DE102005035590A1 - Elektronisches Bauelement - Google Patents
Elektronisches Bauelement Download PDFInfo
- Publication number
- DE102005035590A1 DE102005035590A1 DE102005035590A DE102005035590A DE102005035590A1 DE 102005035590 A1 DE102005035590 A1 DE 102005035590A1 DE 102005035590 A DE102005035590 A DE 102005035590A DE 102005035590 A DE102005035590 A DE 102005035590A DE 102005035590 A1 DE102005035590 A1 DE 102005035590A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- electronic component
- component according
- layer
- substrate
- openings
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y10/00—Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
- H10K71/10—Deposition of organic active material
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/0001—Technical content checked by a classifier
- H01L2924/0002—Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K10/00—Organic devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching; Organic capacitors or resistors having a potential-jump barrier or a surface barrier
- H10K10/40—Organic transistors
- H10K10/46—Field-effect transistors, e.g. organic thin-film transistors [OTFT]
- H10K10/462—Insulated gate field-effect transistors [IGFETs]
- H10K10/464—Lateral top-gate IGFETs comprising only a single gate
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K10/00—Organic devices specially adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching; Organic capacitors or resistors having a potential-jump barrier or a surface barrier
- H10K10/40—Organic transistors
- H10K10/46—Field-effect transistors, e.g. organic thin-film transistors [OTFT]
- H10K10/462—Insulated gate field-effect transistors [IGFETs]
- H10K10/466—Lateral bottom-gate IGFETs comprising only a single gate
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K77/00—Constructional details of devices covered by this subclass and not covered by groups H10K10/80, H10K30/80, H10K50/80 or H10K59/80
- H10K77/10—Substrates, e.g. flexible substrates
- H10K77/111—Flexible substrates
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
- H10K85/10—Organic polymers or oligomers
- H10K85/111—Organic polymers or oligomers comprising aromatic, heteroaromatic, or aryl chains, e.g. polyaniline, polyphenylene or polyphenylene vinylene
- H10K85/113—Heteroaromatic compounds comprising sulfur or selene, e.g. polythiophene
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
- H10K85/10—Organic polymers or oligomers
- H10K85/111—Organic polymers or oligomers comprising aromatic, heteroaromatic, or aryl chains, e.g. polyaniline, polyphenylene or polyphenylene vinylene
- H10K85/113—Heteroaromatic compounds comprising sulfur or selene, e.g. polythiophene
- H10K85/1135—Polyethylene dioxythiophene [PEDOT]; Derivatives thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
- H10K85/20—Carbon compounds, e.g. carbon nanotubes or fullerenes
- H10K85/211—Fullerenes, e.g. C60
- H10K85/215—Fullerenes, e.g. C60 comprising substituents, e.g. PCBM
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K85/00—Organic materials used in the body or electrodes of devices covered by this subclass
- H10K85/60—Organic compounds having low molecular weight
- H10K85/615—Polycyclic condensed aromatic hydrocarbons, e.g. anthracene
- H10K85/623—Polycyclic condensed aromatic hydrocarbons, e.g. anthracene containing five rings, e.g. pentacene
Abstract
Die Erfindung betrifft ein elektronisches Bauelement mit einem flexiblen Substrat, auf dessen Oberfläche ein Schichtstapel aus dünnen Schichten, enthaltend mindestens eine elektrische Funktionsschicht aus einem elektrisch leitenden oder halbleitenden Material, angeordnet ist, wobei das Bauelement mindestens ein erstes Material, ein schichtförmiges zweites Material und ein schichtförmiges drittes Material umfasst und wobei senkrecht zur Oberfläche des Substrats gesehen auf das erste Material das zweite Material folgt und auf das zweite Material das dritte Material folgt, wobei eine erste Adhäsionskraft des zweiten Materials am ersten Material geringer ist als eine zweite Adhäsionskraft des dritten Materials am ersten Material und das zweite Material mindestens eine Öffnung aufweist, über welche das dritte Material mit dem ersten Material zur Erhöhung der Haftung des zweiten Materials am ersten Material verbunden ist.
Description
- Die Erfindung betrifft ein elektronisches Bauelement mit einem flexiblen Substrat, auf dessen Oberfläche ein Schichtstapel aus dünnen Schichten, enthaltend mindestens eine elektrische Funktionsschicht aus einem elektrisch leitendem oder halbleitenden Material, angeordnet ist, wobei das Bauelement mindestens ein erstes Material, ein schichtförmiges zweites Material und ein schichtförmiges drittes Material umfasst und wobei senkrecht zur Oberfläche des Substrats gesehen auf das erste Material das zweite Material folgt und auf das zweite Material das dritte Material folgt.
- Derartige elektronische Bauelemente sind aus der
DE 103 38 277 A1 bekannt, welche einen organischen Kondensator mit spannungsgesteuerter Kapazität beschreibt. Der organische Kondensator weist ein flexibles Substrat auf, auf welchem in Folge eine erste Elektrode, eine organische Halbleiterschicht, eine Isolatorschicht und eine zweite Elektrode angeordnet sind. Die Elektroden können dabei aus organischen, metallischen oder sonstigen elektrisch leitfähigen Materialien hergestellt sein. Die Isolatorschicht wird entweder aus einem organischen oder einem anorganischen elektrisch isolierendem Material gebildet. Die Spannungssteuerung der Kapazität wird zum einen durch die Halbleiterschicht und zudem durch eine geeignete Strukturierung der ersten Elektrode bewirkt. - Weiterhin offenbart die WO 2004/047144 ein organisches elektronisches Bauelement, insbesondere einen Feldeffekt-Transistor (OFET). Es ist ein OFET beschrieben, der ein Substrat und darauf in Folge Source/Drain-Elektroden, eine strukturierte organische Halbleiterschicht, eine isolierende Funktionsschicht und eine Gate-Elektrode aufweist.
- In der Massenproduktion von elektronischen Bauelementen mit organischen Funktionsschichten werden üblicherweise auf ein flexibles Substrat dünne organische, polymere und metallische Schichten aufgebracht. Das Substrat durchläuft dazu beispielsweise Bedampfungs- oder Sputteranlagen, Druck-, Umspul-, Schneide- oder Wickelmaschinen oder Bestückungsautomaten, wobei das flexible Substrat über verschiedene Walzensysteme geführt und dabei deformiert wird.
- Die dabei auftretende mechanische Beanspruchung der auf dem Substrat aufgebrachten Schichten oder Schichtstapel kann bei einer mangelnden Haftung zwischen dem Substrat und der/den angrenzenden Schicht(en) oder zwischen oder aneinander im Schichtstapel angrenzenden Schichten zu teilweisen oder vollständigen Ablösungen von einer oder mehreren Schichten führen, was zu einer Beeinträchtigung der Funktionalität des Bauelements oder von Teilbereichen des Bauelements bis zu dessen Totalausfall führen kann. Häufig werden daher Haftvermittlerschichten eingesetzt, die die Haftung der unterschiedlichen Materialen aneinander verbessern sollen. Derartige Haftvermittlerschichten haben sich jedoch im Bereich der Elektronik, insbesondere im Bereich der Polymerelektronik, als oft störend erwiesen, da sie die Funktion eines elektronischen Bauelements beeinträchtigen können.
- Es ist daher Aufgabe der Erfindung, die vollständige oder teilweise Ablösung einer oder mehrerer Schichten bei der Herstellung eines in Schichten aufgebauten elektronischen Bauelements, insbesondere eins organischen Bauelements, enthaltend mindestens eine elektrische Funktionsschicht aus einem elektrisch leitfähigen oder halbleitenden Material, ohne die Verwendung von Haftvermittlerschichten zu verhindern.
- Die Aufgabe wird für ein elektronisches Bauelement, insbesondere ein organisches elektronisches Bauelement, mit einem flexiblen Substrat, auf dessen Oberfläche ein Schichtstapel aus dünnen Schichten, enthaltend mindestens eine elektrische Funktionsschicht aus einem elektrisch leitenden oder halbleitenden Material, angeordnet ist, wobei das Bauelement mindestens ein erstes Material, ein schichtförmiges zweites Material und ein schichtförmiges drittes Material umfasst und wobei senkrecht zur Oberfläche des Substrats gesehen auf das erste Material das zweite Material folgt und auf das zweite Material das dritte Material folgt, dadurch gelöst, dass eine erste Adhäsionskraft des zweiten Materials am ersten Material geringer ist als eine zweite Adhäsionskraft des dritten Materials am ersten Material und dass das zweite Material mindestens eine Öffnung aufweist, über welche das dritte Material mit dem ersten Material zur Erhöhung der Haftung des zweiten Materials am ersten Material verbunden ist.
- Durch eine derartige Ausgestaltung des elektronischen Bauelements gewinnt das schichtförmige zweite Material an Flexibilität und wird zudem im Bereich der mindestens einen Öffnung mittels des dritten Materials am ersten Material verankert beziehungsweise angeheftet. Nachdem das dritte Material besser als das zweite Material am ersten Material haftet, wird die gute Haftung des dritten Materials am ersten Material dazu genutzt, das zweite Material im Bereich der Öffnungen punktuell oder linienförmig zu fixieren. Dabei ergibt sich eine höhere Flexibilität des Bauelements und ein besserer Verbund der einzelnen Materialen im elektronischen Bauelement.
- Die Gefahr, dass eine Deformation des flexiblen Substrats und darauf aufgebrachter Schichten bei der Herstellung des elektronischen Bauelements zu einer vollständigen oder bereichsweisen Ablösung von Schichten im Bereich des zweiten Materials führt, wird minimiert.
- Weiterhin ermöglicht es die erfindungsgemäße Ausgestaltung des elektronischen Bauelements, dass die Schichten zu dessen Aufbau, insbesondere die Schicht aus dem zweiten Material, sehr viel dünner ausgebildet werden können als bisher. Besonders dünne Schichten erwiesen sich nämlich bisher als Sollbruchstellen in Schichtstapeln, an welchen die strukturelle Integrität besonders gefährdet ist. Die nun eröffnete Möglichkeit, besonders dünne Schichten einzusetzen, wirkt sich insbesondere auf die Herstellungskosten für ein elektronisches Bauelement günstig aus.
- Dabei hat es sich bewährt, wenn die erste Adhäsionskraft um mindestens 50%, insbesondere um mindestens 75% geringer ist als die zweite Adhäsionskraft. Ein solcher Unterschied zwischen erster und zweiter Adhäsionskraft lässt es als besonders vielversprechend erscheinen, die bessere Haftung des dritten Materials am ersten Material zu nutzen, um das zweite Material am ersten Material zu verankern.
- Es hat sich bewährt, wenn das erste Material die Oberfläche des Substrats bildet, das zweite Material durch eine auf der Oberfläche des Substrats angeordnete erste Schicht bereitgestellt ist und das dritte Material durch eine auf der Oberfläche der ersten Schicht angeordnete zweite Schicht bereitgestellt ist.
- Genauso vorteilhaft ist es aber, wenn das erste, das zweite und das dritte Material durch drei dünne Schichten des Schichtstapels bereitgestellt sind. Diese können dabei direkt an das Substrat angrenzen oder davon beabstandet angeordnet sein.
- Selbstverständlich kann die Erfindung auch mehrere Bereiche des elektronischen Bauelements gleichzeitig betreffen. So kann beispielsweise ein schichtförmiges drittes Material beidseitig mit einem schichtförmigen zweiten Material bedeckt sein, wobei das dritte Material das zweite Material auf einer Seite an einem Substrat verankert und auf der anderen Seite an einer weiteren Schicht aus einem ersten Material verankert. Diverse Ausbildungen sind hierbei für den Fachmann ersichtlich, ohne den Gegenstand der Erfindung zu verlassen.
- Insbesondere weisen die dünnen Schichten des Schichtstapels jeweils eine Schichtdicke im Bereich von 1nm bis 10μm, vorzugsweise im Bereich von 1nm bis 1μm, auf. Für halbleitende Schichten ist dabei eine Schichtdicke im Bereich von 1nm bis 300nm bevorzugt. Elektrisch isolierende Schichten oder Schutzschichten werden bevorzugt mit einer Schichtdicke im Bereich von 5nm bis 1μm ausgebildet, während elektrisch leitfähige Schichten vorzugsweise mit einer Schichtdicke im Bereich von 1nm bis 100nm ausgebildet werden.
- Derartige Schichtdicken ermöglichen eine optimale Verankerung des zweiten Materials am ersten Material im Bereich der mindestens einen Öffnung.
- Weiterhin kann das flexible Substrat mehrlagig ausgebildet sein. So werden unter anderem Substrate aus unterschiedlichen, üblicherweise im Hinblick auf den Verarbeitungsprozess miteinander ausreichend fest verbundenen Materiallagen eingesetzt, wobei lediglich die an den Schichtstapel angrenzende Oberfläche des Substrats im Hinblick auf die Adhäsions der darauf aufgebrachten Schichten von Interesse ist. So kann das Substrat je nach den gewünschten Eigenschaften beispielsweise Papier-, Kunstoff-, Metall-, Gewebeschichten oder anorganische Schichten aufweisen. Vorzugsweise wird das Substrat aber durch eine Folie aus PET oder PVP oder aus – gegebenenfalls Kunstoff-beschichtetem – Papier bereitgestellt.
- Die Flexibilität des elektronischen Bauelements macht dieses besonders widerstandsfähig, insbesondere völlig unempfindlich gegen Stoßbelastungen. Im Gegensatz zu auf starren Substraten aufgebauten Bauelementen sind solche mit flexiblen Substraten einsetzbar in Applikationen, bei denen sich das elektronische Bauelement an Objekte mit unregelmäßiger Kontur, beispielsweise Verpackungen, anschmiegen soll. Diese sind mit wachsender Tendenz für Geräte mit unregelmäßig ausgebildeten Konturen, wie Handys oder elektronische Kameras, vorgesehen.
- Besonders bevorzugt ist es, wenn das zweite Material die mindestens eine Öffnung an mindestens 50% des Öffnungsumfangs, insbesondere an 100% des Öffnungsumfangs, begrenzt. So kann eine Öffnung im schichtförmigen zweiten Material beispielsweise im Randbereich oder innerhalb der Schicht angeordnet werden. Öffnungen im Bereich der Schichtecke oder Schichtkante führen zu einer Verlängerung des Umfangs der Schicht aus zweitem Material und damit zu einer verbesserten Verankerung dieser mittels des schichtförmigen dritten Materials am ersten Material. Öffnungen in der Schicht aus zweitem Material, die entfernt vom Rand, also senkrecht zum Substrat gesehen allseitig von zweitem Material umgeben angeordnet werden, sind bei Schichten aus zweitem Material besonders bevorzugt die zumindest bereichsweise so breit ausgebildet sind, dass die Gefahr einer flächigen Ablösung/Aufwölbung im Mittenbereich besteht. Eine Öffnung, die zu 100% ihres Umfangs von zweitem Material begrenzt ist, vermindert die Breite der Schicht aus zweitem Material in diesem Bereich und ermöglicht eine Verbindung zwischen dem dritten Material und dem ersten Material durch die Schicht aus zweitem Material hindurch. Dies erhöht die Flexibilität und Haftung zwischen dem zweiten und dem ersten Material und vermindert die Gefahr einer Ablösung im Mittenbereich der Schicht aus zweitem Material. Eine Anordnung von Öffnungen im Randbereich und im Mittenbereich der Schicht aus zweitem Material ist besonders bevorzugt.
- Es hat sich weiterhin bewährt, wenn die mindestens eine Öffnung an ihrem maximalen Querschnitt, senkrecht zur Oberfläche des Substrats gesehen, eine Breite im Bereich von 0,5 bis 200 μm, insbesondere im Bereich von 0,5 bis 2,5 μm aufweist. Derart ausgestaltete Öffnungen ermöglichen einen ausreichenden Kontakt zwischen dem schichtförmigen dritten Material und dem ersten Material. Öffnungen mit kleineren Durchmessern behindern das dritte Material eher, in Kontakt zum ersten Material zu treten, so dass es zu keiner ausreichenden Verankerung kommt, während größere Öffnungsdurchmesser die Funktionalität der Schicht aus zweitem Material wesentlich beeinträchtigen können.
- Insgesamt hat es sich bewährt, wenn etwa 5 bis 50%, insbesondere 5 bis 10%, der Fläche des zweiten Materials mit Öffnungen belegt ist. Insbesondere sollte nicht mehr als 50% einer für die elektrischen Werte des Bauelement kritischen Dimension des zweiten Materials durch Öffnungen unterbrochen sein, um die Funktionsfähigkeit des Bauelements nicht zu beeinträchtigen.
- Generell können unterschiedlichste Öffnungsquerschnitte, beispielsweise in Kreis-, Ellipsen-, Quadrat-, Rechteck-, Dreieck-, Sternform oder freier Form sowie Kombination dieser Formen, ausgebildet werden.
