DE112004002090B4 - Zener-Zap-Speicher - Google Patents

Zener-Zap-Speicher Download PDF

Info

Publication number
DE112004002090B4
DE112004002090B4 DE112004002090.5T DE112004002090T DE112004002090B4 DE 112004002090 B4 DE112004002090 B4 DE 112004002090B4 DE 112004002090 T DE112004002090 T DE 112004002090T DE 112004002090 B4 DE112004002090 B4 DE 112004002090B4
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
transistor
zener diode
integrated circuit
voltage
current
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE112004002090.5T
Other languages
English (en)
Other versions
DE112004002090T5 (de
Inventor
Bengt Berg
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Infineon Technologies AG
Original Assignee
Infineon Technologies AG
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Infineon Technologies AG filed Critical Infineon Technologies AG
Publication of DE112004002090T5 publication Critical patent/DE112004002090T5/de
Application granted granted Critical
Publication of DE112004002090B4 publication Critical patent/DE112004002090B4/de
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C17/00Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards
    • G11C17/14Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards in which contents are determined by selectively establishing, breaking or modifying connecting links by permanently altering the state of coupling elements, e.g. PROM
    • G11C17/18Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory

Landscapes

  • Control Of Electrical Variables (AREA)
  • Bipolar Integrated Circuits (AREA)
  • Static Random-Access Memory (AREA)
  • Read Only Memory (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)
  • Semiconductor Memories (AREA)
  • Semiconductor Integrated Circuits (AREA)

Abstract

Integrierter Schaltkreis zum elektrischen dauerhaften Programmieren von Information in dem integrierten Schaltkreis durch das Treiben eines Stroms durch eine Zener-Diode (Tz), umfassend: einen ersten Strom-Einspeise-Schaltkreis (101) mit einem Ausgang (104), einem Einspeisepunkt (103), der mit einer Einspeise-Spannung verbindbar ist, und einem Steuereingang (102) zum Steuern des Programmierens der Zener-Diode (Tz),
gekennzeichnet durch
– zumindest einen zweiten Strom-Einspeise-Schaltkreis (106) mit
• einem Ausgang (108), der durch einen Widerstand (R5) mit der Zener-Diode (Tz) verbunden ist,
• einem Einspeisepunkt (105), der mit dem Ausgang (104) des ersten Strom-Einspeise-Schaltkreises (101) verbunden ist, und
• einem Steuereingang (107) zum Steuern des Programmierens der Zener-Diode (Tz), und
– einen ersten Spannungspegel-Controller, der vorgesehen ist, um die zum Programmieren der Zener-Diode (Tz) notwendige Spannung über den ersten und den zumindest zweiten Strom-Einspeise-Schaltkreis (101, 106) aufzuteilen.

