DE19736146A1 - Verfahren zum Betreiben einer aktiven Pixelsensorzelle - Google Patents
Verfahren zum Betreiben einer aktiven PixelsensorzelleInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Betreiben einer akti
ven Pixelsensorzelle nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
Ladungsgekoppelte Schaltungen (CCDs) waren die Hauptstütze
herkömmlicher Abbildungsschaltungen zum Umwandeln eines Pixels Lichten
ergie in ein elektrisches Signal, welches die Intensität der Lichtener
gie wiedergibt. Im allgemeinen verwenden CCDs ein Photogate zur Umwand
lung der Lichtenergie in eine elektrische Ladung und eine Reihe von
Elektroden zur Übertragung der am Photogate gesammelten Ladung an einen
Ausgangsleseknoten.
Obwohl CCDs viele Stärken aufweisen, zum Beispiel eine hohe
Empfindlichkeit und einen hohen Füllfaktor, haben sie auch eine Reihe
von Schwächen. Am bemerkenswertesten unter diesen Schwächen, welche be
grenzte Leseraten und Beschränkungen des Dynamikbereichs beinhalten, ist
die Schwierigkeit, CCDs mit CMOS-beruhenden Mikroprozessoren zu inte
grieren.
Um die Nachteile von auf CCD beruhenden Abbildungsschaltungen
zu überwinden, verwenden neuere Abbildungsschaltungen aktive Pixelsen
sorzellen zur Umwandlung eines Pixels Lichtenergie in ein elektrisches
Signal. Bei aktiven Pixelsensorzellen ist eine herkömmliche Photodiode
mit einer Reihe aktiver Transistoren kombiniert, welche zusätzlich zur
Bildung eines elektrischen Signals Verstärkung, Lesekontrolle und Rück
setzkontrolle liefern.
Gemäß Fig. 2 enthält eine bekannte CMOS-aktive Pixelsensorzel
le 10 eine Photodiode 12, die mit einem ersten Zwischenknoten NIM1 ver
bunden ist, und einen Rücksetztransistor 14, dessen Drain mit einem
Stromversorgungsknoten NPS, dessen Source mit dem Zwischenknoten NIM1
und dessen Gate mit einem ersten Eingangsknoten NIN1 verbunden sind.
Die Pixelsensorzelle 10 enthält ferner einen Puffertransistor
16 und einen Zeilenwähltransistor 18. Der Puffertransistor 16 hat eine
Drain, die mit dem Stromversorgungsknoten NPS, eine Source, die mit ei
nem zweiten Zwischenknoten NIM2, und ein Gate, das mit dem Zwischenkno
ten NIM1 verbunden ist, während der Zeilenwähltransistor 18 eine mit dem
Zwischenknoten NIM2 verbundene Drain, eine mit einem dritten Zwischen
knoten NIM3 verbundene Source und ein an einem zweiten Eingangsknoten
NIN2 verbundenes Gate hat. Außerdem ist ein Nachweis- und Berechnungs
schaltkreis 20 mit dem dritten Zwischenknoten NIM3 verbunden.
Gemäß Fig. 3A bis 3C zeigen Zeitdiagramme den Betrieb der Pi
xelsensorzelle 10. Gemäß Fig. 2 und Fig. 3A bis 3C wird zu Beginn das
Gate des Rücksetztransistors 14 mit einer Rücksetzspannung VRESET zur
Zeit t₁ kurz beaufschlagt. Die Rücksetzspannung VRESET, die gleich Vcc
(+5 V) ist, setzt die Spannung an der Photodiode 12 auf eine Anfangsinte
grationsspannung zurück, um einen Bildsammlungszyklus zu beginnen.
An dieser Stelle ist die Anfangsintegrationsspannung an der
Photodiode 12 (dem ersten Zwischenknoten NIM1) durch VRESET-VT14-VCLOCK
gegeben, wobei VT14 die Schwellenspannung des Rücksetztransistors 14 und
VCLOCK das Rücksetzrauschen der beaufschlagten Rücksetzspannung (als
konstant angenommen) darstellt. In ähnlicher Weise ist die Anfangsinte
grationsspannung am zweiten Zwischenknoten NIM2 durch VRESET-
VT14-VCLOCK-VT16 gegeben, wobei VT16 die Schwellenspannung des (als
Source-Folgestufe dienenden) Puffertransistors 16 darstellt.
Nachdem die Rücksetzspannung VRESET beaufschlagt und die Span
nung an der Photodiode 12 (dem ersten Zwischenknoten NIM1) zurückgesetzt
worden sind, wird eine Zeilenwählspannung VRS an den zweiten Eingangs
knoten NIN2 zum Zeitpunkt t₂ angelegt, der sofort der abfallenden Flanke
des Rücksetzpulses VRESET folgt. Die Zeilenwählspannung VRS bewirkt, daß
die Spannung am zweiten Zwischenknoten NIM2, welche die Anfangsintegra
tionsspannung des Zyklus darstellt, am dritten Zwischenknoten NIM3 auf
tritt. Der Nachweis- und Berechnungsschaltkreis 20 verstärkt, digitali
siert und speichert dann den Wert der Anfangsintegrationsspannung, wie
er an dem dritten Zwischenknoten NIM3 auftritt.
Als nächstes trifft Lichtenergie in Form von Photonen auf die
Photodiode 12 vom Zeitpunkt t₂, dem Beginn des Bildsammlungszyklus, bis
zum Zeitpunkt t₃, dem Ende des Bildsammlungszyklus, und erzeugt so eine
Anzahl von Elektron-Lochpaaren. Die Photodiode 12 ist so ausgelegt, daß
sie die Rekombination zwischen den neugebildeten Elektron-Lochpaaren be
grenzt.
Im Ergebnis werden photoerzeugte Löcher zum Erdungsanschluß
der Photodiode 12 gezogen, während photoerzeugte Elektronen an den posi
tiven Anschluß der Photodiode 12 gezogen werden, wobei jedes zusätzliche
Elektron die Spannung an der Photodiode 12 (dem ersten Zwischenknoten
NIM1) vermindert. Folglich ist am Ende des Bildsammlungszyklus eine end
liche Integrationsspannung an der Photodiode 12 (dem ersten Zwischenkno
ten NIM1) vorhanden. Zu diesem Zeitpunkt t₃ ist die Endintegrationsspan
nung an der Photodiode 12 (dem ersten Zwischenknoten NIM1) durch VRESET
VT14-VCLOCK-VS gegeben, wobei VS die Spannungsänderung aufgrund der ab
sorbierten Photonen darstellt. In ähnlicher Weise ist die Endintegra
tionsspannung an dem zweiten Zwischenknoten NIN2 durch VRESET
VT14-VCLOCK-VT16-VS gegeben.
Am Ende des Bildsammlungszyklus (Zeit t₃) wird die Zeilenwähl
spannung VRS erneut an den zweiten Eingangsknoten NIN2 angelegt. Die
Zeilenwählspannung VRS bewirkt, daß die Spannung am zweiten Zwischenkno
ten NIM2, welche die Endintegrationsspannung des Zyklus darstellt, am
dritten Zwischenknoten NIM3 auftritt. Der Nachweis- und Berechnungs
schaltkreis 20 verstärkt und digitalisiert dann den Wert der Endintegra
tionsspannung, wie er am dritten Zwischenknoten NIM3 auftritt.
Anschließend bestimmt der Nachweis- und Berechnungsschaltkreis
20 die Zahl von Photonen, die während des Integrationszyklus gesammelt
wurden, indem er die Spannungsdifferenz zwischen der zur Zeit t₃ genom
menen digitalisierten Endintegrationsspannung und der zur Zeit t₂ genom
menen digitalisierten, gespeicherten Anfangsintegrationsspannung berech
net. An diesem Punkt ist die Differenzspannung durch (VRESET-VT14-
VCLOCK-VT16) - (VRESET-VT14-VCLOCK-VT16-VS) gegeben, was den Wert VS er
gibt.
Sobald die Endintegrationsspannung durch den Nachweis- und Be
rechnungsschaltkreis 20 digitalisiert worden ist, wird die Rücksetzspan
nung VRESET erneut an den ersten Eingangsknoten NIN1 zur Zeit t₄ ange
legt, weiche unmittelbar der ansteigenden Flanke der Zeilenwählspannung
VRS zur Zeit t₃ folgt. Die Rücksetzspannung VRESET setzt erneut die
Spannung an der Photodiode 12 zurück, um einen weiteren Bildsammlungszy
klus zu beginnen.
Eines der Probleme bei der aktiven Pixelsensorzelle 10 besteht
jedoch darin, daß die Perioden der Rücksetzspannung VRESET und der Zei
lenwählspannung VRS, die beide etwa 30 ms betragen, lang genug sind, um
ein beträchtliches Maß an 1/f-Rauschen beizutragen. 1/f-Rauschen, wel
ches von dem Einfangen und dem Ablösen von Oberflächenladungen herrührt,
kann als Variationen in den Schwellenspannungen des Rücksetztransistors
14 und des Puffertransistors 16 exakt modelliert werden.
Im Ergebnis wird die Anzahl von Photonen, die von der Photo
diode 12 während einer Bildsammlungsperiode absorbiert werden, genauer
durch (VRESET-VT14-VCLOCK-VT16) - (VRESET-VT14-VCLOCK-VT16-VS-Vα) be
schrieben, wobei Vα die Variationen in den Schwellenspannungen von Rück
setztransistor 14 und Puffertransistor 16 aufgrund von 1/f-Rauschen dar
stellt.
Folglich tragen die Variationen in den Schwellenspannungen von
Rücksetztransistor 14 und Puffertransistor 16 einen Fehlerterm Vα bei,
welcher fälschlich VS+Vα als Anzahl absorbierter Photonen ergibt und so
die Genauigkeit der Zelle begrenzt.
Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren zum Betreiben ei
ner aktiven Pixelsensorzelle nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1 zu
schaffen, welches Variationen in den Schwellenspannungen von Rücksetz- und
Puffertransistor aufgrund von 1/f-Rauschen reduziert.
Diese Aufgabe wird entsprechend dem kennzeichnenden Teil des
Anspruchs 1 gelöst.
Hierbei wird der Effekt des 1/f-Rauschens dadurch reduziert,
daß die Zelle unmittelbar vor und nach ihrem Zurücksetzen gelesen wird
und/oder daß die Spannung an der Photodiode der Pixelsensorzelle auf die
Versorgungsspannung vor jedem Bildintegrationszyklus zurückgesetzt
wird.
Weitere Ausgestaltungen der Erfindung sind der nachfolgenden
Beschreibung und den Unteransprüchen zu entnehmen.
Die Erfindung wird nachstehend anhand eines in den beigefügten
Abbildungen dargestellten Ausführungsbeispiels näher erläutert.
Fig. 1A bis 1C zeigen Zeitdiagramme mit dem Betrieb einer ak
tiven Pixelsensorzelle 10.
Fig. 2 zeigt ein Schemadiagramm einer bekannten aktiven Pixel
sensorzelle 10.
Fig. 3A bis 3C zeigen Zeitdiagramme mit dem bekannten Betrieb
der Pixelsensorzelle 10 aus Fig. 2.
Gemäß Fig. 1A bis 1C und Fig. 2 beginnt das Betreiben der Pi
xelsensorzelle 10 in bekannter Weise mit dem Anlegen einer Rücksetzspan
nung VRESET an einen ersten Eingangsknoten NIN1 zur Zeit t₁. Die Rück
setzspannung VRESET setzt die Spannung an der Photodiode 12 zurück, um
einen Bildsammlungszyklus zu beginnen.
Die Rücksetzspannung VRESET wird jedoch genügend größer als
die Spannung am Stromversorgungsknoten NPS gewählt, so daß die Spannung
am ersten Zwischenknoten NIM1 zur Spannung am Stromversorgungsknoten NPS
hinaufgezogen wird.
Beispielsweise wird der Rücksetztransistor 14 durch Anlegen
von 3,3 Volt an den Stromversorgungsknoten NPS und bei Verwendung einer
5-Volt-Rücksetzspannung VRESET im linearen Bereich betrieben, was wie
derum die Spannung am ersten Zwischenknoten NIM1 auf 3,3 Volt zieht.
Die Tatsache, daß der Rücksetztransistor 14 während des Rück
setzschrittes in den linearen Betriebsbereich gezwungen wird, hat den
Vorteil, daß die Spannung am ersten Zwischenknoten NIM1 nicht mehr län
ger Variationen aufgrund von Änderungen in der Schwellenspannung des
Rücksetztransistors 14, die von 1/f-Rauschen herrühren, ausgesetzt ist.
Im Ergebnis ist die Spannung an der Photodiode 12 (dem ersten
Zwischenknoten NIM1) am Beginn des Bildsammlungszyklus (Zeit t₁) jetzt
durch VRESET-VCLOCK gegeben, während die Spannung am zweiten Zwischen
knoten NIM2 jetzt durch VRESET-VCLOCK-VT16 gegeben ist.
Folglich wird, während bisher die Spannungen am ersten und
zweiten Zwischenknoten NIM1 und NIM2 leichten Variationen zu Beginn je
des Integrationszyklus aufgrund von Schwellenspannungsvariationen des
Rücksetztransistors 14, die von 1/f-Rauschen herrühren, ausgesetzt wa
ren, der Effekt des 1/f-Rauschens beim Rücksetztransistor 14 dadurch be
seitigt, daß die Spannung am ersten Zwischenknoten NIM1 zu Beginn jedes
Integrationszyklus auf einen festen Wert zurückgesetzt wird.
Die Verwendung einer niedrigeren Spannung von z. B. 3,3 Volt am
Stromversorgungsknoten NPS hat ebenfalls eine Reihe von Vorteilen. Einer
dieser Vorteile besteht darin, daß auch Rauschen, welches durch Stoßio
nisation hervorgerufen wird, vermindert werden kann.
Stoßionisationsrauschen, welches daher rührt, daß Elektronen
unter dem Einfluß eines starken elektrischen Feldes auf das Gitter tref
fen und Elektron-Lochpaare bilden, ist dann am ausgeprägtesten, wenn der
Puffertransistor 16 während des Signalleseschrittes angeschaltet ist und
eine geringe Spannung am ersten Zwischenknoten NIM1 anliegt. Bei einer
niedrigen Spannung (nahe Erdung) am ersten Zwischenknoten NIM1 ist die
Spannung an der Source des Puffertransistors 16 um einen Schwellenspan
nungsabfall niedriger, während die Spannung an der Drain gleich der
Spannung am Stromversorgungsknoten NPS ist.
Unter diesen Bedingungen bewirkt die Verwendung einer Spannung
von 5 Volt am Stromversorgungsknoten NPS, daß ein Substratstrom in der
Größenordnung von Mikroampere von der Drain zur Source des Puffertransi
stors 16 fließt. Da die Photodiode 12 für Ströme in der Größenordnung
von Femtoampere empfindlich ist, muß nur ein sehr geringer Anteil von
Stoßionisationselektronen über die Drainregion zu benachbarten Photodio
den gelangen, um die Genauigkeit der benachbarten Photodioden wesentlich
zu beeinflussen.
Durch Reduzierung der Spannung am Stromversorgungsknoten NPS
von 5 Volt auf 3,3 Volt wird jedoch der Stoßionisationsstrom um einige
Größenordnungen reduziert, wobei diese Rauschquelle wesentlich vermin
dert wird.
Ein weiterer Vorteil der Verwendung einer niedrigen Spannung
am Stromversorgungsknoten NPS besteht darin, daß die Pixelsensorzelle 10
leicht in CMOS-Schaltkreise integriert werden kann, die die gleichen
Stromversorgungsspannungen verwenden. Außerdem können die niedrigeren
Spannungen am Stromversorgungsknoten NPS verwendet werden, ohne den Dy
namikbereich der Pixelsensorzelle 10 wesentlich zu begrenzen.
Bei Verwendung der Beispielsspannungen, d. h. 3,3 Volt am
Stromversorgungsknoten und 5 Volt als Rücksetzspannung, hat die Pixelsen
sorzelle 10 einen Dynamikbereich von etwa 3,3 Volt. Wenn andererseits 5
Volt sowohl für den Stromversorgungsknoten als auch für die Rücksetz
spannung verwendet werden, hat die Pixelsensorzelle 10 aufgrund des
großen Wertes der Schwellenspannung in Sperrichtung einen Dynamikbereich
von etwa 3,5 Volt. Folglich wird bei Absenkung der Spannung am Stromver
sorgungsknoten NPS um 1,7 Volt der Dynamikbereich der Pixelsensorzelle
10 nur um 0,2 Volt reduziert.
Nachdem gemäß Fig. 1A bis 1C und Fig. 2 die Rücksetzspannung
VRESET beaufschlagt und die Spannung an der Photodiode 12 (dem ersten
Zwischenknoten NIM1) auf die Spannung am Stromversorgungsknoten NPS ge
zogen worden ist, wird die Zeilenwählspannung VRS wie in Fig. 3A bis 3C
an den zweiten Eingangsknoten NIN2 zur Zeit t₂ angelegt. Die Zeilenwähl
spannung VRS wird ebenfalls genügend größer als die maximale Spannung an
dem zweiten Zwischenknoten NIM2 gewählt, etwa 5 Volt, so daß die Span
nung am dritten Zwischenknoten NIM3 der Spannung am zweiten Zwischenkno
ten NIM2 folgt.
Im Ergebnis trägt der Zeilenwähltransistor 18 kein wesentli
ches Rauschen bei, da er ebenfalls im linearen Bereich betrieben wird,
welcher keiner VT-Variation ausgesetzt ist. Außerdem fließt kein Strom
(außer einem kurzzeitigen) durch Puffertransistor 16 und Zeilenwähltran
sistor 18, wenn die Zeilenwählspannung VRS angelegt wird, da die Last im
Nachweis- und Berechnungsschaltkreis 20 kapazitiv ist.
Als nächstes trifft wie beim bekannten Verfahren aus Fig. 3A
bis 3C während der Bildsammlungsperiode, die sich von der Zeit t₂ zur
Zeit t₃ erstreckt, Lichtenergie in Form von Photonen unter Erzeugung ei
ner Anzahl von Elektron-Lochpaaren die Photodiode 12. Photoerzeugte Lö
cher werden an den Erdungsanschluß der Photodiode 12 gezogen, während
photoerzeugte Elektronen an den positiven Anschluß der Photodiode 12 ge
zogen werden, wobei jedes zusätzliche Elektron die Spannung am ersten
Zwischenknoten NIM1 vermindert.
Anschließend wird die Zeilenwählspannung VRS zur Zeit t₃ er
neut an den zweiten Eingangsknoten NIN2 angelegt. Die Zeilenwählspannung
VRS bewirkt, daß die Spannung am zweiten Zwischenknoten NIM2, welche die
Endintegrationsspannung des Zyklus darstellt, am dritten Zwischenknoten
NIM3 auftritt. Daraufhin verstärkt, digitalisiert und speichert der
Nachweis- und Berechnungsschaltkreis 20 den Wert der Endintegrations
spannung, wie er am dritten Zwischenknoten NIM3 auftritt.
Sobald die Endintegrationsspannung digitalisiert worden ist,
wird die Rücksetzspannung VRESET erneut an den ersten Eingangsknoten
NIN1 zur Zeit t₄ angelegt, welche unmittelbar der ansteigenden Flanke
der Zeilenwählspannung VRS zur Zeit t₃ folgt. Die Rücksetzspannung
VRESET setzt erneut die Spannung an der Photodiode 12 zurück, um einen
weiteren Bildsammlungszyklus zu beginnen.
Nachdem die Rücksetzspannung VRESET beaufschlagt und die Span
nung an der Photodiode 12 (dem ersten Zwischenknoten NIM1) wieder auf
die Spannung am Stromversorgungsknoten NPS gezogen worden ist, wird die
Zeilenwählspannung VRS an den zweiten Eingangsknoten NIN2 zur Zeit t₅
angelegt, welche, wie bei der Zeit t₂, unmittelbar der abfallenden Flan
ke der Rücksetzspannung VRESET folgt.
Die Zeilenwählspannung VRS bewirkt nun, daß die Spannung am
zweiten Zwischenknoten NIM2, die die Anfangsintegrationsspannung des
nächsten Zyklus darstellt, am dritten Zwischenknoten NIM3 auftritt. Der
Nachweis- und Berechnungsschaltkreis 20 verstärkt und digitalisiert dann
den Wert der Anfangsintegrationsspannung, wie er am dritten Zwischenkno
ten NIM3 auftritt.
Anschließend berechnet der Nachweis- und Berechnungsschalt
kreis 20 die Spannungsdifferenz zwischen der digitalisierten gespeicher
ten Endintegrationsspannung, die an den dritten Zwischenknoten NIM3 zur
Zeit t₃ übertragen wurde, und der digitalisierten Anfangsintegrations
spannung, die an den dritten Zwischenknoten NIM3 zur Zeit t₅ übertragen
wurde, um die Zahl von Photonen zu bestimmen, die während des ersten In
tegrationszyklus, der zur Zeit t₂ beginnt und zur Zeit t₃ endet, gesam
melt wurden.
Folglich bestimmt das Verfahren die Anzahl von Photonen, die
während eines Integrationszyklus empfangen wurden, durch Lesen der Zelle
am Ende des Integrationszyklus und unmittelbar nachdem die Zelle am Be
ginn des nächsten Integrationszyklus zurückgesetzt worden ist.
Der Vorteil des Lesens der Zelle unmittelbar vor und nach dem
Zurücksetzen besteht darin, daß die Zeit zwischen aufeinanderfolgenden
Leseschritten von etwa 30 ms (vom Beginn zum Ende des Integrationszy
klus) auf etwa 10 µs (vom Ende eines Integrationszyklus zum Beginn des
nächsten Integrationszyklus) reduziert werden kann. Im Ergebnis können
auch Variationen in der Spannung am zweiten Zwischenknoten NIM2 aufgrund
von Schwellenspannungsvariationen des Puffertransistors 16, die von
1/f-Rauschen herrühren, wesentlich reduziert werden. Experimentelle Er
gebnisse haben gezeigt, daß die Rauschspannung der Pixelsensorzelle un
gefähr um den Faktor 100 reduziert werden kann, wenn die Anfangsintegra
tionsspannung an der Photodiode 12 auf die Spannung am Stromversorgungs
knoten (einen festen Wert von Zyklus zu Zyklus) zurückgesetzt und die
Pixelsensorzelle unmittelbar vor und nach dem Zurücksetzen gelesen wird.
Alternativ kann, wenn eine geringere Rauschreduzierung akzep
tabel ist, eine der beiden Techniken, das heißt Zurücksetzen der Span
nung an der Photodiode auf die Spannung am Stromversorgungsknoten NPS
oder Lesen der Pixelsensorzelle vor und nach dem Zurücksetzen, allein
verwendet werden.
