DE102007044298B3 - Method and arrangement for generating a laser beam with a linear beam cross section - Google Patents
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Abstract
Beschrieben wird ein Verfahren sowie eine Anordnung zum Erzeugen eines Laserstrahls mit einem linienhaften Strahlquerschnitt, der eine lange und eine kurze Strahlquerschnittsachse besitzt und eine Erstreckung in der langen Achse von wenigstens 200 mm und eine Erstreckung in der kurzen Achse von maximal 800 µm aufweist, bei dem der aus einer Laserstrahlquelle austretende Laserstrahl getrennt bezüglich der langen Achse und der kurzen Achse homogenisiert wird, indem der Laserstrahl sowohl relativ zur langen als auch zur kurzen Achse unter Erzeugung jeweils einer Fokiebene, in die jeweils eine Vielzahl von Teilstrahlen, in die der Strahlquerschnitt des Laserstrahls aufgetrennt wird, fokussiert wird, die nachfolgend unter Ausbildung eines im Strahlquerschnitt homogenisierten Laserstrahls zusammengeführt werden, und der Laserstrahl zumindest bezüglich der langen Achse eine telezentrische Abbildung erfährt, d.h. der bezüglich der langen Achse homogenisierte Laserstrahl wird mittels einer Kondensoroptik (LACL) derart abgebildet, dass ein dem abgebildeten Laserstrahl zuordenbarer Strahlengang, bestehend aus längs zur Ausbreitungsrichtung orientierten Teilstrahlen parallelen Lichtes, entsteht. Die Erfindung zeichnet sich durch folgende Verfahrensschritte aus: - Abbilden des sich in der kurzen Achse homogenisierend zusammenführenden Strahlquerschnitts mittels einer ersten Kondensoroptik (SACL1) zur Erzeugung eines homogenen Bildfeldes (HFSA1) und Erzeugen einer ersten Pupille ...The invention relates to a method and an arrangement for producing a laser beam with a linear beam cross section, which has a long and a short beam cross-sectional axis and has an extension in the long axis of at least 200 mm and a short axis extension of at most 800 μm, in which the laser beam emitted from a laser beam source is homogenized separately with respect to the long axis and the short axis by the laser beam both relative to the long and the short axis to produce a respective focal plane, in each of a plurality of sub-beams, in which the beam cross section of the laser beam is separated, is focused, which are subsequently merged to form a homogenized in the beam cross-section laser beam, and the laser beam at least with respect to the long axis undergoes a telecentric imaging, ie the laser beam homogenized with respect to the long axis is imaged by means of a condenser optic (LACL) in such a way that a beam path assignable to the imaged laser beam, consisting of partial beams oriented parallel to the direction of propagation, is formed. The invention is characterized by the following method steps: imaging of the beam cross section which homogenizes in the short axis by means of a first condenser optical system (SACL1) for generating a homogeneous image field (HFSA1) and generating a first pupil.
Description
Technisches GebietTechnical area
Die Erfindung bezieht sich ein Verfahren sowie eine Anordnung zum Erzeugen eines Laserstrahls mit einem linienhaften Strahlquerschnitt, der eine lange und eine kurze Strahlquerschnittsachse besitzt und eine Erstreckungen in der langen Achse von wenigstens 200 mm und eine Erstreckung in der kurzen Achse von maximal 800 μm aufweist, bei dem der aus einer Laserstrahlquelle austretende Laserstrahl getrennt bezüglich der langen Achse und der kurzen Achse homogenisiert wird, indem der Laserstrahl sowohl relativ zur langen als auch zur kurzen Achse unter Erzeugung jeweils einer Fokiebene, in die jeweils eine Vielzahl von Teilstrahlen, in die der Strahlquerschnitt des Laserstrahls aufgetrennt wird, fokussiert wird, die nachfolgend unter Ausbildung eines im Strahlquerschnitt homogenisierten Laserstrahls zusammengeführt werden. Der Laserstrahl wird zumindest bezüglich der langen Achse telezentrisch abgebildet, d. h. der bezüglich der langen Achse homogenisierte Laserstrahl wird mittels einer Kondensoroptik derart abgebildet, dass ein dem abgebildeten Laserstrahl zuordenbarer Strahlengang, bestehend aus längs zur Ausbreitungsrichtung orientierten Teilstrahlen parallelen Lichtes, entsteht,The The invention relates to a method and an arrangement for generating a laser beam with a linear beam cross section, the one long and has a short beam cross-sectional axis and an extents in the long axis of at least 200 mm and an extension in the short axis of maximum 800 microns in which the laser beam emerging from a laser beam source separately regarding the long axis and the short axis is homogenized by the laser beam both relative to the long and the short axis generating a respective foci in each of which a plurality of partial beams, in which the beam cross section of the laser beam is focused, the following is under education a homogenized in the beam cross section laser beam are merged. The laser beam becomes telecentric at least with respect to the long axis shown, d. H. the re The long axis homogenized laser beam is by means of a condenser optics such that a laser beam can be assigned to the imaged laser beam Beam path, consisting of longitudinal oriented to the direction of propagation partial beams of parallel light, arises
Stand der TechnikState of the art
Verfahren sowie Anordnungen der vorstehend genannten Gattung werden seit geraumer Zeit in der industriellen Fertigung von auf TFT(thin film transistor)-Technik basierenden Flachbildschirmen eingesetzt. Eine der hierfür zu treffenden Maßnahmen ist die Bereitstellung einer möglichst großflächigen polykristallinen Siliziumschicht, auf deren Grundlage im Weiteren eine Vielzahl arrayförmig angeordneter Dünnschicht-Transistoren prozessiert wird. Zur Herstellung der polykristallinen Siliziumschicht wird ein Substrat mit amorphen Silizium beschichtet, das im Wege eines laserunterstützten Belichtungsverfahrens durch kontrollierte lokale, lichtinduzierte Erhitzung in polykristallines Silizium im Wege eines kurzzeitigen Schmelzvorganges umgewandelt wird. Für derartige, literaturbekannte Belichtungsverfahren werden in an sich bekannter Weise Excimer-Laser, beispielsweise XeCl-Laser eingesetzt, die Licht im ultravioletten Spektralbereich zu emittieren vermögen, das von Silizium weitgehend vollständig absorbiert wird, wodurch eine bis zum Aufschmelzen des amorphen Siliziums führende thermische Erhitzung und eine damit verbundene Rekristallisation des amorphen Siliziums in polykristallines Silizium ermöglicht wird. In diesen Zusammenhang wird häufig von ELA-Verfahren (Excimer Laser Annealing) gesprochen. Um eine für den Aufschmelzvorgang erforderliche Energiedichte auf die Oberfläche des mit amorphen Siliziums befilmten Substrates kurzzeitig mittels eines Laserstrahls zudeponieren und zugleich auch den Anforderungen industrieller Fertigung zu genügen, erwies es sich als zweckmäßig, den aus einem Excimer-Laser austretenden Laserstrahl, in einen Laserstrahl mit linienhafter Strahlquerschnittsform überzuführen, beispielsweise mit einer Linienlänge von 370 mm und einer Linienbreite von 400 μm, der in dieser Form in kontrollierter Weise zur lokalen kurzzeitigen Aufschmelzung der amorphen Siliziumschicht über die gesamte, mit amorphem Silizium beschichtete Substratoberfläche, abgescannt bzw. abgerastert wird.method and arrangements of the type mentioned above are quite long Time in the industrial production of TFT (thin film transistor) technology used based flat screens. One of the ones to be taken activities is the provision of one possible large-area polycrystalline Silicon layer, on the basis of which a plurality of arrayed arranged hereinafter Thin film transistors is processed. For producing the polycrystalline silicon layer a substrate is coated with amorphous silicon that gets in the way a laser assisted Exposure method by controlled local, light-induced Heating in polycrystalline silicon by means of a short-term Melting process is converted. For such, known from the literature Exposure methods are in a conventional manner excimer laser, for example XeCl lasers used the light in the ultraviolet spectral range to be able to emit that of silicon largely complete is absorbed, causing one to melt the amorphous Silicon leading thermal heating and associated recrystallization of amorphous silicon in polycrystalline silicon. In this context becomes frequent from ELA (Excimer Laser Annealing). To one for the Melting required energy density on the surface of the with amorphous silicon filmed substrate briefly by means of a Laser beam and at the same time meet the requirements of industrial To meet production it proved to be expedient, the from a excimer laser emerging laser beam, in a laser beam to be transferred with linear beam cross-sectional shape, for example with a line length of 370 mm and a line width of 400 microns, which in this form in controlled A method for local short-term melting of the amorphous silicon layer over the entire substrate surface coated with amorphous silicon was scanned or is scanned.
In besonders vorteilhafter Weise bedarf es für eine derartig homogene Rekristallisation eines entsprechend geformten Laserstrahls mit einer ausgeprägten Homogenität in der Verteilung der Lichtintensität sowohl längs der langen als auch längs der kurzen Achse des rechteckförmig linienhaften Strahlquerschnittes. Darüber hinaus ist es vorteilhaft, das Strahlprofil in Bezug auf die Lichtintensitätsverteilung längs der kurzen Achse mit beidseitig großer Flankensteilheit auszubilden, so dass in Bezug zur kurzen Strahlquerschnittsachse die Lichtintensität möglichst nahe an ein als ein Ideal anzusehendes Rechteckprofils angenähert wird, d. h. das Strahlintensitätsplateau reicht mit dem Plateauwert bis an die seitlichen Flanken heran und fällt an den Flanken steil ab.In Particularly advantageously, it is necessary for such a homogeneous recrystallization a correspondingly shaped laser beam with a pronounced homogeneity in the Distribution of light intensity both longitudinally the long as well as longitudinal the short axis of the rectangular linear beam cross section. In addition, it is advantageous the beam profile with respect to the light intensity distribution along the short axis with large sides on both sides Flank slope form, so that in relation to the short beam cross-sectional axis the light intensity as close as possible is approximated to a rectangular profile to be regarded as an ideal, d. H. the beam intensity plateau reaches with the plateau value up to the lateral flanks and falls the flanks steeply.
Repräsentativ
für einen
diesbezüglichen Stand
der Technik wird auf die
Im Bestreben, die Linienform des Strahlquerschnittes längs ihrer langen Achse zu vergrößern, letztlich auch aus Gründen möglichst großflächige, mit amorphem Silizium befilmte Substratflächen wirtschaftlich im Wege des ELA-Verfahrens zu bearbeiten, stellt sich in zunehmenden Maße das Problem der Bildfeldwölbung ein, die aufgrund unterschiedlicher Fokustiefen zu einer unscharfen Abbildung längs der Laserlinie führt, wobei der Grad der Unschärfe mit zunehmenden Abstand von der Bildmitte zu den Bildrandbereichen zunimmt. Dieser Abbildungsfehler schlägt darüber hinaus umso mehr zu Buche, wenn die Tiefenschärfe des abbildenden Systems in etwa in der gleichen oder kleineren Größenordnung liegt wie die durch die Bildfeldwölbung insbesondere in den Bildrandbereichen hervorgerufene Lageverschiebung der Fokuspunkte verglichen zur Fokuslage in der Bildmitte. Bedient man sich bei zur Abbildung des Laserstrahl längs seiner langen Achse jedoch einer telezentrischen Abbildung, d. h. die dem Laserstrahl zuordenbaren Teilstrahlen sind nach Durchtritt durch die dem Langachsenhomogenisierer nachgeordneten Kondensoroptik zueinander parallel gerichtet, so ist es möglich, die sich bezüglich der langen Achse ausbildenden nachteilig in Erscheinung tretenden Abbildungsfehler bedingt durch die Bildfeldwölbung zu minimieren. Derartige optische Aufbauten zur Realisierung lang dimensionierter Laserlinien mit Linienlängen von typischerweise 450 mm und mehr, erfordern jedoch zur Realisierung telezentrischer Abbildungsoptiken, große Abstände zwischen dem Langachsenhomogenisierer und der Langachsenkondensoroptik. Dies wirft jedoch Probleme bei der Abbildung des Laserstrahls längs seiner kurzen Achse auf, gilt es doch über die gesamte Linienlänge des Laserstrahls eine längs der kurzen Achse möglichst einem idealen Rechteckprofils angenäherte Lichtintensitätsverteilung, d. h. ein Profil mit einer möglichst definierten Linienhalbwertsbreite und einer ausgeprägten Flankensteilheit zu realisieren.in the Aspiration, the line shape of the beam cross section along its long axis to enlarge, ultimately also for reasons preferably large area, with amorphous silicon filmed substrate surfaces economically in the way the ELA procedure is becoming increasingly problematic Curvature of field a, due to different focus depths to a blurred Illustration along the laser line leads, being the degree of blur with increasing distance from the center of the image to the image border areas increases. This aberration also makes it even more interesting if the depth of field of the imaging system in about the same or smaller order of magnitude like the field curvature, especially in the image border areas caused shift in position of the focus points compared to the focus position in the middle of the picture. One uses oneself for the picture of the laser beam along his long axis, however, a telecentric imaging, d. H. the laser beam assignable partial beams are after passing through the longitudinal axis homogenizer downstream Condenser optics directed parallel to each other, so it is possible to with respect the long axis forming adversely appearing in appearance To minimize aberrations caused by the field curvature. such Optical structures for the realization of long dimensioned laser lines with line lengths typically 450 mm and more, but require realization telecentric imaging optics, large distances between the long axis homogenizer and the long-axis condenser optics. However, this raises problems the image of the laser beam along its short axis, but it applies over the entire line length of Laser beam one longitudinal the short axis as possible an ideal rectangular profile approximated light intensity distribution, d. H. a profile with one as possible defined line half width and a pronounced edge steepness to realize.
Darstellung der ErfindungPresentation of the invention
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zum Erzeugen eines Laserstrahls mit einem linienhaften Strahlquerschnitt, der eine lange und eine kurze Strahlquerschnittsachse besitzt und eine Erstreckung in der langen Achse von wenigstens 200 mm, vorzugsweise mehr als 400 mm, und eine Erstreckung in der kurzen Achse von maximal 800 μm, vorzugsweise 400 μm aufweist, bei dem der aus einer Laserstrahlquelle austretende Laserstrahl getrennt bezüglich der langen Achse und der kurzen Achse homogenisiert wird, indem der Laserstrahl sowohl relativ zur langen als auch zur kurzen Achse unter Erzeugung jeweils einer Fokiebene, in die jeweils eine Vielzahl von Teilstrahlen, in die der Strahlquerschnitt des Laserstrahls aufgetrennt wird, fokussiert wird, die nachfolgend unter Ausbildung eines im Strahlquerschnitt homogenisierten Laserstrahls zusammengeführt werden und der Laserstrahl zumindest bezüglich der langen Achse eine telezentrische Abbildung erfährt, d. h. der bezüglich der langen Achse homogenisierte Laserstrahl wird mittels einer Kondensoroptik derart abgebildet, dass ein dem abgebildeten Laserstrahl zuordenbarer Strahlengang, bestehend aus längs zur Ausbreitungsrichtung orientierten Teilstrahlen parallelen Lichtes, derart weiterzubilden, dass das Strahlprofil längs der kurzen Achse trotz der großen Abbildungsabstände mit einem möglichst scharf gezeichneten Rechtecksprofil, d. h. mit einer möglichst ausgeprägten Flankensteilheit und einer definierten Linienhalbwertsbreite, auf eine Abbildungsebene abgebildet werden kann. So gilt es insbesondere, optische Maßnahmen zu treffen, durch die eine weitgehend unabhängige Variation des Strahlprofils bezüglich der kurzen Achse hinsichtlich Flankensteilheit und Linienhalbwertsbreite längs der gesamten Länge des linienhaften Laserstrahlquerschnittes vorgenommen werden kann. Ferner gilt es, eine entsprechende Anordnung zur Erzeugung eines Laserstrahls anzugeben, die den vorstehend beschriebenen Anforderungen entspricht.The invention has for its object to provide a method for producing a laser beam with a linear beam cross section, which has a long and a short beam cross-sectional axis and an extension in the long axis of at least 200 mm, preferably more than 400 mm, and an extension in the short Axial of at most 800 microns, preferably 400 .mu.m, in which the emerging from a laser beam source laser beam is homogenized separately with respect to the long axis and the short axis by the laser beam both relative to the long and the short axis to produce a respective Fokiebene, in in each case a plurality of partial beams, in which the beam cross section of the laser beam is separated, is focused, which are subsequently combined to form a homogenized in the beam cross section laser beam and the laser beam at least with respect to the long axis undergoes a telecentric imaging, ie with respect to the lan gen axis homogenized laser beam is imaged by means of a condenser optics such that a the laser beam imaged beam path, consisting of longitudinally oriented to the propagation direction partial beams of parallel light, such that the beam profile along the short axis despite the large imaging distances with a sharp as possible drawn rectangular profile, ie can be mapped to a mapping plane with the greatest possible edge steepness and a defined line half-width. So it is particularly important to take optical measures by which a largely independent variation of the beam profile with respect to the short axis in terms of edge steepness and line half-width along the entire length of the linear laser beam cross-section can be made. Furthermore, it is necessary to provide a corresponding arrangement for generating a laser beam, the above be written requirements.
Die Lösung der der Erfindung zugrunde liegenden Aufgabe ist im Anspruch 1 angegeben. Eine lösungsgemäße Anordnung ist Gegenstand des Anspruches 6. Den Erfindungsgedanken vorteilhaft weiterbildende Merkmale sind Gegenstand der Unteransprüche sowie der weiteren Beschreibung, insbesondere unter Bezugnahme auf die Ausführungsbeispiele zu entnehmen.The solution the object underlying the invention is specified in claim 1. A solution according to the invention is the subject of claim 6. The idea of the invention advantageous Further features are the subject of the dependent claims and the further description, in particular with reference to the embodiments refer to.
Lösungsgemäß zeichnet sich ein Verfahren zum Erzeugen eines Laserstrahls mit einem linienhaften Strahlquerschnitt gemäß den Merkmalen des Oberbegriffes des Anspruches 1 dadurch aus, dass im Strahlengang zur Strahlformung sowie Strahlabbildung des Laserstrahlquerschnittes in der kurzen Achse eine wenigstens zweistufige optische Abbildung vorgenommen wird, mit der einerseits eine räumliche Überbrückung der durch die telezentrische Strahlführung bedingten langen Distanz zwischen dem Kurzachsenhomogenisierer und einer Abbildungsebene ermöglicht wird, in der sich vorzugsweise das mit der amorphen Si-Schicht versehene Substrat befindet, und mit der andererseits eine voneinander unabhängige Einstellmöglichkeit für die Flankensteilheit und Linienhalbwertsbreite geschaffen wird.Drawing according to the solution a method for generating a laser beam with a linear Beam cross section according to the features of the preamble of claim 1 characterized in that in the beam path for beam shaping and beam imaging of the laser beam cross section in the short axis an at least two-stage optical image is made with the one hand, a spatial bridging caused by the telecentric beam guidance long distance between the short axis homogenizer and an imaging plane allows is in which preferably provided with the amorphous Si layer Substrate is located, and with the other hand, an independent adjustment for the Slope and line half width is created.