Description

  • TECHNISCHES GEBIET
  • Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf einen integrierten Schaltkreis zum permanenten elektrischen Programmieren von Informationen in dem integrierten Schaltkreis. Insbesondere bezieht sich die vorliegende Erfindung auf einen integrierten Bipolar-Schaltkreis zum permanenten Programmieren von Informationen in dem integrierten Schaltkreis, wenn der integrierte Schaltkreis Komponenten umfasst, die außerstande sind, die zum elektrischen Programmieren der Informationen notwendige Spannung aufrecht zu erhalten.
  • HINTERGRUND DER ERFINDUNG
  • Eine Möglichkeit zum permanenten und elektrischen Programmieren von bipolaren integrierten Schaltkreisen ist die Verwendung des sogenannten Zener-Zaps von NPN-Transistoren. Der NPN-Transistor kann durch das Aufprägen eines solchen starken Stroms durch den Transistor programmiert werden, so dass das Aluminium von dem Verbindungsmuster in das Silizium migriert und einen Kurzschluss zwischen der Basis und dem Emitter bildet.
  • So beschreibt beispielsweise die Schrift US 5,572472 A einen integrierten Schaltkreis zum elektrischen dauerhaften Programmieren von Informationen in dem integrierten Schaltkreis durch das Treiben eines Stroms durch eine Zener-Diode, wobei die Schaltung einen Strom-Einspeise-Schaltkreis mit einem Ausgang, einem Einspeisepunkt und einem Steuereingang zur Steuerung des Programmierens der Zener-Diode umfasst.
  • Der NPN-Transistor kann in Abhängigkeit von der angeschlossenen Logik als eine logische Eins oder eine logische Null verwendet werden, wenn er gezappt wird. Daher kann eine Sequenz von anfänglich nicht-gezappten NPN-Transistoren verwendet werden, um eine Sequenz von binären Zahlen zu repräsentieren, die eine digitale Zahl repräsentiert. Diese Sequenz kann dann durch das Zappen selektierter Binär-Zahlen in der Sequenz geändert werden, um die durch die Sequenz der NPN-Transistoren repräsentierte digitale Zahl zu ändern.
  • Beispielsweise kann der Betriebspunkt für einen Leistungstransitor anfänglich auf einen vorbestimmten Wert in dem integrierten Schaltkreis gesetzt werden. Nach dem Testen und Tunen ist es möglich, dass der Betriebspunkt leicht geändert werden sollte, um eine bessere Performance zu erreichen. Falls der vorbestimmte Wert für den Betriebspunkt in dem integrierten Schaltkreis unter Verwendung von NPN-Transistoren gesetzt worden ist, kann dieser Wert später, nach dem Tunen, durch das Zappen von sorgfältig ausgewählten NPN-Transistoren geändert werden.
  • Es ist möglich, die NPN-Transistoren auf zwei verschiedene Weisen zu verbinden, um eine Zener-Diode herzustellen, nämlich durch eine Verbindung des Kollektors entweder mit der Basis oder mit dem Emitter. Die Kollektor-Basis-Verbindung benötigt weniger Spannung, um die Zener-Diode zu zappen, der verbrauchte Strom ist jedoch wesentlich größer. Falls als Speicherfunktion verwendet, wird die Kollektor-Emitter-Verbindung bevorzugt, da weniger Strom verbraucht wird. Falls größere Speicher programmiert werden sollten, könnten die Stromanforderungen andernfalls sehr hoch werden. Diese Alternative hat jedoch den Nachteil, dass eine größere Spannung benötigt wird.
  • Für Schaltkreise mit mehreren Komponenten werden geringe Abmessungen benötigt. Diese Komponenten mit geringen Abmessungen sind weniger tolerant hinsichtlich hoher Spannungen. Das bedeutet, dass sie eine hohe Spannung nicht aufrechterhalten können, ohne zerstört zu werden. Es wäre wünschenswert, mehrere NPN-Transistoren gleichzeitig auch in Schaltkreisen mit mehreren und daher kleinen Komponenten programmieren zu können, die außerstande sind, hohe Spannungen aufrechtzuerhalten.
  • ZUSAMMENFASSUNG DER ERFINDUNG
  • Es ist die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine solche Vorrichtung und ein Verfahren zu schaffen, das die obigen Probleme zumindest verringert.
  • Es ist in dieser Hinsicht insbesondere die Aufgabe der Erfindung, eine solche Anordnung zu schaffen, die das Programmieren eines NPN-Transistors in Schaltkreisen mit Komponenten mit geringen Spannungstoleranzen ohne den Nachteil einer Erhöhung des Stromverbrauchs zu schaffen.
  • Diese Aufgaben werden gemäß einem ersten Aspekt der vorliegenden Erfindung unter anderem durch einen integrierten Schaltkreis zum elektrischen permanenten Programmieren von Informationen in dem integrierten Schaltkreis durch das Treiben eines Stroms durch eine Zener-Diode gelöst. Der integrierte Schaltkreis umfasst einen ersten Strom-Einspeise-Schaltkreis mit einem Ausgang, einem Einspeisepunkt, der mit einer Versorgungsspannung verbindbar ist, und einem Steuereingang zum Steuern des Programmierens der Zener-Diode.
  • Der integrierte Schaltkreis umfasst auch zumindest einen zweiten Strom-Einspeise-Schaltkreis mit einem Ausgang, der durch einen Widerstand mit der Zener-Diode verbunden ist, einem Einspeisepunkt, der mit dem Ausgang des ersten Strom-Einspeise-Schaltkreises verbunden ist, und mit einem Steuereingang zum Steuern des Programmierens der Zener-Diode.
  • Schließlich umfasst der integrierte Schaltkreis einen ersten Spannungspegel-Controller, der vorgesehen ist, um die zum Programmieren der Zener-Diode notwendige Spannung über den ersten und den zumindest zweiten Strom-Einspeise-Schaltkreis aufzuteilen.
  • Durch diese Anordnung kann ein Prozess zum Herstellen von integrierten Schaltkreisen auch zum Herstellen von Schaltkreisen mit der Fähigkeit zum permanenten elektrischen Programmieren von Informationen durch Verwendung des Zappens eines Zener-beschalteten NPN-Transistors verwendet werden, wenn der Schaltkreis Komponenten aufweist, die außerstande sind, die für das Zappen notwendigen Spannungspegel aufrechtzuerhalten. Dadurch können in dem Schaltkreis kleinere Komponenten verwendet werden, was wiederum bedeutet, dass viel mehr Komponenten in einem integriertem Schaltkreis angeordnet werden können, wodurch die Herstellung von komplexeren Schaltkreisen ermöglicht wird, was das Programmieren von Informationen unter Verwendung des Zener-Zappens der Zener-beschalteten NPN-Transistoren einschließt.
  • Gemäß einem bevorzugten Ausführungsbeispiel ist der erste Spannungspegel-Controller zwischen dem Ausgang des zumindest zweiten Strom-Einspeise-Schaltkreises und dem Steuereingang des ersten Strom-Einspeise-Schaltkreises verbunden.
  • Gemäß einem anderen bevorzugten Ausführungsbeispiel ist ein zweiter Spannungspegel-Controller vorgesehen, um die Spannung über dem Widerstand zu steuern, um dadurch den Strom durch den Transistor und durch die Zener-Diode einzustellen.
  • Gemäß einem anderen bevorzugten Ausführungsbeispiel ist der zweite Spannungspegel-Controller zwischen die Zener-Diode und den Steuereingang des zweiten Strom-Einspeise-Schaltkreises geschaltet ist.
  • Gemäß einem anderen bevorzugten Ausführungsbeispiel ist der erste Spannungspegel-Controller vorgesehen, um zu verhindern, dass der Spannungspegel über dem ersten und dem zumindest zweiten Strom-Einspeise-Schaltkreis nicht-aufrechthaltbare Pegel erreicht.
  • Gemäß einem anderen bevorzugten Ausführungsbeispiel ist der erste Spannungspegel-Controller eine zweite Zener-Diode.
  • Gemäß einem anderen bevorzugten Ausführungsbeispiel umfasst jeder der Strom-Einspeise-Schaltkreise: einen ersten und zweiten Transistor, deren Kollektoren mit dem Einspeisepunkt verbunden sind, wobei die Basis des ersten Transistors mit dem Steuereingang und über einen ersten Widerstand mit dem Emitter des ersten Transistors verbunden ist, wobei die Basis des zweiten Transistors mit dem Emitter des ersten Transistors und über einen zweiten Widerstand mit dem Emitter des zweiten Transistors verbunden ist, und wobei der Emitter des zweiten Transistors mit dem Ausgang des Strom-Einspeise-Schaltkreises verbunden ist.
  • Gemäß einem anderen bevorzugten Ausführungsbeispiel ist die Zener-Diode ein NPN-Transistor, der einen mit dem Emitter verbundenen Kollektor umfasst.
  • Alternativ ist der Kollektor des NPN-Transistors nicht verbunden. In diesem Fall wäre es zutreffender, den NPN-Transistor als Diode und nicht als Transistor zu bezeichnen.
  • Gemäß einem anderen bevorzugten Ausführungsbeispiel umfasst der integrierte Schaltkreis Komponenten, die außerstande sind, die zum Zappen der Zener-Diode notwendigen Spannungspegel aufrechtzuerhalten.
  • Weitere Eigenschaften und Vorteile der Erfindung werden anhand der nachfolgend beschriebenen Ausführungsbeispiele verdeutlicht.
  • KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN
  • Die vorliegende Erfindung wird eingehend anhand der nachfolgenden detaillierten Beschreibung von Ausführungsbeispielen der vorliegenden Erfindung unter Bezugnahme auf die 1 bis 3, die lediglich zum Zwecke der Veranschaulichung beigefügt und für die vorliegende Erfindung nicht einschränkend sind, erläutert.
  • 1 zeigt ein schematisches Schaltkreisdiagramm eines bevorzugten Ausführungsbeispiels gemäß der Erfindung.
  • 2 zeigt ein schematisches Schaltkreisdiagramm einer Anordnung zum Bestimmen, ob eine Zener-Diode gezappt worden ist.
  • 3 zeigt ein schematisches Schaltkreisdiagramm einer Anordnung zum Liefern von Steuerströmen zu dem Schaltkreis aus 1.
  • BEVORZUGTE AUSFÜHRUNGSBEISPIELE
  • Nachfolgend werden zum Zwecke der Erläuterung und nicht einschränkend spezifische Details beschrieben, z. B. besondere Verfahren und Anwendungen, um ein tiefes Verständnis der vorliegenden Erfindung zu ermöglichen. Es wird jedoch für Fachleute offensichtlich sein, dass die vorliegende Erfindung auch in anderen Ausführungsformen ausgeführt werden kann, die diese spezifischen Details nicht aufweisen. Ferner wird auf bekannte Verfahren und Vorrichtungen nicht detailliert eingegangen, um die Beschreibung der vorliegenden Erfindung nicht durch unnötige Details zu verkomplizieren.
  • 1 zeigt ein schematisches Schaltkreisdiagramm eines bevorzugten Ausführungsbeispiels gemäß der Erfindung. Ein erster Stromerzeuger 101 umfasst einen Steuereingang 102, einen Einspeisepunkt 103 und einen Ausgang 104. Der Ausgang 104 des ersten Stromerzeugers 101 ist verbunden mit einem Einspeisepunkt 105 eines zweiten Stromerzeugers 106, der auch einen Steuereingang 107 und einen Ausgang 108 umfasst. Der erste und der zweite Stromerzeuger, die zwei Transistoren und zwei Widerstände umfassen, sind strukturell ähnlich.
  • Der erste Stromerzeuger umfasst einen ersten Transistor T1 mit einem Kollektor, der mit dem Einspeisepunkt 103 verbunden ist, und mit einer Basis, die mit dem Steuereingang 102 verbunden ist. Der Emitter des ersten Transistors T1 ist verbunden mit der Basis eines zweiten Transistors T2 und die Basis des ersten Transistors T1 ist verbunden mit dem Emitter des ersten Transistors T1 durch einen ersten Widerstand R1. In ähnlicher Weise ist die Basis des zweiten Transistors T2 mit dem Emitter des zweiten Transistors T2 durch einen zweiten Widerstand R2 verbunden, der Kollektor des zweiten Transistors T2 ist verbunden mit dem Einspeisepunkt 103 und der Emitter des zweiten Transistors T2 ist verbunden mit dem Ausgang 104.
  • Wie bereits erwähnt ist der zweite Stromerzeuger 106 ähnlich wie der erste Stromerzeuger 101 und umfasst daher jeweils einen dritten und einen vierten Transistor T3 und T4, deren Kollektoren mit dem Einspeisepunkt 105 für den zweiten Stromgenerator 106 verbunden sind, der auch der Ausgang für den ersten Stromgenerator 101 ist. Die Basen des jeweiligen dritten und vierten Transistors T3 und T4 sind jeweils mit Emittern durch dritte und vierte Widerstände R3 und R4 verbunden. Der Emitter des dritten Transistors T3 ist schließlich verbunden mit der Basis des vierten Transistors T4 und der Emitter des vierten Transistors bildet den Ausgang 108 des zweiten Stromgenerators. Die Basis des Transistors T3 ist verbunden mit dem Steuereingang 107.
  • Der zweite Stromgenerator ist verbunden mit einem fünften Widerstand R5, welcher wiederum mit einem NPN-Transistor Tz verbunden ist, welcher die gezappte Zener-Diode implementiert. Zwischen dem NPN-Transistor Tz und dem Steuereingang 107 für den zweiten Stromgenerator sind jeweils drei Dioden D1, D2 und D3 verbunden. Darüber hinaus ist zwischen den Ausgang 108 des zweiten Stromerzeugers 106 und den Steuereingang 102 des ersten Stromerzeugers 101 eine zweite Zener-Diode Z1 geschaltet.
  • Die Funktionsweise des Schaltkreises ist wie folgt.
  • Ein erster Strom I1 wird in den Steuereingang 102 des ersten Stromerzeugers 101 eingespeist und ein zweiter Strom I2 wird in den Steuereingang 107 des zweiten Stromerzeugers 106 eingespeist. Falls der erste und der zweite Strom ausgeschaltet sind, sind die Transistoren T1 bis T4 nicht leitend und der Schaltkreis ist daher ausgeschaltet. Falls die Ströme I1 und I2 eingeschaltet sind und falls die Einspeisespannung hoch genug ist, sind die Transistoren T1 bis T4 leitend und der Schaltkreis beginnt zu arbeiten. Wenn die Spannung über dem NPN-Transistor Tz, der als Zener-Diode beschaltet ist, den Zenerdurchbruchspegel erreicht, etwa 6 bis 7 Volt, beginnt ein Strom durch den Schaltkreis zu fließen.
  • Der fünfte Widerstand R5 und die drei Dioden D1 bis D3 beschränken den Strom durch den Schaltkreis. Die drei Dioden D1 bis D3 sind vorgesehen, die Basis des Transistors T3 drei Diodenspannungsabfälle oberhalb der niedrigen Seite des Widerstands R5 zu legen, während die höhere Seite des Widerstands R5 zwei Diodenspannungsabfälle unterhalb der Basis des Transistors T3 ist, nämlich die Spannungsabfälle über dem Basis-Emitter der Transistoren T3 und T4. Daher bleibt ein Diodenspannungsabfall über dem Widerstand R5 übrig und diese Spannung und der Widerstandswert des Widerstands R5 bestimmen den Strom. Der Strom wird entsprechend ausgewählt, damit er zum Zappen des Transistors Tz hoch genug ist.
  • Folglich ist der durch den NPN-Transistor Tz fließende Strom zu groß für die Zener-Spannung. Die Spannung über dem NPN-Transistor Tz steigt zur selben Zeit stark an, wie die Spannung über dem Schaltkreis abfällt. Zu dieser Zeit findet der Durchbruch in dem NPN-Transistor Tz statt. Der NPN-Transistor wird daher kurzgeschlossen, die Spannung über dem früheren NPN-Transistor Tz nähert sich Null Volt und die gesamte Spannung wird über den beschriebenen Schaltkreis gelegt. Der Strom wird durch den Transistor R5 auf demselben Wert beibehalten, so daß der insgesamt verbrauchte Strom nicht zu hoch wird, selbst wenn mehrere Transistoren gleichzeitig gezappt werden.
  • Die Zener-Diode Z1 wird derart bereitgestellt, daß die Spannung über dem zweiten Stromerzeuger 106, d. h. jeweils den Transistoren T3 und T4, nicht zu hoch ist. Die Diode Z1 ist verbunden zwischen dem Emitter des Transistors T4 und der Basis von T1. Der Kollektor von T4 ist zwei Basis-Emitter-Spannungsabfälle unterhalb der Basis von T1. Daher wird die maximale Spannung über T4 die Spannung über der Diode Z1 minus zwei Diodenspannungsabfälle betragen, nämlich T1 und T2. Die maximale Spannung über T3 wird die Spannung über der Diode Z1 minus drei Diodenspannungsabfälle betragen, nämlich T1, T2 und T4. Durch eine geeignete Wahl der Diode Z1, d. h. des Spannungsabfalls über Z1, kann ein maximal aufrechterhaltbarer Spannungspegel über dem zweiten Stromgenerator 106 sichergestellt werden, d. h. T4 und T3. Wenn dieser Spannungspegel erreicht wird, wird die Spannung über dem ersten Stromerzeuger 101 weiter ansteigen, d. h. T1 und T2, da der Strom I1 teilweise durch Z1 fließen wird.
  • 2 zeigt ein schematisches Schaltkreisdiagramm einer Anordnung zum Erfassen, ob ein NPN-Transistor gezappt worden ist oder nicht. Ein erster und ein zweiter Transistor T1 und T2 weisen jeweils mit Masse verbundene Kollektoren auf. Die Basis von T1 ist verbunden mit dem Kollektor von T1, welcher auch mit dem Widerstand R1 verbunden ist. Die Basis von T2 ist verbunden mit dem Kollektor von T2 und der Emitter von T2 ist verbunden mit einem zweiten Widerstand R2. Der erste Widerstand hat einen Widerstandswert, der näherungsweise doppelt so hoch ist wie der Widerstandswert des zweiten Widerstands R2. Ein dritter Transistor T3 umfasst einen Kollektor, der mit dem NPN-Transistor verbunden ist (nicht gezeigt). Die Basis von T3 ist verbunden mit dem Emitter von T3 und ferner mit dem Emitter von T2.
  • Der erste Widerstand R1 ist ferner verbunden mit einem vierten Transistor T4 und der zweite Widerstand R2 ist verbunden mit einem fünften Transistor T5. Die Basis der Transistoren T4 und T5 ist verbunden mit einem Steuereingang 201 und die Kollektoren sind verbunden mit einem Stromspiegel T6, der zwei Transistoren T6' und T6'' zum Ziehen vom Strom umfasst. Der Kollektor von T4 ist ferner verbunden mit einem Ausgang 202.
  • Zum Betrieb des Schaltkreises wird der Steuereingang 201 auf näherungsweise 2 Volt erhöht. Falls der Zener-beschaltete NPN-Transistor (nicht gezeigt) gezappt worden ist, wird der Ausgang hoch sein, und falls der Transistor nicht gezappt worden ist, wird der Ausgang niedrig sein.
  • 3 zeigt ein schematisches Schaltkreisdiagram einer Anordnung zum Bereitstellen der Steuerströme in dem Schaltkreis in 1. Die Schaltkreise auf der rechten Seite in 3 sind die in Verbindung mit 1 beschriebenen Schaltkreise und werden an dieser Stelle nicht weiter behandelt.
  • Die Transistoren T8 und T9 bilden wie die Transistoren T11 und T12 einen Stromspiegel zum Bereitstellen der Steuerströme I1 und I2. Die Transistoren T10, T13 und T14 liefern Schutz gegen hohe Spannungspegel. Ein niedriger Einspeisepunkt 301 liefert eine Treibspannung zu dem Schaltkreis. Der Eingang 301 ist ein Niederspannungseingang, etwa 8 Volt, verglichen mit dem Einspeisepunkt 103, welcher ein Hochpegelspannungseingang ist, etwa 30 bis 40 Volt. Ein Eingang 302 liefert einen Strom während des Zappens des NPN-Transistors. Zwei logische Eingänge 303 und 304 sorgen für die Steuerung des Schaltkreises. Falls der Eingang 303 in Bezug auf den Eingang 304 hoch ist, wird der Strom von dem Eingang 302 durch den Transistor T15 zu dem Niederspannungseingang 301 fließen. Falls das Gegenteil wahr ist, d. h. falls der Eingang 304 verglichen mit dem Eingang 303 hoch ist, wird der Strom durch den Transistor T16 zu den zwei Stromspiegeln fließen, die jeweils durch T8, T9 und T11, T12 gebildet werden, und das Zappen des NPN-Transistors wird ausgeführt.

Claims (9)

  1. Integrierter Schaltkreis zum elektrischen dauerhaften Programmieren von Information in dem integrierten Schaltkreis durch das Treiben eines Stroms durch eine Zener-Diode (Tz), umfassend: einen ersten Strom-Einspeise-Schaltkreis (101) mit einem Ausgang (104), einem Einspeisepunkt (103), der mit einer Einspeise-Spannung verbindbar ist, und einem Steuereingang (102) zum Steuern des Programmierens der Zener-Diode (Tz), gekennzeichnet durch – zumindest einen zweiten Strom-Einspeise-Schaltkreis (106) mit • einem Ausgang (108), der durch einen Widerstand (R5) mit der Zener-Diode (Tz) verbunden ist, • einem Einspeisepunkt (105), der mit dem Ausgang (104) des ersten Strom-Einspeise-Schaltkreises (101) verbunden ist, und • einem Steuereingang (107) zum Steuern des Programmierens der Zener-Diode (Tz), und – einen ersten Spannungspegel-Controller, der vorgesehen ist, um die zum Programmieren der Zener-Diode (Tz) notwendige Spannung über den ersten und den zumindest zweiten Strom-Einspeise-Schaltkreis (101, 106) aufzuteilen.
  2. Integrierter Schaltkreis gemäß Anspruch 1, wobei – der erste Spannungspegel-Controller (Z1) zwischen einem Ausgang des zumindest zweiten Strom-Einspeise-Schaltkreises (106) und dem Steuereingang des ersten Strom-Einspeise-Schaltkreises (101) verbunden ist.
  3. Integrierter Schaltkreis gemäß Anspruch 1, wobei – ein zweiter Spannungspegel-Controller vorgesehen ist, um die Spannung über dem Widerstand (R5) zu steuern, um dadurch den Strom durch den Widerstand und die Zener-Diode (Tz) einzustellen.
  4. Integrierter Schaltkreis gemäß Anspruch 3, wobei – der zweite Spannungspegel-Controller zwischen der Zener-Diode (Tz) und dem Steuereingang (107) des zweiten Strom-Einspeise-Schaltkreises (106) verbunden ist.
  5. Integrierter Schaltkreis gemäß Anspruch 2, wobei – der erste Spannungspegel-Controller (Z1) vorgesehen ist, um zu verhindern, daß der Spannungspegel über dem ersten und dem zumindest zweiten Strom-Einspeise-Schaltkreis (101, 106) nicht-aufrechthaltbare Pegel erreicht.
  6. Integrierter Schaltkreis gemäß Anspruch 1, wobei – der erste Spannungspegel-Controller (Z1) eine zweite Zener-Diode ist.
  7. Integrierter Schaltkreis gemäß Anspruch 1, wobei jeder der Strom-Einspeise-Schaltkreise (101, 106) die folgenden Merkmale umfaßt: – einen ersten und einen zweiten Transistor (T1, T2, T3, T4), deren Kollektoren mit dem Einspeisepunkt ((103, 105) verbunden sind, wobei – die Basis des ersten Transistors (T1, T3) mit dem Steuereingang (102, 107) und über einen ersten Widerstand (R1, R3) mit dem Emitter des ersten Transistors (T1, T3) verbunden ist, wobei – die Basis des zweiten Transistors (T2, T4) mit dem Emitter des ersten Transistors (T1, T3) und über einen zweiten Widerstand (R2, R4) mit dem Emitter des zweiten Transistors (T2, T4) verbunden ist, und wobei – der Emitter des zweiten Transistors (T2, T4) mit dem Ausgang des Strom-Einspeise-Schaltkreises (101, 106) verbunden ist.
  8. Integrierter Schaltkreis gemäß Anspruch 1, wobei – die Zener-Diode (Tz) ein NPN-Transistor mit einem Kollektor, der mit dem Emitter verbunden ist, ist.
  9. Integrierter Schaltkreis gemäß Anspruch 1, wobei – der integrierte Schaltkreis Komponenten umfasst, die außerstande sind, die zum Zappen der Zener-Diode (Tz) notwendigen Spannungpegel aufrechtzuerhalten.
DE112004002090.5T 2003-10-30 2004-10-27 Zener-Zap-Speicher Expired - Fee Related DE112004002090B4 (de)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
SE0302862-8 2003-10-30
SE0302862A SE526368C2 (sv) 2003-10-30 2003-10-30 Zener-Zap Minne
PCT/SE2004/001557 WO2005043549A1 (en) 2003-10-30 2004-10-27 Zener-zap memory

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE112004002090T5 DE112004002090T5 (de) 2006-09-28
DE112004002090B4 true DE112004002090B4 (de) 2014-07-03

Family

ID=29580164

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE112004002090.5T Expired - Fee Related DE112004002090B4 (de) 2003-10-30 2004-10-27 Zener-Zap-Speicher

Country Status (6)

Country Link
US (1) US7417839B2 (de)
JP (1) JP2007511859A (de)
CN (1) CN100483554C (de)
DE (1) DE112004002090B4 (de)
SE (1) SE526368C2 (de)
WO (1) WO2005043549A1 (de)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7455937B2 (en) 2004-12-03 2008-11-25 Micron Technology, Inc. Reticles and methods of forming reticles
FR2981228B1 (fr) * 2011-10-05 2013-12-20 Valeo Systemes Thermiques Circuit de commande d'un circuit elevateur de tension, dispositif de commande et systeme de regulation correspondants.
JP6103815B2 (ja) * 2012-04-13 2017-03-29 ラピスセミコンダクタ株式会社 不揮発性メモリ回路、及び半導体装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5572472A (en) * 1995-04-14 1996-11-05 Delco Electronics Corporation Integrated zener-zap nonvolatile memory cell with programming and pretest capability

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3175981B2 (ja) * 1992-10-28 2001-06-11 株式会社東芝 トリミング回路
US5796298A (en) * 1995-04-14 1998-08-18 Delco Electronics Corporation Integrated transducer amplifier with zener-zap programming
US5619122A (en) * 1995-04-14 1997-04-08 Delco Electronics Corporation Temperature dependent voltage generator with binary adjustable null voltage
US5856742A (en) * 1995-06-30 1999-01-05 Harris Corporation Temperature insensitive bandgap voltage generator tracking power supply variations
JP2003068858A (ja) * 2001-08-22 2003-03-07 Toshiba Corp トリミング回路
US7145255B2 (en) * 2004-08-26 2006-12-05 Micrel, Incorporated Lateral programmable polysilicon structure incorporating polysilicon blocking diode

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5572472A (en) * 1995-04-14 1996-11-05 Delco Electronics Corporation Integrated zener-zap nonvolatile memory cell with programming and pretest capability

Also Published As

Publication number Publication date
JP2007511859A (ja) 2007-05-10
SE0302862L (sv) 2005-05-01
US20060256490A1 (en) 2006-11-16
SE0302862D0 (sv) 2003-10-30
US7417839B2 (en) 2008-08-26
CN100483554C (zh) 2009-04-29
CN1871664A (zh) 2006-11-29
WO2005043549A1 (en) 2005-05-12
DE112004002090T5 (de) 2006-09-28
SE526368C2 (sv) 2005-08-30
WO2005043549A8 (en) 2005-07-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE4037206A1 (de) Quellspannungssteuerschaltkreis
DE4017617C2 (de) Spannungserzeugungsschaltung mit geringer Leistungsaufnahme und stabiler Ausgangsspannung bei kleiner Schaltkreisfläche
DE2337138A1 (de) Verstaerkerschaltung
EP0689058B1 (de) Schaltungsanordnung zum Überwachen eines Schaltungspunktes auf einen Leckwiderstand
DE3537920C2 (de) Stabilisator mit Schutz gegen Übergangs-Überspannungen, deren Polarität entgegengesetzt zur Polarität des Generators ist, insbesondere für die Verwendung in Kraftfahrzeugen
DE3038641A1 (de) Halbleiter-speicherschaltung
DE112004002090B4 (de) Zener-Zap-Speicher
DE60019144T2 (de) Halbleitervorrichtung
DE3236305A1 (de) Programmierbarer nur-lese-speicher (prom)
DE2738187C2 (de) Schaltungsanordnung für mehrere auf einem Bipolar-Baustein angeordnete Speicherzellen mit einer Regelschaltung zur Kennlinien-Anpassung der Speicherzellen
EP0078335B1 (de) Verfahren zum Lesen eines Halbleiterspeichers
DE2600389C3 (de) Speicherschaltung mit logischer Ansteuerung
DE2444060A1 (de) Treiberschaltung
EP0057239B1 (de) Monolithisch integrierte Gegentakt-Treiberschaltung
DE2008065B2 (de)
DE3210661A1 (de) Verstaerker
DE2200580A1 (de) Vergleichsverstaerker mit Einzelzufuehrung
DE19983197B4 (de) Verfahren und Einrichtung für ein schnelles Programmieren während der Herstellung und für In-System-Schreiboperationen bei niedriger Spannung für ein programmierbares logisches Bauelement
DE3717758A1 (de) Sourcevorspannungsgenerator fuer natuerliche transistoren in digitalen integrierten mos-schaltungen
EP1040482B1 (de) Integrierte speicherschaltung mit einer pufferschaltung
DE2352654A1 (de) Hochspannungsschaltkreis
DE2712350A1 (de) Binaerschaltung
DE3309396A1 (de) Schaltungsanordnung zur pegelanpassung
DE1948178B2 (de) Aus einer Vielzahl individueller logischer Kreise bestehende monolithische Halbleiterschaltung mit integrierter Gleichspannungsstabilisierungs-Halbleiterschaltung
DE3739872C2 (de)

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law

Ref document number: 112004002090

Country of ref document: DE

Date of ref document: 20060928

Kind code of ref document: P

R016 Response to examination communication
R016 Response to examination communication
R018 Grant decision by examination section/examining division
R020 Patent grant now final
R082 Change of representative
R020 Patent grant now final

Effective date: 20150408

R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee