DE1098617B - Halbleiteranordnung mit einem p-leitenden Halbleiterkoerper aus einer Ill-V-Verbindung - Google Patents
Halbleiteranordnung mit einem p-leitenden Halbleiterkoerper aus einer Ill-V-VerbindungInfo
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- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 title claims description 49
- WYUZTTNXJUJWQQ-UHFFFAOYSA-N tin telluride Chemical compound [Te]=[Sn] WYUZTTNXJUJWQQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 28
- 239000006187 pill Substances 0.000 claims description 21
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 20
- 239000000203 mixture Substances 0.000 claims description 15
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 claims description 14
- 238000002844 melting Methods 0.000 claims description 9
- 230000008018 melting Effects 0.000 claims description 9
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 7
- 229910052738 indium Inorganic materials 0.000 claims description 5
- APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N indium atom Chemical compound [In] APFVFJFRJDLVQX-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 5
- GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N Gallium Chemical compound [Ga] GYHNNYVSQQEPJS-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 4
- 229910052733 gallium Inorganic materials 0.000 claims description 4
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 claims description 3
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 3
- 239000007772 electrode material Substances 0.000 claims description 2
- 230000001590 oxidative effect Effects 0.000 claims description 2
- WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N antimony atom Chemical compound [Sb] WATWJIUSRGPENY-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 12
- 229910052714 tellurium Inorganic materials 0.000 description 9
- PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N tellurium atom Chemical compound [Te] PORWMNRCUJJQNO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 8
- 229910052732 germanium Inorganic materials 0.000 description 7
- GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N germanium atom Chemical compound [Ge] GNPVGFCGXDBREM-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 239000000155 melt Substances 0.000 description 6
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 5
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 description 5
- 239000010703 silicon Substances 0.000 description 5
- GPXJNWSHGFTCBW-UHFFFAOYSA-N Indium phosphide Chemical compound [In]#P GPXJNWSHGFTCBW-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000001257 hydrogen Substances 0.000 description 4
- 229910052739 hydrogen Inorganic materials 0.000 description 4
- UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N Hydrogen Chemical compound [H][H] UFHFLCQGNIYNRP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N cadmium atom Chemical compound [Cd] BDOSMKKIYDKNTQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N AsGa Chemical compound [As]#[Ga] JBRZTFJDHDCESZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910001218 Gallium arsenide Inorganic materials 0.000 description 2
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910045601 alloy Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000000956 alloy Substances 0.000 description 2
- 229910052793 cadmium Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 2
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 2
- 150000004772 tellurides Chemical class 0.000 description 2
- 229910005540 GaP Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910000990 Ni alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N Nitric acid Chemical compound O[N+]([O-])=O GRYLNZFGIOXLOG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N Zinc Chemical compound [Zn] HCHKCACWOHOZIP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005275 alloying Methods 0.000 description 1
- LVQULNGDVIKLPK-UHFFFAOYSA-N aluminium antimonide Chemical compound [Sb]#[Al] LVQULNGDVIKLPK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- MDPILPRLPQYEEN-UHFFFAOYSA-N aluminium arsenide Chemical compound [As]#[Al] MDPILPRLPQYEEN-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000000712 assembly Effects 0.000 description 1
- 238000000429 assembly Methods 0.000 description 1
- 125000004429 atom Chemical group 0.000 description 1
- 239000011324 bead Substances 0.000 description 1
- 230000015572 biosynthetic process Effects 0.000 description 1
- 239000002800 charge carrier Substances 0.000 description 1
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 1
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 1
- 229910000830 fernico Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 description 1
- HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N gallium phosphide Chemical compound [Ga]#P HZXMRANICFIONG-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 150000002431 hydrogen Chemical class 0.000 description 1
- 239000012212 insulator Substances 0.000 description 1
- 229910000833 kovar Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910017604 nitric acid Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000003647 oxidation Effects 0.000 description 1