Die zweistufige Abbildung ist lösungsgemäß durch zwei im Strahlengang nacheinander folgend angeordnete optische Abbildungszweige realisiert, von denen der erste optische Abbildungszweig aus den Zylinderlinsenanordnungen des Kurzachsenhomogenisierers, einer nachfolgenden Kurzachsenkondensoroptik sowie einer dem Strahlengang folgenden Kurzachsenfeldlinsenoptik besteht. Hierbei sind die einzelnen optischen Einheiten derart aufeinander abgestimmt und angeordnet, so dass zum einen die Kurzachsenkondensoroptik ein homogenes Bildfeld erzeugt und zum anderen die nachfolgende Feldlinsenoptik die sich zwischen beiden Zylinderanordnungen des Kurzachsenhomogenisierers sich scharf abbildende Fokiebene, in die die bezüglich der kurzen Achse aufgetrennten Teilstrahlen in Form eines Linienarrays abgebildet werden, in eine erste Pupillenebene abgebildet wird.The Two-stage imaging is by solution two in the beam path successively arranged optical imaging branches realized, of which the first optical imaging branch of the Cylinder lens arrangements of the short axis homogenizer, a subsequent Kurzachsenkondensoroptik and one of the beam path following Short-axis field lens optics exists. Here are the individual optical Units are coordinated and arranged so that On the one hand, the short-axis condenser optics generates a homogeneous image field and on the other hand, the subsequent field lens optics between two cylinder arrangements of the short axis homogenizer is sharp imaging foci into which the sliced with respect to the short axis Partial beams are imaged in the form of a line array, in one first pupil plane is mapped.
Der zweite Abbildungszweig, der im Strahlengang dem ersten Abbildungszweig nachgeordnet ist, bildet das im Rahmen des ersten homogenen Zweiges erzeugte homogene Bildfeld mittels einer zweiten Kondensoroptik in ein zweites homogenes Bildfeld ab, wobei zugleich die in der ersten Pupille abgebildete Fokiebene des Kurzachsenhomogenisierers mittels einer zweiten Feldlinsenoptik in eine zweite Pupille abgebildet wird, die der Eintrittspupille einer Abbildungsoptik zur telezentrischen Abbildung des Laserstrahls auf eine Abbildungsebene entspricht, auf die zugleich auch der bezüglich der langen Achse homogenisierte Laserstrahl mittels der Langachsenkondensoroptik abgebildet wird. Somit besteht der zweite Abbildungszweig ausschließlich aus einer Kurzachsenkondensoroptik und einer Kurzachsenfeldlinsenoptik.Of the second imaging branch, in the beam path to the first imaging branch is subordinate, that forms part of the first homogeneous branch generated homogeneous image field by means of a second condenser optics in a second homogeneous field of view, at the same time in the First pupil pictured focal plane of Kurzachsenhomogenisierers imaged by means of a second field lens optics in a second pupil becomes that of the entrance pupil of an imaging optics for telecentric Image of the laser beam corresponds to an imaging plane, at the same time also the respect the long axis homogenized laser beam by means of Langachsenkondensoroptik is shown. Thus, the second branch image consists exclusively of a short-axis condenser optics and a short-axis field lens optics.
Es ist erkannt worden, dass durch die getrennte Abbildung in beiden optischen Zweigen, die jeweils über eine Kondensoroptik sowie eine Feldlinsenoptik verfügen, die Voraussetzung dafür geschaffen ist, das Strahlprofil der kurzen Achse in Bezug auf die Flankensteilheit und die Linienhalbwertsbreite getrennt voneinander zu variieren bzw. gezielt zu optimieren. Dies kann, wie die weiteren Ausführungen zeigen werden, durch axiales Verschieben der einzelnen in den optischen Abbildungszweigen zugehörigen Kondensor- und/oder Feldlinsenoptiken erreicht werden. Zudem eröffnet eine Drehung einer längs der Abbildungszweige enthaltenen Optiken zumindest eine Beeinflussung der Linienhalbwertsbreite.It has been recognized that by the separate mapping in both optical branches, each over a condenser optics and a field lens optics feature, the Prerequisite for this is created, the beam profile of the short axis with respect to the Slope and the line half width separated from each other to vary or to optimize specifically. This can, like the others Show versions be, by axial displacement of the individual in the optical Associated with imaging branches Condenser and / or field lens optics can be achieved. In addition, one opens Rotation of a longitudinal the imaging branches contained optics at least one influence the line half width.
