17 株式会社村田製作所 角速度検出装置
EP1735590B1 (en) * 2004-04-14 2013-11-27 Analog Devices, Inc. Coupling apparatus for inertial sensors
US9479575B2 (en) * 2012-03-27 2016-10-25 International Business Machines Corporation Managing capacity on demand in a server cloud

Also Published As

Publication number Publication date
EP1735590B1 (en) 2013-11-27
JP4512636B2 (ja) 2010-07-28
WO2005103621A1 (en) 2005-11-03
JP2007532917A (ja) 2007-11-15
CN1954193B (zh) 2010-09-01
JP4516113B2 (ja) 2010-08-04
US7287428B2 (en) 2007-10-30
EP1735590A1 (en) 2006-12-27
US20050229703A1 (en) 2005-10-20
US7347094B2 (en) 2008-03-25
WO2005103620A1 (en) 2005-11-03
US20050229705A1 (en) 2005-10-20
CN1954192A (zh) 2007-04-25
CN1954193A (zh) 2007-04-25
EP1735591B1 (en) 2014-01-22
EP1735591A1 (en) 2006-12-27
JP2007532924A (ja) 2007-11-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN100559122C (zh) 带有传感元件的线性阵列的惯性传感器
CN101160506B (zh) 交叉四元和垂直接合的惯性传感器
JP5583767B2 (ja) 直交誤差に対する感度および微細加工の不正確さを低減した慣性センサ
US8813564B2 (en) MEMS multi-axis gyroscope with central suspension and gimbal structure
US20130298671A1 (en) Flexure bearing to reduce quadrature for resonating micromachined devices
ITTO20091042A1 (it) Giroscopio integrato microelettromeccanico con migliorata struttura di azionamento
WO2013116514A1 (en) Mems multi-axis gyroscope with central suspension and gimbal structure
EP4053503B1 (en) Angular rate sensor based on frequency modulation and drive strategy for same
CN110514190B (zh) 用于感测角速率的微机电陀螺仪及感测角速率的方法
JP7205608B2 (ja) 同期4質量ジャイロスコープ
WO2017115282A1 (en) System, apparatus, and method of fabricating low-power mems vibrating ring gyroscope
JP2009243896A (ja) 角速度センサ素子
CN117705070A (zh) 一种全解耦三轴微机械陀螺仪

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C14 Grant of patent or utility model
GR01 Patent grant
C56 Change in the name or address of the patentee

Owner name: AMERICA ANALOG DEVICE INC.

Free format text: FORMER NAME: ANALOG DEVICES INC.

CP01 Change in the name or title of a patent holder

Address after: Massachusetts, USA

Patentee after: ANALOG DEVICES, Inc.

Address before: Massachusetts, USA

Patentee before: ANALOG DEVICES, Inc.

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20091111

CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee