DE10156357B4 - Anbringen von akustischen Filmvolumenresonatoren in Mikrowellengehäusen unter Verwendung einer Flip-Chip-Bondtechnik - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 16
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 claims abstract description 17
- 229910010293 ceramic material Inorganic materials 0.000 claims description 6
- 238000007789 sealing Methods 0.000 claims 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 11
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 6
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 4
- PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M copper(1+);methylsulfanylmethane;bromide Chemical compound Br[Cu].CSC PMHQVHHXPFUNSP-UHFFFAOYSA-M 0.000 description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 3
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 3
- IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N Atomic nitrogen Chemical compound N#N IJGRMHOSHXDMSA-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 101001094044 Mus musculus Solute carrier family 26 member 6 Proteins 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N atomic oxygen Chemical compound [O] QVGXLLKOCUKJST-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008030 elimination Effects 0.000 description 1
- 238000003379 elimination reaction Methods 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 229910052757 nitrogen Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000001301 oxygen Substances 0.000 description 1
- 229910052760 oxygen Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000004806 packaging method and process Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 238000004073 vulcanization Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H9/00—Networks comprising electromechanical or electro-acoustic devices; Electromechanical resonators
- H03H9/02—Details
- H03H9/05—Holders; Supports
- H03H9/10—Mounting in enclosures
- H03H9/1007—Mounting in enclosures for bulk acoustic wave [BAW] devices
- H03H9/1014—Mounting in enclosures for bulk acoustic wave [BAW] devices the enclosure being defined by a frame built on a substrate and a cap, the frame having no mechanical contact with the BAW device
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
-
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- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/42—Piezoelectric device making
Abstract
einem Chip (12), der eine Filterschaltung (64–70) enthält, wobei die Filterschaltung (64–70) unter Verwendung von akustischen Filmvolumenresonatoren (50–53, 64–70) implementiert ist;
einem Gehäuse (10), das den Chip (12) enthält, wobei das Gehäuse (10) eine Basisschicht (18) umfasst, und wobei Signalpfade (19, 20) sich durch die Basisschicht (18) erstrecken; und
Lötverbindungen (13, 14), durch die der Chip (12) an der Basisschicht (18) befestigt ist, wobei die Lötverbindungen (13, 14) Anschlussflächen auf dem Chip (12) elektrisch mit den Signalpfaden (19, 20) in der Basisschicht (18) verbinden, und wobei die Lötverbindungen (13, 14) keine Bonddrähte umfassen und statt derselben verwendet werden.
Description
- Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf Hochfrequenzfilter (RF-Filter) und insbesondere auf das Anbringen von akustischen Filmvolumenresonatorfiltern in Mikrowellengehäusen unter Verwendung einer Flip-Chip-Bondtechnik.
- Für Anwendungen, wie z. B. Mobiltelephone, ist es wünschenswert, die Größe von Komponenten zu reduzieren. Es ist insbesondere wünschenswert, HF-Duplexer und -Filter mit einer Herstellungstechnik als Teil einer Funkeinrichtung auf einem Chip zu integrieren.
- Akustische Volumenresonatoren wurden verwendet, um Filter zu implementieren. Ein Vorteil der Verwendung von akustischen Resonatoren besteht darin, daß die Schallgeschwindigkeit etwa drei oder vier Größenordnungen kleiner als die Lichtgeschwindigkeit ist, wodurch die Wellenlängen und so die Abmessungen einer Vorrichtung verglichen mit herkömmlichen (L-C) Tankschaltungen klein werden.
- Chips mit akustischen Filmvolumenresonatorfiltern werden in hermetisch abgedichtete Gehäuse plaziert. Beim Stand der Technik werden Drahtverbindungen verwendet, um einen Chip an Anschlußleitungen eines Gehäuses zu befestigen.
- Das Flip-Chip-Bonden wurde zum Herstellen von Verbindungen zwischen einem Halbleiterchip und einem Gehäuse verwendet. Beim Flip-Chip-Bonden werden keine Drahtverbindungen zwischen dem Chip und dem Gehäuse geleitet. Stattdessen werden perlenartige Vorsprünge mittels Elektroaufbringung als Anschlüsse um eine Fläche des Chips aufgebracht. Die Flache des Chips wird dann mit den Gehäuseanschlüssen ausgerichtet und mit denselben verbunden.
-
US 5 872 493 A offenbart einen Bulk Acoustic Wave (BAW) Filter. Dieser Filter weist zumindest eine Resonatorstruktur auf, die auf einem Substrat aufgebracht ist, und einen akustischen Spiegel, der auf der Resonatorstruktur aufgebracht ist. Der akustische Spiegel weist eine Mehrzahl von Schichten auf. Der akustische Spiegel isoliert im Wesentlichen akustische Vibrationen, die durch den Resonator erzeugt werden, beim Erreichen einer oberen Oberfläche des akustischen Spiegels. -
US 5 406 682 A offenbart ein Verfahren zum Aufbringen einer piezo-elektrischen Vorrichtung auf einem Substrat. Zuerst werden äußere Teile eines piezo-elektrischen Elements selektiv metallisiert. Anschließend wird eine Aluminiumschicht selektiv auf dem piezo-elektrischen Element verteilt. Danach wird ein unvulkanisiertes leitendes Material auf einem Substrat angeordnet. Anschließend wird das piezo-elektrische Element auf dem leitenden Material angeordnet, so dass beim Vulkanisieren das leitende Material ein Fundament bildet, das die äußeren metallisierten Teile des piezo-elektrischen Elements mit dem Substrat verbindet. - Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung eine Chipvorrichtung mit verbesserten Charakteristika und ein verbessertes Verfahren zum Anbringen von akustischen Filmvolumenresonatoren in Mikrowellengehäusen zu schaffen.
- Diese Aufgabe wird durch eine Chipvorrichtung gemäß Anspruch 1 sowie ein Verfahren zum Anbringen von akustischen Filmvolumenresonatoren in Mikrowellengehäusen gemäss Anspruch 5 oder 9 gelöst.
- Gemäss dem bevorzugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung umfasst eine Vorrichtung einen Chip, der eine Filterschaltung enthält. Das Filter ist unter Verwendung von akustischen Filmvolumenresonatoren implementiert. Ein Gehäuse enthält den Chip. Das Gehäuse umfasst einen Basisabschnitt. Signalpfade sind in den Basisabschnitt eingebaut. Lötverbindungen befestigen den Chip an dem Basisabschnitt. Die Lötverbindungen verbinden Anschlussflächen auf dem Chip elektrisch mit den Signalpfaden in dem Basisabschnitt. Die Lötmittelverbindungen umfassen keine Drahtverbindungen und werden statt derselben verwendet.
- Bei einem bevorzugten Ausführungsbeispiel besteht das Gehäuse aus einem Keramikmaterial und ist hermetisch abgedichtet. Alternativ kann das Gehäuse aus den anderen Materialien hergestellt sein.
- Die Verwendung der vorliegenden Erfindung erleichtert das Bewegen einer Masseebene näher an den Chip, wodurch die gegenseitige Induktivität reduziert wird. Die Verwendung der vorliegenden Erfindung führt auch zu einer grossen Reduktion einer parasitären Induktivität aufgrund langer Bonddrähte.
- Bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung werden nachfolgend Bezug nehmend auf die beigefügten Zeichnungen näher erläutert. Es zeigen:
-
1 ein vereinfachtes Blockdiagramm einer Filterschaltung, die unter Verwendung von akustischen Filmvolumenresonatoren (FBAR) gemäß dem Stand der Technik implementiert ist; -
2 eine Schnittansicht eines grundsätzlichen akustischen Volumenresonators gemäß dem Stand der Technik; -
3 eine gleichwertige Schaltung für einen akustischen Volumenresonator gemäß dem Stand der Technik; und -
4 einen Chip mit einem akustischen Filmvolumenresonatorfilter, der in einem Mikrowellengehäuse unter Verwendung einer Flip-Chip-Bondtechnik gemäß einem bevorzugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung angebracht ist. -
1 ist ein vereinfachtes Blockdiagramm einer Filterschaltung, die unter Verwendung von akustischen Filmvolumenresonatoren (FBAR; FBAR = film bulk acoustic resonator) implementiert ist, die in einer herkömmlichen Leiterkonfiguration verbunden sind. Die in1 gezeigte Konfiguration ist eine Beispielkonfiguration. Wie für Fachleute verständlich ist, könnten viele andere Konfigurationen verwendet werden. - In
1 sind ein akustischer Filmvolumenresonator (FBAR)64 , ein FBAR65 und ein FBAR66 in Serie zwischen einen Filtereingang61 geschaltet. Ein FBAR67 ist in einer Parallel-Konfiguration bzw. Nebenschlußkonfiguration mit einem Masseknoten71 verbunden. Ein FBAR68 ist in einer Parallel-Konfiguration mit einem Masseknoten72 verbunden. Ein FBAR69 ist in einer Parallel-Konfiguration mit einem Masseknoten73 verbunden. Ein FBAR70 ist in einer Parallel-Konfiguration mit einem Masseknoten74 verbunden. Bei komplexeren Filterschaltungen können zusätzliche FBAR verwendet werden, wodurch zusätzliche Masseknoten erfordert werden. Der FBAR64 , der FBAR65 und der FBAR66 weist z. B. jeweils eine Durchlaßbandfrequenz, die mittig um eine Frequenz f0 angeordnet ist, auf. Der FBAR67 , der FBAR68 , der FBAR69 und der FBAR70 weist jeweils eine Durchlaßbandfrequenz auf, die mittig um eine Frequenz f0 + Af0 angeordnet ist. - Für einen ordnungsgemäßen Betrieb der Filterschaltung müssen der Masseknoten
71 , der Masseknoten72 , der Masseknoten73 und der Masseknoten74 unabhängig voneinander sein. Dies erfordert mehrere (d. h. zahlreiche) Eingangs/Ausgangsanschlußflächen auf einen Chip, der die Filterschaltung enthält. Die Verwendung eines herkömmlichen Häusens mit Drahtverbindungen kann dazu führen, daß jeder Masseknoten einen leicht unterschiedlichen parasitären Wert (insbesondere Induktivität) aufweist. Dies kann zu Leistungsproblemen führen, insbesondere für lineare, rauscharme und/oder Leistungsanwendungen. Es ist wichtig anzumerken, daß die Verwendung eines herkömmlichen Häusens mit Drahtverbindungen zu größeren gegenseitigen Induktivitäten zwischen Verbindungen führt. -
2 ist eine Schnittansicht eines grundsätzlichen akustischen Volumenresonators. Ein Aluminiumnitrid-Film52 ist sandwichartig zwischen einer Elektrode53 und einer Elektrode51 angeordnet. Die Elektrode51 ist auf einem Substrat50 plaziert. -
3 ist eine gleichwertige Schaltung für den akustischen Volumenresonator aus2 . Ein Eingang61 stellt eine Verbindung mit der Elektrode53 , die in2 gezeigt ist, dar. Ein Eingang62 stellt eine Verbindung mit der Elektrode51 durch das Substrat50 , wie in2 gezeigt ist, dar. Ein Induktor67 stellt eine Serieninduktivität dar. Ein Kondensator64 stellt eine Bewegungskapazität durch den Aluminiumnitrid-Film52 (in2 gezeigt) dar. Ein Widerstand65 stellt einen Bewegungswiderstandswert durch den Aluminiumnitrid-Film52 (in2 gezeigt) dar. Ein Induktor66 stellt eine Bewegungsinduktivität durch den Aluminiumnitrid-Film52 (in2 dargestellt) dar. Ein Kondensator68 stellt eine Kapazität in der Elektrode51 und der Elektrode52 (in2 dargestellt) dar. Ein Widerstand69 stellt einen Widerstandswert in der Elektrode51 und der Elektrode52 (in2 dargestellt) dar. -
