DE2505245B2 - Festwertspeicherbaustein - Google Patents

Festwertspeicherbaustein

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DE2505245B2 DE19752505245 DE2505245A DE2505245B2 DE 2505245 B2 DE2505245 B2 DE 2505245B2 DE 19752505245 DE19752505245 DE 19752505245 DE 2505245 A DE2505245 A DE 2505245A DE 2505245 B2 DE2505245 B2 DE 2505245B2
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    • G11C17/00Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards
    • G11C17/14Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards in which contents are determined by selectively establishing, breaking or modifying connecting links by permanently altering the state of coupling elements, e.g. PROM
    • G11C17/16Read-only memories programmable only once; Semi-permanent stores, e.g. manually-replaceable information cards in which contents are determined by selectively establishing, breaking or modifying connecting links by permanently altering the state of coupling elements, e.g. PROM using electrically-fusible links

Description

Die Erfindung bezieht sich auf einen Festwertspeicherbaustein, bei dem zwischen Spaltenleitungen und Zeilenleitungen Speicherelemente angeordnet sind. Zum Beispiel bei programmierbaren Festwertspeichern sind Speicherelemente zwischen Zeilenleitungen und Spaltenleitungen matrixförmig angeordnet. Die Speicherelemente können aus einem Schaltelement und einem unterbrejhbaren Widerstand bestehen. Das Schaltelement kann z. B. ein Transistor oder eine Diode sein. Der unterbrechbare Widerstand (Speicherwiderstand) kann z. B. aus NiCr hergestellt sein. Soll der programmierbare Festwertspeicher eingestellt werden, dann müssen die unterbrechbaren Widerstände entsprechend der einzuspeichernden Informationen unterbrochen werden. Zum Beispiel entspricht einem unterbrochenen Widerstand eine binäre »1«, einem nicht unterbrochenen Widerstand ein binäres »Φ«. Die Unterbrechung der Widerstände erfolgt dadurch, daß durch sie ein entsprechend großer Strom geschickt wird. Dies wird dadurch ermöglicht, daß an die Speicherelemente eine entsprechend große Spannung angelegt wird und die Schaltelemente durchgeschaltet werden.
Die Speicherelemente können z. B. aus einem Transistor (Speichertransistor) und einem in dem Emitterzweig liegenden Speicherwiderstand bestehen. Die Basis des Speichertransistors kann an eine Zeilenleitung, der Kollektor an eine Betriebsspannung und der Speicherwiderstand an eine Spaltenleitung angeschlossen sein. Soll aus einem bestimmten Speicherelement die gespeicherte Information ausgelesen werden, dann muß die zugeordnete Spaltenleitung und die zugeordnete Zeilenleitung angesteuert werden.
Über die Kollektor-Emitter-Strecke des Speichertransistoi s fließt ein Strom oder kein Strom, je nachdem ob der Speicherwiderstand nicht unterbrochen ist oder unterbrochen ist. Dieser Strom fließt auf dei zugeordneten SpaUenleitung weiter zu einer Konstantstromquelle. An der Spaltenleitung ist weiterhin ein Lesetransistor angeschlossen, der mit einem Leseverstärker verbunden ist. Ist der Speicherwiderstand nicht unterbrochen, dann fließt der Strom der Konstantstromquelle über den Speicherwiderstand und den Spfiichertransislor. Ist jedoch der Speicherwiderstand unterbrochen, dann fließt der Konstantstrom der Konstantstromquelle über den Lesetransistor. Je nachdem ob der konstante Strom über den Speicherwiderstand oder über den Lesetransistor fließt, gibt der Lesetransistor eine entsprechende Spannung ab, die vom Leseverstärker verstärkt wird.
Bei derartigen Speichermatrizen hängt aber die Zugriffszeit insbesondere auch von den Potentialen auf
ίο den Spaltenleitungen ab. Während auf einer ausgewählten SpaUenleitung sich definierte Potentiale einstellen, nehmen die nicht ausgewählten Spaltenleitungen langfristig das Potential der ausgewählten Zeilenleitungen an, das heißt, die nicht ausgewählten Spaltenleitun-
gen laden sich über die Speicherelemente langsam auf das Potential der ausgewählten Zeilenleitung auf. Dies bedingt, daß je nachdem wie oft eine SpaUenleitung beim Lesevorgang benutzt wird, das Potential kurz vor dem Zugreifen verschiedene Werte haben kann.
Dadurch werden aber die Zugriffszeiten zu den Informationen in der Speichermatrix verschieden sein.
Die der Erfindung zugrunde liegende Aufgabe besteht darin, einen Festwertspeicher anzugeben, bei dem die Zugriffszeit zu den informationen in einer Speichemat-ix nahezu gleich ist. Diese Aufgabe wird bei einem Festwertspeicherbaustein der oben angegebenen Art dadurch gelöst, daß zur Errreichung von definierten Potentialen auf den nicht ausgewählten Spaltenleitungen jede SpaUenleitung über einen Hilfswiderstand mit einer festen Hilfsspannung verbunden ist, daß der Wert der Hilfsspannung negativer ist als die Spannung auf der beim Lesen ausgewählten Zeilenleitung, und daß der Wert der Widerstände so groß ist, daß der bei der ausgewählten SpaUenleitung von der Hilfsspannung über den HilfsWiderstand in die ausgewählte SpaUenleitung fließende Strom klein ist gegenüber dem in der SpaUenleitung fließenden Lesestrom.
Anhand eines Ausführungsbeispiels, das in den Figuren dargestellt ist, wird die Erfindung weiter erläutert. Es zeigt
F i g. 1 ein Blockschaltbild des programmierbaren Festwertspeichers,
F i g. 2 die Speichermatrix,
F i g. 3 einen Zeilenschalter,
F i g. 4 eine Schaltung zur Erzeugung einer Referenzspannung,
F i g. 5 eine Schaltung zur Erzeugung einer weiteren Referenzspannung.
In F i g. 1 ist die Speichermatrix mit SMA bezeichnet.
Sie besteht aus zwischen Zeilenleitungen und Spaltenleitungen angeordneten Speicherelementen SE Die Zeilenleitungen sind mit ZL bezeichnet, die Spaltenleitungen mit SL An den Kreuzungspunkten zwischen den Zeilenleitungen ZL und den Spaltenleitungen SL sind die Speicherelemente angeordnet. Diese bestehen im Ausführungsbeispiel aus einem Speichertransistor S7 und einem in den Emitterzweig eingeschalteten Speicherwiderstand ,RS. Der Speicherwiderstand RS ist z. B. ein NiCr-Widerstand.
Zur Auswahl der Zieilenleitungen bzw. der Spaltenleitungen werden dem Festwertspeicher Adressensignak -4 0 bis /4 7 zugeführt. Die Adressensignale für die Zeilenleitungen werden in einem Adressenverstärket ADVi verstärkt. Die verstärkten Adressensignale
<>5 werden dann den Zeilenschaltern ZS zugeführt. Ir diesen werden die Adressensignale auch decodiert Entsprechend werden die Adressensignale für die Spaltenleitungcn in einem Adressenverstärker ADV,
verstärkt und dann einer Decoderschaltung DS zugeleitet. Mit der Decoderschaltung DS sind vier Spaltenschaltgruppen SS verbunden. Die Speichermatrix ist nämlich so aufgebaut, daß jeweils eine bestimmte Anzahl von Spaltenleitungen zu einer Bank zusammengefaßt sind. ]e eine Gruppe von Spaltenschaltsrn bedient eine Bank von Spaltenleitungen. An die Spaltenleitungen sind auch Leseverstärker LV angeschlossen, wobei jeder Bank von Spaltenleitungen ein Leseverstärker zugeordnet ist. Am Ausgang der (0 Leseverstärker LV erscheinen die verstärkten Lesesignale. Dem Speicherbaustein wird noch ein Signal CE zugeleitet durch das der Baustein ausgewählt wird. Das Signal CE wird über eine Vorbereitungsschaltung KS den Leseverstärkern zugeführt Schließlich ist noch die Schaltungsanordnung zur Einstellung der Informationen FS vorgesehen, an die eine Betriebsspannungsquelle VCPangeschlossen wird.
Eine genauere Ausführung der Speichermatrix mit den unmittelbar mit den Zeilen- und Spaltenleitungen verbundenen Schaltkreisen ist in F i g. 2 gezeigt. Die Speichermatrix ist als programmierbarer ECL-Speicherbaustein realisiert und besteht im Ausführungsbeispiel aus zwei Zeilenleitungen ZL1 und ZL 2 und zwei Bänken von jeweils zwei Spaltenleitungen SL U und SL 12 bzw. SL 21 und SL 22. Die Speicherelemente, die aus einem Speichertransistor ST und einem Speicherwiderstand RS bestehen, sind jeweils zwischen Zeilenleitungen ZL und Spaltenleitungen SL angeordnet. Die Basis des Speichertransistors ST ist mit einer Zeilenleitung ZL verbunden. Der unterbrechbare Speicherwiderstand RS liegt zwischen dem Emitter des Speichertransistors STund einer Spaltenleitung SL Der Kollektor des Transistors ST ist mit der Betriebsspannungsquelle VCPverbunden. -,5
Die Zeilenleitungen ZL sind mit einem Zeilenschalter ZS verbunden. Das heißt, mit der Zeilenleitung ZL ist der Zellenschalter ZSl, mit der Zeilenleitung ZL 2 der Zellenschalter ZS 2 verbunden.
Die einen Enden der Spaltenleitungen SL sind über Spaltenschaltertransistoren TR 5, TO 6 bzw. TR 7, TRS mit einer Konstantstromquelle S3 bzw. S4 verbunden. Die Konstantstromquellen S3, S4 sind beim Lesen der Speichermatrix erforderlich. Die Spaltenschalter TR 5. TR 6 bzw. 77? 7, 77? 8 sind weiterhin an die Decoderschaltung DSl und DS2 angeschlossen. |e zwei Spaltenleitungen sind über die Spaltenschalteremitter zu einer Bank B zusammengefaßt, z. B. sind die Spaltenleitungen SL 11 und SL 12 zu der Bank Sl und die Spaltenleitungen SL21 und SL22 zu der Bank B2 zusammengefaßt. Die Emitter der Spaltenschaltertransistoren jeder Bank sind miteinander verbunden und führen für die Bank B1 zu der Stromquelle S3 bzw. für die Bank B 2 zu der Stromquelle S4.
An den Spaltenleitungen SL sind auch Lesetransistoren LT angeordnet. Die Lesetransistoren LT nehmen von den Spaltenleitungen das Lesesignal ab und führen es Leseverstärkern (am Punkt C) zu. An die Spaltenleitung SLIl ist der Lesetransistor LT\, an die Spaltenleitung SL 12 der Lesetransistor LT2, an die <><> Spaltenleitung SL 21 der Lesetransistor LTi und an die Spaltenleitung SL 22 der Lesetransistor L 7" 4 angeschlossen. Im Kollektorzweig der einer Bank von Spaltenleitungen zugeordneten Lesetransistoren LTist jeweils ein Lastwiderstand RL eingefügt. Die Basisan- fts Schlüsse der Lesetransistoren LT liegen an einer Referenzspannung VB 4.
VSS ist eine Betriebsspannung.
Die Spaltenleiiungen SL sind außerdem über einen HilfsWiderstand RH mit einer Hilfsspannung UH verbunden. Mit deren Hilfe wird erreicht, daß auf den Spaltenleitungen SL, auch wenn diese nicht ausgewählt sind, ein definiertes Potential liegt. Darum wird der Hilfsspannung UH ein Wert gegeben, der negativer ist als die Spannung auf der beim Lesen ausgewählten Zeilenleitung. Der Wert des HilfsWiderstandes RHwWd so gewählt, daß der bei der ausgewählten Spaltenleitung von der Hilfsspannung UH über den Hilfswiderstand RH in die ausgewählte Spaltenleitung fließende Strom klein ist gegenüber dem in einer ausgewählten Spaltenleitung fließenden Lesestrom. Wird der Lesestrom z. B. mit /0 bezeichnet, dann wird der Hilfsstrom IHz. B. so klein gewählt, daß gilt:
IH <
/0
To
Da durch die Einfügung der Hilfswiderständc RH und deren Anschluß an eine Hilfsspannung UH auch die nicht ausgewählten Spaltenleitungen auf einem definierten Potential liegen, bleiben die Spannungshübe beim Lesen von Informationen auf den Spaltenleitungen nahezu gleich. Die nicht ausgewählten Spaltenleitungen können sich somit nicht mehr auf das Potential der ausgewählten Zeilenleitungen umladen.
Im folgenden wird beschrieben, wie eine Information aus dem Festwertspeicher gelesen wird. Es wird angenommen, daß aus dem Speicherelement SE die Information ausgelesen wird. Dann wird von dem Zellenschalter ZS 1 die Zeilenleitung ZL 1 angesteuert. Das heißt, der Transistor S7"des Speicherelementes St wird in den leitenden Zustand gebracht. Gleichzeitig wird der Spaltenschaltertransistor TRb durch die Decoderschaltung DS 2 angesteuert und in den leitenden Zustand überführt Nun kann der konstante Strom der Konstantstromquelle S3 in der Spaltenleitung SL 12 fließen.
Es sei angenommen, daß der Speicherwiderstand RS nicht unterbrochen ist. Dann fließt der konstante Strom von z. B. 2 mA von der Spannungsquelle VDP über den Speichertransistor ST, den Speicherwiderstand RS, die Spaltenleitung SL12 und den Transistor TR 6 zur Stromquelle S.i ab. Gleichzeitig fließt der Hilfsstrom von der Hilfsspannungsquelle UH über den Hilfswider stand RHin die Spaltenleitung SL 12. Der Hilfsstrom isi aber gegenüber dem Lesestrom so klein, daß ei vernachlässigt werden kann. Das sich auf der Spaltenlei tung SL12 einstellende Potential ist so, daß dei Lesetransistor L7"2 gesperrt bleibt.
ist der Speicherwiderstand RS unterbrochen, danr kann der Lesestrom nicht über das Speicherelement Si fließen. Vielmehr wird der Lesestro:n jetzt von den Lesetransistor L7"2 übernommen. Der Lesestrom fließ nun über den Lesewiderstand RL den Lesetransistoi L7~2, den Spaltenschalter'ransistor TR 6 zur Konstant stromquelle S3 ab. Nunmehr entsteht über den Lauwiderstand RL ein erheblicher Spannungsabfall. s( daß die Kollektorspannung des Lesetransistors LT'. niedriger wird. Auch beim vorliegenden Fall ist de Hilfsstrom, der von der Hilfsspannung UH über dei Hilfswiderstand RH in die Spaltenleitung SL Y. hineinfließt, vernachlässigbar gegenüber dem über dei Lesetransistor TL 2 fließenden Lesestrom.
Auf der ausgewählten Spaltenleitung bilden siel somit Potentiale aus, die definiert sind, da der Lesestron entweder über Speicherelement SH oder über dei l.esetransistor /.7"fließt.
Durch die Einfügung der Hilfswiderstände RH und der Hilfsspannung UH ist aber auch das Potential auf den nicht ausgewählten Spaltenleitungen definiert, es entspricht etwa der Hilfsspannung UH. Denn bei unterbrochenem Speicherwiderstand RS fließt entweder ein sehr kleiner Strom über den Lesetransistor LT. wenn die Referenzspannung Vß4 positiver ist als die Hilfsspannung UH, oder die Spaltenleitung SL wird über den Hilfswiderstand RH direkt aufgeladen. Bei nicht unterbrochenem Speicherwiderstand RS dagegen fließt ein sehr kleiner Strom von der ausgewählten Zeilenleitung über ein Speicherelement und über den Hilfswiderstand RH zur Hilfsspannung UH. Somit ist der beim Auslesen eines Speichcrelemenles auftretende Spannungshub auf einer Spaltenleitung nicht mehr abhängig von den eingespeicherten Informationen und von der Zeit, in der zu einer Spallenlcitung nicht zugegriffen wird. Dann aber ist auch die Zugriffszeit zu den Informationen in der Speichermatrix überall nahezu gleich.
Der Aufbau der Zellenschalter ZS und der Decodcrschaltungen DS haben keinen Einfluß auf die Erfindung. Zur Verdeutlichung sind sie aber in der Γ ig. 3 dargestellt.
f-'ig. 3 zeigt den Aufbau eines Spaltenschuliers ZL. Der Zellenschalter ZL besteht aus einem Differenzverstärker. Dieser ist aus parallel angeordneten Stcucrtransislorcn TR 1, TR 2, TR 3, einem Referenztransistor RT und einem Kollcktorwidcrstand RCi aufgebaut. Den Slcuertransistorcn des Differenzverstärkers DVl werden Adressensignale 7~4, T5 und 76 zugeführt. An den Kollektor der Steuertransistorcn ist ein Emitterfolger TEi angeschlossen. Mit Sl und S2 sind wiederum Konstamstromquellcn bezeichnet. Eine Zcilcnlcitung ZL ist dann ausgewählt, wenn alle Sunicrlransistorcn 77? 1, TR 2, TR 3 gesperrt sind. Die dann an den Kollektoren der Steuertransistorcn herrschende Spannung wird über den Emitterfolger TfI auf die Zcilenlcitung ZL übertragen.
s Die Zeilcnleitung ZL gilt nicht als ausgewählt, wenn zumindest einer der Steuertransistorcn TR 1, TR 2, TR 3 im leitenden Zustand ist. Dann fließt ein Strom über den Kollektorwiderstand RCl. der einen Spannungsabfall bedingt. Die dann niedrigere Kolleklorspannung wird
ίο wiederum über den Emitterfolger TEX auf die Zeilenleitung ZL übertragen. Durch diese niedere Spannung auf der Zeilenleitung ZL werden die Speichertransistoren STgcsperrt.
Die Konstantstromquellen S sind alle gleichartig
is aufgebaut und bekannt. Die Spannung VB 2 ist eine Referenzspannung.
Die Decodcrschaltungen DS können prinzipiell entsprechend dem Zeilenschalter (Fig.3) aufgebaut sein, wobei allerdings die Ausgangspotentiale der Decoderschaltungen sich von den Ausgangspotentialen des Zeilenschalters unterscheiden.
Aus Fig.4 ergibt sich eine Schaltungsanordnung, durch die die Referenzspannung VB2 erzeugt werden kann. Sie besteht aus Transistoren T12, T13 und
;s Widerständen R 12, R 13, R 14, R 15.
Fig. 5 zeigt eine Schaltung, mit der die übrigen Referenzspannungen VBi, VBA erzeugt werden können. Sie ist aus Transistoren T14, T15, T16 und Widerständen R 16, R 17, R 18 aufgebaut. Die von der Schaltung abgegebenen Referenzspannungen können selbstverständlich abhängig von der Dimensionierung der verwendeten Bauelemente verschieden groß sein.
Die Erfindung ist anhand einer fCL-Speichermatm beschrieben worden. Sie kann aber auch bei anderer
is Festwertspeichern verwendet werden.
Hier/u 4 HkUt Zeichnungen

Claims (2)

Patentansprüche:
1. Festwertspeicherbaustein, bei dem zwischen Zeilenleitungen und Spaltenleitungen Speicherelemente angeordnet sind, dadurch gekennzeichnet, daß zur Erreichung von definierten Potentialen auf den nicht ausgewählten Spaltenleitungen (SL) jede Spaltenleitung über einen Hilfswiderstand (RH) mit einer festen Hilfsspannung (UH) verbunden ist, daß der Wert der Hilfsspannung (UH) negativer ist als die Spannung auf der beim Lesen ausgewählten Zeilenleiturig (ZL). und daß der Wert der Hilfswiderstände (RH) so groß ist, daß bei der ausgewählten Spaltenleitung von der Hilfsspannung (UH) über den HilfsWiderstand (RH) in die ausgewählte SpaUenleitung fließende Strom klein ist gegenüber dem in der Spaltenleitung fließenden Lesestrom.
2. Festwertspeicherbaustein nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die an der Basis des Lesetransistors (LT) anliegende Referenzspannung positiver als die Hilfsspannung (UH)'isi.
DE19752505245 1975-02-07 1975-02-07 Festwertspeicherbaustein Granted DE2505245B2 (de)

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DE2505245C3 DE2505245C3 (de) 1978-03-02

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