Claims (10)
1. Verfahren zum Betreiben einer aktiven Pixelsensorzelle, die
einen mit einem Stromversorgungsknoten (NPS), einem ersten Zwischenkno
ten (NIM1) und einem ersten Eingangsknoten (NIN1) verbundenen Rücksetz
transistor (14), einen mit dem ersten Zwischenknoten (NIM1) verbundenen
Photonenkollektor (12), einen mit dem Stromversorgungsknoten (NPS), ei
nem zweiten Zwischenknoten (NIM2) und dem ersten Zwischenknoten (NIM1)
verbundenen Puffertransitor (16) und einen mit dem zweiten Zwischenkno
ten (NIM2), einem dritten Zwischenknoten (NIM3) und einem zweiten Ein
gangsknoten (NIN2) verbundenen Zeilenwähltransistor (18) enthält, wobei
eine Zeilenwählspannung (VRS) an den zweiten Eingangsknoten (NIN2) und
eine Rücksetzspannung (VRESET) an den ersten Eingangsknoten (NIN1) ange
legt werden, dadurch gekennzeichnet, daß die Zeilenwähl
spannung (VRS) zu einem Zeitpunkt (t₃) angelegt wird, die Rücksetzspan
nung (VRESET) zu einem späteren Zeitpunkt (t₄) angelegt wird, und die
Zeilenwählspannung (VRS) zu einem noch späteren Zeitpunkt (t₅) erneut
angelegt wird, wobei die Spannungsdifferenz zwischen den zu den Zeit
punkten (t₃ und t₅) an den dritten Zwischenknoten übertragenen Spannun
gen berechnet wird und/oder daß die Rücksetzspannung (VRESET) eine Span
nung am ersten Zwischenknoten (NIM1) auf den Wert einer Spannung am
Stromversorgungsknoten (NPS) setzt.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß ei
ne zur Zeit (t₅) an den dritten Zwischenknoten (NIM3) übertragene Span
nung größer als die zur Zeit (t₃) an den dritten Zwischenknoten (NIM3)
übertragene Spannung verwendet wird.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet,
daß eine Rücksetzspannung (VRESET) größer als eine Spannung an dem
Stromversorgungsknoten (NPS) verwendet wird.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch gekenn
zeichnet, daß eine Pixelsensorzelle verwendet wird, bei der die Drain
des Rücksetztransistors (14) mit dem Stromversorgungsknoten (NPS), seine
Source mit dem ersten Zwischenknoten (NIM1) und sein Gate mit dem ersten
Eingangsknoten (NIN1) verbunden sind.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekenn
zeichnet, daß als Photonenkollektor (12) eine Photodiode verwendet wird.
6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekenn
zeichnet, daß eine Pixelsensorzelle verwendet wird, bei der die Drain
des Puffertransistors (16) mit dem Stromversorgungsknoten (NPS), seine
Source mit dem zweiten Zwischenknoten (NIM2) und sein Gate mit dem er
sten Zwischenknoten (NIM1) verbunden sind.
7. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 6, dadurch gekenn
zeichnet, daß eine Pixelsensorzelle verwendet wird, bei der die Drain
des Zeilenwähltransistors (18) mit dem zweiten Zwischenknoten (NIM2),
seine Source mit dem dritten Zwischenknoten (NIM3) und sein Gate mit dem
zweiten Eingangsknoten (NIN2) verbunden sind.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 7, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Rücksetzspannung (VRESET) zu einem Zeitpunkt (t₁) vor
dem Zeitpunkt (t₃) angelegt wird, wobei die Rücksetzspannung größer als
eine Spannung am Stromversorgungsknoten (NPS) ist, die Zeilenwählspan
nung (VRS) zu einem zweiten Zeitpunkt (t₂) nach dem Zeitpunkt (t₁) und
vor dem Zeitpunkt (t₃) angelegt wird, wobei zwischen den Zeitpunkten
(t₂) und (t₃) Photonen gesammelt werden, und die Spannungsdifferenz zwi
schen der zur Zeit (t₂) an den dritten Zwischenknoten (NIM3) übertrage
nen Spannung und der zur Zeit (t₃) an den dritten Zwischenknoten (NIM3)
übertragenen Spannung berechnet wird.
9. Verfahren nach Anspruch 8, durch gekennzeichnet, daß die
zur Zeit (t₂) an den dritten Zwischenknoten (NIM3) übertragene Spannung
größer als die zur Zeit (t₃) an den dritten Zwischenknoten (NIM3) über
tragene Spannung ist.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 9, dadurch ge
kennzeichnet, daß die zu den Zeiten (t₃) und (t₅) an den dritten Zwi
schenknoten (NIM3) übertragenen Spannungen gespeichert werden.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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