- Vorzugsweise weist das zweite Material eine Schichtdicke im Bereich von 1 bis 200 nm auf. Schichtförmige zweite Materialien mit derartigen Schichtdicken ermöglichen einen ausreichenden Kontakt zwischen dem schichtförmigen dritten Material und dem ersten Material. Dickere Schichten aus zweitem Material behindern die Verankerung des dritten Materials am ersten Material, so dass zweite Material nicht ausreichend verankert wird.
- Weiterhin hat es sich als günstig erwiesen, wenn eine Schichtdicke des dritten Materials mindestens 10% der Schichtdicke des zweiten Materials beträgt. So wird gewährleistet, dass die Schicht aus drittem Material eine geschlossene Schicht bildet und nicht im Bereich der mindestens einen Öffnung unterbrochen ist. Dünnere Schichten aus drittem Material behindern die Verankerung des dritten Materials am ersten Material, so dass das zweite Material nicht ausreichend verankert wird.
- Insbesondere ist es bevorzugt, wenn das schichtförmige zweite Material senkrecht zur Oberfläche des Substrats gesehen etwa bis zu 50% der Gesamtfläche mit Öffnungen versehen ist. Eine geeignete Einstellung der Breite der zwischen den Öffnungen und am Rand verbleibenden Stege aus zweitem Material wird dabei über eine gleichmäßige Anordnung von Öffnungen bewirkt, so dass das bereits oben erwähnte Ablösen und gegebenenfalls Aufwölben von breiten Schichten aus zweitem Material in deren Mittenbereich unterbunden wird.
- Dabei hat es sich bewährt, wenn das zweite Material senkrecht zur Oberfläche des Substrats gesehen an jeder Stelle eine Breite aufweist, die um weniger als etwa 25% von der Breite des zweiten Materials in den übrigen Bereichen abweicht. Je gleichmäßiger dabei die Stegbreiten der Schicht aus zweitem Material ausgebildet werden, desto gleichmäßiger ist auch die erzielte Verbesserung der Haftung des zweiten Materials am ersten Material.
- Vorzugsweise ist das zweite Material elektrisch leitfähig, insbesondere aus einem Metall, einem leitfähigen Polymer, einem leitfähigen Kleber, einer leitfähigen Substanz mit leitfähigen anorganischen Partikeln in einer Polymermatrix oder aus einer Paste/Tinte enthaltend elektrisch leitfähige Partikel gebildet. Als Metall kommen dabei beispielsweise Gold, Silber Titan, Kupfer oder Legierungen aus diesen in Frage. Als leitfähige Polymere haben sich unter anderem Polyanilin oder Polyethylendioxytiophen (PeDOT) bewährt, während als Pasten/Tinten enthaltend elektrisch leitfähige Partikel oft solche mit Silber- oder Graphit/Ruß-Partikeln eingesetz werden.
- Besonders bevorzugt ist es dabei, wenn das zweite Material als eine erste Elektrode fungiert. Dabei sind unter einer ersten Elektrode auch Elektrodenpaare, beispielsweise die auf gleicher Ebene auf dem Substrat angeordneten Source- und Drain-Elektroden eines p-leitenden Feldeffekttransistor, zu verstehen.
- Besonders bevorzugt ist es dabei, wenn das Bauelement weiterhin eine zweite Elektrode aufweist, welche ebenfalls Öffnungen zur Erhöhung ihrer Flexibilität aufweist. Die Öffnungen in der zweiten Elektrode werden dabei analog zu den Öffnungen in der ersten Elektrode gebildet, was soviel bedeutet, als auch hier die Anzahl, Anordnung und der Öffnungsquerschnitt so gebildet werden, als würde es sich um eine Öffnung im schichtförmigen zweiten Material handein. Dabei können die Öffnungen in der zweiten Elektrode deckungsgleich zu den Öffnungen in der ersten Elektrode ausgebildet sein, insbesondere bei gleichen Flächen-Dimensionen von erster und zweiter Elektrode, oder in Art, Anzahl und Lage abweichen, insbesondere bei abweichenden Flächen-Dimensionen von erster und zweiter Elektrode.
- Weiterhin ist es möglich, dass das zweite Material mehrschichtig ausgebildet ist, insbesondere aus mehreren Metallschichten und/oder mehreren Polymerschichten und/oder mehreren Pasten/Tinten-Schichten oder ähnlichem. Entscheidend ist hierbei die Adhäsionskraft der an das erste Material angrenzenden Einzelschicht aus zweitem Material bzw. der Adhäsionskraft der an das erste Material angrenzenden Einzelschicht aus drittem Material.
- Es ist bevorzugt, wenn das dritte Material die elektrische Funktionsschicht aus elektrisch leitendem oder halbleitendem Material bildet. Die Bildung der halbleitenden elektrischen Funktionsschicht kann vorzugsweise mittels verdruckbaren, löslichen anorganischen Halbleitern oder Polymeren erfolgen, wobei der Begriff des Polymers hier ausdrücklich polymeres Material und/oder oligomeres Material und/oder Material aus „small molecules" und/oder Material aus Nanopartikeln einschließt. Nanopartikel bestehen aus metallorganischen halbleiterorganischen Verbindungen, die beispielsweise Zinkoxid als nicht organischen Bestandteil enthalten. Es kann sich bei dem Polymer am einen hybriden Werkstoff handeln, beispielsweise um einen n-leitenden polymeren Halbleiter auszubilden. Es sind auch beispielsweise Silikone eingeschlossen. Weiterhin soll der Begriff nicht im Hinblick auf die Molekülgröße beschränkt sein, sondern wie weiter oben ausgeführt, „small molecules" oder „Nanopartikel" einschließen. Es kann vorgesehen sein, dass die Halbleiterschichten mit unterschiedlichen organischen Material ausgebildet sind.
- Die Halbleiterschicht kann als p-Leiter oder als n-Leiter ausgebildet sein. Die Stromleitung in einem p-Leiter erfolgt fast ausschließlich durch Defektelektronen, die Stromleitung in einem n-Leiter fast ausschließlich durch Elektronen. Die jeweils vorherrschend vorhandenen Ladungsträger werden als Majoritätsträger bezeichnet. Wenngleich die p-Dotierung für organische Halbleiter typisch ist, ist es doch möglich, das Material mit n-Dotierung auszubilden. Als p-leitende Halbleiter können Pentacen, Polyalkylthiophen etc. vorgesehen sein, als n-leitende Halbleiter z.B. lösliche Fulleren-Derivate.
- Weiterhin hat es sich als vorteilhaft erwiesen, wenn das dritte Material die elektrische Funktionsschicht aus elektrisch leitendem oder halbleitendem Material bildet, wobei klassische Halbleiter (kristallines Silizium oder Germanium) und typische metallischen Leiter verwendet werden.
- Vorzugsweise weist das schichtförmige zweite Material mindestens zwei Öffnungen auf, wobei die mindestens zwei Öffnungen senkrecht zur Oberfläche des Substrats gesehen den gleichen Querschnitt aufweisen. Diese Ausgestaltung der Öffnungen bietet sich insbesondere dann an, wenn die Schicht aus zweitem Material eine einfache geometrische Form aufweist, beispielsweise rechteckig, quadratisch, rund oder ähnlich ausgebildet ist.
- Es ist aber ebenso möglich, dass das zweite Material mindestens zwei Öffnungen aufwiest, wobei die mindestens zwei Öffnungen senkrecht zur Oberfläche des Substrats gesehen mindestens einen unterschiedlichen Querschnitt aufweisen. Eine derartige Ausgestaltung der Öffnungen erweist sich insbesondere dann als vorteilhaft, wenn die Schicht aus zweitem Material eine komplexere geometrische Form mit Abwinkelungen aufweist, beispielsweise T-förmig oder sternförmig ausgebildet ist.
- Es hat sich als vorteilhaft erwiesen, wenn das elektronische Bauelement als ein organisches Halbleiterbauelement, insbesondere ein Feldeffekt-Transistor (OFET), als eine organische Diode, als ein organischer Kondensator mit spannungsgesteuerter Kapazität, als ein organischer Widerstand oder als eine organische elektrische Leitungsanordnung ausgebildet ist.