Das lösungsgemäße Konzept sowie eine konkrete Anordnung längs des Abbildungsstrahlenganges angeordneter optischer Elemente werden im Weiteren unter Bezugnahme auf die Ausführungsbeispiele beschrieben.The Solution-based concept as well as a concrete arrangement along of the imaging beam path are arranged optical elements described below with reference to the embodiments.
Kurze Beschreibung der ErfindungBrief description of the invention
Die Erfindung wird nachstehend ohne Beschränkung des allgemeinen Erfindungsgedankens anhand von Ausführungsbeispielen unter Bezugnahme auf die Zeichnungen exemplarisch beschrieben. Es zeigen:The Invention will be described below without limiting the general inventive concept of exemplary embodiments described by way of example with reference to the drawings. It demonstrate:
Wege zur Ausführung der Erfindung, gewerbliche VerwendbarkeitWays to carry out the invention, industrial usability
In
Es sei angenommen, dass der aus einem Excimerlaser austretende Laserstrahl L mit Hilfe einer geeigneten Abbildungsoptik, beispielsweise eines Teleobjektives, auf die Eingangsapertur eines Homogenisierers H, der sich aus einem Langachsen-LAH und einem Kurzachsenhomogenisierer SAH zusammensetzt, angepasst ist.It Let it be assumed that the laser beam emerging from an excimer laser L with the help of a suitable imaging optics, such as a Telephoto lenses, to the entrance aperture of a homogenizer H, consisting of a long-axis LAH and a short-axis homogenizer SAH composed, adjusted.
Der
in den
Aufgrund der gewählten optischen Brennweiten der vorstehend bezeichneten optischen Elemente zur Langachsenausbildung beträgt der Abstand d typischerweise Längen von 3 Meter und mehr, eine verhältnismäßig große Distanz, die es zur Abbildung des in der kurzen Achse zu homogenisierenden Strahlquerschnitt auf die Abbildungsebene HFLA zu überbrücken gilt. Hierzu ist im Strahlengang dem Langachsenhomogenisierer LAH der sogenannte Kurzachsenhomogenisierer SAH, bestehend aus einer ersten Zylinderlinsenanordnung SAH1 und einer zweiten Zylinderlinsenanordnung SAH2, nachgeordnet, wobei gleichsam zum Langachsenhomogenisierer eine zwischen beiden Zylinderlinsenanordnungen SAH und SAH2 liegende Fokiebene vorgesehen ist, in die der durch die erste Zylinderlinsenanordnung SAH1 in Teilstrahlen aufgeteilte kurze Strahlquerschnitt in Form eines Spot- oder Linienarrays fokussiert wird.by virtue of the chosen one optical focal lengths of the above-described optical elements for long-axis training amounts the distance d is typically lengths of 3 meters and more, a relatively large distance, which it to the image of the homogenized in the short axis Beam cross section to the imaging plane HFLA to bridge. For this purpose, the Langachshomogenisierer LAH the beam path in the beam path so-called short axis homogenizer SAH, consisting of a first Cylindrical lens assembly SAH1 and a second cylindrical lens assembly SAH2, downstream, as it were to Langachshomogenisierer a lying between two cylindrical lens assemblies SAH and SAH2 Focussed is provided, in which by the first cylindrical lens assembly SAH1 divided into partial beams short beam cross section in shape a spot or line array is focused.
Dem Kurzachsenhomogenisierer ist eine Kurzachsenkondensorlinse SACL1 nachgeordnet, durch die ein sich längs der kurzen Strahlquerschnittsachse homogenisierend ausbildendes Bildfeld HFSA1 erzeugt wird. Das homogensierte Bildfeld HFSA1 weist ein weitgehend rechteck-förmiges Strahlprofil in der kurzen Achse auf, das es im Weiteren in die Abbildungsebene HFLA abzubilden gilt. Im Strahlengang dem homogenisierten Bildfeld HFSA1 vorgelagert ist eine Kurzachsenfeldlinse SAFL1 vorgesehen, durch die eine Pupille P1 definiert wird, in die die zwischen den beiden Zylinderlinsenanordnungen SAH1 und SAH2 des Kurzachsenhomogenisierers liegende Fokiebene scharf abgebildet wird. Die vorstehend beschriebenen optischen Komponenten bezüglich der Abbildung des in der kurzen Achse homogenisierten Laserstrahlprofils, nämlich SAH1, SAH2, SACL1 und SAFL1 bilden den so genannten ersten Abbildungszweig I, der der Erzeugung des homogenisierten Bildfeldes HFSA1 dient.the Short-axis homogenizer is a short-axis condenser lens SACL1 downstream, through which a along the short beam cross-sectional axis homogenizing image forming field HFSA1 is generated. The homogenized Image field HFSA1 has a largely rectangular-shaped beam profile in the short axis, which it then in the image plane HFLA to represent. In the beam path upstream of the homogenized image field HFSA1 a short axis field lens SAFL1 is provided, through which a pupil P1 is defined, in which the between the two cylindrical lens arrangements SAH1 and SAH2 of the short axis homogenizer are in focus is shown. The optical components described above with respect to Illustration of the short axis homogenized laser beam profile, namely SAH1, SAH2, SACL1 and SAFL1 form the so-called first branch image I, which is used to generate the homogenized image field HFSA1.
