DE102004057215B4 - Verfahren und Vorrichtung zum Testen von Halbleiterwafern mittels einer Sondenkarte unter Verwendung eines temperierten Fluidstrahls - Google Patents
Verfahren und Vorrichtung zum Testen von Halbleiterwafern mittels einer Sondenkarte unter Verwendung eines temperierten Fluidstrahls Download PDFInfo
- Publication number
- DE102004057215B4 DE102004057215B4 DE102004057215A DE102004057215A DE102004057215B4 DE 102004057215 B4 DE102004057215 B4 DE 102004057215B4 DE 102004057215 A DE102004057215 A DE 102004057215A DE 102004057215 A DE102004057215 A DE 102004057215A DE 102004057215 B4 DE102004057215 B4 DE 102004057215B4
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- temperature
- probe card
- semiconductor wafer
- fluid jet
- front side
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2855—Environmental, reliability or burn-in testing
- G01R31/2872—Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation
- G01R31/2874—Environmental, reliability or burn-in testing related to electrical or environmental aspects, e.g. temperature, humidity, vibration, nuclear radiation related to temperature
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Environmental & Geological Engineering (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)
Abstract
Verfahren
zum Testen von Halbleiterwafern (5) mittels einer Sondenkarte (7;
7', 7'a; 7''), aufweisend folgende Verfahrensschritte:
– Bereitstellen einer temperierten Aufspanneinrichtung (1),
– Auflegen der Rückseite (R) eines Halbleiterwafers (5) auf eine Auflageseite (AF) der temperierten Aufspanneinrichtung (1),
– Aufsetzen der Sondenkarte (7; 7', 7'a; 7'') auf die Vorderseite (O) des Halbleiterwafers (5),
– Einprägen eines Stromes in einen Chipbereich der Vorderseite (O) des Halbleiterwafers (5) mittels Sonden (91–94) der aufgesetzten Sondenkarte (7; 7', 7'a; 7'') und
– Richten eines fokussierten temperierten Fluidstrahls (G) auf die Vorderseite (O) des Halbleiterwafers (5), wodurch eine Temperatur des Chipbereichs im Wesentlichen auf einer Temperatur der Auflageseite (AF) der temperierten Aufspanneinrichtung (1) gehalten wird,
gekennzeichnet durch
– Richten des fokussierten temperierten Fluidstrahls (G) auf die Vorderseite (O) des Halbleiterwafers (5) mittels
– einer längenveränderlichen Düseneinrichtung (150a, 150b; 150a', 150b') mit einem Auslass (A; A') und...
– Bereitstellen einer temperierten Aufspanneinrichtung (1),
– Auflegen der Rückseite (R) eines Halbleiterwafers (5) auf eine Auflageseite (AF) der temperierten Aufspanneinrichtung (1),
– Aufsetzen der Sondenkarte (7; 7', 7'a; 7'') auf die Vorderseite (O) des Halbleiterwafers (5),
– Einprägen eines Stromes in einen Chipbereich der Vorderseite (O) des Halbleiterwafers (5) mittels Sonden (91–94) der aufgesetzten Sondenkarte (7; 7', 7'a; 7'') und
– Richten eines fokussierten temperierten Fluidstrahls (G) auf die Vorderseite (O) des Halbleiterwafers (5), wodurch eine Temperatur des Chipbereichs im Wesentlichen auf einer Temperatur der Auflageseite (AF) der temperierten Aufspanneinrichtung (1) gehalten wird,
gekennzeichnet durch
– Richten des fokussierten temperierten Fluidstrahls (G) auf die Vorderseite (O) des Halbleiterwafers (5) mittels
– einer längenveränderlichen Düseneinrichtung (150a, 150b; 150a', 150b') mit einem Auslass (A; A') und...
Description
- Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Testen von Halbleiterwafern mittels einer Sondenkarte unter Verwendung eines temperierten Fluidstrahls.
- Bekannterweise werden Testmessungen an Halbleiterwafern typischerweise in einem Temperaturbereich zwischen –60°C und +400°C durchgeführt. Zur Temperierung wird ein Halbleiterwafer auf einen Probertisch bzw. Chuck gelegt, der entsprechend der Soll-Temperatur gekühlt und/oder beheizt wird.
- Dabei ist einerseits darauf zu achten, dass die Temperatur des Halbleiterwafers nicht unter den Taupunkt des umgebenden gasförmigen Mediums gerät, da sonst eine Kondensation von Feuchtigkeit auf der Halbleiterwaferoberfläche bzw. eine Vereisung auftritt, welche die Testmessungen behindert bzw. unmöglich macht.
- Andererseits tritt bei Testmessungen mit hoher Chipleistung das Problem auf, dass der Halbleiterwafer sich lokal auf der Vorderseite im Bereich des Stromflusses über die Temperatur der mit dem Chuck in Kontakt befindlichen Rückseite erwärmt, weil aufgrund des endlichen Wärmeübergangswiderstandes zwischen Halbleiterwafer und Chuck die Wärmeabfuhr verzögert ist. Typischerweise erhält man bei elektrischen Leistungen von ca. 100 W eine lokale Temperaturdifferenz von ca. 90 K zwischen Vorderseite des Halbleiterwafers und Auflageseite des Chucks. Diese Temperaturdifferenz stört die Testmessung, welche ja gerade die isothermen elektrischen Eigenschaften der im Halbleiterwafer integrierten Schaltungen angeben soll. Gleichzeitig können bei höheren Leistungen die Chips über eine maximal erlaubte Temperatur erwärmt werden, was die Gefahr eines elektrischen Ausfalls mit sich bringt.
-
7 zeigt eine schematische Querschnittsansicht einer aus derUS 5 010 296 A bekannten Vorrichtung zum Testen von Halbleiterwafern mittels einer Sondenkarte. - In
7 bezeichnet Bezugszeichen6' eine temperierbare Aufspanneinrichtung. Die Aufspanneinrichtung6' ist mit einer Antriebseinrichtung7' verbunden, welche eine Bewegung in Höhenrichtung und der Ebene veranlassen kann. Oberhalb der Aufspanneinrichtung6' vorgesehen ist eine Sondenkarte12' , welche Sonden1' , beispielsweise in Form dünner Nadeln, aufweist, die dazu verwendet werden, integrierte Schaltungen auf einem Halbleiterwafer30' zu kontaktieren und elektrische Messungen daran durchzuführen. - Bezugszeichen
13' bezeichnet eine Testereinrichtung, mittels der die Sonden1' gemäß vorgegebener Testprogramme an steuerbar sind. Ebenfalls ansteuerbar durch die Testereinrichtung13' ist die Steuereinrichtung7' , um bestimmte integrierte Schaltungen des Halbleiterwafers30' in Verbindung mit den Sonden1' zu bringen. - Eine Gaszuführungseinrichtung
8' , welche mit einer Gasversorgungseinrichtung10' verbunden ist, ist auf der einen Seite der Aufspanneinrichtung6' vorgesehen. - Auf der gegenüberliegenden Seite der Aufspanneinrichtung
6' ist eine Saugleitungseinrichtung9' vorgesehen, die wiederum mit einer Saugeinrichtung11' verbunden ist. Die Gaszuführungseinrichtung8' und die Saugleitungseinrichtung9' haben eine relativ flache Querschnittsgestalt, so dass Gas gleichmäßig über die gesamte Oberfläche des Halbleiterwafers30' gespült werden kann. Die Gasspülung bei dieser bekannten Halbleiterwafertestvorrichtung dient zum Abtransport von Kontaminationspartikeln, die durch äußere Einflüsse oder unter dem Einfluss der Sonden1' auf der Oberfläche des Halbleiterwafers abgelagert werden. - Aus Elektronik, Produktion und Prüftechnik, Juli/August 1982, Seiten 485 bis 487, Positionieren und Kontaktieren von Halbleiterwafern, ist der Aufbau von Sondenkarten zum Testen von Halbleiterwafern bekannt.
- Die
EP 0 438 957 B1 offenbart eine Prüfvorrichtung für Halbleiter-Halbleiterwafer, wobei an einer Aufspanneinrichtung eine Vielzahl von Temperatursensoren angebracht ist, - Die
US 4 791 364 A offenbart eine Vorrichtung zum Testen von Halbleiterwafern unter Verwendung eines fokussierten temperierten Fluidstrahls, der mittels einer Düseneinrichtung auf die Vorderseite eines Halbleiterwafers gerichtet wird. Eine ebensolche Vorrichtung offenbart auch dieUS 6 552 561 B2 . -
US 5 124 639 A offenbart eine Sondenkartenvorrichtung mit einem Heizelement, welches an der Sondenkarte angebracht ist. - Die
US 6 366 105 B1 offenbart eine elektrische Testvorrichtung mit Gasspülung, wobei eine Gasdüsenposition vertikal einstellbar ist. - Die
US 2002/0011856 A1 - Die
US 5 977 785 A offenbart eine Testvorrichtung für ein Halbleiterelement, wobei ein Temperatursensor, wie z. B. ein Thermistor oder ein Infrarotsensor, die Temperatur eines Prüflings erfasst und mit einer Steuerschaltung verbunden ist, die basierend auf dem erfassten Temperatursignal die Prüftemperatur einstellt. - Die
US 5 084 671 A offenbart eine elektrische Probervorrichtung mit einem Kühlsystem, wobei eine Aufspanneinrichtung von einem Fluid durchströmt wird, dessen Temperatur geregelt wird. - Die
US 6 102 057 offenbart eine Wafer-Handlingvorrichtung, bei der ein fokussierter Fluidstrahl auf einen Halbleiterwafer mittels einer längenveränderlichen Düseneinrichtung gerichtet wird. Es erfolgt ein automatisches und selbstjustierendes Einstellen des Abstands zwischen dem Auslass der Düseneinrichtung und einem Waferbereich durch ein Polster. - Die
EP 0 511 928 B1 offenbart eine Aufspanneinrichtung mit einer Vielzahl von Labyrinthkanälen, durch die ein Fluid zur Temperierung der Aufspanneinrichtung geleitet wird. Durch den labyrinthförmigen Aufbau werden eine hohe Kühlleistung und eine homogene Temperaturverteilung erzielt. - Die
US 4 845 426 A , aus welcher der Oberbegriff der Ansprüche 1 sowie 8 gebildet wurde, offenbart eine weitere Chuckvorrichtung mit einem Vakuum Chuck und einer ringförmigen Spritzdüse. - Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren und eine Vorrichtung zum Testen von Halbleiterwafern mittels einer Sondenkarte unter Verwendung eines temperierten Fluidstrahls anzugeben, welche eine effizientere Konditionierung des Halbleiterwafers ermöglichen.
- Das erfindungsgemäße Verfahren mit den Merkmalen des Anspruchs 1 bzw. die entsprechende Vorrichtung nach Anspruch 8 weisen gegenüber dem bekannten Lösungsansatz den Vorteil auf, dass selbst bei hoher elektrischer Leistung nur eine sehr geringe Temperaturdifferenz zwischen Vorderseite des Halbleiterwafers und der Auflageseite des Chucks auftritt.
- Die der vorliegenden Erfindung zugrundeliegende Idee besteht darin, dass eine Einrichtung zum Richten eines fokussierten temperierten Fluidstrahls auf die Vorderseite des Halbleiterwafers vorgesehen wird, wodurch die Temperatur des zu testenden Chips im wesentlichen auf der Temperatur der Auflageseite des Chucks haltbar ist.
- Erfindungsgemäß wird der fokussierte temperierte Fluidstrahl mittels einer längenveränderlichen Düseneinrichtung auf die Vorderseite des Halbleiterwafers gerichtet, wobei ein Abstand zwischen einem Auslass der Düseneinrichtung automatisch durch ein Fluidpolster oberhalb des Chipbereichs eingestellt wird.
- In den Unteransprüchen finden sich vorteilhafte Weiterbildungen und Verbesserungen des betreffenden Gegenstandes der Erfindung.
- Gemäß einer bevorzugten Weiterbildung wird der fokussierte temperierte Fluidstrahl mittels einer Düseneinrichtung auf die Vorderseite des Halbleiterwafers gerichtet, welche an der Sondenkarte angebracht ist.
- Gemäß einer weiteren bevorzugten Weiterbildung ist die Düseneinrichtung an einer dem Halbleiterwafer abgewandten Seite der Sondenkarte angebracht.
- Gemäß einer weiteren bevorzugten Weiterbildung ist die Düseneinrichtung in die Sondenkarte integriert.
- Gemäß einer weiteren bevorzugten Weiterbildung werden die Sonden der Sondenkarte durch eine vom Fluidstrahl unabhängige Temperierungseinrichtung temperiert, welche an der Sondenkarte angebracht ist.
- Gemäß einer weiteren bevorzugten Weiterbildung wird die Temperatur des Chipbereichs durch eine oberhalb des Chipbereichs angebrachte kontaktlose Temperaturerfassungseinrichtung erfasst.
- Gemäß einer weiteren bevorzugten Weiterbildung wird die Aufspanneinrichtung durch ein weiteres Fluid durchströmt wird, dessen Temperaturdifferenz zwischen Ausgangstempera tur und Eingangstemperatur erfasst wird und zur Regelung von mindestens einer der folgenden Größen verwendet wird: Temperatur der Aufspanneinrichtung, Temperatur des Fluidstrahls, Temperatur der Sonden.
- Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in den Zeichnungen dargestellt und in der nachfolgenden Beschreibung näher erläutert
- Es zeigen:
-
1a , b schematischen Darstellungen einer Vorrichtung zum Testen von Halbleiterwafern mittels einer Sondenkarte, und zwar1a im Querschnitt und1b in Draufsicht; -
1c eine Modifikation des Beispiels von1a , b hinsichtlich der Sondenkarte; -
2a eine schematische Darstellung einer weiteren Vorrichtung zum Testen von Halbleiterwafern mittels einer Sondenkarte; -
2b eine Modifikation des Beispiels von2a hinsichtlich der Sondenkarte; -
3a eine schematische Querschnittsansicht einer Ausführungsform der erfindungsgemäßen Vorrichtung zum Testen von Halbleiterwafern mittels einer Sondenkarte; -
3b eine Modifikation der Ausführungsform hinsichtlich der Sondenkarte; -
4 eine schematische Querschnittsansicht einer Vorrichtung zum Testen von Halbleiterwafern mittels einer Sondenkarte; -
5 eine schematische Querschnittsansicht einer Vorrichtung zum Testen von Halbleiterwafern mittels einer Sondenkarte; -
6 eine schematische Querschnittsansicht einer Vorrichtung zum Testen von Halbleiterwafern mittels einer Sondenkarte; und -
7 eine schematische Querschnittsansicht einer aus derUS 5 010 296 A bekannten Vorrichtung zum Testen von Halbleiterwafern mittels einer Sondenkarte. - In den Figuren bezeichnen gleiche Bezugszeichen gleiche oder funktionsgleiche Bestandteile.
-
1a , b zeigen schematischen Darstellungen einer Vorrichtung zum Testen von Halbleiterwafern mittels einer Sondenkarte, und zwar1a im Querschnitt entlang Linie A–A' und1b in Draufsicht. - In
1a , b bezeichnet Bezugszeichen1 eine temperierbare, in Höhenrichtung und innerhalb der Ebene verfahrbare Aufspanneinrichtung. Auf der Aufspanneinrichtung1 befindet sich ein Halbleiterwafer5 , der mit seiner Rückseite R die Auflageseite AF der Aufspanneinrichtung1 kontaktiert, in der nicht-dargestellte Vakuumrillen zur Ansaugung vorgesehen sind. Mittels eines nicht dargestellten Temperierungssystems wird die Aufspanneinrichtung1 auf einer vorgegebenen Temperatur gehalten und diese auf den Halbleiterwafer5 übertragen. Oberhalb des Halbleiterwafers5 befindet sich eine plattenförmige Sondeneinrichtung7 , auf deren dem Halbleiterwafer5 abgewandten Seite Sonden91 bis94 verankert und elektrisch angeschlossen sind, wobei die Sonden91 bis94 durch eine Durchgangsöffnung70 der Sondeneinrichtung7 hindurchgeführt sind und auf einer integrierten Schaltung (Chipbereich) auf der Vorderseite O des Halbleiterwafers5 aufgesetzt sind. - Mittels einer nicht dargestellten Testereinrichtung werden elektrische Testsequenzen auf die integrierte Schaltung über die Sonden
91 bis94 übertragen. Um die Eingangserwähnte störende lokale Erwärmung in einem Chipbereich auf der Vorderseite O des Halbleiterwafers5 zu vermeiden, ist durch die Durchgangsöffnung70 ebenfalls eine Düseneinrichtung150 durchgeführt, welche einen Einlass E und einen Auslass A aufweist. Durch die Düseneinrichtung150 wird ein Fluid G mit vorgebbarer Temperatur, beispielsweise temperierte getrocknete Luft, aus kurzer Entfernung direkt senkrecht auf die Vorderseite O des Halbleiterwafers5 gerichtet. Verankert ist die Düseneinrichtung150 mittels einer Halteeinrichtung15 auf der dem Halbleiterwafer5 abgewandten Seite der Sondeneinrichtung7 . - Durch diesen Aufbau lässt sich erreichen, dass keine lokale Erwärmung des Chipbereichs selbst bei hohen Leistungen von typischerweise über 100 W auftritt, da durch das Fluid G die Wärme auch von der Vorderseite O des Halbleiterwafers
