DE2257650B2 - Prüftaster - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft Prüftaster mit eine Tastenspitzenanordnung tragendem Ausleger zur elektrischen Kontaktgabe zwischen Prüfeinrichtung und Kontaktanschlüssen von zu prüfenden elektrischen Bauelementen.

Mit wachsendem Integrationsgrad monolithisch integrierter Halbleiterschaltungen ergeben sich entsprechend hohe Packungsdichten für Schaltkreise auf einem Halbleiterchip. Mit steigender Packungsdichte solcher Schaltkreise in einem einzigen Bauelement ist die Unmöglichkeit einhergegangen, jeden einzelnen Schaltkreis eines Bauelementes einzeln zu prüfen. Obgleich damit auch die Anzahl der Anschlußkontakte auf einem Chip angewachsen ist, ist doch festzustellen, daß dieses Anwachsen nicht direkt proportional mit der erhöhten Anzahl der Schaltkreise auf einem Chip ist Das bedeutet aber, daß die Prüfung solcher Halbleiterchips immer komplizierter wird.

Üblicherweise wird ein Funktionstest für eine monolithisch integrierte Halbleiterschaltung insgesamt durchgeführt, um festzustellen, in wieweit die erwartete Betriebseigenschaft des zu prüfenden Bauelements erreicht wird. Um die Wirksamkeit eines solchen Funktionstest maximal auszulegen, ist eine Eingangs-/ Ausgangskontaktierung an sämtliche Kontaktanschlüsse eines Chips erforderlich, um Signale anlegen und entsprechende Anworten empfangen zu können. Die Kontaktierung von Tastenspitzen wird jedoch noch dadurch erschwert, daß die KontaktanschlPsse auf ejnem Cbjp nahezu auf seiner ganzen Oberfläche

verteilt sein können, Hierbei können die Kontaktanschlüsse auf konzentrischen Kreisen und jeweils radialert Linien, vom Mittelpunki des Chips aus angeordnet sein. Um nun Bauelemente dieser Art mit Prüfspitze^ zu kontaktieren, ist so vorgegangen worden, daß die Prüftaster mit ihren Spitzen auf den gleichen radialen Linien zu liegen kommen, wie die Kontaktanschlüsse auf dem zu prüfenden Chip.

Dies bedingt jedoch, daß die Prüftaster mit ihren Halterungen in verschiedenen Ebenen angeordnet sind, so daß sich dann der Nachteil eines unterschiedlichen Kontaktierungswinkels für die Prüfspitzen ergibt, je nachdem in welcher Ebene die entsprechende Halterung gelagert ist Mit anderen Worten, Prüftaster, deren Tastenspitzen Kontaktanschlüsse auf einen inneren konzentrischen Kreis kontaktieren sollen, besitzen einen größeren Kontaktierungswinkel als Tastenspitzen, die Kontaktanschlüsse auf einem äußeren konzentrischen Kreis kontaktieren.
Die Prüftaster werden bei Kontaktgabe mit den Kontaktanschlüssen des zu prüfenden Halbleiterbauelements nicht um die gleiche Rotationsmittellinie verschwenkt, so daß infolge unterschiedlichen Kontaktdruckes Kontaktabreb, und damit Kontaktunebenheiten, Fehlkontakte und unter Umständen Beschädigung der Kontaktanschlüsse auf einem Halbleiterchip nicht zu vermeiden sind, wobei außerdem auch ein Verschweißen einer Prüfspitze mit einem Kontaktanschluß nicht ausgeschlossen werden kann. Um Abhilfe zu schaffen, sind Prüftaster entwickelt worden, die über

Kolbenbetätigung eine Kontaktgabe gewährleisten. Diese Anordnungen besitzen aber den Nachteil, daß der Kontaktdruck für jede einzelne Tastenspitze nicht

kontrollierbar ist

Um diese Schwierigkeiten zu beheben, sind auch

schon Prüftasteranordnungen beschrieben worden (Elektronic Design News, It. Nov. 1968), bei denen Prüftaster in einer Ebene Seite an Seite angeordnet sind. Auch hierbei ergibt sich, daß bei Kontaktierung von Kontaktanschlüssen auf Halbleiterchips, die auf einer radialen Linie zum Mittelpunkt hin angeordnet sind, kein gleichförmiges Kraft-Auslenkungsverhältnis für die Tastenspitzen vorgegeben ist Die verwendeten Prüftaster besitzen jeweils einen Arm, der einschließlich der Prüfspitzenklinge ein verhältnismäßig großes

so Gewicht trägt Dieser Arm wird um einen festen Drehpunkt betrieben. Werden alternativ hierzu die Arme durch Federkraft verschwenkt, die gleichzeitig zur Ausübung des Kontaktdnicks ausgenutzt wird, dann sind die Zuleitungsdrähte elektrisch mit den Tastenspitzen verbunden, um so eine elektrisch leitende Verbindung zwischen den Prüftastern und der außen angeschlossenen Prüfeinrichtung herzustellen. Die Anwendung solcher Zufuhrungsleitungen vermittelt dem die Kontaktklinge tragenden Arm jedoch eine Neigung

sowohl zur Seitenverschwenlcung als auch zur Höhenverstellung, so daß gleichförmige lasttragende Kräfte nicht auf die Konfaktanschlüsse des zu prüfenden Chips übertragen werden können. Darüber hinaus bedingt die Erfordernis einer solchen Art von Zuführungsleitungen zwischen benachbarten Prüftastern, die Seite an Seite angeordnet sind, eine übermäßige Platzbeanspruchung, so daß zusätzliche Prüf taster, die zur Prüfung hochintegrierter Halbleiterschaltungen unerläßlich sind, nicht

angebracht werden können,

In Vermeidung der pben beschriebenen Nachteile besteht demnach die Aufgabe der Erfindung darin, Pröftaster for eine Prflfeinriehtung zur Prüfung von Bauelementen mit einer Vielzahl von Kontaktanscblttssen, wie es z, B, bei monolithisch integrierten HaJbleiter-

stellen, for welche durch ihre Tastspitzen ein gleichförmiges Kontaktdruck-Ausleiilcingsverhältnis in bezug auf die Kontaktanschlüsse des zu prüfenden Halbleiterbauelements vorgegeben ist; auch dann also, wenn jeweils eine außerordentlich große Anzahl von Kontaktansohlüssen zur Chipprüfung zu kontaktieren ist

Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe dadurch gelöst, daß zumindest ein Ausleger an einer Auslegerhalterung verschwenkbar, höhenverstellbar und longitudinal verschiebbar angebracht ist, daß der Ausleger als Isolator den elektrischen Anschluß für die Tastspitzenanordnung trägi und daß die Auslegerhalterung an einem die Halterung des zu prüfenden Bauelements umgebenden Schlitzring angebracht ist Der erwähnte Schlitzring ist zur Aufnahme einer entsprechend großen Anzahl von Prüftasteni eingerichtet Hierbei werden jeweils die Prüftaster gruppenweise zusammengefaßt Die Prüftaster einer jeweiligen Gruppe kontaktieren entsprechende Gruppen von Kontaktanschlüssen, die zueinander jeweils eng benachbart angeordnet sind, vorzugsweise jedoch längs einer einzelnen Radiallinie, die von außen zum Zentrum eines Halbleiterchips verläuft Jeder Prüftaster nähert sich mit seiner Tastspitze dem entsprechend zugeordneten Kontaktanschluß unter einem Winkel, der für alle Prüftaster gleich ist, so daß auf diese Weise Abriebprobleme oder gar Beschädigung der Kontaktanschlüsse auf dem Halbleiterchip weitgehend ausgeschaltet sind.

Aufgrund der Tatsache, daß die aus einer Spitzenklinge mit daran befestigten Druckfedern bestehende Tastenspitzenanordnung im freien Ende des Auslegers derart verankert ist, daß eine Drahtfeder gleichzeitig als Anschluß dient, ist sichergestellt, daß eine gleichförmige Kontaktdruckgabe für alle Tastspitzen gewährleistet ist und der Kontaktdruck so eingestellt werden kann, daß bei guter Kontaktgabe ein vorzeitiges Verschleißen der Kontaktstellen vermieden wird

Gemäß einer vorteilhaften Weiterbildung der Erfindung ist vorgesehen, daß die Auslegerhalterung aus einem Widerlager und aus eint η jeweils über Justierschraubverbindungen verschwenkbaren sowie longitudinal verschiebbaren, den Ausleger tragenden Arm besteht

In vorteilhafter Weise ist, dabei weiterhin vorgesehen, daß ein durch eine Longitudinalbohrung des Arms mit Hilfe einer weiteren Justierschraubverbindung verschiebbarer Stößel vorgesehen ist, dessen auslegerseitiges Ende mit dem entsprechend abgeschrägten Ende des Auslegers zu skiner Höhenverstellung zusammenwirkbar eingerichtet ist Dies alles trägt dazu bei, daß die Lageneinstellung eines Prüftasters in bezug auf den zu kontaktierenden Kontaktanschluß sowie der Kontaktdruck der Tastenspitzenanordnung kontrolliert und eingestellt werden kann.

Dank der AnSdhlußmöglichkeit der äußeren Zuführungsleitung an die Tastenspitzenanordnung ist gewährleistet, daß keinerlei Störung der Zuleitungen mechanischer Art auf die Tastenspitzenanordnung ausgeübt wird. Weiterhin sind dank der erfindungsgemäßen Einrichtung auch keine zusätzlichen Drahtverbindungen erforderlich. Die vorgesehenen Drahtfedern besitzen alle die gleiche Länge, so daß auch schon von hier aus gleiche Gewiehtsbelastung fflr alle Kontaktanschlösse des zu prüfenden Halbleiterbauelements gewährleistet sind. Das m prüfende HaJblejtercbip kann in der

Halterung als Einzelbauelement befestigt sein; es ist jedoch auch möglich, daß sijih ein solches Chip zusammen mit anderen auf ejper Halbleiterscheibe befindet, so daß zur chipweisen Prüfung die Bauelerrienthalterung schrittweise verschiebbar eingerichtet

si?mrouß, i

I Durch die erfindungsgemäßen Prüftaster einer Prüfeinrichtung wird zeitweise eine elektrische Verbindung zu den Anschlußkontaktein eines zu prüfenden Halbleiterchips hergestellt, wobei es nicht erforderlich

is ist, daß alle Kontaktanschlüsse an der Chipperipherie angeordnet sein müssen. Unter Anwendung der individuellen Justiermöglichkeiten an jeden Prüftaster, wie es erfindungsgemäß vorgesehen ist, und durch Anbringen sämtlicher Prüftaster auf einem gemeinsamen als Schlitzring ausgebildeten Halterungsring ist weitgehend sichergestellt, daß für alle Prüftaster unabhängig von der Lage auf dem ledlterungsring ein gleiches Verhältnis von Auslenkung zu Kontaktdruck wirksam ist Es bedarf dabei keiner Frage, daß den Prüftastern sowohl Signale zugeführt als auch entnommen werden können und daß Prüf signale niederfrequenter und hochfrequenter Natur sowie in Form von Gleichspannung Anwendung finden können.
Weitere Vorteile der Erfindung ergeben sich aus der nachfolgenden Beschreibung von Ausführungsbeispielen anhand der unten aufgeführten Zeichnungen und aus den Patentansprüchen. Es zeigt

Fi g. 1 eine schematische Darstellung der Prüfeinrichtung gemäß der Erfindung,

F i g. 2 einen Querschnitt durch die Anordnung nach F i g. 1 längs der Linie 2-2,

Fig.3 u. 4 Seitenansichten der beiden Arten von Prüftastern mit ihren Halterungen,
F i g. 5 eine perspektivische Ansicht der Prüftastspitzen in Kontaktstellung,

Fig.6a, 6b und 6c verschiedene Ansichten bzw. Lagpn des Prüf tasters gemäß F i g. 4.

Wesentlich für die Erfindung sind die in Fig. 1 gezeigten Prüftaster 14, 15, 16 und 17 und deren gegenseitige Anordnung in Gruppen auf einer Halterung, um die Anschlüsse zu prüfende? elektrischer Bauelemente entsprechend kontaktieren zu können. Ein Halterungsring 10 ist auf einem geeigneten Fuß 11 mit Hilfe der Arme 12 und 13, die vom Halterungsring 10

so ausgehen, befestigt Die Prüftaster 14,15 und 16,17 sind gruppenweise so angeordnet, daß ihre jeweiligen Kontaktspitzen eine zeitweilige elektrische Verbindung zu dem zu untersuchenden Bauelement 18, wie z. C. einer monolithisch integrierten Halbleiterschaltung, herstellen.

Das Bauelement 18 besteht aus einer Halbleiterschaltung hoher Schaltkreisdichtem mit Abmessungen von etwa 4x4 mm. Das Bauelement kann dabei aus einem einzelnen Chip bestehen, das in einer Halteeinrichtung befestigt ist, oder aus mehreren Chips in einer Halbleiterscheibe. Diese Halbleiterscheibe läßt sich mit Hilfe üblicher Halbleiterseheibendrehvorrichttingen in eine Prüflage drehen, wie sie durch das Bauelement 18 in F i g. 1 angedeutet ist Wie noch im einzelnen aus der folgenden Beschreibung hervorgeht sind die Stellen für die Anschlüsse auf dim Halbleiterbauelement 18 über die gesamte Oberfläche des Halbleiterbauelements verteilt. Vorzugsweise befinden sich die Anschlußstellen

auf konzentrischen Kreisen um den Mittelpunkt des Halbleiterbauelements. Jede Gruppe der Prüftaster, wie z. B. die aus den Prüftastern 14 und IS gebildete, ist so angeordnet, daß elektrischer Kontakt mit den Anschlußstellen herbeigeführt werden kann, die nahe beieinanderliegen und vorzugsweise radial zueinander ausgerichtet sind. Die Prüftaster sind dabei in Gruppen Seite an Seite an einem Schlitzring 19 mit Hilfe geeigneter und justierbarer Sperriegel 20 und 21 befestigt Jede Prüftastergruppe, wie z. B. Prüftaster 14 und 15, beanspruchen dabei einen Kreissektor, dessen entsprechender Winkel <x weniger als 5° beträgt.

Wie in dem Ausschnitt nach Fig.2 gezeigt, sind die Prüftaster 14 und 16 mit Hilfe der Sperriegel 20, 21 auf den Schulterteilen 22, 23 des Halterungsrings 10 angebracht. Die Schraubverbindungen 24, 25 stellen dabei eine geeignete Befestigungsart für die Sperriegel dar. Die Prüftaster '14, 16 bestehen jeweils aus einer Auülegerhalterung 2Ci, 27 und aus dem Ausleger 28 bzw. 29, der mit der eigentlichen Tastspitzenanordnung 34,35 versehen ist. Die Aunlegerhalterungen 26, 27 bestehen je aus zwei Teilen, nämlich einem festen 30, 31, dem Widerlager, und einem justierbaren Teil 32, 33, dem Arm. Die erfindungsgemäß verwendeten Prüftaster sind untereinander alle gleich und differieren lediglich in der Höhe der Widerlager 30, 31 und dem Ausmaß der Tas tspitzenanordnung 34,35.

Wie sich weiterhin ergibt, besitzt das Halbleiterplättchein 18 vier Anschlußkontakte längs der Durchmesserlinii: 2-2 in Fig. I. Wie bereits erwähnt sind diese Koritaktanschlüsse der Halbleiteroberfläche derart angeordnet, daß sie auf zwei konzentrischen Kreisen zu liegen kommen. Ein Prüftaster, wie z. B. Prüftaster 14, macht dabei Kontakt mit einem Anschlußkontakt auf dem äußeren konzentrischen Kreis, wohingegen der andere Prüftaster, wie z. B. Prüftaster 16, Kontakt mit dem Anschlußkontakt des inneren konzentrischen Kreises gibt.

Um die Möglichkeiten für eine abschleifende Bewegung herabzusetzen und um zu gewährleisten, daß mit allen Prüftastern in der Anordnung Kontakt zu den entsprechenden Anschlußkontakten hergestellt wird, ist es notwendig, daß der Annäherungswinkel für alle Prijftaster im wesentlichen gleich ist. D. h, daß der Annäherungswinkel einer Tastenspitze in bezug auf den entsprechenden Anschlußkontakt auf dem Chip jeweils der gleiche für alle Tastspitzen ist, gleichgültig an welcher Stelle der zu kontaktierende Anschlußkontakt auf der Halbleiterscheibe liegt, wenn die Distanz d zwischen Montierring oder Haltering 10 und dem Prüfspitzenende gleich ist Auf diese Weise ist, da die Höhe des Widerlagers 31 vom Prüftaster 16 kleiner ist als die des Widerlagers 30 des Prüftasters 14, deren Tastspitze in ihren Abmessungen größer als die Tastspitze des Prüftasters 14. Unter diesen Voraussetzungen lassen sich die Prüftaster in Gruppen an dem Haltering 10 montieren unter Gewährleistung gleicher Kontaktierung der Anschlußkontakte, die ziemlich dicht beieinander angeordnet sein können und vorzugsweise radial auf dem Chip ausgerichtet sind

Obgleich zwei solcher Prüftaster für jede Gruppe in der Anordnung nach F i g. 1 gezeigt ist, ist es ohne weiteres möglich, daß noch zusätzliche Prüftaster in den Gruppen jeweils vorgesehen werden können. Durch Veränderung der Abmessungen des Widerlagers eines Prüftasters mit der Tastspitzenanordnung !asser, sich alle Prüftaster in der Gruppe so einrichten, daß jeweils Kontakt zu den Anschlußkontakten einer radialen Anordnung hergestellt werden kann, wenn die Prüftaster Seite an Seite am Haltering 10 befestigt sind. So können z. B. die Anschlußkontakte auf der Halbleiterscheibe 18 in vier konzentrischen Kreisen jeweils radial angeordnet sein, so daß vier Prüftaster für jede Gruppe vorzusehen sind. Die jeweils zusammengehörende Befestigung der Prüftaster wird bestimmt durch die jeweilige Lage der Drehstellen 36,37 jedes Prüftasters 14,16. Selbstverständlich sind alle Prüftaster mit einer

ίο Prüfeinrichtung elektrisch verbunden.

In den Fig.3 und 4 besitzt der Prüftaster 14 das Widerlager 30 und den Arm 32, wohingegen der Prüftaster 16 das Widerlager 31 und den Arm 33 besitzt. Jeder im übrigen justierbarer Arm trägt einen Ausleger

is 28, der je über eine Schwenkverbindung 40, 41 reibungslos mit dem entsprechenden Arm 32, 33 verbunden ist. Diese Schwenkverbindungen werden gebildet von einem paar koplanarer paralleler aus Drähten bestehenden Stabfedern 42,43 und 44,45, die in geeigneter Weise an die Arme und die Tastspitzen jedes Prüftasters befestigt sind.

Diese als reibungslose Schwenkverbindungen wirkenden Federeinrichtungen gestatten es, daß die Ausleger 28, 29 in ihrer Höhe durch entsprechendes Bewegen auf eine von vielen zueinander und zu den Ebenen der Auslegerhalterungen 26, 28 parallel liegenden Flächen justiert werden können. Um dies zu bewerkstelligen, sind die Ausleger an ihren Enden jeweils mit Keilen 46,47 versehen, die durch Stößel 48, 49 innerhalb der justierbaren Arme 32, 33 betätigt werden, indem die Stößelendstücke 50,51 entsprechend mit den Keilen 46,47 zusammenwirken. Die Betätigung der Stößel 48,49 erfolgt über die Drehblöcke 52,53, die durch die Justierschrauben 54, 55 verstellt werden.

Durch Justieren einer dieser Schrauben 54,55 wird die

jeweils entsprechende Tastspitze des Prüftasters zur

Kontaktierung mit dem Anschlußkontakt auf einem Chip in ihrer Höhe bzw. der V-Richtung justiert Die Auslegerhalterungen 28, 29 sind vorzugsweise

aus gepreßten Kunststoffteilen gebildet und tragen die Ausleger mit Tastspitzenanordnungen einschließlich der parallelen Stabfedern 60, 61, 62,63. Die gepreßten Kunststoffteile enthalten Schlitze, um diese Stabfedern aufzunehmen. Die Stabfederpaare sind jeweils gleicher Länge und bestimmen jeweils das Auslenkungs-Kraftverhältnis für die Prüfspitzenklingen 64, 65, die jeweils mit den Kontaktanschlüssen eines Halbleiterchips in Verbindung gebracht werden. Obgleich diese Spitzenklingen 64,65 hier als die kontaktgebenden Bauelemente dargestellt sind, versteht es sich, daß ebensogut auch jeweils eine Nadel an den Stabfedern befestig» sein könnte, um so die Abmessungen der Kontaktelemente herabzusetzen; dies könnte dann auch zu einer entsprechenden Verminderung kapazitver Störeffekte zwischen benachbarten Kontaktelementen beitragen.

Diese Tastspitzenanordnung 34 und 35, gebildet aus den Stabfederpaaren 60,61,64 bzw. 62,63,65, stellen die elektrischen Verbindungselemente der Prüftaster dar. Die Stabfedern sind in den Preßteilen der Auslegerhalterungen verankert, wobei die Anschlußstücke 38, 39 Verlängerungen der Stabfedern 60 bzw. 62 darstellen. Es besteht so jeweils eine elektrische Verbindungsmöglichkeit von den Anschlußstücken 38, 39 zur äußeren Prüfeinrichtung.

Die parallelen Stabfederpaare 60, 61 und 62, 63 gewährleisten die Kontrolle über das Ausienkungs-Kraftverhältnis, das jeweils durch die Spitzenklingen 61, 65 beim Berühren der Anschlußkontakte auf einem

Halbleiterchip ausgeübt wird. Eine solche Kontrolle ist notwendig, um den Kontaktwiderstand der jeweiligen Spitzenklinge auf dem Chipanschlußkontakt weitgehend herabzusetzen, und so ein Verschweißen zu vermeiden. Es hat sich z. B. ergeben, daß wenn das Anschlußkontaktsystem durch Lötzinnkontakte dargestellt ist, der erforderliche Druck für einen entsprechend gering/re Kontaktwiderstand in der Größenordnung von 0,7 bis 1 bar liegen muß. Die Last an der Spitze beträgt etwa 7 Gramm bei einer Auslenkung von 0,1 mm.

Bei Herabsetzen der Gewichtsbelastung des kraftsteuernden Elements, z. B. der Stabfedern, ist es wesentlich einfacher zu gewährleisten, daß der gewünschte Kontaktwiderstand erhalten bleibt. Um weiterhin zu gewährleisten, daß diese Gewichtsbelastung auf einen Minimalwert herabgesetzt wird und keine zusätzlichen Kräfte auf die Prüfspitzenanordnung

iSt KCiHCFiCi Verbindung SPi

Prüfspitzenanordnung vorgesehen. Der elektrische Anschluß wird deshalb in vorteilhafter Weise an die AnschlußstUcke 38 und 39 der Stabfedern jeweils an einem solchen Punkt angebracht, der relativ weit entfernt von der Verankerungsstelle der jeweiligen Stabfeder liegt

Elektrische Verbindungsleitungen könnten zu einem Datenendgerät führen, das einen Teil einer Prüfeinrichtung darstellt, wobei dann die Zuleitungen für Hochfrequenzübertragung geeignet sein sollten. Da eine entsprechende Kupferzuleitung z. B. aus einem Band .on 0,025 mm Stärke und 0,8 mm Dicke bestehen kann, ergibt sich ohne weiteres, daß durch eine solche Zuleitung zum Ausleger 28 anstatt zur Tastspitzenanordnung direkt keinerlei mechanischer Einfluß der Zuleitung auf die Tastspitze ausgeübt wird, so daß die Tastspitzenanordnung im wesentlichen frei drehbar oder verschwenkbar bleibt Wenn darüberhinaus noch der Masseneinfluß der Tastspitzenanordnung wesentlich herabgesetzt wird, dann läßt sich damit natürlich auch eine entsprechende Beanspruchung des Kontaktanschlusses auf dem zu prüfenden Halbleiterbauelement wesentlich herabsetzen. Entsprechend kann dann auch eine Ausgleichsbelastung der Prüfspitzenanordnung entfallen.

Die Prüfspitzenklingen 64, 65 können aus einer Edelmetall-Legierung bestehen, die vergütbar ist Eine solche Legierung kann z. B. so zusammengesetzt sein, daß ein relativ hoher Palladiumanteil vorgesehen wird und Silber, Gold, Platin, Kupfer wie auch Zink zugesetzt sind. Die Stabfedern 60 bis 63 bestehen aus Berylliumkupfer mit einer jeweiligen Abmessung von 0,013 mm Dicke, 0,4 mm Breite und 0,7 mm Länge, wobei die angegebenen Zahlenwerte nur als beispielhafte Werte anzusehen sind. Unabhängig von der Breite der Auslegerhalterung ist diese Länge der Stabfedern, die sich von den Auslegern aus erstrecken, jeweils konstant Die Stabfedem, wie z. B. die Drähte 60,61 können auch jeweils als geschlossene Schlinge ausgebildet sein, wobei dann die Spitzenklinge 64 in geeigneter Weise an den Schlingenteil angelötet ist oder aber auch sonst wie an den jeweiligen Enden der Federn angebracht sein kann.

Wie aus Fig.5 hervorgeht, sind die Tastspitzenanordnungen je Gruppe in senkrechten Ebenen angeordnet Die Spitzenklingen 64, 65 kontaktieren dabei die Anschlußkontakte 56 und 57, die radial auf dem Chip angeordnet sind. Die Spitzenklingen besitzen jeweils den gleichen Anschlagwinkel; dabei ergibt sich keine Abriebbewegung der Klinge 65 des entsprechenden Prüftasters, der mil Anschlußkontakt 57 auf den inneren konzentrischen Kreis in Verbindung steht. Die Spitzenklingen werden an ihren Kontaktenden zunächst abgerundet, bevor sie an den Stabfedern befestigt werden. Die Dicke der Kontaktspitze richtet sich nach der Größe des zu kontaktierenden Anschlußkontaktes. So wird z. B. für einen Kontaktanschluß von 0,1 mm Durchmesser eine Spitzenklinge von ebenfalls 0,1 mm Dicke angebracht.

Wie aus den Darstellungen nach Fig.6A, 6B und 6C hervorgeht, ist Vorsorge dafür getroffen, daß jeweils der Ausleger und die Tastspitzenanordnung sowohl in der Höhe als auch in radialer und tangentialer Richtung mit Hilfe des justierbaren Arms des Prüftasters 16 in bezug auf Widerlager einstellbar ist. Wie bereits ausgeführt, sind Prüftaster in einer gemeinsamen Montierebene montiert, wie sie jeweils durch die Drehpunkts 36, 3? fest^ele^t ist, wobei die Hsltemn⁰ jeweils durch den Sperriegel 21 vorgenommen wird. Wie im einzelnen aus Fig.6A hervorgeht, wird eine tangentiale Justierung durch entsprechendes Drehen der Justierschraube 72 auf dem justierbaren Arm 33 vorgenommen. Der Kreisbogen 74 deutet die Drehung der Justierschraube 72 an, um den Arm 33, wie durch die strichpunktierten Linien angedeutet, in die jeweils erforderliche Lage zu bringen. Wird eine tangentiale Verschiebung durchgeführt, dann wird sowohl der justierbare Arm 33 als auch der Ausleger 29 justiert.

In der Fig.6B ist eine radiale Justierverschiebung angedeutet, in der durch entsprechende Drehung der Justierschraube 76 der justierbare Arm 33 und der Ausleger in Richtung des Pfeiles 75 verschoben werden. Es sei darauf hingewiesen, daß durch Verstellen der Justierschraube 76 sowohl der Arm 33 als auch der Ausleger 29 des Priiftasters justiert werden.

In der Anordnung nach F i g. 6C werden der Ausleger 29 und die Tastspitzenanordnung 35 unabhängig von der Gesamtanordnung des Prüftasters justiert, indem die Justierschraube 55 auf den Drehblock 53 und den Stößel 49 einwirkt. Das Justieren geschieht in Richtung des Pfeils 77, so daß der Ausleger 29 und die Tastspitzenanordnung 35 alleine in ihrer Höhe verstellt werden. Die Einstellung auf irgendeine Höhe ist dabei unabhängig von irgendwelchen Kräften, die durch den Prüf taster ausgeübt werden.

In einem typischen Ausführungsbeispiel der Prüfbefestigung gemäß der Erfindung sind bis zu 80 Prüftaster unter Zusammenfassung in entsprechenden Gruppen im Halterungsring 10 mit Hilfe der Sperriegelbefestigung angeordnet Diese Prüftasteranordnung gestattet die Kontaktierung von Kontaktanschlüssen auf einem Chip, wobei diese Kontaktanschlüsse in drei konzentrischen Kreisen in der jeweiligen Anzahl von 30, 30 und 20 angeordnet sind. Einige der Prüftastergruppen enthalten 3 Prüftaster, wohingegen andere zwei davon in einer solchen Konfiguration besitzen. Jeder Prüftaster einer Gruppe beansprucht etwa 4,5° des Halterungsringkreises. Die Prüftaster in jeder Gruppe sind Seite an Seite angeordnet Die Prüftasterspitzen bei einigen dieser Gruppen kontaktieren mit einem Kontaktanschluß auf jedem der beiden äußeren konzentrischen Kreise, wohingegen andere dieser Gruppen mit Kontaktanschlüssen kontaktieren, die auf allen drei konzentrischen Kreisen gelegen sind

Obgleich die oben beschriebenen Prüftaster je aus einem Widerlager und einem justierbaren Arm bestehen, versteht es sich, daß ebensogut auch ein Einzelstück

für jede Gruppe von K.ontaktelementen Verwendung seits besäße dann natürlich seinen eigenen Ausleger und

finden könnte. Dieses Einzelstück besäße dann eine seine eigene TastspitzenaniDrdnung, wobei dann jeweils

einzige Montiervorrichtung für den Halterungsring und individuell Höhen-, Tangential- und Radiallage durch

würde dann eine Vielzahl von justierbaren Armen Justieren einstellbar wären,

unterhalb davon tragen. Jeder justierbare Arm seiner- 5

Hierzu 2 Blatt Zeichnungen

Claims (5)

1. Patentansprüche;

   l_t Piitftaster mit eine Tastspitzenanordnung tragendem Ausleger zur elektrischen Kontaktgabe zwischen Prüfeinrichtung und Kontaktanschlüssen von zu prüfenden Bauelementen,· dadurch gekennzeichnet, daß zumindest ein Ausleger (28) an einer Ausjegebalterung (26) verschwenkbar, höhenverstellbar und longitudinal verschiebbar angebracht ist, daß der Ausleger (28) als Isolator den elektrischen Anschluß (38) für die Tastspitzenanordnung (34) trägt und daß die Auslegerhalterung (26) an einem die Halterung des zu prüfenden Bauelements (18) umgebenden Schlitzring (10) angebracht ist .
2. 2. Prüftaster nach Anspracht, dadurch gekennzeichnet, daß die aus einer Spitzenklinge (64) mit daran befestigten Drahtfedern (60, 61) bestehende Tastenspitzenanordnung (34) im freien Ende des Auslegers (28) derart verankert ist, daß -sine Drahtfeder^) gleichzeitig als Anschluß (38) dient
3. 3. PrOftasier nach Anspruch 1 und/oder Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Auslegerhalterung (26) aus einem Widerlager (30) und aus einem jeweils Ober Justierschraubenverbindungen (72,76) verschiebbaren, sowie longitudinal verschiebbaren, den Ausleger (28) tragenden Arm (32) besteht
4. 4. Prüftaster nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß durch je eine Longitudinalbohrung der Arme (32) mit Hilfe weiterer Justierschraubverbindungen (53, 55) verschiebbare Stößel (49) vorgesehen sind, deren auslegerseitige Ende über Keile (46, 47) mit entsprechend abgeschrägten Enden der Ausleger (28) zur jeweiligen Höhenverstellung zusammenwirkbar einget ichtet sind.
5. 5. Prüftaster nach Anspruch J und 4, dadurch gekennzeichnet, daß die Justierschrauben (55,72,76) sämtlich von der Widerlagerseite der Auslegerhalterung (26) her zugänglich angebracht sind.