DE19700963A1 - Verfahren zur Herstellung eines Leistungsmoduls mit einer aktive Halbleiterbauelemente und passive Halbleiterbauelemente aufweisenden Schaltungsanordnung - Google Patents
Verfahren zur Herstellung eines Leistungsmoduls mit einer aktive Halbleiterbauelemente und passive Halbleiterbauelemente aufweisenden SchaltungsanordnungInfo
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Description
Leistungsmodule werden in vielen Anwendungsbereichen für unterschiedli
che Aufgaben eingesetzt, beispielsweise zur Drehzahl- und Leistungsrege
lung von Elektromotoren. Bestandteil derartiger Leistungsmodule ist eine
als Leistungseinheit fungierende Schaltungsanordnung, die in der Regel so
wohl aktive Halbleiterbauelemente wie Leistungshalbleiterbauelemente als
auch passive Bauelemente wie Widerstände (bsp. Shunts zur Strommessung)
und ggf. Kondensatoren aufweist. Die Leistungshalbleiterbauelemente ar
beiten im Schaltbetrieb, weshalb hohe Stromänderungsgeschwindigkeiten
auftreten; aufgrund dieser hohen Stromänderungsgeschwindigkeiten ist
zur Vermeidung von Überspannungen ein induktionsarmer Aufbau der
Schaltungsanordnung erforderlich.
Als Trägerkörper für die aktiven Halbleiterbauelemente (insbesondere die
Leistungshalbleiterbauelemente) der Schaltungsanordnung wird daher und
aus Gründen der ausreichenden Wärmeabfuhr ihrer Verlustleistung üblicher
weise ein sogenanntes DCB-Substrat ("direct copper bonding") verwendet,
das aus einer von zwei Kupferschichten umgebenen (bsp. aus Aluminium
oxid Al2O3 bestehenden) Keramikschicht zusammengesetzt ist; die aktiven
Halbleiterbauelemente (Leistungshalbleiterbauelemente) werden hierbei auf
die obere Kupferschicht des DCB-Substrats aufgelötet und mittels Bonddräh
ten kontaktiert. Die obere Kupferschicht des DCB-Substrats wird strukturiert
(unterbrochen), wodurch Leiterbahnen zur Verbindung der Leistungshalblei
terbauelemente gebildet werden.
Das DCB-Substrat wird zur mechanischen Stabilisierung und zur Wärmeab
fuhr auf eine als Schaltungsträger dienende Metallplatte aufgebracht, übli
cherweise aufgelötet; diese Metallplatte gibt die Verlustwärme an ein Kühl
system weiter.
Die passiven Bauelemente (insbesondere die Widerstände) der Schaltungsan
ordnung werden vorteilhafterweise meist in Dickschichttechnik realisiert
(d. h. auf einen Keramikträger gedruckt); dieser Keramikträger wird in einem
separaten Fertigungsschritt auf den Schaltungsträger benachbart zum
DCB-Substrat aufgeklebt (beispielsweise mittels eines Wärmeleitklebers).
Nachteilig hierbei ist, daß
- - für das Löten der DCB-Substrate und für das Aufkleben der Keramikträger auf den Schaltungsträger getrennte Prozeßschritte und Technologien er forderlich sind, was Zeitaufwand und Kosten verursacht,
- - die Verbindung (Kontaktierung) zwischen den auf den Keramikträgern aufgebrachten passiven Bauelementen und den auf den DCB-Substraten aufgebrachten aktiven Halbleiterbauelementen der Schaltungsanordnung durch deren räumliche Trennung problematisch ist; es werden lange Ver bindungsleitungen und Kontaktfahnen benötigt, die sich als parasitäre In duktivitäten negativ auf die Eigenschaften der Schaltungsanordnung bzw. des Leistungsmoduls auswirken (Generierung von Überspannungen, EMV-Problematik).
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zur Herstellung ei
nes Leistungsmoduls gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 mit
einfachem Aufbau und Herstellverfahren anzugeben, bei dem diese Nachtei
le vermieden werden.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die Merkmale im Kennzeichen
des Patentanspruches 1 gelöst.
Vorteilhafte Weiterbildungen des Verfahrens sind Bestandteil der weiteren
Patentansprüche.
Beim vorgestellten Verfahren zur Herstellung eines Leistungsmoduls wird
zumindest ein Teil der passiven Bauelemente mittels Dickschichttechnik rea
lisiert (d. h. durch Aufbringen einer ersten Druckschicht als das eigentliche
Bauelement und mindestens einer weiteren, sich lateral an die erste Druck
schicht anschließenden, als Kontaktfläche fungierenden Druckschicht auf ei
nen Keramikträger); der derart bedruckte Keramikträger (die Dickschicht
schaltung) wird mit der Druckseite auf die durch Ausbildung von Leiterbah
nen und Anschlußflächen geeignet strukturierte Oberseite des DCB-Substrats
(die obere Kupferschicht) aufgelegt und mit dem DCB-Substrat dadurch ver
bunden, daß die Kontaktfläche/n auf die korrespondierenden Anschlußflä
chen des DCB-Substrats aufgelötet werden; eine Verbindung (Kontaktierung)
mit den anderen auf dem DCB-Substrat angeordneten Halbleiter
bauelementen kann auf geeignete Weise entweder direkt über Leiterbah
nen oder über Bonddrähte erfolgen. Das DCB-Substrat wird auf geeignete
Weise mit dem Schaltungsträger der Schaltungsanordnung verbunden, bsp.
auf diesen Schaltungsträger (bsp. eine Metallplatte) aufgelötet. Die Verlust
leistung der auf dem Keramikträger angeordneten passiven Bauelemente
(insbesondere der Widerstände) wird hierdurch über den Keramikträger und
das DCB-Substrat an den Schaltungsträger abgeführt. Die Keramikträger mit
den passiven Bauelementen (den Widerständen) können gleichzeitig mit
dem Löten der aktiven Halbleiterbauelemente auf das DCB-Substrat und/oder
gleichzeitig mit dem Löten des DCB-Substrats auf den Schaltungsträger
gelötet werden, so daß hierfür kein eigener Prozeßschritt erforderlich ist;
d. h. das Löten der Dickschichtschaltung (passive Bauelemente auf Keramik
träger) kann gleichzeitig mit dem Löten der aktiven Halbleiterbauelemente
auf das DCB-Substrat oder gleichzeitig mit dem Löten des DCB-Substrats auf
den Schaltungsträger oder gleichzeitig mit dem Löten der aktiven Halblei
terbauelemente auf das DCB-Substrat und des DCB-Substrats auf den Schal
tungsträger durchgeführt werden.
Auf den Keramikträger können neben den in Dickschichttechnik realisierten
Bauelementen weitere Bauelemente (bsp. SMD-Bauelemente) aufgebracht
und mittels Kontaktflächen mit der übrigen Schaltungsanordnung verbun
den werden.
Die Vorteile des genannten Verfahrens zur Herstellung eines Leistungsmo
duls bestehen darin, daß
- - Herstellungsaufwand und damit Kosten des Leistungsmoduls durch den gleichzeitig erfolgenden, für die passiven Bauelemente (die Widerstände) und die aktiven Halbleiterbauelemente erforderlichen Lötvorgang redu ziert werden,
- - aufgrund der geringen Anzahl an Verbindungsleitungen der Schaltungs anordnung und der Reduzierung der Leitungslänge der ggf. noch vorhan denen Verbindungsleitungen ein einfacher und kompakter Aufbau gege ben ist,
- - durch die geringen Leitungslängen der Verbindungsleitungen und der Re duzierung der parasitären Induktivitäten Überspannungen und damit Be einträchtigungen der Funktionsweise des Leistungsmoduls vermieden werden.
Im folgenden ist das Verfahren zur Herstellung eines Leistungsmoduls an
hand eines Ausführungsbeispiels im Zusammenhang mit der Zeichnung be
schrieben; in der Figur ist eine schematische Ansicht des Aufbaus des Lei
stungsmoduls in einer Schnittzeichnung dargestellt.
Die bsp. auf einem Schaltungsträger 2 mit den Maßen 99 mm × 57 mm × 3 mm
angeordnete Schaltungsanordnung 1 des Leistungsmoduls umfaßt bsp.
mehrere Leistungshalbleiterbauelemente 11 (Leistungstransistoren und Lei
stungsdioden) und mehrere Widerstände 10 als Shunts zur Messung der
Transistorströme.
Als Trägerkörper für die als Halbleiterelemente ausgebildeten Leistungs
halbleiterbauelemente 11 und für die in Dickschichttechnik realisierten Wi
derstände 10 ist ein DCB-Substrat 3 vorgesehen, das sich aus der ersten (zur
Bildung von Leiterbahnen und Anschlußflächen strukturierten) Kupfer
schicht 32, der als Oxidschicht ausgebildeten Keramikschicht 31 und der
zweiten (unstrukturierten) Kupferschicht 33 zusammensetzt. Die Leistungs
halbleiterbauelemente 11, bsp. die als Halbleiterelement (Halbleiter-Chip)
ausgebildeten Leistungstransistoren und Leistungsdioden, werden auf die
Anschlußflächen der ersten Kupferschicht 32 (d. h. auf die Oberseite des
DCB-Substrats 3) mittels des Lots 15 aufgelötet und durch diesen Lötprozeß mit
dem DCB-Substrat 3 (der ersten Kupferschicht 32) mechanisch (insbesondere
zur Wärmeabfuhr ihrer Verlustleistung) und elektrisch über Bonddrähte 12
verbunden. Die Widerstände 10 aus der Widerstandsbahn 13, den beiden la
teral sich an die Widerstandsbahn 13 anschließenden Kontaktflächen 14 (Me
tallisierungen) und einer nicht dargestellten Schutzschicht (Passivierung)
werden auf einen Keramikträger 21 gedruckt; dieser Keramikträger 21 wird
unter Verwendung der Kontaktflächen 14 auf die hierfür auf der Oberseite
des DCB-Substrats 3 (der ersten Kupferschicht 32) vorgesehenen Anschlußflä
chen aufgelötet (mittels des Lots 15). Beispielsweise wird dieser Lötvorgang
gleichzeitig mit dem Löten der Leistungshalbleiterbauelemente 11 auf das
DCB-Substrat 3 durchgeführt und anschließend das DCB-Substrat 3 mit den
aufgebrachten aktiven Halbleiterbauelementen 11 und passiven Bauelemen
ten 10 auf den bsp. als metallische Kupferplatte ausgebildeten Schaltungs
träger 2 aufgelötet.
Claims (3)
1. Verfahren zur Herstellung eines Leistungsmoduls mit einer aktive Halblei
terbauelemente (11) und passive Bauelemente (10) aufweisenden Schal
tungsanordnung (1) und mit einem Schaltungsträger (2), wobei zumindest
ein Teil der aktiven Halbleiterbauelemente (11) auf ein DCB-Substrat (3) auf
gelötet und zumindest ein Teil der passiven Bauelemente (10) in Dickschicht
technik auf mindestens einen Keramikträger (21) gedruckt wird, dadurch ge
kennzeichnet, daß
- - die Oberseite (32) des DCB-Substrats (3) zur Bildung von Leiterbahnen und Anschlußflächen zur Aufnahme der aktiven Halbleiterbauelemen te (11) und der passiven Bauelemente (10) der Schaltungsanordnung (1) strukturiert wird,
- - auf den/die Keramikträger (21) für jedes vorgesehene passive Bauele ment (10) in Dickschichttechnik eine erste, die Eigenschaften des pas siven Bauelements (10) bestimmende Druckschicht (13) und minde stens eine Kontaktfläche (14) als weitere, sich lateral an die erste Druckschicht (13) anschließende Druckschicht gedruckt wird, und
- - der/die Keramikträger (21) über die mindestens eine Kontaktfläche (14) mit der/den korrespondierenden Anschlußfläche/n des DCB-Sub strats (3) mittels Löten verbunden wird/werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das Löten der
Keramikträger (21) gleichzeitig mit dem Löten der aktiven Halbleiterbauele
mente (11) auf das DCB-Substrat (3) und/oder gleichzeitig mit dem Löten des
DCB-Substrats (3) auf den Schaltungsträger (2) erfolgt.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß auf den
Keramikträger (21) weitere Bauelemente aufgebracht werden.
Priority Applications (6)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19700963A DE19700963C2 (de) | 1997-01-14 | 1997-01-14 | Verfahren zur Herstellung eines Leistungsmoduls mit einer aktive Halbleiterbauelemente und passive Halbleiterbauelemente aufweisenden Schaltungsanordnung |
US09/341,527 US20020008967A1 (en) | 1997-01-14 | 1998-01-14 | Power module with a circuit arrangement comprising active semiconductor components and passive components, and method for producing same |
US09/341,527 US6344973B1 (en) | 1997-01-14 | 1998-01-14 | Power module with a circuit arrangement comprising active semiconductor components and passive components, and method for producing same |
EP98906929A EP1008231A2 (de) | 1997-01-14 | 1998-01-14 | Leistungsmodul mit einer aktive halbleiterbauelemente und passive bauelemente aufweisenden schaltungsanordnung sowie herstellungsverfahren hierzu |
PCT/EP1998/000655 WO1998032213A2 (de) | 1997-01-14 | 1998-01-14 | Leistungsmodul mit einer aktive halbleiterbauelemente und passive bauelemente aufweisenden schaltungsanordnung sowie herstellungsverfahren hierzu |
JP53376998A JP2001508240A (ja) | 1997-01-14 | 1998-01-14 | 能動半導体部品および受動部品を備えた回路装置を有するパワーモジュールならびにその製造方法 |
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Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
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DE19700963A Expired - Fee Related DE19700963C2 (de) | 1997-01-14 | 1997-01-14 | Verfahren zur Herstellung eines Leistungsmoduls mit einer aktive Halbleiterbauelemente und passive Halbleiterbauelemente aufweisenden Schaltungsanordnung |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (2) | US6344973B1 (de) |
EP (1) | EP1008231A2 (de) |
JP (1) | JP2001508240A (de) |
DE (1) | DE19700963C2 (de) |
WO (1) | WO1998032213A2 (de) |
Cited By (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2002049104A2 (de) * | 2000-12-13 | 2002-06-20 | Daimlerchrysler Ag | Leistungsmodul mit verbessertem transienten wärmewiderstand |
DE10063714A1 (de) * | 2000-12-20 | 2002-07-04 | Semikron Elektronik Gmbh | Leistungshalbleitermodul mit hoher Isolationsfestigkeit |
EP1231639A1 (de) * | 2000-08-18 | 2002-08-14 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Leistungsmodul |
DE10117775A1 (de) * | 2001-04-09 | 2002-10-17 | Abb Research Ltd | Leistungshalbleitermodul sowie Verfahren zum Herstellen eines solchen Leistungshalbleitermoduls |
DE10158185A1 (de) * | 2000-12-20 | 2003-07-03 | Semikron Elektronik Gmbh | Leistungshalbleitermodul mit hoher Isolationsfestigkeit |
DE10204200A1 (de) * | 2002-02-01 | 2003-08-21 | Conti Temic Microelectronic | Leistungsmodul |
DE10213648A1 (de) * | 2002-03-27 | 2003-10-23 | Semikron Elektronik Gmbh | Leistungshalbleitermodul |
DE10230712A1 (de) * | 2002-07-08 | 2004-02-12 | Siemens Ag | Elektronikeinheit |
EP1063700A3 (de) * | 1999-06-22 | 2006-04-19 | Infineon Technologies AG | Substrat für Hochspannungsmodule |
DE10229337B4 (de) * | 2002-06-29 | 2007-04-05 | Robert Bosch Gmbh | Elektronische Baugruppe |
CN100388486C (zh) * | 2000-05-18 | 2008-05-14 | 欧佩克·欧拉帕舍·盖塞尔沙夫特·冯·雷斯坦沙布莱特有限公司 | 功率半导体模块 |
DE102008026347A1 (de) | 2008-05-31 | 2010-02-18 | Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg | Leistungselektronische Anordnung mit einem Substrat und einem Grundkörper |
DE102012106135A1 (de) * | 2012-07-09 | 2014-05-22 | Cryoelectra Gmbh | Planarer Symmetrierübertrager mit verbesserter Wärmeabführung |
EP1855319B1 (de) * | 2006-05-09 | 2016-12-21 | Semikron Elektronik GmbH & Co. KG Patentabteilung | Leistungshalbleitermodul |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6965165B2 (en) | 1998-12-21 | 2005-11-15 | Mou-Shiung Lin | Top layers of metal for high performance IC's |
US20040174954A1 (en) * | 2001-06-28 | 2004-09-09 | Rust Johan Willem | Medical x-ray device and power module therefor |
US6797889B1 (en) * | 2002-05-30 | 2004-09-28 | Johnson Controls Automotive Electronics | Assembly of power circuits and numerical data printed on a multilayer board |
US8368150B2 (en) * | 2003-03-17 | 2013-02-05 | Megica Corporation | High performance IC chip having discrete decoupling capacitors attached to its IC surface |
US6775145B1 (en) * | 2003-05-14 | 2004-08-10 | Cyntec Co., Ltd. | Construction for high density power module package (case II) |
US7243421B2 (en) * | 2003-10-29 | 2007-07-17 | Conductive Inkjet Technology Limited | Electrical connection of components |
JP4091562B2 (ja) * | 2004-03-29 | 2008-05-28 | ファナック株式会社 | モータ駆動装置 |
JP2007534941A (ja) * | 2004-04-22 | 2007-11-29 | ザイゴ コーポレーション | 光学干渉計システムおよび光学干渉計システムを用いる方法 |
JP5261982B2 (ja) | 2007-05-18 | 2013-08-14 | 富士電機株式会社 | 半導体装置及び半導体装置の製造方法 |
US10242969B2 (en) * | 2013-11-12 | 2019-03-26 | Infineon Technologies Ag | Semiconductor package comprising a transistor chip module and a driver chip module and a method for fabricating the same |
CN109671633A (zh) * | 2017-10-17 | 2019-04-23 | 株洲中车时代电气股份有限公司 | 一种高压igbt衬板绝缘方法 |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3538933A1 (de) * | 1985-11-02 | 1987-05-14 | Bbc Brown Boveri & Cie | Leistungshalbleitermodul |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4410874A (en) * | 1975-03-03 | 1983-10-18 | Hughes Aircraft Company | Large area hybrid microcircuit assembly |
US4658332A (en) * | 1983-04-04 | 1987-04-14 | Raytheon Company | Compliant layer printed circuit board |
JPH0714105B2 (ja) * | 1986-05-19 | 1995-02-15 | 日本電装株式会社 | 混成集積回路基板及びその製造方法 |
US5119272A (en) * | 1986-07-21 | 1992-06-02 | Mitsumi Electric Co., Ltd. | Circuit board and method of producing circuit board |
US4788524A (en) * | 1987-08-27 | 1988-11-29 | Gte Communication Systems Corporation | Thick film material system |
EP0415571A3 (de) * | 1989-08-07 | 1991-03-13 | Ford Motor Company Limited | Dickschichtwiderstände und Verfahren zu ihrer Herstellung |
US5621701A (en) * | 1989-08-10 | 1997-04-15 | Lockheed Martin Tactical Systems, Inc. | Controlled compliance acoustic baffle |
US5291375A (en) * | 1991-09-30 | 1994-03-01 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Printed circuit board and electric device configured to facilitate bonding |
US5276423A (en) * | 1991-11-12 | 1994-01-04 | Texas Instruments Incorporated | Circuit units, substrates therefor and method of making |
US5818699A (en) * | 1995-07-05 | 1998-10-06 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Multi-chip module and production method thereof |
US5621240A (en) * | 1995-09-05 | 1997-04-15 | Delco Electronics Corp. | Segmented thick film resistors |
US5872403A (en) * | 1997-01-02 | 1999-02-16 | Lucent Technologies, Inc. | Package for a power semiconductor die and power supply employing the same |
US5855995A (en) * | 1997-02-21 | 1999-01-05 | Medtronic, Inc. | Ceramic substrate for implantable medical devices |
CA2255441C (en) * | 1997-12-08 | 2003-08-05 | Hiroki Sekiya | Package for semiconductor power device and method for assembling the same |
-
1997
- 1997-01-14 DE DE19700963A patent/DE19700963C2/de not_active Expired - Fee Related
-
1998
- 1998-01-14 EP EP98906929A patent/EP1008231A2/de not_active Withdrawn
- 1998-01-14 WO PCT/EP1998/000655 patent/WO1998032213A2/de not_active Application Discontinuation
- 1998-01-14 US US09/341,527 patent/US6344973B1/en not_active Expired - Fee Related
- 1998-01-14 JP JP53376998A patent/JP2001508240A/ja active Pending
- 1998-01-14 US US09/341,527 patent/US20020008967A1/en active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3538933A1 (de) * | 1985-11-02 | 1987-05-14 | Bbc Brown Boveri & Cie | Leistungshalbleitermodul |
Cited By (22)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP1063700A3 (de) * | 1999-06-22 | 2006-04-19 | Infineon Technologies AG | Substrat für Hochspannungsmodule |
CN100388486C (zh) * | 2000-05-18 | 2008-05-14 | 欧佩克·欧拉帕舍·盖塞尔沙夫特·冯·雷斯坦沙布莱特有限公司 | 功率半导体模块 |
EP1231639A4 (de) * | 2000-08-18 | 2003-07-02 | Mitsubishi Electric Corp | Leistungsmodul |
US6940164B1 (en) | 2000-08-18 | 2005-09-06 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Power module |
EP1231639A1 (de) * | 2000-08-18 | 2002-08-14 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Leistungsmodul |
US6812559B2 (en) | 2000-12-13 | 2004-11-02 | Daimlerchrysler Ag | Power module with improved transient thermal impedance |
WO2002049104A3 (de) * | 2000-12-13 | 2003-09-04 | Daimler Chrysler Ag | Leistungsmodul mit verbessertem transienten wärmewiderstand |
WO2002049104A2 (de) * | 2000-12-13 | 2002-06-20 | Daimlerchrysler Ag | Leistungsmodul mit verbessertem transienten wärmewiderstand |
DE10063714A1 (de) * | 2000-12-20 | 2002-07-04 | Semikron Elektronik Gmbh | Leistungshalbleitermodul mit hoher Isolationsfestigkeit |
DE10158185B4 (de) * | 2000-12-20 | 2005-08-11 | Semikron Elektronik Gmbh | Leistungshalbleitermodul mit hoher Isolationsfestigkeit |
DE10158185A1 (de) * | 2000-12-20 | 2003-07-03 | Semikron Elektronik Gmbh | Leistungshalbleitermodul mit hoher Isolationsfestigkeit |
DE10063714C2 (de) * | 2000-12-20 | 2002-11-07 | Semikron Elektronik Gmbh | Leistungshalbleitermodul mit hoher Isolationsfestigkeit |
DE10117775A1 (de) * | 2001-04-09 | 2002-10-17 | Abb Research Ltd | Leistungshalbleitermodul sowie Verfahren zum Herstellen eines solchen Leistungshalbleitermoduls |
DE10204200A1 (de) * | 2002-02-01 | 2003-08-21 | Conti Temic Microelectronic | Leistungsmodul |
DE10213648A1 (de) * | 2002-03-27 | 2003-10-23 | Semikron Elektronik Gmbh | Leistungshalbleitermodul |
DE10213648B4 (de) * | 2002-03-27 | 2011-12-15 | Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg | Leistungshalbleitermodul |
DE10229337B4 (de) * | 2002-06-29 | 2007-04-05 | Robert Bosch Gmbh | Elektronische Baugruppe |
DE10230712B4 (de) * | 2002-07-08 | 2006-03-23 | Siemens Ag | Elektronikeinheit mit einem niedrigschmelzenden metallischen Träger |
DE10230712A1 (de) * | 2002-07-08 | 2004-02-12 | Siemens Ag | Elektronikeinheit |
EP1855319B1 (de) * | 2006-05-09 | 2016-12-21 | Semikron Elektronik GmbH & Co. KG Patentabteilung | Leistungshalbleitermodul |
DE102008026347A1 (de) | 2008-05-31 | 2010-02-18 | Semikron Elektronik Gmbh & Co. Kg | Leistungselektronische Anordnung mit einem Substrat und einem Grundkörper |
DE102012106135A1 (de) * | 2012-07-09 | 2014-05-22 | Cryoelectra Gmbh | Planarer Symmetrierübertrager mit verbesserter Wärmeabführung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US6344973B1 (en) | 2002-02-05 |
EP1008231A2 (de) | 2000-06-14 |
US20020008967A1 (en) | 2002-01-24 |
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WO1998032213A3 (de) | 1999-03-18 |
WO1998032213A2 (de) | 1998-07-23 |
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