- 238000007254 oxidation reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 238000010587 phase diagram Methods 0.000 description 1
- 238000001953 recrystallisation Methods 0.000 description 1
- 238000000926 separation method Methods 0.000 description 1
- XSOKHXFFCGXDJZ-UHFFFAOYSA-N telluride(2-) Chemical compound [Te-2] XSOKHXFFCGXDJZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052725 zinc Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000011701 zinc Substances 0.000 description 1
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching, or capacitors or resistors with at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/02—Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/12—Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by the materials of which they are formed
- H01L29/20—Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by the materials of which they are formed including, apart from doping materials or other impurities, only AIIIBV compounds
- H01L29/207—Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by the materials of which they are formed including, apart from doping materials or other impurities, only AIIIBV compounds further characterised by the doping material
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
-
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- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
- H01L21/02—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
- H01L21/04—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
- H01L21/18—Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic System or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
- H01L21/24—Alloying of impurity materials, e.g. doping materials, electrode materials, with a semiconductor body
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching, or capacitors or resistors with at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/02—Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/12—Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by the materials of which they are formed
- H01L29/16—Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by the materials of which they are formed including, apart from doping materials or other impurities, only elements of Group IV of the Periodic System
- H01L29/167—Semiconductor bodies ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by the materials of which they are formed including, apart from doping materials or other impurities, only elements of Group IV of the Periodic System further characterised by the doping material
-
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- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L29/00—Semiconductor devices adapted for rectifying, amplifying, oscillating or switching, or capacitors or resistors with at least one potential-jump barrier or surface barrier, e.g. PN junction depletion layer or carrier concentration layer; Details of semiconductor bodies or of electrodes thereof ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/40—Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor
- H01L29/43—Electrodes ; Multistep manufacturing processes therefor characterised by the materials of which they are formed
Description
DEUTSCHES
Die Erfindung betrifft eine Halbleiteranordnung mit einem p-leitenden Halbleiterkörper aus einer
111-V-Verbindung und wenigstens einer gleichrichtenden
Elektrode, die mit dem Halbleiterkörper verschmolzen ist.
Für die Herstellung von Halbleiteranordnungen, wie Dioden oder Transistoren, wird meistens ein
Elementhalbleiter, nämlich Germanium oder SiMzium benutzt. Gewisse binäre feste Verbindungen zeigen
gleichfalls Halbleitereigenschaften. Diese Materialien sind unter der Bezeichnung III-V-Verbindungen bekannt,
da sie aus einem Element der dritten Reihe und aus einem Element der fünften Reihe des Periodischen
Systems bestehen. Beispiele für solche Verbindungen sind Phosphide, Arsenide und Antimonide von
Aluminium, Gallium und Indium. Die III-V-Verbindungen haben gewisse Vorteile gegenüber den üblichen
Materialien wie Germanium und Silizium, da beispielsweise die Beweglichkeit der negativen Ladungsträger
in diesen Verbindungen gewöhnlich viel größer als in Germanium oder Silizium ist. Die
Herstellung von einwandfreien Halibleiteranordnungen unter Verwendung dieser Verbindungen ist jedoch
schwierig. Eines der bei der Verwendung von III-V-Verbindungen
als Halbleitermaterial auftretenden Probleme besteht in der Schwierigkeit, in diesen Materialien
gute p-n-Schichten herzustellen. Besonders schwierig ist die Fabrikation von solchen guten
gleichrichtenden Kontakten, die bei hohen Temperaturen arbeiten müssen.
Durch die Erfindung ist es möglich, verbesserte gleichrichtende Kontakte für Halbleiter aus III-V-Verbindungen
herzustellen.
Dies wird gemäß der Erfindung dadurch erreicht, daß die Elektrode aus Zinntellurid oder aus einer
Mischung von Zinntellurid mit Zinn besteht. Diese Elektrode kann auf eine Oberfläche einer monokristallinen,
halb-leitenden Scheibe aus einer III-V-Verbindung von p-Laitfähigkeit auflegiert werden.
Zinntellurid ergibt einen hervorragenden gleichrichtenden Kontakt. Die Duktilität und die mechanische
Festigkeit der Elektrode kann durch Verwendung einer Mischung von Zinntellurid mit Zinn noch erhöht
werden.