5 abgeführt werden kann, und nicht nur von der Rückseite R durch die Aufspanneinrichtung1 . -
1c zeigt eine Modifikation des Beispiels von1a , b hinsichtlich der Sondenkarte. - Während gemäß
1a die Sondenkarte7 eine Plattenform aufwies und von deren dem Wafer abgelegenen Seite die Sondennadeln91 bis94 ausgingen, weist die Sondenkarte gemäß1c einen plattenförmigen Bereich7' und einen an der Unterseite angesetzten abgestuften Bereich7'a auf, wobei die Sondennadeln91 –94 im abgestuften Bereich7'a verankert sind. Auch sind hier die Sondennadeln91 bis94 durch Durchgangsöffnungen71' geführt, die von einer Durchgangs– öffnung70' verschieden sind, durch welche die Düseneinrichtung150' geführt ist. Die Halteeinrichtung15' ist bei dieser Modifikation der ersten Ausführungsform plattenförmig auf die Oberseite des plattenförmigen Bereichs7' aufgesetzt. -
2a zeigt eine schematische Darstellung einer weiteren Vorrichtung zum Testen von Halbleiterwafern mittels einer Sondenkarte. - Mit Bezug auf
2a ist zusätzlich auf der dem Halbleiterwafer5 abgewandten Seite der Sondeneinrichtung eine unabhängige weitere Temperierungseinrichtung910 ,920 vorgesehen, welche in direktem thermischen Kontakt mit den Sonden91 ,92 steht. Somit lässt sich zusätzlich Wärme direkt von den Sonden91 bis94 abführen, was einer Erwärmung der Vorderseite O des Halbleiterwafers5 im Chipbereich weiter entgegenwirkt. Beim vorliegenden Beispiel ist die Temperierungseinrichtung910 ,920 eine poröse Wärmetauschereinrichtung, welche mit einem temperierten Liquid betrieben wird. -
2b zeigt eine Modifikation des Beispiels von2b hinsichtlich der Sondenkarte. - Die in
2b gezeigte Modifikation entspricht hinsichtlich der Ausgestaltung der Sondenkarte dem Beispiel gemäß1c . Allerdings ist auch hier eine unabhängige weitere Temperierungseinrichtung910' ,920' vorgesehen, welche den abgestuften Bereich7'a der Sondeneinrichtung ringförmig umgibt und ebenfalls eine poröse Wärmetauschereinrichtung ist, die mit einem temperierten Liquid betrieben wird. -
3a zeigt eine schematische Querschnittsansicht einer Ausführungsform der erfindungsgemäßen Vorrichtung zum Testen von Halbleiterwafern mittels einer Sondenkarte. - Bei der in
3a gezeigten Ausführungsform ist die Düseneinrichtung150a ,150b zweiteilig. Der obere Teil150a der Düseneinrichtung ist mit der Halteeinrichtung15 verbunden, die an der dem Halbleiterwafer5 abgewandten Seite der Sondeneinrichtung7 angebracht ist. Der untere Teil150b der Düseneinrichtung ist verschieblich in den oberen Teil150a eingesteckt, wobei eine Dichteinrichtung151 ein Austreten des Fluids G beim Verschieben an dieser Stelle verhindert. Bei dieser Ausführungsform wird der Abstand zwischen dem Auslass A des unteren Teils150b der Düseneinrichtung und dem Chipbereich automatisch durch ein Fluidpolster oberhalb des Chipbereichs eingestellt. Dies hat den Vorteil, dass die Temperierung noch effektiver ist, da der Abstand selbstjustierend minimiert wird. -
3b zeigt eine Modifikation der Ausführungsform hinsichtlich der Sondenkarte. - Die Modifikation gemäß
3b geht ebenfalls auf das Beispiel gemäß1c zurück, wobei hier die Düseneinrichtung150a' ,150b' eine äußere Hülse150a' umfasst, die an der Halteeinrichtung15' angebracht ist. Durchgeführt durch die äußere Hülse150a' ist eine innere Röhre150b' mit einem Eingang E' und einem Ausgang A' für das Fluid G zwischengesetzt zwischen die äußere Hülse150a' und die innere Röhre150b' ist wie bei der in3a gezeigten Ausführungsform eine Dichteinrichtung151 , beispielsweise in Form mehrerer Gleitringe. Auch bei diesem Beispiel ist der Abstand zwischen dem Auslass A' und der Vorderseite O des Halbleiterwafers5 selbstjustierend automatisch einstellbar. -
4 zeigt eine schematische Querschnittsansicht einer Vorrichtung zum Testen von Halbleiterwafern mittels einer Sondenkarte. - Der Aufbau gemäß
4 entspricht mit Ausnahme des nachstehend beschriebenen Unterschiede demjenigen gemäß2b . - Bei der in
4 gezeigten Vorrichtung ist neben der Düseneinrichtung150 zusätzlich eine kontaktlose Temperaturerfassungseinrichtung120 ,121 vorgesehen, welche bei diesem Beispiel als Infrarotthermometer (IR) ausgebildet ist. Die kontaktlose Temperaturerfassungseinrichtung120 ,121 besteht aus einem IR-Lichtleiter120 und einer Auswerteschaltung121 , welche mittels eines nicht-gezeigten IR-Photoleiters und einem nachgeschalteten Verstärker unmittelbar die Temperatur im Chipbereich erfasst, sodass diese Temperatur als Regelparameter für eine Kontrollereinrichtung C verwendet werden kann, welche ihrerseits die Temperatur der Aufspanneinrichtung1 , des Fluids G in der Düseneinrichtung150' und der Temperierungseinrichtung910' ,920' für die Sonden91 bis94 regelt. -
