DE20304114U1 - Laserstrahl-Nivelliergerät - Google Patents

Laserstrahl-Nivelliergerät

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Claims (18)

1. Lichtstrahl-Nivelliergerät (10), das an einer Referenzfläche angeordnet werden kann, wobei das Lichtstrahl-Nivelliergerät aufweist:
ein Gehäuse (11);
ein Pendel (30), das schwenkbar mit dem Gehäuse (11) gekoppelt ist;
eine erste Lichtquelle (42), die an dem Pendel (30) angeordnet ist, um einen ersten Lichtstrahl entlang eines ersten Pfades zu emittieren; und
eine erste Linsenanordnung (43; 44, 45), die an dem Pendel (30) in dem ersten Pfad angeordnet ist, um den ersten Lichtstrahl in einen ersten planaren Strahl umzuwandeln, wobei der erste planare Strahl eine erste Linie auf der Referenzfläche erzeugt.
2. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach Anspruch 1, bei dem die erste Lichtquelle (42) ein Laser ist.
3. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach Anspruch 2, bei dem der Laser eine Laserdiode (42) ist.
4. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, außerdem mit einer zweiten Lichtquelle, die an dem Pendel (30) angeordnet ist, um einen zweiten Lichtstrahl entlang eines zweiten Pfades zu emittieren, und einer zweiten Linsenanordnung (43; 44, 45), die an dem Pendel (30) in dem zweiten Pfad angeordnet ist, um den zweiten Licht­ strahl in einen zweiten planaren Strahl umzuwandeln, wobei der zweite planare Strahl eine zweite Linie auf der Refe­ renzfläche erzeugt.
5. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach Anspruch 4, bei dem die zweite Lichtquelle ein Laser ist.
6. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach Anspruch 5, bei dem der Laser eine Laserdiode ist.
7. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach Anspruch 4, bei dem die erste und die zweite Linie im wesentlichen senkrecht zueinander verlaufen.
8. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach Anspruch 4, bei dem die erste und die zweite Linie im wesentlichen parallel ver­ laufen.
9. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, außerdem mit einer Detektorschaltung (20), die in dem Gehäuse (11) angeordnet ist, um eine Eigenschaft hinter oder unter der Referenzfläche zu erfassen.
10. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach Anspruch 9, bei dem die Detektorschaltung (20) zumindest eine Eigenschaft aus einer Gruppe erfasst, die Stifte, Leitungen und Rohre enthält.
11. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach Anspruch 9 oder 10, bei dem die Detektorschaltung (20) die erste Lichtquelle bei Erfassen der Eigenschaft so steuert, dass die erste Licht­ quelle leuchtet.
12. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach Anspruch 9 oder 10, bei dem die Detektorschaltung die erste Lichtquelle nicht steuert.
13. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, außerdem mit einem Pendelarretiermechanismus, um das Pendel wahlweise zu arretieren.
14. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem die erste Linie im wesentlichen hori­ zontal verläuft und die Referenzflächen eine im wesentlichen vertikale Wand ist.
15. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem das Gehäuse zumindest teilweise das Pendel umgibt.
16. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, bei dem das Gehäuse mit zumindest einem Fenster (13) versehen ist, um zu ermöglichen, dass der erste planare Strahl durch dieses Fenster austreten kann.
17. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach Anspruch 16, bei dem das Gehäuse (11) so konfiguriert ist, dass der erste planare Strahl nicht durch das zumindest eine Fenster (13) austreten kann, wenn sich das Pendel (30) in einem bestimmten Winkel relativ zu dem Gehäuse befindet.
18. Lichtstrahl-Nivelliergerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, außerdem mit zumindest einer Röhrenlibelle an dem Gehäuse.
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