Fig. 1 stellt ein Phasendiagramm des Zinn-Tellur-Systems dar;
Fig. 2 a bis 2 d sind schematische Schnittbilder nach aufeinanderfolgenden Verfahrensschritten bei der
Herstellung einer Diode gemäß der Erfindung;
Fig. 3 a bis 3d sind Schnittbilder einer anderen Halbleiteranordnung nach der Erfindung in aufeinanderfolgenden
Verfahrensschritten bei deren Herstellung.
In allen Figuren sind die gleichen Bezugszeichen Halbleiteranordnung
mit einem p-leitenden Halbleiterkörper
aus einer III-V-Verbindung
Anmelder:
Radio Corporation of America,
New York, N. Y. (V. St. A.)
New York, N. Y. (V. St. A.)
Vertreter: Dr.-Ing. E. Sommerfeld, Patentanwalt,
München 23, Dunantstr. 6
München 23, Dunantstr. 6
Beanspruchte Priorität:
V. St. v. Amerika vom 20. November 1958
V. St. v. Amerika vom 20. November 1958
Dietrich Meyerhof er, Princeton, N. J. (V. St. Α.),
ist als Erfinder genannt worden
ist als Erfinder genannt worden
für miteinander übereinstimmende Bestandteile verwendet.
Man sieht aus Fig. 1, daß die Zusammensetzung, welche den höchsten Schmelzpunkt (von etwa
790° C) hat, der Bildung von Zinntellurid entspricht und etwa 52 Gewichtsprozente Tellur aufweist.
Stöchometrisches Zinntellurid enthält 51,8 Gewichtsprozente Tellur. Der Schmelzpunkt von Mischungen
von Zinntellurid mit entweder einem Überschuß von Zinn oder einem Überschuß von Tellur bleibt für
einen weiten Bereich von Mischungsverhältnissen über 600° C, und zwar von 10 bis 70 Gewichtsprozenten
Tellur. Jedoch sind Mischungen von Zinntellurid mit einem Überschuß von Tellur nicht duktil und haben
schlechte mechanische Eigenschaften, während durch einen Zusatz eines Überschusses von Zinn zu
Zinntellurid die Duktilität und die mechanischen Eigenschaften des Materials verbessert werden. Die
Menge des überschüssigen Zinns kann zwischen einigen Gewichtsprozenten und drei Mol Zinn für jedes
Mol Zinntellurid variieren. Eine Mischung von Zinntellurid mit Zinn, welche etwa 20 Gewichtsprozente
Tellur enthält und bei etwa 700° C schmilzt, hat gute elektrische Eigenschaften und bildet mechanisch feste
Trennflächen. Man kann annehmen, daß 'die Mischung aus etwa 40 Gewichtsprozenten Zinntellurid und
60 Gewichtsprozenten Zinn besteht.
Das Herstellungsverfahren einer Diode ist in Fig. 2 dargestellt. Gemäß Fig. 2 a wird ein Halbleiterkörper
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in Form einer Scheibe 10 aus einer monokristallinen Elektrode 18 befestigt werden und der Halbleiterkör-
halbleitenden III-V-Verbindung hergestellt, nämlich per dann montiert und in üblicher Weise in ein Ge-
aus einem Bhosphid, einem Arsenid oder einem Anti- häuse eingebaut wird.