5 zeigt eine schematische Querschnittsansicht einer Vorrichtung zum Testen von Halbleiterwafern mittels einer Sondenkarte. - Bei der in
5 gezeigten Vorrichtung ist die Düseneinrichtung150'' in die plattenförmige Sondeneinrichtung7'' in Form von vielen kleinen Kanälen70'' , welche zwischen den Sondennadeln99 verlaufen, integriert. Aufgesetzt auf die Sondeneinrichtung7'' ist bei diesem Beispiel eine Haube15'' mit einem Anschlussstutzen16'' zur Zuführung des temperierten Fluids G. - Bei dieser Sondeneinrichtung lässt sich zum Vermessen eines Chips gezielt eine Untergruppe der Sondennadeln
99 ansteuern. Aufgrund der Verteilung der Kanäle70'' wird jedoch stets die gesamte Vorderseite O des Halbleiterwafers5 unter der Sondeneinrichtung7'' temperiert. Dies macht die Temperierung noch effektiver, da sie nicht nur punktuell, sondern sogar flächig wirkt. -
6 zeigt eine schematische Querschnittsansicht einer Vorrichtung zum Testen von Halbleiterwafern mittels einer Sondenkarte. - Bei der in
6 gezeigten Vorrichtung sind ein Einlass1a und ein Auslass1b des nicht gezeigten labyrinthförmigen Kanalsystems der Aufspanneinrichtung1 gezeigt. - Auch hier ist eine kontaktlose Temperaturerfassungseinrichtung
120 ,121 bestehend aus einem IR-Lichtleiter120 und einer Auswerteschaltung121 vorgesehen, welche mittels eines nicht-gezeigten IR-Photoleiters und einem nachgeschalteten Verstärker unmittelbar die Temperatur im Chipbereich erfasst, sodass diese Temperatur als Regelparameter für eine Kontrollereinrichtung C verwendet werden kann, welche ihrerseits die Temperatur der Aufspanneinrichtung1 , des Fluids G in der Düseneinrichtung150 und der Temperierungseinrichtung910 ,920 für die Sonden91 bis94 regelt. - Bei dieser Ausführungsform wird zusätzlich eine Temperaturdifferenz eines Kühlfluids ΔT bestimmt, welche einer am Einlass
1a einer Differenz einer am Auslass1b erfassten Temperatur Tb und einer am Einlass1a erfassten Temperatur Ta entspricht. Die so erfasste Temperaturdifferenz wird als weiterer Regelparameter in die Kontrollereinrichtung C eingegeben. - Insbesondere ist die Erfindung nicht auf gasförmige getrocknete Luft beschränkt, sondern prinzipiell auf beliebige Fluide anwendbar.
- Obwohl bei den oberen Ausführungsformen die Halteeinrichtung
15 für die Düseneinrichtung150 auf der dem Halblei– terwafer abgewandten Seite der Sondeneinrichtung vorgesehen war, könnte diese natürlich prinzipiell auch auf der dem Halbleiterwafer zugewandten Seite liegen. Auch sind andere Geometrien und Materialien der Düseneinrichtung beziehungsweise der Sonden denkbar. - Weiterhin ist es möglich, dass die erfasste Temperatur des Chipbereichs beziehungsweise die Temperaturdifferenz am Auslass und Einlass der Aufspanneinrichtung nicht beide zur Regelung verwendet werden sondern nur eine Größe. Auch braucht die Regelung der Kontrollereinrichtung nicht auf die Aufspanneinrichtung, die das Fluid der Düseneinrichtung und die unabhängige Temperierungseinrichtung der Sonden gleichzeitig zu wirken, sondern auch eine Regelung einer einzelnen dieser Einrichtung oder einer Unterkombination dieser Einrichtungen wäre vorstellbar.
Claims (14)
- Verfahren zum Testen von Halbleiterwafern (
5 ) mittels einer Sondenkarte (7 ;7' ,7'a ;7'' ), aufweisend folgende Verfahrensschritte: – Bereitstellen einer temperierten Aufspanneinrichtung (1 ), – Auflegen der Rückseite (R) eines Halbleiterwafers (5 ) auf eine Auflageseite (AF) der temperierten Aufspanneinrichtung (1 ), – Aufsetzen der Sondenkarte (7 ;7' ,7'a ;7'' ) auf die Vorderseite (O) des Halbleiterwafers (5 ), – Einprägen eines Stromes in einen Chipbereich der Vorderseite (O) des Halbleiterwafers (5 ) mittels Sonden (91 –94 ) der aufgesetzten Sondenkarte (7 ;7' ,7'a ;7'' ) und – Richten eines fokussierten temperierten Fluidstrahls (G) auf die Vorderseite (O) des Halbleiterwafers (5 ), wodurch eine Temperatur des Chipbereichs im Wesentlichen auf einer Temperatur der Auflageseite (AF) der temperierten Aufspanneinrichtung (1 ) gehalten wird, gekennzeichnet durch – Richten des fokussierten temperierten Fluidstrahls (G) auf die Vorderseite (O) des Halbleiterwafers (5 ) mittels – einer längenveränderlichen Düseneinrichtung (150a ,150b ;150a' ,150b' ) mit einem Auslass (A; A') und – automatisches und selbstjustierendes Einstellen des Abstands zwischen dem Auslass (A; A') der Düseneinrichtung (150a ,150b ;150a' ,150b' ) und dem Chipbereich durch ein Fluidpolster oberhalb des Chipbereichs. - Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der fokussierte temperierte Fluidstrahl (G) mittels einer Düseneinrichtung (