4 zeigt einen Chip12 mit einem akustischen Filmvolumenresonatorfilter (FBAR-Filter), der unter Verwendung einer Flip-Chip-Bondtechnik gemäß einem bevorzugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung in einem Mikrowellengehäuse angebracht ist. Der FBAR-Filter-Chip12 umfaßt eine Schaltung eines akustischen Filmvolumenresonatorfilters, wie die, die in1 gezeigt ist. Bondanschlußflächen des FBAR-Filter-Chips12 sind über Lötverbindungen mit Signalpfaden in einer unteren Schicht18 eines Keramikgehäuses10 befestigt. Dies ist in4 durch eine Lötverbindung13 , die verwendet wird, um eine Bondanschlußfläche des FBAR-Filter-Chips12 an einem Signalpfad19 , der sich in der unteren Schicht18 des Keramikgehäuses10 befindet, zu befestigen, und durch eine Lötverbindung14 , die verwendet wird, um eine andere Bondanschlußfläche des FBAR-Filter-Chips12 an einem Signalpfad20 , der sich in der unteren Schicht18 des Keramikgehäuses10 befindet, zu befestigen, dargestellt. - Wenn die untere Schicht
18 an einer gedruckten Schaltungsplatine (PCB) befestigt ist, ist der Signalpfad19 an einer Verbindung21 elektrisch mit einer Anschlußleitung auf der PCB verbunden. Ähnlich ist der Signalpfad20 an einer Verbindung22 elektrisch mit einer Anschlußleitung auf der PCB verbunden. - Zusätzlich zu einer unteren Schicht
18 umfaßt das Keramikgehäuse10 einen Keramikabschnitt15 , der den FBAR-Filter-Chip12 umgibt. Das Keramikgehäuse10 umfaßt auch einen Keramikdeckel17 , der den FBAR-Filter-Chip12 bedeckt. Das Keramikgehäuse10 liefert eine hermetische Abdichtung um den FBAR-Filter-Chip12 . In dem Keramikgehäuse10 trennt Luft/Gas11 den FBAR-Filter-Chip12 von dem Keramikgehäuse10 . Luft/Gas11 besteht z. B. aus Sauerstoff und/oder Stickstoff und/oder einer anderen Kombination von Gasen. - Eine Beseitigung von Drahtverbindungen führt bei dem Häusen eines FBAR-Filter-Chips zu einer Reduzierung einer parasitären Induktivität aufgrund langer Bonddrähte. Die Beseitigung von Bonddrähten erleichtert auch ein Bewegen einer Masseebene mit dem Keramikgehäuse
10 näher an den FBAR-Filter-Chip12 , wodurch die gegenseitige Induktivität reduziert wird.
Claims (12)
- Vorrichtung mit folgenden Merkmalen: einem Chip (
12 ), der eine Filterschaltung (64 –70 ) enthält, wobei die Filterschaltung (64 –70 ) unter Verwendung von akustischen Filmvolumenresonatoren (50 –53 ,64 –70 ) implementiert ist; einem Gehäuse (10 ), das den Chip (12 ) enthält, wobei das Gehäuse (10 ) eine Basisschicht (18 ) umfasst, und wobei Signalpfade (19 ,20 ) sich durch die Basisschicht (18 ) erstrecken; und Lötverbindungen (13 ,14 ), durch die der Chip (12 ) an der Basisschicht (18 ) befestigt ist, wobei die Lötverbindungen (13 ,14 ) Anschlussflächen auf dem Chip (12 ) elektrisch mit den Signalpfaden (19 ,20 ) in der Basisschicht (18 ) verbinden, und wobei die Lötverbindungen (13 ,14 ) keine Bonddrähte umfassen und statt derselben verwendet werden. - Vorrichtung gemäß Anspruch 1, bei der das Gehäuse (
10 ) aus einem Keramikmaterial besteht. - Vorrichtung gemäß Anspruch 2, bei der das Gehäuse (
10 ) hermetisch abgedichtet ist. - Vorrichtung gemäß Anspruch 1, bei der das Gehäuse (
10 ) hermetisch abgedichtet ist. - Verfahren mit folgenden Schritten: (a) Herstellen einer Filterschaltung (