monid von Aluminium, Gallium oder Indium. Der Die so hergestellten Dioden erfüllen ihre Funktion
Halbleiterkörper 10 soll p-leitend sein. Das bei dem 5 auch bei höheren Temperaturen, während dies bei
zu besprechenden Ausführungsbeispiel verwendete Verwendung von Germanium oder Silizium nicht der
Halbleitermaterial war p-Indiumphosphid. Auf die Fall ist. Von wesentlichem Einfluß auf die zulässige
genaue Größe der Scheibe 10 kommt es nicht an. Betriebstemperatur ist die Energielücke zwischen dem
Eine derartige Halbleiterscheibe kann beispielsweise Valenzband und dem Leitungsband. Je größer die
2,5 χ 2,5 mm Fläche besitzen und etwa 0,25 mm dick io Energielücke des verwendeten Halbleitermaterials
sein. ist, desto höher ist die zulässige Betriebstemperatur,
Gemäß Fig. 2b wird eine gleichrichtende Elektrode sofern nicht durch das Elektrodenmaterial eine andere
dadurch hergestellt, daß man auf die eine Seite der Grenze gegeben ist. Wenn jedoch die Energielücke
Scheibe 10 eine Pille 12 aus Zinntellurid oder aus des Halbleitermaterials sehr groß wird, wird das
einer Mischung von Zinntellurid mit Zinn auflegiert. 15 Halbleitermaterial einem Isolator ähnlich und ist für
Im vorliegenden Beispiel besteht die Pille 12 aus Transistoren nicht mehr verwendbar. Die Energie-
Zinntellurid. Auf die genaue Form der Pille 12 lücke von Germanium beträgt etwa 0,7 Elektronenvolt
kommt es ebenfalls nicht an; sie kann beispielsweise und die meisten Germaniumhalbleiteranordnungen
eine kleine Scheibe, ein Ringoder ein Kügelchen sein. können nun bis etwa 80° C benutzt werden. Solche
Die Pille 12 wird auf die eine Seite der Scheibe 10 20 mit Silizium wagen der höheren Energielücke von
auflegiert oder mit ihr verschmolzen, indem die Pille etwa 1,1 Elektronenvolt können noch bei einer höhe-
auf die Scheibe aufgelegt und diese zusammen mit ren Umgebungstemperatur verwendet werden. Die
der Pille auf eine Temperatur über dem Schmelz- obenerwähnten III-V-Verbindungen sind deshalb vor-
punkt der Pille, jedoch unterhalb des Schmelzpunktes teilhaft, weil sie Energielücken besitzen, die größer
der Halbleiterscheibe, erhitzt wird. Zinntellurid 25 sind als diejenigen von Germanium oder Silizium,
schmilzt bei etwa 790° C, während Indiumphosphid aber noch innerhalb des Anwendungsbereichs eines
bei etwa 1050° C schmilzt. Es werden dann gute Er- Halbleiters liegen. Indiumphosphid, das oben als ein
gebnisse erzielt, wenn die Legierung in einem Tem- Beispiel für eine III-V-Verbindung genannt wurde,
peraturbereich von einigen Grad oberhalb des hat eine Energielücke von 1,25 Elektronenvolt. Der-
Schmelzpunktes der Elektrodenpille bis einige Grad 30 artige Halbleiteranordnungen mit Indiumphosphid
unterhalb 'des Schmelzpunktes der Halbleiterscheibe können bei Temperaturen bis zu 300° C betrieben
behandelt wird. Die Legierungsbildung findet in werden. Die bei den Anordnungen nach gleichrichten-
Wirklichkeit beim Schmelzpunkt von Zinntellurid den Kontakte der Erfindung sind im ganzen Tempe-
statt. Für beste Ergebnisse sollte die Erhitzung in raturbereich von Zimmertemperatur bis 300° C be-
einer nicht oxydierenden oder reduzierenden Atmo- 35 triebsfähig.