- Bei einem organischen Feldeffekt-Transistor (OFET) handelt es sich um einen Feldeffekt-Transistor mit mindestens drei Elektroden, einer Halbleiterschicht und einer Isolierschicht. Der OFET ist aus einem Trägersubstrat angeordnet. Eine Schicht aus einem organischen, halbleitenden Material bildet einen leitfähigen Kanal, dessen Endabschnitte durch eine Source-Elektrode und eine Drain-Elektrode gebildet sind. Der leitfähige Kanal ist mit einer Isolationsschicht abgedeckt, aus der eine Gate-Elektrode angeordnet ist. Durch Anlegen einer Gate-Source-Spannung UGS zwischen Gate-Elektrode und Source-Elektrode kann die Leitfähigkeit des Kanals verändert werden. Die Ladungsträger werden durch die Ausbildung eines elektrischen Feldes in der Isolationsschicht verdichtet, wenn eine Gate-Source-Spannung UGS geeigneter Polarität angelegt wird, d.h. bei p-Leitern eine negative Spannung bzw. bei n-Leitern eine positive Spannung. Infolgedessen sinkt der elektrische Wiederstand zwischen der Drain-Elektrode und der Source-Elektrode. Es kann sich nun bei Anlegen einer Drain-Source-Spannung UDS ein größerer Stromfluss zwischen der Source- und der Drain-Elektrode ausbilden, als bei einer offenen Gate-Elektrode. Es handelt sich bei einem Feldeffekttransistor also um einen gesteuerten Widerstand.
- Insbesondere ist für das elektronische Bauelement bevorzugt, wenn die elektrische Funktionsschicht aus einem elektrisch leitenden oder halbleitenden Material mittels einer Flüssigkeit, insbesondere durch ein Druckverfahren, gebildet ist. Der Begriff Flüssigkeit umfasst dabei beispielsweise Suspensionen, Emulsionen, sonstige Dispersionen oder auch Lösungen. Das Druckverhalten der Flüssigkeit wird dabei durch Parameter wie Viskosität, Konzentration. Siedetemperatur und Oberflächenspannung bestimmt. So kann eine Variation der Dicke der durch Drucken gebildeten elektrischen Funktionsschicht dadurch erreicht werden, dass entweder die Konzentration an organischem Material, beispielsweise Polymer, in der Flüssigkeit erhöht wird oder die Auftragsmenge in einem Druckvorgang erhöht wird oder die Anzahl an Flüssigkeitsaufträgen mit Zwischentrocknung erhöht wird. Als Druckverfahren sind hierbei Tiefdruck, Hockdruck, Siebdruck, Flexo- oder Tampondruck, Schablonendruck oder ähnliches verwendbar. Auch einem Druckverfahren gleichzusetzende Verfahren wie ein Aufrakeln ist möglich.
- Weiterhin ist es für das elektronische Bauelement bevorzugt, wenn die elektrische Funktionsschicht aus einem elektrisch leitenden oder halbleitenden Material durch Abscheidung über eine Gasphase, insbesondere durch Aufdampfen oder Sputtern, gebildet ist.
- Es hat sich für das elektronisches Bauelement bewährt, wenn dass die elektrische Funktionsschicht aus einem elektrisch leitenden oder halbleitenden Material mittels Laser oder Photolithographie strukturiert ist.
- Vorzugsweise ist die elektrische Funktionsschicht aus einem elektrisch leitenden oder halbleitenden Material in einem kontinuierlichen Herstellungsverfahren gebildet. Hier sind Rolle-zu-Rolle-Verfahren besonders bevorzugt.
- Die
1a bis5c sollen die Erfindung beispielhaft erläutern. So zeigt/zeigen -
1a einen Querschnitt durch ein Substrat mit zwei darauf angeordneten Schichten, -
1b eine Draufsicht auf die Schicht2 aus1a -
2a einen Querschnitt durch ein Substrat mit drei darauf angeordneten Schichten, -
2b und2c jeweils eine Draufsicht auf eine mögliche Variante der Schicht2 aus2a , -
3a einen Querschnitt durch ein weiteres Substrat mit drei darauf angeordneten Schichten, -
3b und3c jeweils eine Draufschicht auf eine mögliche Variante der Schicht2 aus3a , -
4a einen Querschnitt durch einen OFET, -
4b und4c jeweils eine Draufschicht auf eine mögliche Variante der Schicht2a aus4a , -
5a einen Querschnitt durch einen Kondensator mit spannungsgesteuerter Kapazität und -
5b und5c jeweils eine Draufsicht auf mögliche Variante der Schicht2a aus5a , -
1a zeigt einen Querschnitt durch ein flexibles Substrat1 in Form einer Kunstoff-Folie aus einem ersten Material, hier aus PET. Auf dem Substrat1 ist eine erste Schicht aus einem zweiten Material2 mit einer Schichtdicke von 10nm angeordnet, wobei als zweites Material2 aufgesputtertes Silber eingesetzt wurde. Die erste Schicht aus dem zweiten Material2 weist Öffnungen4 auf (siehe auch1b ). Über der ersten Schicht aus dem zweiten Material2 ist eine zweite Schicht aus einem dritten Material3 angeordnet, wobei die zweite Schicht aus dem dritten Material3 eine Schichtdicke von 20nm aufweist und durch die Öffnungen4 hindurch in Kontakt zum Substrat1 aus dem ersten Material steht. Zur Bildung der zweiten Schicht aus dem dritten Material3 wurde hierbei eine Flüssigkeit enthaltend Poly-3-alkylthiopen aufgedruckt und getrocknet. Eine zweite Adhäsionskraft des dritten Materials2 am ersten Material, welches durch die Oberfläche des Substrats1 bereitgestellt wird, ist dabei höher als eine erste Adhäsionskraft des zweiten Materials2 am ersten Material. -
1b zeigt eine Draufsicht auf die erste Schicht aus dem zweiten Material2 aus1a . Dabei ist erkennbar, dass es sich bei den Öffnungen4 im zweiten Material2 um quadratische Öffnungen mit gleichem Öffnungsquerschnitt handelt. Die Seitenlänge der Öffnungen beträgt 10μm. Die Menge an Öffnungen4 , sowie deren Anzahl und Anordnung ist so gewählt, dass weniger als 50% der Gesamtfläche der ersten Schicht aus dem zweiten Material2 ausgespart ist. Die Breite (siehe beispielhaft die Breiten B1, B2 und B3 in1b ) des zweiten Materials2 , die senkrecht zum Substrat gesehen verbleibt, ist kleiner als 30μm. Dies gewährleistet eine zuverlässige und gleichmäßige Fixierung des zweiten Materials2 mittels der zweiten Schicht aus dem dritten Material3 am ersten Material beziehungsweise der Substratoberfläche. -
2a zeigt einen Querschnitt durch ein flexibles Substrat1 aus PET als erstem Material, auf welchem eine erste Schicht aus einem zweiten Material2a angeordnet ist. Die Schicht aus dem zweiten Material2a ist aus Silberleitpaste in einer Schichtdicke von 15 nm gebildet worden und weist Öffnungen4 auf. Auf der Schicht aus dem zweiten Material2a ist eine zweite Schicht aus einem dritten Material3 angeordnet, welches eine Schichtdicke von 35 nm aufweist und durch die Öffnungen4 hindurch in direktem Kontakt zu der Oberfläche des Substrats1 beziehungsweise zum ersten Material steht. Auf der zweiten Schicht aus dem dritten Material3 ist eine mittels Silberleitpaste gebildete, flächige Elektrode2b angeordnet. Um die Flexibilität der Elektrode2b zu erhöhen, wird diese vorzugsweise ebenfalls mit Öffnungen gemäß der ersten Schicht aus dem zweiten Material2a versehen (hier nicht dargestellt). Das dritte Material3 ist aus dem organisch halbleitenden Material Pentacen gebildet, wobei die Adhäsionskraft des dritten Materials3 am Substrat1 höher ist als die Adhäsionskraft des zweiten Materials am Substrat1 . - Die
2b und2c zeigen jeweils eine Draufsicht auf eine mögliche Variante der ersten Schicht aus2a , wobei die2b zwei gleich große, rechteckige Öffnungen4a und die2c mehrere gleich große, quadratische Öffnungen4b aufzeigt, die als Öffnungen4 gemäß2a eingesetzt werden können. Dabei sind die Öffnungsquerschnitte der Öffnungen4a ,4b im Verhältnis zur Flächenausdehnung der ersten Schicht so klein gewählt, dass die Funktion der ersten Schicht nicht beeinträchtigt wird. Das Verhältnis zwischen der Summe der Öffnungsquerschnitte aller Öffnungen zur Fläche der ersten Schicht liegt dabei vorzugsweise im Bereiche von 1:20 bis 1:1. - Die
3a zeigt einen Querschnitt durch ein flexibles Substrat1 aus Papier, auf welchem eine Schicht aus einem ersten Material3a angeordnet ist. Das erste Material3a ist dabei aus dem organischen Halbleiter Poly-3-alkyltiophen in einer Schichtdicke von 15 nm gebildet. Auf der Schicht aus dem ersten Material3a ist eine Schicht aus einem zweiten Material2 gebildet, die Öffnungen4 aufweist. Das zweite Material2 ist aus aufgedampftem Kupfer in einer Schichtdicke von 10 nm gebildet. Auf der Schicht aus dem zweiten Material2 ist eine weitere Schicht aus einem dritten Material3b mit einer Schichtdicke von 15 nm angeordnet, wobei das dritte Material3b gleich dem ersten Material3a gewählt ist. Somit ergibt sich zwischen den Schichten aus dem dritten Material3b und dem ersten Material3a eine höhere Adhäsionskraft als zwischen der Schicht aus dem zweiten Material2 und der Schicht aus dem ersten Material3a . - Die
3b und3c zeigen jeweils eine Draufsicht auf eine mögliche Variante der Schicht2 aus3a , wobei die3b zwei gleich große, rechteckige Öffnungen4a und die3c mehrere gleich große, quadratische Öffnungen4b aufzeigt, die als Öffnungen4 gemäß3a eingesetzt werden können. -
4a zeigt einen Querschnitt durch einen OFET mit einem flexiblen Substrat1 aus PVP (=erstes Material), einer ersten Schicht aus einem zweiten Material2a , hier aufgedampftes Gold in einer Schichtdicke von 12 nm, wobei die erste Schicht die Source-/Drain-Elektroden des OFET bereitstellt, sowie einer zweiten Schicht aus einem dritten Material3 , welches organisch halbleitend, hier aus Poly-3-alkylthiophen gebildet ist. Auf der zweiten Schicht aus dem dritten Material3 , die eine Schichtdicke von 23 nm aufweist, befindet sich eine organische, elektrisch isolierende Schicht5 , welche wiederum eine Gate-Elektrode2b aus aufgedampften Gold trägt. - Die erste Schicht aus dem zweiten Material
2a weist Öffnungen4 auf, durch welche hindurch die zweite Schicht aus dem dritten Material3 in Kontakt zum ersten Material beziehungsweise zur Oberfläche des Substrats1 steht. Dadurch wird eine gute Haftung der ersten Schicht aus dem zweiten Material2 am ersten Material erreicht. - Um die Flexibilität und Haftung der Elektrode
2b zu erhöhen, wird diese vorzugsweise ebenfalls mit Öffnungen ähnlich denen in der ersten Schicht aus dem zweiten Material2a versehen (hier nicht dargestellt). - Die
4b und4c zeigen jeweils eine Draufsicht auf eine mögliche Variante der Schicht2a aus4a . In4b sind dabei Öffnungen4a ,4b mit unterschiedlichem Öffnungsquerschnitt vorgesehen, während in4c lediglich Öffnungen4 mit gleichem Öffnungsquerschnitt angeordnet sind. -
5a zeigt einen Querschnitt durch einen Kondensator mit spannungsgesteuerter Kapazität, welcher ein Substrat1 aus einem ersten Material aufweist. Das erste Material ist aus PET-Folie gebildet. Auf dem Substrat1 ist eine erste Schicht aus einem zweiten Material2a angeordnet. Das zweite Material2a ist aus PeDOT mit einer Schichtdicke von 1 nm gebildet und weist Öffnungen4 auf. Auf der Schicht aus dem zweiten Material2a ist eine zweite Schicht aus einem dritten Material3 angeordnet, welches aus dem organischen Halbleiter Poly-3-alkylthiophen gebildet ist. Die zweite Schicht aus einem dritten Material3 ist über die Öffnungen4 in der ersten Schicht mit dem Substrat1 verbunden und fixiert dadurch die erste Schicht zuverlässig am Substrat1 . Auf der zweiten Schicht ist eine elektrisch isolierende Schicht5 aus Polyhydroxystyrol (PHS) angeordnet. Auf der Schicht5 ist eine elektrisch leitende Schicht2b , welche als Elektrode fungiert und aus PeDOT gebildet ist, angeordnet. - Um die Flexibilität und damit die Heftung der Elektrode
2b zu erhöhen, wird diese vorzugsweise ebenfalls mit Öffnungen wie denen in der ersten Schicht aus dem zweiten Material2a versehen (hier nicht dargestellt). - Die
5b und5c zeigen jeweils eine Draufsicht auf eine mögliche Variante der Schicht aus dem zweiten Material2a aus5a . In5b sind dabei Öffnungen4a mit rechteckigem Öffnungsquerschnitt vorgesehen, während in5c in der Schicht aus dem zweiten Material2a Öffnungen4b mit quadratischem Öffnungsquerschnitt angeordnet sind, um die Flexibilität der ersten Schicht und deren Haftung am Substrat1 zu verbessern.
Claims (24)
- Elektronisches Bauelement mit einem flexiblen Substrat (
1 ), auf dessen Oberfläche ein Schichtstapel aus dünnen Schichten, enthaltend mindestens eine elektrische Funktionsschicht aus einem elektrisch leitenden oder halbleitenden Material, angeordnet ist, wobei das Bauelement mindestens ein erstes Material (3a ), ein schichtförmiges zweites Material (2 ,2a ) und ein schichtförmiges drittes Material (3 ,3b ) umfasst und wobei senkrecht zur Oberfläche des Substrat (1 ) gesehen auf das erste Material (3a ) das zweite Material (2 ,2a ) folgt und auf das zweite Material (2 ,2a ) das dritte Material (3 ,3b ) folgt, dadurch gekennzeichnet, dass eine erste Adhäsionskraft des zweiten Materials (2 ,2a ) am ersten Material (3a ) geringer ist als eine zweite Adhäsionskraft des dritten Materials (3 ,3b ) am ersten Material (3a ) und dass das zweite Material (2 ,2a ) mindestens eine Öffnung (4 ,4a ,4b ) aufweist, über welche das dritte Material (3 ,3b ) mit dem ersten Material (3a ) zur Erhöhung der Haftung des zweiten Materials (2 ,2a ) am ersten Material (3a ) verbunden ist. - Elektronisches Bauelement nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die erste Adhäsionskraft um mindestens 50%, insbesondere um mindestens 75% geringer ist als die zweite Adhäsionskraft.
- Elektronisches Bauelement nach einem der Anspruche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass das erste Material die Oberfläche das Substrats (
1 ) bildet, dass das zweite Material (2 ,2a ) durch eine auf der Oberfläche des Substrats (1 ) angeordnete erste Schicht bereitgestellt ist und dass das dritte Material (3 ,3b ) durch eine auf der Oberfläche der ersten Schicht angeordnete zweite Schicht bereitgestellt ist. - Elektronisches Bauelement nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass das erste, das zweite und das dritte Material durch drei dünne Schichten des Schichtstapels bereitgestellt sind.
- Elektronisches Bauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, dass die dünnen Schichten des Schichtstapels jeweils eine Schichtdicke im Bereich von 1nm bis 10μm aufweisen.
- Elektronisches Bauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass das flexible Substrat (
1 ) mehrlagig ausgebildet ist. - Elektronisches Bauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekennzeichnet, dass das zweite Material (
2 ,2a ) die mindestens eine Öffnung (4 ,4a ,4b ) an mindestens 50% des Öffnungsumfangs, insbesondere an 100% des Öffnungsumfangs, begrenzt. - Elektronisches Bauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekennzeichnet, dass die mindestens eine Öffnung (
4 ,4a ,4b ) an ihrem maximalen Querschnitt, senkrecht zur Oberfläche des Substrats (1 ) gesehen, eine Breite im Bereich von 0,5 bis 200 μm, insbesondere im Bereich von 0,5 bis 2,5 μm, aufweist. - Elektronisches Bauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 8, dadurch gekennzeichnet, dass das zweite Material (
2 ,2a ) eine Schichtdicke im Bereich von 1 bis 200 nm aufweist. - Elektronisches Bauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch gekennzeichnet, dass das dritte Material (
3 ,3b ) eine Schichtdicke aufweist, die mindestens 10% der Schichtdicke des zweiten Materials (2 ,2a ) beträgt. - Elektronisches Bauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 10, dadurch gekennzeichnet, dass 5 bis 54%, insbesondere 5 bis 10%, einer Gasamtfläche des zweiten Materials mit Öffnungen belegt ist.