64 –70 ) in einem Chip (12 ), wobei das Filter unter Verwendung von akustischen Filmvolumenresonatoren (50 –53 ,64 –70 ) implementiert ist; und (b) Platzieren des Chips (12 ) in einem Gehäuse (10 ), mit folgendem Teilschritt: (b.1) Befestigen des Chips (12 ) an einer Basisschicht (18 ) des Gehäuses (10 ) unter Verwendung von Lötverbindungen (13 ,14 ), wobei die Lötverbindungen (13 ,14 ) Anschlussflächen auf dem Chip (12 ) elektrisch mit Signalpfaden (19 ,20 ) verbinden, die sich durch die Basisschicht (18 ) erstrecken, und wobei die Lötverbindungen (13 ,14 ) keine Bonddrähte umfassen und statt derselben verwendet werden. - Verfahren gemäß Anspruch 5, bei dem Schritt (b) zusätzlich folgenden Teilschritt umfasst: (b.2) hermetisches Abdichten des Chips (
12 ) in dem Gehäuse (10 ). - Verfahren gemäß Anspruch 6, bei dem bei Schritt (b) das Gehäuse (
10 ) aus einem Keramikmaterial besteht. - Verfahren gemäß Anspruch 5, bei dem bei Schritt (b) das Gehäuse (
10 ) aus einem Keramikmaterial besteht. - Verfahren mit folgenden Schritten: (a) Herstellen einer Filterschaltung (
64 –70 ) in einem Chip (12 ), wobei das Filter unter Verwendung von akustischen Filmvolumenresonatoren (50 –53 ,64 –70 ) implementiert ist; und (b) Platzieren des Chips (12 ) unter Verwendung von Flip-Chip-Bonden in einem Gehäuse (10 ), mit folgendem Teilschritt: (b.1) Befestigen des Chips (12 ) an einer Basisschicht (18 ) des Gehäuses (10 ) unter Verwendung von Lötverbindungen (13 ,14 ), wobei die Lötverbindungen (13 ,14 ) Anschlussflächen auf dem Chip (12 ) elektrisch mit Signalpfaden (19 ,20 ) verbinden, die sich durch die Basisschicht (18 ) erstrecken. - Verfahren gemäß Anspruch 9, das zusätzlich folgenden Schritt aufweist: (c) hermetisches Abdichten des Chips (
12 ) in dem Gehäuse (10 ). - Verfahren gemäß Anspruch 10, bei dem bei Schritt (b) das Gehäuse (
10 ) aus einem Keramikmaterial besteht. - Verfahren gemäß Anspruch 9, bei dem bei Schritt (b) das Gehäuse (
10 ) aus einem Keramikmaterial besteht.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US733704 | 2000-12-09 | ||
US09/733,704 US6550664B2 (en) | 2000-12-09 | 2000-12-09 | Mounting film bulk acoustic resonators in microwave packages using flip chip bonding technology |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE10156357A1 DE10156357A1 (de) | 2003-05-15 |
DE10156357B4 true DE10156357B4 (de) | 2009-07-09 |
Family
ID=24948775
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE10156357A Expired - Lifetime DE10156357B4 (de) | 2000-12-09 | 2001-11-16 | Anbringen von akustischen Filmvolumenresonatoren in Mikrowellengehäusen unter Verwendung einer Flip-Chip-Bondtechnik |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US6550664B2 (de) |
JP (1) | JP2002232253A (de) |
DE (1) | DE10156357B4 (de) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
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OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
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8128 | New person/name/address of the agent |
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8364 | No opposition during term of opposition | ||
R082 | Change of representative |
Representative=s name: DILG HAEUSLER SCHINDELMANN PATENTANWALTSGESELL, DE |
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R081 | Change of applicant/patentee |
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R082 | Change of representative |
Representative=s name: DILG HAEUSLER SCHINDELMANN PATENTANWALTSGESELL, DE Effective date: 20130605 |
|
R081 | Change of applicant/patentee |
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|
R082 | Change of representative |
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R071 | Expiry of right |