Sphäre, beispielsweise in Wasserstoff oder Formier- Außer einer Diode kann die erfindungsgemäße
gas, vorgenommen werden. Im vorliegenden Fall Halbleiteranordnung auch ein Transistor sein. Ein
wurde die Pille 12 und die Scheibe 10 in einer Was- solcher besitzt zwei gleichrichtende Elektroden, die
serstoffatmosphäre für etwa 10 Minuten über 800° C mit einander gegenüberliegenden Flächen einer Halberhitzt. Die Pille 12 schmilzt und löst etwa den Be- 40 leiterscheibe verschmolzen oder auf diese Flächen aufreich
14 der Halbleiterscheibe dicht unterhalb der legiert sind. Gemäß Fig. 3 a wird eine monokristalline
Pille auf. Wenn die Scheibe dann abgekühlt wird, Halbleiterscheibe 30 aus einer der angegebenen halbkristallisiert
der Teil 14 wieder, enthält jedoch nicht leitenden Verbindungen hergestellt. Die p-leitende
genügend Tellur, um in ein η-Material umgewandelt Scheibe 30 besitzt zwei einander gegenüberliegende
zu werden. An der Trennfläche 16 zwischen dem 45 und zueinander parallele Flächen. Im vorliegenden
n-Bereich 14 und dem Rest der p-leitenden Scheibe 10 Ausführungsbeispiel wurde p-leitendes Galliumarsenid
entsteht ein p-n-Übergang 16. Der zwischen der Zinn- benutzt. Auf die genauen Abmessungen der Scheibe
tellurid-Pille 12 und dem p-Indiumphosphid der kommt es nicht an; sie können ebenso gewählt wer-ScheibelO
entstehende Kontakt ist mechanisch fest, den, wie an Hand der Fig. 2 erwähnt,
und zwar auch dann, wenn die Oberfläche des Indium- 50 Gemäß Fig. 3 b wird eine gleichrichtende Elektrode phosphide verunreinigt ist. Die Oberfläche der Scheibe dadurch hergestellt, daß mit der einen Seite der 10 kann sodann durch Eintauchen der Scheibe in ein Scheibe eine Pille 32 aus Zinntellurid oder aus einer Ätzmittel gereinigt werden. Eine geeignete Ätzflüs- Mischung von Zinntellurid und Zinn legiert wird. Im sigkeit für halbleitende III-V-Verbindungen besteht vorliegenden Beispiel besteht die Elektrode 32 aus aus gleichen Teilen von Salpetersäure und Salzsäure. 55 einer Mischung von 40 Gewichtsprozenten Zinntellu-
und zwar auch dann, wenn die Oberfläche des Indium- 50 Gemäß Fig. 3 b wird eine gleichrichtende Elektrode phosphide verunreinigt ist. Die Oberfläche der Scheibe dadurch hergestellt, daß mit der einen Seite der 10 kann sodann durch Eintauchen der Scheibe in ein Scheibe eine Pille 32 aus Zinntellurid oder aus einer Ätzmittel gereinigt werden. Eine geeignete Ätzflüs- Mischung von Zinntellurid und Zinn legiert wird. Im sigkeit für halbleitende III-V-Verbindungen besteht vorliegenden Beispiel besteht die Elektrode 32 aus aus gleichen Teilen von Salpetersäure und Salzsäure. 55 einer Mischung von 40 Gewichtsprozenten Zinntellu-
Gemäß Fig. 2c wird eine nicht gleichrichtende oder rid und 60 Gewichtsprozenten Zinn, die bei etwa
ohmische Elektrode dadurch hergestellt, daß man auf 700° C schmilzt. Diese Mischung kann auch als eine
eine Oberfläche der Scheibe 10 eine Pille 18 aus bei- Mischung von Zinn und Tellur mit einem Anteil von
spielsweise Zink oder Kadmium auflegiert oder mit 20 Gewichtsprozenten Tellur aufgefaßt werden. Die
ihr verschmilzt. Die im vorliegenden Fall aus Kad- 60 Pille 32 wird mit der Scheibe 30 durch Erhitzen
mium bestehende Pille 18 wird auf die eine Fläche während etwa 15 Minuten auf etwa 800° C verschmol-
der Halbleiterscheibe dadurch auflegiert, daß sie auf zen. Der Legierungsvorgang wird zweckmäßig in
die Scheibe 10 aufgelegt und mit dieser zusammen einer reduzierenden Atmosphäre, beispielsweise in
auf etwa 500° C für etwa 20 Minuten erhitzt wird. Formiergas oder in Wasserstoff, vorgenommen. Der
Dies erfolgt zweckmäßig in einer reduzierenden At- 65 rekristallisierte Teil 33 ist η-leitend. An der Berüh-
mosphäre, beispielsweise in Wasserstoff, um eine rungsfläche dieses η-leitenden Bereichs 33 mit dem
Oxydation der Materialien zu verhindern. übrigen p-leitenden Teil der Halbleiterscheibe 30 ent-
Gemäß Fig. 2d wird die Halbleiteranordnung da- steht der p-n-Übergang 34.
durch fertiggestellt, daß Leitungen 19 und 20 an der Gemäß Fig. 3 c wird ein zweiter p-n-Übergang in
gleichrichtenden Elektrode 12 und der ohmischen 70 gleicher Weise auf der anderen Seite der Scheibe ein-
legiert. Die Pille 36 soll zweckmäßig gerade gegenüber Pille 32 einlegiert werden. Bei derartigen Transistoren
wird vorteilhaft die eine Elektrode größer gemacht als die andere und die kleinere Elektrode als
Emitter benutzt. Der Bereich 37 der Halbleiterscheibe wird bei der Rekristallisation η-leitend. An der
Trennfläche der Zone 37 vom Rest der Halbleiterscheibe entsteht ein p-n-Übergang 38.
Gemäß Fig. 3d wird ein nicht gleichrichtender Basisanschluß 40 mit der Scheibe 30 verlötet. Der
Streifen 40 kann aus Nickel oder aus einer Nickellegierung, beispielsweise aus Fernico oder aus Kovar
bestehen und mittels Kadmium an die Halbleiterscheibe 30 angelötet werden. Kadmium bildet an der
Lötstelle zwischen dem Streifen 40 und der Scheibe 30 ig
einen ohmschen Kontakt und schmilzt erst bei hoher Temperatur. Reines Zinn oder gewöhnliches Weichlot
läßt sich bei Transistoren für höhere Temperaturen nicht verwenden, da Zinn bei 231° C schmilzt.
Gemäß Fig. 3e wird der Transistor dadurch fertiggestellt,
daß die Halbleiterscheibe geätzt wird und dann Leitungen 42, 44 und 46 am Emitter 32, am
Kollektor 36 und an dem Basisstreifen 40 befestigt werden.
Außer Indiumphosphid oder Galliumarsenid als Halbleitermaterial können auch alle anderen III-V-Verbindungen,
beispielsweise Galliumphosphid, AIuminiumarsenid
oder Aluminiumantimonid verwendet werden.
An Stelle von Zinntellurid, das bei Betriebstemperaturen bis etwa 300° C verwendet werden kann, können
auch die Telluride von Indium, Gallium oder Blei verwendet werden, jedoch ist Zinntellurid den letztgenannten
Telluriden überlegen.
Claims (6)
1. Halbleiteranordnung mit einem p-leitenden aus einer III-V-Verbindung bestehenden Halbleiterkörper
und wenigstens einer gleichrichtenden Elektrode, die mit dem Halbleiterkörper verschmolzen
ist, dadurch gekennzeichnet, daß diese Elektrode aus Zinntellurid oder aus einer Mischung
von Zinntellurid mit Zinn besteht.
2. Halbleiteranordnung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Halbleiterkörper
aus einem Phosphid, einem Arsenid oder einem Antimonid von Aluminium, Gallium oder Indium
besteht.
3. Halbleiteranordnung nach Anspruch 1 oder 2,
bei welchem eine zweite gleichrichtende Elektrode und eine ohmsche Elektrode mit dem Halbleiterkörper
verschmolzen sind, dadurch gekennzeichnet, daß die zweite gleichrichtende Elektrode ebenfalls
aus Zinntellurid oder aus einer Mischung von Zinntellurid mit Zinn besteht.
4. Verfahren zur Herstellung einer Halbleiteranordnung nach Anspruch 1 mit wenigstens einem
p-n-Übergang in einem scheibenförmigen Halbleiterkörper aus einer p-leitenden IH-V-Verbindung,
dadurch gekennzeichnet, daß der p-n-Übergang durch Auflegen einer Pille aus Zinntellurid oder
aus einer Mischung von Zinntellurid mit Zinn auf den Halbleiterkörper und Erhitzen der Anordnung
in einer nicht oxydierenden Atmosphäre auf eine Temperatur oberhalb des Schmelzpunktes des
Elektrodenmaterials, aber unterhalb des Schmelzpunktes der halbleitenden Verbindung hergestellt
wird.
5. Verfahren nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß auf den Halbleiterkörper vor dem
Erhitzen eine zweite Pille aus Zinntellurid oder aus einer Mischung von Zinntellurid mit Zinn aufgelegt
wird, so daß beide p-n-Übergänge gleichzeitig gebildet werden.
6." Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet,
daß die beiden Pillen auf einander gegenüberliegenden Seiten des Halbleiterkörpers einlegiert
werden.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen
© 109 508/312 1.61
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US775209A US2956217A (en) | 1958-11-20 | 1958-11-20 | Semiconductor devices and methods of making them |
US775163A US2956216A (en) | 1958-11-20 | 1958-11-20 | Semiconductor devices and methods of making them |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE1098617B true DE1098617B (de) | 1961-02-02 |
Family
ID=27119002
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DER26765A Pending DE1098617B (de) | 1958-11-20 | 1959-11-20 | Halbleiteranordnung mit einem p-leitenden Halbleiterkoerper aus einer Ill-V-Verbindung |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US2956217A (de) |
DE (1) | DE1098617B (de) |
FR (1) | FR1240303A (de) |
GB (1) | GB930503A (de) |
NL (1) | NL245567A (de) |
Families Citing this family (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3109758A (en) * | 1959-10-26 | 1963-11-05 | Bell Telephone Labor Inc | Improved tunnel diode |
NL258921A (de) * | 1959-12-14 | |||
NL125226C (de) * | 1960-05-02 | |||
US3110849A (en) * | 1960-10-03 | 1963-11-12 | Gen Electric | Tunnel diode device |
US3242061A (en) * | 1962-03-07 | 1966-03-22 | Micro State Electronics Corp | Method of making a tunnel diode assembly |
US3245847A (en) * | 1962-11-19 | 1966-04-12 | Hughes Aircraft Co | Method of producing stable gallium arsenide and semiconductor diodes made therefrom |
GB28298A (de) * | 1963-07-17 | |||
US3289052A (en) * | 1963-10-14 | 1966-11-29 | California Inst Res Found | Surface barrier indium arsenide transistor |
GB1105314A (en) * | 1963-12-23 | 1968-03-06 | Mullard Ltd | Improvements in and relating to semiconductor devices |
US3479573A (en) * | 1967-02-15 | 1969-11-18 | Gen Electric | Wide band gap semiconductor devices having improved temperature independent non-rectifying contacts |
US6976495B2 (en) * | 2002-07-19 | 2005-12-20 | Revlon Consumer Products Corporation | Cosmetic applicator and storage container |
CN102921666B (zh) * | 2012-11-21 | 2014-12-17 | 南京熊猫电子股份有限公司 | 消除电容式触摸屏蚀刻残留溶液的方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2829422A (en) * | 1952-05-21 | 1958-04-08 | Bell Telephone Labor Inc | Methods of fabricating semiconductor signal translating devices |
US2862160A (en) * | 1955-10-18 | 1958-11-25 | Hoffmann Electronics Corp | Light sensitive device and method of making the same |
US2842831A (en) * | 1956-08-30 | 1958-07-15 | Bell Telephone Labor Inc | Manufacture of semiconductor devices |
US2866140A (en) * | 1957-01-11 | 1958-12-23 | Texas Instruments Inc | Grown junction transistors |
-
0
- NL NL245567D patent/NL245567A/xx unknown
-
1958
- 1958-11-20 US US775209A patent/US2956217A/en not_active Expired - Lifetime
- 1958-11-20 US US775163A patent/US2956216A/en not_active Expired - Lifetime
-
1959
- 1959-11-06 GB GB37772/59A patent/GB930503A/en not_active Expired
- 1959-11-10 FR FR809743A patent/FR1240303A/fr not_active Expired
- 1959-11-20 DE DER26765A patent/DE1098617B/de active Pending
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB930503A (en) | 1963-07-03 |
NL245567A (de) | |
US2956217A (en) | 1960-10-11 |
FR1240303A (fr) | 1960-07-25 |
US2956216A (en) | 1960-10-11 |
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