- Elektronisches Bauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 11, dadurch gekennzeichnet, dass das zweite Material (
2 ,2a ) senkrecht zur Oberfläche des Substrats (1 ) gesehen an jeder Stelle eine Breite aufweist, die um weniger als 25% von der Breite des zweiten Materials (2 ,2a ) in den übrigen Bereichen abweicht. - Elektronisches Bauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 12, dadurch gekennzeichnet, dass das zweite Material (
2 ,2a ) elektrisch leitfähig ist, insbesondere aus einem Metall, einem leitfähigen Polymer, einem leitfähigen Kleber, einer leitfähigen Substanz mit leitfähigen anorganischen Partikeln in einer Polymermatrix oder aus einer Paste/Tinte enthaltend elektrisch leitfähige Partikel gebildet ist. - Elektronisches Bauelement nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass das zweite Material (
2 ,2a ) als eine erste Elektrode fungiert. - Elektronisches Bauelement nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, dass das Bauelement weiterhin eine zweite Elektrode aufweist, welche ebenfalls Öffnungen zur Erhöhung ihren Flexibilität aufweist.
- Elektronisches Bauelement nach einem der Ansprüche 13 oder 14, dadurch gekennzeichnet, dass das zweite Material (
2 ,2a ) mehrschichtig ausgebildet ist, insbesondere aus mehreren Metallschichten und/oder mehrere Polymerschichten und/oder mehreren Pasten/Tinten-Schichten. - Elektronisches Bauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 16, dadurch gekennzeichnet, dass das dritte Material (
3 ,3b ) die elektrische Funktionsschicht aus elektrisch leitendem oder halbleitendem Material bildet. - Elektronisches Bauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 17, dadurch gekennzeichnet, dass das zweite Material (
2 ,2a ) mindestens zwei Öffnungen (4 ,4a ,4b ) aufweist, wobei die mindestens zwei Öffnungen (4 ,4a ,4b ) senkrecht zur Oberfläche des Substrats (1 ) gesehen den gleichen Querschnitt aufweisen. - Elektronisches Bauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 17, dadurch gekennzeichnet, dass das zweite Material (
2 ,2a ) mindestens zwei Öffnungen (4 ,4a ,4b ) aufweist, wobei die mindestens zwei Öffnungen (4 ,4a ,4b ) senkrecht zur Oberfläche des Substrats (1 ) gesehen mindestens einen unterschiedlichen Querschnitt aufweisen. - Elektronisches Bauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 19, dadurch gekennzeichnet, dass das elektronische Bauelement als ein organisches Halbleiterbauelement, insbesondere ein Feldeffekt-Transistor (OFET), als eine organische Diode, als ein organischer Kondensator mit spannungsgesteuerter Kapazität, als ein organischer Widerstand oder als eine organische elektrische Leitungsanordnung ausgebildet ist.
- Elektronisches Bauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 20, dadurch gekennzeichnet, dass die elektrische Funktionsschicht aus einem elektrisch leitenden oder halbleitenden Material mittels einer Flüssigkeit, insbesondere durch ein Druckverfahren, gebildet ist.
- Elektronisches Bauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 20, dadurch gekennzeichnet, dass die elektrische Funktionsschicht aus einem elektrisch leitenden oder halbleitenden Material durch Abscheidung über eine Gasphase, insbesondere durch Aufdampfen oder Sputtern, gebildet ist.
- Elektronisches Bauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 22, dadurch gekennzeichnet, dass die elektrische Funktionsschicht aus einem elektrisch leitenden oder halbleitenden Material mittels Laser oder Photolithographie strukturiert ist.
- Elektronisches Bauelement nach einem der Ansprüche 1 bis 23, dadurch gekennzeichnet, dass die elektrische Funktionsschicht aus einem elektrisch leitenden oder halbleitenden Material in einem kontinuierlichen Herstellungsverfahren gebildet ist.
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102005035590A DE102005035590A1 (de) | 2005-07-29 | 2005-07-29 | Elektronisches Bauelement |
PCT/EP2006/007442 WO2007014695A1 (de) | 2005-07-29 | 2006-07-27 | Elektronisches bauelement |
DE502006002452T DE502006002452D1 (de) | 2005-07-29 | 2006-07-27 | Elektronisches bauelement |
EP06776455A EP1911089B1 (de) | 2005-07-29 | 2006-07-27 | Elektronisches bauelement |
US11/989,623 US20090108253A1 (en) | 2005-07-29 | 2006-07-27 | Electronic component |
AT06776455T ATE418791T1 (de) | 2005-07-29 | 2006-07-27 | Elektronisches bauelement |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE102005035590A DE102005035590A1 (de) | 2005-07-29 | 2005-07-29 | Elektronisches Bauelement |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102005035590A1 true DE102005035590A1 (de) | 2007-02-01 |
Family
ID=36930388
Family Applications (2)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE102005035590A Ceased DE102005035590A1 (de) | 2005-07-29 | 2005-07-29 | Elektronisches Bauelement |
DE502006002452T Active DE502006002452D1 (de) | 2005-07-29 | 2006-07-27 | Elektronisches bauelement |
Family Applications After (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE502006002452T Active DE502006002452D1 (de) | 2005-07-29 | 2006-07-27 | Elektronisches bauelement |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US20090108253A1 (de) |
EP (1) | EP1911089B1 (de) |
AT (1) | ATE418791T1 (de) |
DE (2) | DE102005035590A1 (de) |
WO (1) | WO2007014695A1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2011151463A1 (en) * | 2010-06-04 | 2011-12-08 | Plastic Logic Limited | Conductive elements in organic electronic devices |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102005044306A1 (de) * | 2005-09-16 | 2007-03-22 | Polyic Gmbh & Co. Kg | Elektronische Schaltung und Verfahren zur Herstellung einer solchen |
DE112013006639T5 (de) * | 2013-02-25 | 2015-10-29 | Hitachi, Ltd. | Halbleitervorrichtung, Treibervorrichtung für eine Halbleiterschaltung und Leistungswandlungsvorrichtung |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6596569B1 (en) * | 2002-03-15 | 2003-07-22 | Lucent Technologies Inc. | Thin film transistors |
Family Cites Families (97)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3512052A (en) * | 1968-01-11 | 1970-05-12 | Gen Motors Corp | Metal-insulator-semiconductor voltage variable capacitor with controlled resistivity dielectric |
JPS543594B2 (de) * | 1973-10-12 | 1979-02-24 | ||
US4442019A (en) * | 1978-05-26 | 1984-04-10 | Marks Alvin M | Electroordered dipole suspension |
US4246298A (en) * | 1979-03-14 | 1981-01-20 | American Can Company | Rapid curing of epoxy resin coating compositions by combination of photoinitiation and controlled heat application |
US4340057A (en) * | 1980-12-24 | 1982-07-20 | S. C. Johnson & Son, Inc. | Radiation induced graft polymerization |
US4472627A (en) * | 1982-09-30 | 1984-09-18 | The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Treasury | Authenticating and anti-counterfeiting device for currency |
EP0239808B1 (de) * | 1986-03-03 | 1991-02-27 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Strahlungsdetektor |
US4937119A (en) * | 1988-12-15 | 1990-06-26 | Hoechst Celanese Corp. | Textured organic optical data storage media and methods of preparation |
US5892244A (en) * | 1989-01-10 | 1999-04-06 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Field effect transistor including πconjugate polymer and liquid crystal display including the field effect transistor |
US6331356B1 (en) * | 1989-05-26 | 2001-12-18 | International Business Machines Corporation | Patterns of electrically conducting polymers and their application as electrodes or electrical contacts |
US5206525A (en) * | 1989-12-27 | 1993-04-27 | Nippon Petrochemicals Co., Ltd. | Electric element capable of controlling the electric conductivity of π-conjugated macromolecular materials |
US5202677A (en) * | 1991-01-31 | 1993-04-13 | Crystal Images, Inc. | Display apparatus using thermochromic material |
US5408109A (en) * | 1991-02-27 | 1995-04-18 | The Regents Of The University Of California | Visible light emitting diodes fabricated from soluble semiconducting polymers |
US5486851A (en) * | 1991-10-30 | 1996-01-23 | Fraunhofer-Gesellschaft Zur Forderung Der Angewandten Forschung E.V. | Illumination device using a pulsed laser source a Schlieren optical system and a matrix addressable surface light modulator for producing images with undifracted light |
JP2709223B2 (ja) * | 1992-01-30 | 1998-02-04 | 三菱電機株式会社 | 非接触形携帯記憶装置 |
JP3457348B2 (ja) * | 1993-01-15 | 2003-10-14 | 株式会社東芝 | 半導体装置の製造方法 |
FR2701117B1 (fr) * | 1993-02-04 | 1995-03-10 | Asulab Sa | Système de mesures électrochimiques à capteur multizones, et son application au dosage du glucose. |
JPH0722669A (ja) * | 1993-07-01 | 1995-01-24 | Mitsubishi Electric Corp | 可塑性機能素子 |
FR2710413B1 (fr) * | 1993-09-21 | 1995-11-03 | Asulab Sa | Dispositif de mesure pour capteurs amovibles. |
US5556706A (en) * | 1993-10-06 | 1996-09-17 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Conductive layered product and method of manufacturing the same |
US6028649A (en) * | 1994-04-21 | 2000-02-22 | Reveo, Inc. | Image display systems having direct and projection viewing modes |
KR100350817B1 (ko) * | 1994-05-16 | 2003-01-24 | 코닌클리케 필립스 일렉트로닉스 엔.브이. | 유기반도체물질로형성된반도체장치 |
JP3246189B2 (ja) * | 1994-06-28 | 2002-01-15 | 株式会社日立製作所 | 半導体表示装置 |
US5528222A (en) * | 1994-09-09 | 1996-06-18 | International Business Machines Corporation | Radio frequency circuit and memory in thin flexible package |
US5630986A (en) * | 1995-01-13 | 1997-05-20 | Bayer Corporation | Dispensing instrument for fluid monitoring sensors |
JP3068430B2 (ja) * | 1995-04-25 | 2000-07-24 | 富山日本電気株式会社 | 固体電解コンデンサ及びその製造方法 |
JPH08328031A (ja) * | 1995-06-02 | 1996-12-13 | Sharp Corp | フルカラー液晶表示装置およびその製造方法 |
US5652645A (en) * | 1995-07-24 | 1997-07-29 | Anvik Corporation | High-throughput, high-resolution, projection patterning system for large, flexible, roll-fed, electronic-module substrates |
US5707894A (en) * | 1995-10-27 | 1998-01-13 | United Microelectronics Corporation | Bonding pad structure and method thereof |
US5625199A (en) * | 1996-01-16 | 1997-04-29 | Lucent Technologies Inc. | Article comprising complementary circuit with inorganic n-channel and organic p-channel thin film transistors |
EP0785457A3 (de) * | 1996-01-17 | 1998-10-14 | Nippon Telegraph And Telephone Corporation | Optische Vorrichtung und dreidimensionale Anzeigevorrichtung |
GB2310493B (en) * | 1996-02-26 | 2000-08-02 | Unilever Plc | Determination of the characteristics of fluid |
AU3487197A (en) * | 1996-06-12 | 1998-01-07 | Trustees Of Princeton University, The | Patterning of thin films for the fabrication of organic multi-color displays |
DE19629656A1 (de) * | 1996-07-23 | 1998-01-29 | Boehringer Mannheim Gmbh | Diagnostischer Testträger mit mehrschichtigem Testfeld und Verfahren zur Bestimmung von Analyt mit dessen Hilfe |
US6259506B1 (en) * | 1997-02-18 | 2001-07-10 | Spectra Science Corporation | Field activated security articles including polymer dispersed liquid crystals, and including micro-encapsulated field affected materials |
US6344662B1 (en) * | 1997-03-25 | 2002-02-05 | International Business Machines Corporation | Thin-film field-effect transistor with organic-inorganic hybrid semiconductor requiring low operating voltages |
US5946551A (en) * | 1997-03-25 | 1999-08-31 | Dimitrakopoulos; Christos Dimitrios | Fabrication of thin film effect transistor comprising an organic semiconductor and chemical solution deposited metal oxide gate dielectric |
JP4509228B2 (ja) * | 1997-08-22 | 2010-07-21 | コーニンクレッカ フィリップス エレクトロニクス エヌ ヴィ | 有機材料から成る電界効果トランジスタ及びその製造方法 |
US6251513B1 (en) * | 1997-11-08 | 2001-06-26 | Littlefuse, Inc. | Polymer composites for overvoltage protection |
US6083104A (en) * | 1998-01-16 | 2000-07-04 | Silverlit Toys (U.S.A.), Inc. | Programmable toy with an independent game cartridge |
DE69937485T2 (de) * | 1998-01-28 | 2008-08-21 | Thin Film Electronics Asa | Methode zur herstellung zwei- oder dreidimensionaler elektrisch leitender oder halbleitender strukturen, eine löschmethode derselben und ein generator/modulator eines elektrischen feldes zum gebrauch in der herstellungsmethode |
US6087196A (en) * | 1998-01-30 | 2000-07-11 | The Trustees Of Princeton University | Fabrication of organic semiconductor devices using ink jet printing |
US6045977A (en) * | 1998-02-19 | 2000-04-04 | Lucent Technologies Inc. | Process for patterning conductive polyaniline films |
US6369793B1 (en) * | 1998-03-30 | 2002-04-09 | David C. Zimman | Printed display and battery |
JP4664501B2 (ja) * | 1998-04-10 | 2011-04-06 | イー インク コーポレイション | 有機系電界効果トランジスタを用いる電子ディスプレイ |
GB9808061D0 (en) * | 1998-04-16 | 1998-06-17 | Cambridge Display Tech Ltd | Polymer devices |
US6107920A (en) * | 1998-06-09 | 2000-08-22 | Motorola, Inc. | Radio frequency identification tag having an article integrated antenna |
CA2334862C (en) * | 1998-06-19 | 2006-06-13 | Thomas Jackson | An integrated inorganic/organic complementary thin-film transistor circuit and a method for its production |
US6215130B1 (en) * | 1998-08-20 | 2001-04-10 | Lucent Technologies Inc. | Thin film transistors |
US6384804B1 (en) * | 1998-11-25 | 2002-05-07 | Lucent Techonologies Inc. | Display comprising organic smart pixels |
US6506438B2 (en) * | 1998-12-15 | 2003-01-14 | E Ink Corporation | Method for printing of transistor arrays on plastic substrates |
US6114088A (en) * | 1999-01-15 | 2000-09-05 | 3M Innovative Properties Company | Thermal transfer element for forming multilayer devices |
GB2347013A (en) * | 1999-02-16 | 2000-08-23 | Sharp Kk | Charge-transport structures |
DE69930291T2 (de) * | 1999-02-22 | 2006-12-21 | Nippon Steel Corp. | Hochfestes feuerverzinktes Stahlblech mit ausgezeichneter Plattierungshaftung und Preßformbarkeit sowie Verfahren zu seiner Herstellung |
US6180956B1 (en) * | 1999-03-03 | 2001-01-30 | International Business Machine Corp. | Thin film transistors with organic-inorganic hybrid materials as semiconducting channels |
US6207472B1 (en) * | 1999-03-09 | 2001-03-27 | International Business Machines Corporation | Low temperature thin film transistor fabrication |
US6072716A (en) * | 1999-04-14 | 2000-06-06 | Massachusetts Institute Of Technology | Memory structures and methods of making same |
US6387736B1 (en) * | 1999-04-26 | 2002-05-14 | Agilent Technologies, Inc. | Method and structure for bonding layers in a semiconductor device |
US6736985B1 (en) * | 1999-05-05 | 2004-05-18 | Agere Systems Inc. | High-resolution method for patterning a substrate with micro-printing |
US6383664B2 (en) * | 1999-05-11 | 2002-05-07 | The Dow Chemical Company | Electroluminescent or photocell device having protective packaging |
JP4136185B2 (ja) * | 1999-05-12 | 2008-08-20 | パイオニア株式会社 | 有機エレクトロルミネッセンス多色ディスプレイ及びその製造方法 |
US6366017B1 (en) * | 1999-07-14 | 2002-04-02 | Agilent Technologies, Inc/ | Organic light emitting diodes with distributed bragg reflector |
US6593690B1 (en) * | 1999-09-03 | 2003-07-15 | 3M Innovative Properties Company | Large area organic electronic devices having conducting polymer buffer layers and methods of making same |
JP4595143B2 (ja) * | 1999-09-06 | 2010-12-08 | 双葉電子工業株式会社 | 有機elデバイスとその製造方法 |
EP1085320A1 (de) * | 1999-09-13 | 2001-03-21 | Interuniversitair Micro-Elektronica Centrum Vzw | Vorrichtung auf Basis von organischem Material zur Erfassung eines Probenanalyts |
US6517995B1 (en) * | 1999-09-14 | 2003-02-11 | Massachusetts Institute Of Technology | Fabrication of finely featured devices by liquid embossing |
US6340822B1 (en) * | 1999-10-05 | 2002-01-22 | Agere Systems Guardian Corp. | Article comprising vertically nano-interconnected circuit devices and method for making the same |
EP1149420B1 (de) * | 1999-10-11 | 2015-03-04 | Creator Technology B.V. | Integrierter schaltkreis |
US6335539B1 (en) * | 1999-11-05 | 2002-01-01 | International Business Machines Corporation | Method for improving performance of organic semiconductors in bottom electrode structure |
US6197663B1 (en) * | 1999-12-07 | 2001-03-06 | Lucent Technologies Inc. | Process for fabricating integrated circuit devices having thin film transistors |
EP1243032B1 (de) * | 1999-12-21 | 2019-11-20 | Flexenable Limited | Mit tintenstrahldruck erzeugte integrierte schaltungen |
TW497120B (en) * | 2000-03-06 | 2002-08-01 | Toshiba Corp | Transistor, semiconductor device and manufacturing method of semiconductor device |
EP1210643A2 (de) * | 2000-06-06 | 2002-06-05 | Koninklijke Philips Electronics N.V. | Flüssigkristallanzeige und verfahren zu deren herstellung |
DE10033112C2 (de) * | 2000-07-07 | 2002-11-14 | Siemens Ag | Verfahren zur Herstellung und Strukturierung organischer Feldeffekt-Transistoren (OFET), hiernach gefertigter OFET und seine Verwendung |
JP2004506985A (ja) * | 2000-08-18 | 2004-03-04 | シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト | 封入された有機電子構成素子、その製造方法および使用 |
US20040029310A1 (en) * | 2000-08-18 | 2004-02-12 | Adoft Bernds | Organic field-effect transistor (ofet), a production method therefor, an integrated circut constructed from the same and their uses |
US6699728B2 (en) * | 2000-09-06 | 2004-03-02 | Osram Opto Semiconductors Gmbh | Patterning of electrodes in oled devices |
DE10045192A1 (de) * | 2000-09-13 | 2002-04-04 | Siemens Ag | Organischer Datenspeicher, RFID-Tag mit organischem Datenspeicher, Verwendung eines organischen Datenspeichers |
KR20020036916A (ko) * | 2000-11-11 | 2002-05-17 | 주승기 | 실리콘 박막의 결정화 방법 및 이에 의해 제조된 반도체소자 |
US6924688B1 (en) * | 2000-11-28 | 2005-08-02 | Precision Dynamics Corporation | Rectifying charge storage device with antenna |
KR100390522B1 (ko) * | 2000-12-01 | 2003-07-07 | 피티플러스(주) | 결정질 실리콘 활성층을 포함하는 박막트랜지스터 제조 방법 |
DE10061297C2 (de) * | 2000-12-08 | 2003-05-28 | Siemens Ag | Verfahren zur Sturkturierung eines OFETs |
GB2371910A (en) * | 2001-01-31 | 2002-08-07 | Seiko Epson Corp | Display devices |
DE10105914C1 (de) * | 2001-02-09 | 2002-10-10 | Siemens Ag | Organischer Feldeffekt-Transistor mit fotostrukturiertem Gate-Dielektrikum und ein Verfahren zu dessen Erzeugung |
US7351660B2 (en) * | 2001-09-28 | 2008-04-01 | Hrl Laboratories, Llc | Process for producing high performance interconnects |
US6679036B2 (en) * | 2001-10-15 | 2004-01-20 | Shunchi Crankshaft Co., Ltd. | Drive gear shaft structure of a self-moving type mower |
DE10160732A1 (de) * | 2001-12-11 | 2003-06-26 | Siemens Ag | Organischer Feld-Effekt-Transistor mit verschobener Schwellwertspannung und Verwendung dazu |
US7204425B2 (en) * | 2002-03-18 | 2007-04-17 | Precision Dynamics Corporation | Enhanced identification appliance |
DE10212640B4 (de) * | 2002-03-21 | 2004-02-05 | Siemens Ag | Logische Bauteile aus organischen Feldeffekttransistoren |
US6812509B2 (en) * | 2002-06-28 | 2004-11-02 | Palo Alto Research Center Inc. | Organic ferroelectric memory cells |
US6870183B2 (en) * | 2002-11-04 | 2005-03-22 | Advanced Micro Devices, Inc. | Stacked organic memory devices and methods of operating and fabricating |
US7088145B2 (en) * | 2002-12-23 | 2006-08-08 | 3M Innovative Properties Company | AC powered logic circuitry |
DE10302149A1 (de) * | 2003-01-21 | 2005-08-25 | Siemens Ag | Verwendung leitfähiger Carbon-black/Graphit-Mischungen für die Herstellung von low-cost Elektronik |
DE10338277A1 (de) * | 2003-08-20 | 2005-03-17 | Siemens Ag | Organischer Kondensator mit spannungsgesteuerter Kapazität |
JP4400327B2 (ja) * | 2003-09-11 | 2010-01-20 | セイコーエプソン株式会社 | タイル状素子用配線形成方法 |
US7122828B2 (en) * | 2003-09-24 | 2006-10-17 | Lucent Technologies, Inc. | Semiconductor devices having regions of induced high and low conductivity, and methods of making the same |
US7358530B2 (en) * | 2003-12-12 | 2008-04-15 | Palo Alto Research Center Incorporated | Thin-film transistor array with ring geometry |
-
2005
- 2005-07-29 DE DE102005035590A patent/DE102005035590A1/de not_active Ceased
-
2006
- 2006-07-27 AT AT06776455T patent/ATE418791T1/de not_active IP Right Cessation
- 2006-07-27 WO PCT/EP2006/007442 patent/WO2007014695A1/de active Application Filing
- 2006-07-27 DE DE502006002452T patent/DE502006002452D1/de active Active
- 2006-07-27 US US11/989,623 patent/US20090108253A1/en not_active Abandoned
- 2006-07-27 EP EP06776455A patent/EP1911089B1/de active Active
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6596569B1 (en) * | 2002-03-15 | 2003-07-22 | Lucent Technologies Inc. | Thin film transistors |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2011151463A1 (en) * | 2010-06-04 | 2011-12-08 | Plastic Logic Limited | Conductive elements in organic electronic devices |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1911089B1 (de) | 2008-12-24 |
WO2007014695A1 (de) | 2007-02-08 |
US20090108253A1 (en) | 2009-04-30 |
DE502006002452D1 (de) | 2009-02-05 |
ATE418791T1 (de) | 2009-01-15 |
EP1911089A1 (de) | 2008-04-16 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP1825516A2 (de) | Gatter aus organischen feldeffekttransistoren | |
EP2087519B1 (de) | Feldeffekttransistor sowie elektrische schaltung | |
EP1656683B1 (de) | Organischer kondensator mit spannungsgesteuerter kapazität | |
WO2007031303A1 (de) | Elektronische schaltung und verfahren zur herstellung einer solchen | |
EP1911089B1 (de) | Elektronisches bauelement | |
EP1911108B1 (de) | Verfahren zur herstellung eines elektronischen bauelements | |
DE102008026216B4 (de) | Elektronische Schaltung | |
DE102008060645A1 (de) | Leiterplatte mit ausgerichteten Nanostrukturen | |
EP1704606B1 (de) | Verfahren zur Herstellung eines organischen Transistors mit selbstjustierender Gate-Elektrode | |
DE102005002149A1 (de) | Tastatur und Verfahren zur Herstellung einer Tastatur | |
DE102007062944B4 (de) | Elektronische Schaltung | |
EP1922774B1 (de) | Organisches bauelement und ein solches umfassende elektrische schaltung | |
DE102006035293B4 (de) | Verfahren zur Herstellung eines organischen elektrischen Bauelements | |
DE102017111464B4 (de) | Kompakte kondensatoren und verfahren zu ihrer herstellung | |
DE102006027291B4 (de) | Verfahren zur Herstellung einer strukturierten Schichtenfolge auf einem Substrat | |
DE102019201792A1 (de) | Halbleiter-Schaltungsanordnung und Verfahren zu deren Herstellung | |
DE102009032696A1 (de) | Organisch elektronische Schaltung | |
EP1999757A1 (de) | Verfahren zum programmieren einer elektronischen schaltung sowie elektronische schaltung | |
DE102007049420A1 (de) | Verfahren zur Herstellung eines elektrischen Moduls | |
DE102005033756A1 (de) | Verfahren zur Herstellung von elektronischen Bauteilen aus zwei mehrlagigen Ausgangsstrukturen | |
WO2005006448A1 (de) | Feldeffekttransistor und verfahren zum herstellen eines feldeffekttransistors | |
DE102009047315A1 (de) | Organischer Feldeffekttransistor und Verfahren zur Herstellung desselben | |
DE102007037069A1 (de) | Elektronisches Bauteil und Verfahren zu seiner Herstellung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: POLYIC GMBH & CO.KG, 90763 FUERTH, DE |
|
8131 | Rejection |