150 ;150' ;150a ,150b ;150a' ,150b' ;150'' ) auf die Vorderseite (O) des Halbleiterwafers (5 ) gerichtet wird, welche an der Sondenkarte (7 ;7' ,7'a ;7'' ) angebracht ist. - Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Düseneinrichtung (
150 ;150' ;150a ,150b ;150a' ,150b' ) an einer dem Halbleiterwafer (5 ) abgewandten Seite der Sondenkarte (7 ;7' ,7'a ) angebracht ist. - Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass die Düseneinrichtung (
150'' ) in die Sondenkarte (7'' ) integriert ist. - Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Sonden (
91 –94 ) der Sondenkarte (7 ;7' ,7'a ;7'' ) durch eine vom Fluidstrahl (G) unabhängige Temperierungseinrichtung (910 ,920 ;910' ;920' ) temperiert werden, welche an der Sondenkarte (7 ;7' ,7'a ) angebracht ist. - Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Temperatur des Chipbereichs durch eine oberhalb des Chipbereichs angebrachte kontaktlose Temperaturerfassungseinrichtung (
120 ,121 ) erfasst wird. - Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, dass die Aufspanneinrichtung (
1 ) durch ein weiteres Fluid (G') durchströmt wird, dessen Temperaturdifferenz (ΔT) zwischen Ausgangstemperatur (Tb) und Eingangstemperatur (Ta) erfasst wird und zur Regelung von mindestens einer der folgenden Größen verwendet wird: Temperatur der Aufspanneinrichtung (1 ), Temperatur des Fluidstrahls (G), Temperatur der Sonden (91 –94 ). - Vorrichtung zum Testen von Halbleiterwafern (
5 ) mittels einer Sondenkarte (7 ;7' ,7'a ;7'' ), aufweisend – eine temperierte Aufspanneinrichtung (1 ) mit einer Auflageseite (AF) zum Auflegen der Rückseite (R) eines Halbleiterwafers (5 ), – eine Sondenkarte (7 ;7' ,7'a ;7'' ) zum Aufsetzen auf die Vorderseite (O) des Halbleiterwafers (5 ) und zum Einprägen eines Stromes in einen Chipbereich auf der Vorderseite (O) des Halbleiterwafers (5 ) mittels Sonden (91 –94 ) der aufgesetzten Sondenkarte (7 ;7' ,7'a ;7'' ) und – eine Einrichtung (150 ;150' ;150a ,150b ;150a' ,150b' ;150'' ) zum Richten eines fokussierten temperierten Fluidstrahls (G) auf die Vorderseite (O) des Halbleiterwa fers (5 ), wodurch eine Temperatur des Chipbereichs im Wesentlichen auf einer Temperatur der Auflageseite (AF) der temperierten Aufspanneinrichtung (1 ) haltbar ist, dadurch gekennzeichnet, dass – die Einrichtung (150 ;150' ;150a ,150b ;150a' ,150b' ;150'' ) zum Richten eines fokussierten temperierten Fluidstrahls (G) eine längenveränderliche Düseneinrichtung (150a ,150b ;150a' ,150b' ) mit einem Auslass (A; A') umfasst, mit der der fokussierte temperierte Fluidstrahl (G) auf die Vorderseite (O) des Halbleiterwafers (5 ) gerichtet wird und selbstjustierend der Abstand zwischen dem Auslass (A; A') der Düseneinrichtung (150a ,150b ;150a' ,150b' ) und dem Chipbereich durch ein Fluidpolster oberhalb des Chipbereichs einstellbar ist. - Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass der fokussierte temperierte Fluidstrahl (G) mittels einer Düseneinrichtung (
150 ;150' ;150a ,150b ;150a' ,150b' ;150'' ) auf die Vorderseite (O) des Halbleiterwafers (5 ) richtbar ist, welche an der Sondenkarte (7 ;7' ,7'a ;7'' ) angebracht ist. - Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass die Düseneinrichtung (
150 ;150' ;150a ,150b ;150a' ,150b' ) an einer dem Halbleiterwafer (5 ) abgewandten Seite der Sondenkarte (7 ;7' ,7'a ) angebracht ist. - Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, dass die Düseneinrichtung (
150'' ) in die Sondenkarte (7'' ) integriert ist. - Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 11, dadurch gekennzeichnet, dass die Sonden (
91 –94 ) der Sondenkarte (7 ;7' ,7'a ;7'' ) durch eine vom Fluidstrahl (G) unabhängige Temperierungseinrichtung (910 ,920 ;910' ;920' ) temperierbar sind, welche an der Sondenkarte (7 ;7' ,7'a ) angebracht ist. - Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Temperatur des Chipbereichs durch eine oberhalb des Chipbereichs angebrachte kontaktlose Temperaturerfassungseinrichtung (
120 ,121 ) erfassbar ist. - Vorrichtung nach einem der Ansprüche 8 bis 13, dadurch gekennzeichnet, dass die Aufspanneinrichtung (
1 ) durch ein weiteres Fluid (G') durchströmbar ist, dessen Temperaturdifferenz (ΔT) zwischen Ausgangstemperatur (Tb) und Eingangstemperatur (Ta) erfassbar ist und zur Regelung von mindestens einer der folgenden Größen verwendbar ist: Temperatur der Aufspanneinrichtung (1 ), Temperatur des Fluidstrahls (G), Temperatur der Sonden (91 –94 ).
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102004057215A DE102004057215B4 (de) | 2004-11-26 | 2004-11-26 | Verfahren und Vorrichtung zum Testen von Halbleiterwafern mittels einer Sondenkarte unter Verwendung eines temperierten Fluidstrahls |
US11/038,017 US20060114012A1 (en) | 2004-11-26 | 2005-01-18 | Method and apparatus for testing semiconductor wafers by means of a probe card |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102004057215A DE102004057215B4 (de) | 2004-11-26 | 2004-11-26 | Verfahren und Vorrichtung zum Testen von Halbleiterwafern mittels einer Sondenkarte unter Verwendung eines temperierten Fluidstrahls |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102004057215A1 DE102004057215A1 (de) | 2006-06-08 |
DE102004057215B4 true DE102004057215B4 (de) | 2008-12-18 |
Family
ID=36441535
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102004057215A Active DE102004057215B4 (de) | 2004-11-26 | 2004-11-26 | Verfahren und Vorrichtung zum Testen von Halbleiterwafern mittels einer Sondenkarte unter Verwendung eines temperierten Fluidstrahls |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20060114012A1 (de) |
DE (1) | DE102004057215B4 (de) |
Families Citing this family (25)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5345170A (en) * | 1992-06-11 | 1994-09-06 | Cascade Microtech, Inc. | Wafer probe station having integrated guarding, Kelvin connection and shielding systems |
US6002263A (en) * | 1997-06-06 | 1999-12-14 | Cascade Microtech, Inc. | Probe station having inner and outer shielding |
US6838890B2 (en) * | 2000-02-25 | 2005-01-04 | Cascade Microtech, Inc. | Membrane probing system |
US6965226B2 (en) | 2000-09-05 | 2005-11-15 | Cascade Microtech, Inc. | Chuck for holding a device under test |
US6914423B2 (en) | 2000-09-05 | 2005-07-05 | Cascade Microtech, Inc. | Probe station |
US6951846B2 (en) * | 2002-03-07 | 2005-10-04 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army | Artemisinins with improved stability and bioavailability for therapeutic drug development and application |
US6861856B2 (en) * | 2002-12-13 | 2005-03-01 | Cascade Microtech, Inc. | Guarded tub enclosure |
US7492172B2 (en) | 2003-05-23 | 2009-02-17 | Cascade Microtech, Inc. | Chuck for holding a device under test |
US7250626B2 (en) | 2003-10-22 | 2007-07-31 | Cascade Microtech, Inc. | Probe testing structure |
US7187188B2 (en) | 2003-12-24 | 2007-03-06 | Cascade Microtech, Inc. | Chuck with integrated wafer support |
US7535247B2 (en) | 2005-01-31 | 2009-05-19 | Cascade Microtech, Inc. | Interface for testing semiconductors |
US7656172B2 (en) | 2005-01-31 | 2010-02-02 | Cascade Microtech, Inc. | System for testing semiconductors |
US20070294047A1 (en) * | 2005-06-11 | 2007-12-20 | Leonard Hayden | Calibration system |
DE102005034475A1 (de) * | 2005-07-23 | 2007-01-25 | Atmel Germany Gmbh | Vorrichtung |
JP4462140B2 (ja) * | 2005-07-27 | 2010-05-12 | 住友電気工業株式会社 | ウエハプローバ用チャックトップ、ウエハ保持体、及びそれらを備えたウエハプローバ |
DE102006038457B4 (de) * | 2006-08-16 | 2014-05-22 | Cascade Microtech, Inc. | Verfahren und Vorrichtung zum Temperieren elektronischer Bauelemente |
DE102008047337B4 (de) * | 2008-09-15 | 2010-11-25 | Suss Microtec Test Systems Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung eines Testsubstrats in einem Prober unter definierten thermischen Bedingungen |
US8319503B2 (en) | 2008-11-24 | 2012-11-27 | Cascade Microtech, Inc. | Test apparatus for measuring a characteristic of a device under test |
JP5459907B2 (ja) * | 2010-01-27 | 2014-04-02 | 東京エレクトロン株式会社 | 基板載置装置の評価装置、及びその評価方法、並びにそれに用いる評価用基板 |
JP2014135363A (ja) * | 2013-01-09 | 2014-07-24 | Tokyo Electron Ltd | プローブ装置及びウエハ搬送ユニット |
DE102013010934A1 (de) * | 2013-06-29 | 2015-01-15 | Feinmetall Gmbh | Prüfvorrichtung zur elektrischen Prüfung eines elektrischen Prüflings |
CN104377101B (zh) | 2013-08-14 | 2017-08-08 | Fei 公司 | 用于带电粒子束系统的电路探头 |
US20180366354A1 (en) * | 2017-06-19 | 2018-12-20 | Applied Materials, Inc. | In-situ semiconductor processing chamber temperature apparatus |
CN113075429A (zh) * | 2020-01-03 | 2021-07-06 | 迪科特测试科技(苏州)有限公司 | 探测卡、探测系统及探测方法 |
CN113432737A (zh) * | 2020-03-19 | 2021-09-24 | 长鑫存储技术有限公司 | 晶圆卡盘温度量测及温度校准的方法和温度量测系统 |
Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4791364A (en) * | 1985-08-20 | 1988-12-13 | Thermonics Incorporated | Thermal fixture for testing integrated circuits |
US4845426A (en) * | 1987-05-20 | 1989-07-04 | Signatone Corporation | Temperature conditioner for tests of unpackaged semiconductors |
US5010296A (en) * | 1989-12-13 | 1991-04-23 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Wafer prober |
US5084671A (en) * | 1987-09-02 | 1992-01-28 | Tokyo Electron Limited | Electric probing-test machine having a cooling system |
US5124639A (en) * | 1990-11-20 | 1992-06-23 | Motorola, Inc. | Probe card apparatus having a heating element and process for using the same |
EP0511928B1 (de) * | 1991-04-25 | 1996-03-13 | International Business Machines Corporation | Kühlsystem mit Flüssigkeitsfilmzwischenschicht zur Bearbeitung von Halbleiterscheiben |
EP0438957B1 (de) * | 1990-01-24 | 1996-05-08 | International Business Machines Corporation | Vorrichtung mit trockener Thermoschnittstelle zur Prüfung von Halbleiterchips |
US5977785A (en) * | 1996-05-28 | 1999-11-02 | Burward-Hoy; Trevor | Method and apparatus for rapidly varying the operating temperature of a semiconductor device in a testing environment |
US6102057A (en) * | 1998-02-14 | 2000-08-15 | Strasbaugh | Lifting and rinsing a wafer |
US20020011856A1 (en) * | 2000-07-28 | 2002-01-31 | Guanghua Huang | Test methods, systems, and probes for high-frequency wireless-communications devices |
US6366105B1 (en) * | 1997-04-21 | 2002-04-02 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company | Electrical test apparatus with gas purge |
US6552561B2 (en) * | 2000-07-10 | 2003-04-22 | Temptronic Corporation | Apparatus and method for controlling temperature in a device under test using integrated temperature sensitive diode |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4870355A (en) * | 1988-01-11 | 1989-09-26 | Thermonics Incorporated | Thermal fixture for testing integrated circuits |
-
2004
- 2004-11-26 DE DE102004057215A patent/DE102004057215B4/de active Active
-
2005
- 2005-01-18 US US11/038,017 patent/US20060114012A1/en not_active Abandoned
Patent Citations (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4791364A (en) * | 1985-08-20 | 1988-12-13 | Thermonics Incorporated | Thermal fixture for testing integrated circuits |
US4845426A (en) * | 1987-05-20 | 1989-07-04 | Signatone Corporation | Temperature conditioner for tests of unpackaged semiconductors |
US5084671A (en) * | 1987-09-02 | 1992-01-28 | Tokyo Electron Limited | Electric probing-test machine having a cooling system |
US5010296A (en) * | 1989-12-13 | 1991-04-23 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Wafer prober |
EP0438957B1 (de) * | 1990-01-24 | 1996-05-08 | International Business Machines Corporation | Vorrichtung mit trockener Thermoschnittstelle zur Prüfung von Halbleiterchips |
US5124639A (en) * | 1990-11-20 | 1992-06-23 | Motorola, Inc. | Probe card apparatus having a heating element and process for using the same |
EP0511928B1 (de) * | 1991-04-25 | 1996-03-13 | International Business Machines Corporation | Kühlsystem mit Flüssigkeitsfilmzwischenschicht zur Bearbeitung von Halbleiterscheiben |
US5977785A (en) * | 1996-05-28 | 1999-11-02 | Burward-Hoy; Trevor | Method and apparatus for rapidly varying the operating temperature of a semiconductor device in a testing environment |
US6366105B1 (en) * | 1997-04-21 | 2002-04-02 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company | Electrical test apparatus with gas purge |
US6102057A (en) * | 1998-02-14 | 2000-08-15 | Strasbaugh | Lifting and rinsing a wafer |
US6552561B2 (en) * | 2000-07-10 | 2003-04-22 | Temptronic Corporation | Apparatus and method for controlling temperature in a device under test using integrated temperature sensitive diode |
US20020011856A1 (en) * | 2000-07-28 | 2002-01-31 | Guanghua Huang | Test methods, systems, and probes for high-frequency wireless-communications devices |
Non-Patent Citations (3)
Title |
---|
H. Pototschnig: Positionieren und Kontaktieren von Wafern. In: Elektronik Produktion & Prüftechnik, Juli/August 1982, S. 485-487 |
H. Pototschnig: Positionieren und Kontaktieren von Wafern. In: Elektronik Produktion & * |
Prüftechnik, Juli/August 1982, S. 485-487 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE102004057215A1 (de) | 2006-06-08 |
US20060114012A1 (en) | 2006-06-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE102004057215B4 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Testen von Halbleiterwafern mittels einer Sondenkarte unter Verwendung eines temperierten Fluidstrahls | |
DE102005001163B3 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Testen von Halbleiterwafern mittels einer temperierbaren Aufspanneinrichtung | |
DE2608642C2 (de) | Prüfeinrichtung für integrierte Schaltkreise | |
EP1943665B1 (de) | Hybrid chuck | |
DE10216786C5 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Konditionierung von Halbleiterwafern und/oder Hybriden | |
DE102008047337B4 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung eines Testsubstrats in einem Prober unter definierten thermischen Bedingungen | |
DE112008002615B4 (de) | Verfahren zur Prüfung eines Testsubstrats unter definierten thermischen Bedingungen und thermisch konditionierbarer Prober | |
DE19882931T5 (de) | Leistungs- und Steuersystem für ein Einspannvorrichtung für ein Werkstück | |
DE102009045291A1 (de) | Vorrichtung zur Konditionierung von Halbleiterchips und Testverfahren unter Verwendung der Vorrichtung | |
DE10246282B4 (de) | Prober zum Testen von Substraten bei tiefen Temperaturen | |
DE102012005815B4 (de) | Verfahren und Einrichtung zur Ermittlung der Temperaturkalibrierkennlinie eines Halbleiterbauelements der Leistungselektronik | |
EP2356411B1 (de) | Wägezelle und verfahren zum temperieren einer wägezelle | |
DE102006038457B4 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Temperieren elektronischer Bauelemente | |
DE3306999C2 (de) | ||
DE102007016553A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur elektrischen Kontaktierung von Halbleiter-Bauelementen auf einem Wafer | |
DE102006023257B4 (de) | Vorrichtung zum Heissproben von integrierten Halbleiterschaltkreisen auf Wafern | |
AT525156B1 (de) | Bondvorrichtung sowie Verfahren zum Bonden von Substraten | |
DE60010890T2 (de) | Gerät und verfahren zur temperaturkontrolle von integrierten schaltungen während der prüfung | |
DE102004025538A1 (de) | Temperierverfahren und -vorrichtung für die Temperaturbehandlung kleiner Flüssigkeitsmengen | |
DE3803336C2 (de) | Verfahren zur Temperaturkontrolle von Temperprozessen in der Halbleitertechnik | |
AT515147A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Behandeln von Gegenständen mit einer Flüssigkeit | |
DE102004005353B4 (de) | Verfahren zur Bestimmung der Parameter von Gasen | |
DE102018105353B3 (de) | Kontaktiereinheit für einen Testhandler zum Durchführen von Funktionstests an Halbleiterelementen | |
AT525844A1 (de) | Bondvorrichtung sowie Verfahren zum Bonden von Substraten | |
AT516382A4 (de) | Konditionieren eines Probenbehälters mittels Konditionierfluid zum Fördern von Wärmekopplung und zum Unterdrücken von Beschlagen |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8364 | No opposition during term of opposition |