Der sich im Strahlengang nachfolgend anschließende zweite optische Abbildungszweig II weist lediglich eine zweite Kurzachsenkondensorlinse SACL2 und eine im Strahlengang folgende zweite Kurzachsenfeldlinse SAFL2 auf. Hierbei dient die zweite Kurzachsenkondensorlinse SACL2 zur Abbildung des ersten homogenen Bildfeldes HFSA1 und der Erzeugung eines zweiten homogenen Bildfeldes HFSA2 in einer Raumebene längs des Strahlenganges, in der vorzugsweise eine schlitzförmige Blendenanordnung angebracht ist. Die Schlitzgröße ist zumeist größer bemessen als der tatsächliche Strahlquerschnitt des homogenen Bildfeldes HFSA2. Die zweite Kurzachsenfeldlinse SAFL2 bildet hingegen die Pupille P1 in die Pupille P2 ab, die zugleich der Eintrittspupille einer Abbildungsoptik p-lens SA entspricht. Typischerweise besteht die Abbildungsoptik aus einer Verkleinerungsoptik, mit der die kurze Achse des Laserstrahlquerschnitts beispielsweise fünffach verkleinert auf die Abbildungsebene HFLA telezentrisch abgebildet wird.Of the in the beam path subsequent subsequent second optical imaging branch II has only a second short-axis condenser lens SACL2 and a second short-axis field lens SAFL2 following in the beam path. Here, the second short-axis condenser lens SACL2 serves for imaging of the first homogeneous image field HFSA1 and the generation of a second homogeneous image field HFSA2 in a spatial plane along the beam path, in the preferably a slot-shaped Aperture arrangement is attached. The slot size is usually larger as the actual Beam cross section of the homogeneous image field HFSA2. The second short-axis field lens SAFL2, on the other hand, forms the pupil P1 into the pupil P2, which at the same time the entrance pupil of an imaging optics p-lens SA corresponds. Typically, the imaging optics consist of a reduction optics, with the short axis of the laser beam cross section, for example fivefold reduced to the image plane HFLA telecentric imaged becomes.
Von
sehr wesentlicher Bedeutung ist das Vorsehen jeweils einer Kondensorlinse
und einer Feldlinse innerhalb der beiden vorstehend bezeichneten
zwei optischen Abbildungszweige I und II, wodurch die Möglichkeit
geschaffen wird, dass sich innerhalb der homogenen Bildfelder HFSA1
bzw. HFSA2 nahezu rechteckförmig
ausgebildete Strahlprofile in der kurzen Achse ausbilden, deren
Flankensteilheit sowie Linienhalbwärtsbreite getrennt voneinander
beeinflussbar sind. So konnte gezeigt werden, dass durch axiales
Verschieben der Feldlinsenposition, insbesondere der Kurzachsenfeldlinse SAFL2
innerhalb des zweiten Abbildungszweiges längs ihrer optischen Achse eine
Variation der Linienhalbwärtsbreite
bei gleichbleibender bzw. nahezu gleichbleibender Flankensteilheit
erzielt werden kann. Dies zeigt ein in
Demgegenüber ist
es durch axiales Verschieben der Kurzachsenkondensorlinse SACL2 möglich, die
Flankensteilheit zu verändert
während die
Linienhalbwärtsbreite
konstant bleibt. Dies kann aus dem Diagramm gemäß
- LAHLAH
- LangachsenhomogenisiererLangachsenhomogenisierer
- LAH1LAH1
- Erste Zylinderlinsenanordnung des LangachsenhomogenisiererFirst Cylindrical lens arrangement of the long axis homogenizer
- LAH2LAH2
- Zweite Zylinderlinsenanordnung des LangachsenhomogenisiererSecond Cylindrical lens arrangement of the long axis homogenizer
- SAHSAW
- KurzachsenhomogenisiererKurzachsenhomogenisierer
- SAH1SAH1
- Erste Zylinderlinsenanordnung des KurzachsenhomogenisiererFirst Cylindrical lens arrangement of the short axis homogenizer
- SHA2SHA2
- Zweite Zylinderlinsenanordnung des KurzachsenhomogenisiererSecond Cylindrical lens arrangement of the short axis homogenizer
- SACL1SACL1
- KurzachsenkondensorlinseKurzachsenkondensorlinse
- SAFL1SAFL1
- KurzachsenfeldlinseShort-axis field lens
- HFSA1HFSA1
- Erstes homogenes Bildfeld bezgl. der kurzen Achsefirst homogeneous image field with respect to the short axis
- P1P1
- Erste PupilleFirst pupil
- LACLLACL
- LangachsenkondensorlinseLangachsenkondensorlinse
- SACL2SACL2
- KurzachsenkondensorlinseKurzachsenkondensorlinse
- SAFL1SAFL1
- KurzachsenfeldlinseShort-axis field lens
- HFSA2HFSA2
- Zweites homogenes Bildfeld bezgl. der kurzen Achsesecond homogeneous image field with respect to the short axis
- P2P2
- Zweite PupilleSecond pupil
- p-lens SAp-lens SA
- Verkleinerungsoptik,Reducing optics,
- HFLAhflA
- Abbildungsebeneimaging plane
- HH
- Homogenisiererhomogenizer
Claims (11)
Priority Applications (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE200710044298 DE102007044298B3 (en) | 2007-09-17 | 2007-09-17 | Method and arrangement for generating a laser beam with a linear beam cross section |
JP2010524341A JP5548127B2 (en) | 2007-09-17 | 2008-07-18 | Method and arrangement for generating a laser beam having a linear beam cross-section |
PCT/DE2008/001181 WO2009036716A1 (en) | 2007-09-17 | 2008-07-18 | Method and arrangement for producing a laser beam with a linear beam cross section |
CN2008801070697A CN101801586B (en) | 2007-09-17 | 2008-07-18 | Method and arrangement for producing a laser beam with a linear beam cross section |
KR1020107005492A KR101529344B1 (en) | 2007-09-17 | 2008-07-18 | Method and arrangement for producing a laser beam with a linear beam cross section |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE200710044298 DE102007044298B3 (en) | 2007-09-17 | 2007-09-17 | Method and arrangement for generating a laser beam with a linear beam cross section |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE102007044298B3 true DE102007044298B3 (en) | 2009-02-26 |
Family
ID=40070896
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE200710044298 Expired - Fee Related DE102007044298B3 (en) | 2007-09-17 | 2007-09-17 | Method and arrangement for generating a laser beam with a linear beam cross section |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP5548127B2 (en) |
KR (1) | KR101529344B1 (en) |
CN (1) | CN101801586B (en) |
DE (1) | DE102007044298B3 (en) |
WO (1) | WO2009036716A1 (en) |
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DE102020130651B3 (en) | 2020-11-19 | 2022-05-05 | Trumpf Laser- Und Systemtechnik Gmbh | Device for generating a defined laser illumination on a working plane |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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DE102012111098B4 (en) * | 2012-11-19 | 2016-03-03 | Scanlab Ag | Divergence changing means |
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KR102440115B1 (en) | 2015-11-13 | 2022-09-05 | 삼성디스플레이 주식회사 | Method of excimer laser annealing |
EP3491450B1 (en) * | 2016-07-27 | 2024-02-28 | TRUMPF Laser GmbH | Laser line illumination |
CN111344627B (en) * | 2017-12-05 | 2022-02-18 | 松下知识产权经营株式会社 | Light beam conversion optical system and light source device |
DE102019102511B4 (en) * | 2019-01-31 | 2020-08-20 | Trumpf Laser- Und Systemtechnik Gmbh | Laser system |
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-
2007
- 2007-09-17 DE DE200710044298 patent/DE102007044298B3/en not_active Expired - Fee Related
-
2008
- 2008-07-18 KR KR1020107005492A patent/KR101529344B1/en active IP Right Grant
- 2008-07-18 WO PCT/DE2008/001181 patent/WO2009036716A1/en active Application Filing
- 2008-07-18 JP JP2010524341A patent/JP5548127B2/en not_active Expired - Fee Related
- 2008-07-18 CN CN2008801070697A patent/CN101801586B/en not_active Expired - Fee Related
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US11105961B2 (en) | 2017-07-14 | 2021-08-31 | Limo Display Gmbh | Apparatus for generating a line-shaped intensity distribution of a laser radiation |
DE102018216940A1 (en) * | 2018-10-02 | 2020-04-02 | 3D-Micromac Ag | Laser processing system |
WO2020069885A1 (en) | 2018-10-02 | 2020-04-09 | 3D-Micromac Ag | Laser machining system |
US11878368B2 (en) | 2018-10-02 | 2024-01-23 | 3D-Micromac Ag | Laser machining system |
DE102020130651B3 (en) | 2020-11-19 | 2022-05-05 | Trumpf Laser- Und Systemtechnik Gmbh | Device for generating a defined laser illumination on a working plane |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JP2011501872A (en) | 2011-01-13 |
CN101801586B (en) | 2013-12-11 |
KR20100065326A (en) | 2010-06-16 |
CN101801586A (en) | 2010-08-11 |
KR101529344B1 (en) | 2015-06-16 |
WO2009036716A1 (en) | 2009-03-26 |
JP5548127B2 (en) | 2014-07-16 |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8364 | No opposition during term of opposition | ||
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |