DE2555860A1

DE2555860A1 - Telephone switching system with test and engaged current circuit - has measuring instrument recognising decrease in blocking condition

Info

Publication number: DE2555860A1
Application number: DE19752555860
Authority: DE
Inventors: Justus Koenig; Josef Roehrig
Original assignee: Siemens AG
Current assignee: Siemens AG
Priority date: 1975-12-11
Filing date: 1975-12-11
Publication date: 1977-06-23
Also published as: DE2555860C2

Abstract

The telephone switching system has a test and engaged current circuit. The engaged current circuit has a measuring instrument which recognises a decrease in the blocking condition. The engaged current circuit will remain separated until complete cutout of the switching element. A selector has a test current circuit with two windings and a test relay. The current measuring device consists of a resistor in the engaged current circuit and a voltage measuring circuit. The current and voltage measuring circuits are fitted with switching elements which differentiate either the current or the voltage. The differentiating network consists of a resistor and a capacitor in series. There is also a delay circuit which suppresses the interference pulses.

Description

Schaltungsanordnung für Fernmeldevermittlungs anlagen, insbesondereCircuit arrangement for telecommunications switching systems, in particular

Fernsprech-vermittlungsanlagen mit Prüf- und Belegungsstromkreisen Zusatz zum Patent ............ (Az: P 25 12 551.3) Das Hauptpatent betrifft eie Schaltungsanordnung für Fernmeldeanlagen, insbesondere Fernsprechvermittlungsanlagen, in denen von den Belegungszuständen belegbarer Schaltglieder der Freizu-.Telephone switching systems with test and occupancy circuits Addition to the patent ............ (Az: P 25 12 551.3) The main patent concerns eie Circuit arrangement for telecommunication systems, in particular telephone exchange systems, in those of the occupancy states assignable switching elements of the free.

stand durch ein über Widertände eines Belegungsstromkreises des jeweils betreffenden Schaltgliedes an einen Prüfpunkt angelegtes Freipotential und der Sperrzustand durch dessen Fehlen, z.B.stood by an over resistance of an occupancy circuit of each relevant switching element applied to a test point free potential and the blocking state by its lack, e.g.

Unterdrückung, an dem Prüfpunkt markiert ist, und in denen der Belegungszustand (frei oder gesperrt) eines Schaltgliedes mittels relativ grossen Innenwiderstand aufweisenden Prüfschaltmitteln eines zwecks Belegung prüfenden, vorgeordneten Schaltgliedes, .3.Suppression at which checkpoint is marked and in which the occupancy status (free or blocked) of a switching element by means of a relatively large internal resistance having test switching means of an upstream switching element testing for the purpose of occupancy, .3.

Wählers, über einen durch Anschaltung der Prüfschaltmittel an den Prüfpunkt zustandekommenden Prüf- und Belegungsstromkreis feststellbar ist, und in denen die Sperrung eines belegten Schaltgliedes aufgrund einer Belegung seitens des vorgeordneten Schaltgliedes durch Anschalten eines sich vom Freipotential unterscheidenden Sperrpotentials über im vorgeordneten Schaltglied vorgesehene und relativ kleinen Innenwiderstand aufweisende Prufschaltmittel im Prüf- und Belegungsstromkreis bewirkt ist, und in denen Vorkehrongen getroffen sind, durch die nach Auftrennung eines gesperrten Prüf- und Belegungsstromkreises im Zuge der Verbindungsauslösung ein Aufprüfen auf einen auszulösenden Belegungsstromkreis verhindert werden soll, und in denen eine im Belegungsstromkreis vorgesehene Strommesseinrichtung eine Absenkung des im Sperrzustand fliessenden Stromes als Auslösung erkennt und den Belegungsstromkreis bis zur vollständigen Auslösung des betreffenden Schaltgliedes auftrennt.Selector, via a by connecting the test switching means to the Test point coming about test and occupancy circuit can be determined, and in which the blocking of an occupied switching element due to an occupancy on the part of the upstream switching element by connecting one that differs from the free potential Blocking potential over provided in the upstream switching element and relatively small Test switching means having internal resistance in the test and occupancy circuit causes is, and in which precautions are taken by the separation of a locked test and occupancy circuit in the course of the connection release Checking for an occupancy circuit to be triggered is to be prevented, and in which a current measuring device provided in the occupancy circuit causes a reduction of the current flowing in the blocked state as tripping and recognizes the occupancy circuit until the relevant switching element is fully triggered.

In Schaltungsanordnungen gemäss dem Hauptpatent werden also jegliche Fehlstrombedingungen (Fehlstrom bedeutet für ein Relais, dass über seine Wicklung bzw. Wicklungen ein mit Sicherheit für sein Ansprechen nicht ausreichender Strom fliesst) gänzlich vermieden. Ein Aufprüfen auf auslösende Verbindungen wird auch für den Fall ausgeschlossen, dass in dem Moment, in welchem ein einen Belegungsstromkreis bis dahin sperrender erster Wähler den Prüf--und Belegungsstromkreis auftrennt, ein zweiter Wähler an demselben Belegungsstromkreis bereits seinen Prüfvorgang begonnen hat; in diesem Sonderfall tritt nämlich in dem betreffenden Belegungsstromkreis keine Stromunterbrechung ein, sondern lediglich eine Stromabsenkung auf einen Stromwert, der dem Stromwert bei einem Prüfvorgang während der Ansprechzeit des Prüfrelais gleich sein kann. Obwohl also in einem solchen Falle der betreffende Wähler das Aufprüfen auf eine auslösende Verbindung nicht zu erkennen vermag, stellt der dementsprechend ausgebildete Belegungsstromkreis sicher, dass ein Aufprüfen auf eine auslösende Verbindung nicht vorkommen kann. Die Schaltungsanordnung gemäss Hauptpatent bedarf zum Erkennen dieses besonderen Betriebsfalles auch keiner kurzzeitigen Stromunterbrechung im Belegungsstromkreis, sondern wertet die Stromabsenkung von einem dem Sperrzustand entsprechenden Stromwert auf einen dem Prüfzustand entsprechenden Stromwert im Belegungsstromkreis aus.In circuit arrangements according to the main patent so any Fault current conditions (fault current for a relay means that through its winding or windings a current that is definitely not sufficient for its response flows) completely avoided. A check for triggering connections is also done excluded in the event that at the moment in which an occupancy circuit until then, the first selector that is blocking disconnects the test and occupancy circuit, a second voter on the same occupancy circuit has already started its testing process Has; in this special case occurs namely in the relevant occupancy circuit no current interruption, but only a current reduction to a current value, the current value during a test process during the response time of the test relay can be the same. So although in such a case the voter concerned Checking on a triggering connection is unable to recognize the accordingly Trained occupancy circuit ensures that there is a check on a triggering one Connection cannot occur. The circuit arrangement according to the main patent requires no brief power interruption to detect this particular operating situation in the occupancy circuit, but evaluates the current drop from one of the blocking states corresponding current value to a current value corresponding to the test state in the occupancy circuit the end.

Beachtlich ist hierbei also, dass der zunächst bestehende und im Sperrzustand befindliche Prüf- und Belegungsstromkreis lediglich eine Wicklung des jeweiligen Prüfrelais des betreffenden sperrenden Wählers enthält, dass jedoch dieser bei Auftrennung des im Sperrzustand befindlichen Prüf- und Belegungsstromkreises weiter bestehende Prüf- und Belegungsstromkreis des prüfenden Wählers ausser seiner niederohmigen Wicklung auch die höherohmige Wicklung des Prüfrelais enthält. In diesem besonderen Betriebsfall des unerwünschten Aufprüfens auf den Belegungsstromkreis einer im Auslösestadium sich befindenden verbindungsindividuellen Einrichtung ist also die Auslösung der ersten Verbindung nicht an einer Auftrennung des Prüf- und Belegungsstromkreises, sondern an einer Stromabsenkung zu erkennen. Der in diesem besonderen Betriebsfall in einer im Hauptpatent beschriebenen Schaltungsanordnung nach der Stromabsenkung von der Strommesseinrichtung messbare Haltestrom im Belegungsstromkreis ist von dem beim normalen Prüf- und Belegungsvorgang vor Ansprechen des betreffenden Prüfrelais aufgrund der Stromhöhe nicht eindeutig unterscheidbar. Um nun diesen besonderen Betriebsfall ("Aufprüfen auf auslösende Verbindung") von einem normalen Prüf- und Belegungsvorgang mit einer im Freizustand befindlichen, eingangsseitig belegbaren verbindungsindividuellen Einrichtung unterscheiden zu können, sind in einer Schaltungsanordnung gemäss Hauptpatent Schaltmittel vorgesehen, mit deren Hilfe die Absenkung des im Belegungsstromkreis fliessenden Haltestromes anhand seines zeitlichen Verlaufes erkannt werden kann. Diese Schaltmittel sind als Strom nach der Zeit differenzierende Schaltmittel ausgebildet.It is therefore noteworthy that the initially existing and in the blocked state located test and occupancy circuit only one winding of the respective The test relay of the blocking selector in question contains, however, that this is in the event of disconnection of the test and occupancy circuit still in existence Test and occupancy circuit of the testing voter except for its low resistance Winding also contains the higher-resistance winding of the test relay. In this particular one Operational case of undesired checking of the occupancy circuit of one in the tripping stage which is the connection-specific device is therefore the triggering of the first connection not to a disconnection of the test and occupancy circuit, but on to detect a current drop. The one in this particular one Operating case in a circuit arrangement described in the main patent according to the Current reduction of the current measuring device measurable holding current in the occupancy circuit is different from that of the normal checking and allocation process prior to addressing the person concerned Test relay cannot be clearly distinguished due to the current level. To now this special operating case ("checking for triggering connection") from a normal Checking and allocation process with one in the free state on the input side To be able to differentiate between assignable connection-specific facilities are in a circuit arrangement according to the main patent switching means provided with their Help to lower the holding current flowing in the occupancy circuit based on its can be recognized over time. These switching means are referred to as current the time differentiating switching means formed.

Für die Erfindung besteht die Aufgabe, eine Schaltungsanordnung nach dem Hauptpatent dahingehend zu verbessern und weiter aus zubilden, dass die Absenkung des Haltestromes im Belegungsstromkreis mit Schaltmitteln erkannt werden kann, die eine statische Strommessung ermöglichen. Hierfür sollen Schaltmittel mitserfendet werden, die bereits für andere Zwecke vorgesehen werden müssen.The object of the invention is to provide a circuit arrangement the main patent to improve and further train that the lowering of the holding current in the occupancy circuit can be detected with switching means that enable static current measurement. Switching means should also be created for this that must already be provided for other purposes.

Diese Aufgabe wird erfindungsgemäss dadurch gelöst, dass der Belegungsstromkreis einen über einen ersten Widerstand verlaufenden Ansprechzweig und einen über den ersten und einen mit ihm in Reihe geschalteten zweiten Widerstand verlaufenden Halte zweig aufweist und nach der Belegung vom Ansprechzweig auf den Haltezweig umgeschaltet wird, und dass die Strommesseinrichtung aus diesen Widerständen und aus einer zu deren Reihenschaltung parallel geschalteten Spannungsmesseinrichtung besteht.According to the invention, this object is achieved in that the occupancy circuit a response branch running over a first resistor and one over the first and a second resistor connected in series with it extending holding has branch and switched after the assignment from the response branch to the holding branch is, and that the current measuring device from these resistors and from one to whose series connection consists of a voltage measuring device connected in parallel.

Die erfindungsgemasse Spannungsmesseinrichtung empfängt also von dem im Ansprechzweig liegenden ersten Widerstand einen Spannungsabfall bei der Belegung, also beim Zustandekommen des Prüf- und Belegungsstromkreises. Ferner empfängt die Spannungsmesseinrichtung von den beiden im Halte zweig des Belegungsstromkreises liegen den Widerständen einen Spannungsabfall nach der Umschaltung des Belegungsstromkreises vom Ansprechzweig zum Haltezweig. Ansprecnzweig und Haltezweig lassen sich gesondert dimensionieren. Dadurch lässt sich die Spannungsmesseinrichtung, die beim Prüfen eines Prüfrelais auf den Strom vor dessen Ansprechen oder nach dessen Ansprechen reagiert, zugleich dazu verwenden, die Stromabsenkung beim Aufprüfen auf den Belegungsstromkreis einer im Auslösestadium befindlichen verbindungsindividuellen Einrichtung zu erkennen und ein solches Aufprüfen durch Auftrennung des Prüf- und Belegungsstromkreises zu unterbinden. Für die beiden beschriebenen Funktionen ist die Spannungsmesseinridtunauf einen Ansprechwert und auf einen-demgegenüber etwas niedrigeren Rückstellwert eingestellt. Diese beiden Werte sind Spannungsvergleichswerte, die nicht gleich sind, wodurch beim Ansprechen der Spannungsmesseinrichtung bzw. bei ihrer Rückstellung (der dem Ansprechvorgang entgegengesetzte Vorgang) verhindert wird, dass die Spannungsmesseinrichtung vorübergehend in einen indifferenten Schaltzustand kommt und abwechselnd mehrmals nacheinander anspricht und zurückgestellt wird.The inventive voltage measuring device thus receives from the the first resistor in the response branch shows a voltage drop during the assignment, i.e. when the test and occupancy circuit comes about. Furthermore, the Voltage measuring device of the two in the holding branch of the occupancy circuit there is a voltage drop in the resistors after switching the occupancy circuit from the response branch to the holding branch. Ansprecnzweig and holding branch can be separated dimension. This allows the voltage measuring device to be used when testing a test relay to the current before it responds or after it responds reacts, at the same time to use the current reduction when checking the occupancy circuit to recognize a connection-specific device that is in the triggering stage and such a test by separating the test and occupancy circuit to prevent. For the two functions described, the voltage measurement unit is no longer available a response value and set to a somewhat lower reset value. These two values are voltage comparison values that are not the same, which means when the voltage measuring device responds or when it is reset (the dem Response process opposite process) prevents the voltage measuring device temporarily in an indifferent switching state and alternately several times responds one after the other and is reset.

In der Zeichnungist ein Ausführungsbeispiel der Erfindung nur in wesentlich zu ihrem Verständnis beitragenden Bestandteilen dargestellt, worauf sie Jedoch keinesfalls beschränkt ist.In the drawing, an embodiment of the invention is only essential Components that contribute to their understanding are shown, but they are by no means to which they refer is limited.

Von einem Wähler W'ist der Prüfstromkreis mit den beiden Wicklungen I und II eines Prüfrelais P dargestellt. Die Wicklung II des Prüfrelais, ist über einen relais eigenen Kontakt Ip, kurzschliessbar. Der Prüfstromkreis des Wählers 'tT ist in bekannter Weise über einen Prüfschaltarm c mit den PMfpunkten PP von belegbaren nachgeordneten Schalteinrichtungen U verbindbar. Bei diesen belegbaren Schalteinrichtungen U kann es sich z.B. um Verbindungssätze handeln. Verbindungssätze sind z.B; Internverbindungssätze', sogenannte Amtsübe,rtra'gtirigen, Leitungsabsohlussohaltungen von Fernverbindungsleitungen und dergleichen.The test circuit with the two windings is from a selector W ' I and II of a test relay P shown. The winding II of the test relay is over a relay's own contact Ip, can be short-circuited. The selector's test circuit 'tT is in a known manner via a test switch arm c with the PMf points PP from assignable downstream switching devices U can be connected. With these provable Switching devices U can, for example, be connection sets. Connection sets are e.g. Internal connection sets, so-called office exercises, subordinate positions, management dismissals of trunk lines and the like.

Die belegbaren Schalteinrichtungen U zahlen zu den pro Verb in dung erforderlichen Schalteinrichtungen" oder "verbindungs individuellen Einrichtungen", also Schaiteinrichtungen, ) gemäß weiterer Ausbildung der Erfindung die für die Dauer des Bestehens einer Verbindung dieser individuell zugeordnet sind, wie z.B. auch Wähler, Verbindungsleitungen, Zwischenleitungen in Koppelfeldern und dergleichen.The assignable switching devices U pay for the per connection required switching devices "or" connection individual devices ", thus switching devices,) according to a further embodiment of the invention the are assigned individually for the duration of the existence of a connection, such as dialers, connecting lines, intermediate lines in switching matrices and like that.

Die belegbaren Schalteinrichtungen U sind zu mehreren jeweils zu einer Gruppe zusannengefaßt, der eine gemeinsame Verbindungs satz-Steuerung G gemäß den deutschen Patent 2 055 745 ("gruppenindividueller Pufferspeicher") zugeordnet ist.' Jede der Schalteinrichtungen U steht mit der gemeinsamen Steuerung G über die beiden Stromkreise z1 und z2 in Kriterienaustausch. Über den Stromkreis z1 signalisiert jede der Schalteinrichtungen U zur gemeinsamen Steuerung G den Schaltzustand der Belegung. Über den Stromkreis z2 signalisiert die gemeinsame Steuerung G an jede der Schalt einrichtungen U den Schaltbefehl "Hochohmigschalten' mindestens 40 Milliseknden nach erfolgter Belegung bzw. "Sperren" gegen Neubelegung, sofern die betreffende Schalteinrichtung U sich im Ruhezustand befindet und vorläufig nicht belegbar sein soll.The assignable switching devices U are several in each case to one Group summarized, which has a common connection set control G according to the German Patent 2 055 745 ("group-specific buffer memory") is assigned. Each of the switching devices U is connected to the common control G via the two Circuits z1 and z2 in criteria exchange. Signaled via the circuit z1 each of the switching devices U for common control G the switching state of Occupancy. The common control G signals to each via the circuit z2 of the switching devices U the switching command "High resistance switching" at least 40 milliseconds after occupancy or "blocking" against new occupancy, provided that the relevant Switching device U is in the idle state and cannot be assigned for the time being target.

Im Ruhezustand der Schalteinrichtung U liegt von der gemeinsamen Steuerung G her über nicht gezeigte Vorwiderstände und über den S>romkreis z2 Ninuspotential an der Basis des Transistnrs Tv, sondern die Schalteinrichtung U belegbar sein soll.In the idle state of the switching device U is from the common control G here via series resistors (not shown) and via the S> rom circuit z2 ninuspotential at the base of the transistor Tv, but the switching device U should be assignable.

Das Pluspotential von 5 Volt am Widerstand fil wird durch das von der gemeinsamen Steuerung Q zugeführte Minuspotential unwirksam gemacht Wenn die Schalteinrichtung U im Ruhezustand belegbar ist, ist der Transistor T3 stromdurchlässig. Über die Widerstände R2 und R3 liegt Erdpotential an der Basis des Transistors TI und der Basis des Transistors T2. Über die Emitter-Basis-Strecke Jedes dieser beiden Transistoren fließt ein relativ geringer Ruhestrom. Diese beiden Transistoren sind dadurch für eine Durchschaltung eines Prüf- und Belegungsstromkreises vorbereitet.The positive potential of 5 volts at the resistor fil is determined by that of the negative potential supplied to the common control Q is rendered ineffective Switching device U can be assigned in the idle state, the transistor T3 is current-permeable. Ground potential is applied to the base of the transistor TI via the resistors R2 and R3 and the base of transistor T2. Via the emitter-base route Either of these two A relatively low quiescent current flows through transistors. These two transistors are thus prepared for a connection of a test and occupancy circuit.

Der Transistor T4 ist im Ruhezustand der Schalteinrichtung U durch das von der gemeinsamen Steuerung G zugeführte Minuspotential gesperrt, sofern die Schalteinrichtung U belegbar ist.The transistor T4 is through in the idle state of the switching device U locked the negative potential supplied by the common control G, provided that the Switching device U can be assigned.

Ebenfalls ist in diesem Schaltzustand der Transistor T5 gesperrt, und zwar durch das an seiner Basis über die Widerstände R4 und R5 anliegende Pluspotential von 5 Volt. Da an Basis und Emitter des Transistors T6 im Ruhezustand gleiches Potential (Minuspotential von 60 Volt) anliegt, ist auch dieser Transistor im Ruhezustand stromundurchlässig.The transistor T5 is also blocked in this switching state, namely by the positive potential applied to its base via the resistors R4 and R5 of 5 volts. Since the base and emitter of the transistor T6 have the same potential in the idle state (Minus potential of 60 volts) is present, this transistor is also in the idle state current impermeable.

Wird im Zuge eines Freiwahlvorganges des Wählers W sein Prüfrelais P über den Prüfschaltarm c mit dem Prüfpunkt PP der Schalteinrichtung U verbunden, so kommt ein Prüf- und Belegungsstromkreis zustande, der über die Wicklungen I und II des Prüfrelais P, die Widerstände R6, R7 und R9 und über die Parallelschaltung der beiden Transistoren T1 und T2 verläuft, wobei in Reihe mit dem Transistor T2 noch der weitere Widerstand R8 geschaltet ist. Der am Widerstand R7 auftretende Spannungsabfall wird von einem Vergleicher V erkannt, der ein bis dahin über seinen Ausgang v abgegebenes Ausgangssignal in Form von plus 1 Volt gegen ein Ausgangssignal von minus Ii Volt vertauscht. Dadurch wird über den Stromkreis zi die erfolgte Belegung zur gemeinsamen Steuerung G hin signalisiert. Der Vergleicher V reagiert auf den am Widerstand R7 auftretenden Spannungsabfall mit einer Verzögerung, die gross genug ist, um kurzzeitige Störimpulse zu ignorieren.Will be his test relay in the course of a free selection process of the voter W P connected to test point PP of switching device U via test switch arm c, so a test and occupancy circuit is created, which is via the windings I and II of the test relay P, the resistors R6, R7 and R9 and via the parallel connection of the two transistors T1 and T2, in series with the transistor T2 the further resistor R8 is still connected. The one occurring at resistor R7 Voltage drop is detected by a comparator V, which has been above its Output v output signal in the form of plus 1 volt against an output signal swapped by minus Ii volts. This means that the assignment is made via the circuit zi to the common control G signaled out. The comparator V responds to the voltage drop occurring at resistor R7 with a delay that is large enough is to ignore brief glitches.

Hierzu ist ein aus dem Widerstand R20 und dem Kondensator C3 bestehendes R-C-Glied im Vergleicher V vorgesehen. Beim Aufprüfen ist der Gleichrichter D5 während einer Aufladung des Kondensators C3 auf den am Widerstand R7 auftretenden Spannungsabfall stromdurchlässig. - Weitere Einzelheiten des Vergleichers V werden weiter unten beschrieben.For this purpose, there is one consisting of the resistor R20 and the capacitor C3 R-C element provided in comparator V. When checking, the rectifier D5 is during a charging of the capacitor C3 to the voltage drop occurring across the resistor R7 current-permeable. - Further details of the comparator V are given below described.

Durch das vom Vergleicher V über seinen Ausgang v abgegebene Ausgangssignal von minus 11 Volt wird ausserdem ein Stromkreis über die Widerstände R10, R5 und R4 eingeschaltet. Hierin liegt eine Vorbereitung dafür, den Transistor T5 stromdurchlässig zu schalten, was weiter unten beschrieben wird. Jedoch bleibt der Transistor T5 zunächst noch stromundurchlässig, weil sich am Verbindungspunkt zwischen den Widerständen R5 und R10 ein gegenüber Erdpotential immer noch positives Teilpotential einstellt.By the output signal emitted by the comparator V via its output v of minus 11 volts is also a circuit across the resistors R10, R5 and R4 switched on. This is a preparation for making the transistor T5 current-permeable to switch, which is described below. However, the transistor T5 remains initially still impermeable to current, because at the connection point between the resistors R5 and R10 set a partial potential that is still positive with respect to earth potential.

Der Vergleicher V enthält u.a. ein Relais X mit zwei Wicklungen I und II, das mit seinem Kontakt xl das erwähnte Ausgangssignal von minus 11 Volt gegenüber Erdpotential an den Vergleicherausgang v im gegebenen Zeitpunkt anschaltet. Dieses Relais ist bezüglich seiner Wicklung I hochempfindlich, welche einen hohen Innenwiderstand aufweist. Das Relais X dient als Schwellwertschalter, der bei Uberschreiten eines bestimmten Spannungswertes, der auch als "Schwellwert" bezeichnet wird, an den Wicklungsanschlüssen 1 und 2 seinen Ausgangskreis v über den Kontakt xl schliesst. Das als Schwellwertschalter dienende Relais X kann als elektromechanisches Relais ausgebildet sein, wird-aber vorzugsweise als elektronischer Schalter mit extrem kurzer Schaltzeit ausgebildet, z.B. als Operationsverstärker in Komparatorschaltung-(vgl. USA-Patentschrift Nr. 3 903 404).The comparator V contains, among other things, a relay X with two windings I. and II, which with its contact xl the mentioned output signal of minus 11 volts compared to ground potential at the comparator output v at the given point in time. This relay is highly sensitive to its winding I, which has a high Has internal resistance. The relay X serves as a threshold switch, which when exceeded of a certain voltage value, which is also referred to as a "threshold value" the winding connections 1 and 2 closes its output circuit v via the contact xl. The relay X serving as a threshold switch can be used as an electromechanical relay be designed, but preferably as an electronic switch with extreme short switching time, e.g. as an operational amplifier in a comparator circuit - (cf. U.S. Patent No. 3,903,404).

Der Schwellwertschalter X -ist mit den Anschlüssen seiner Wicklung I an die Anschlüsse des Widerstlndes R24 angeschlossen. Der Schwellwertschalter X misst also die a den Anschlüssen des Widerstandes R24 Jeweils anliegende Spannung. In dem zwischen den beiden Eingangsklemmen des Vergleichers V verlaufenden Messtromkreis liegt der Widerstand R24 in Reihe mit einem Differenzierglied, das aus dem Widerstand R23 und dem Kondensator C4 besteht. Beim Schliessen des Prüf- und Belegungsstromkreises mittels des Schaltarmes c des Wählers W kommt der u.a. über die Widerstände R6, R7, R8 und R9 verlaufende Stromkreis zustande. Der am Widerstand R7 hierbei auftretende Spannungsabfall teilt sich über den Widerstand R13 dem Widerstand R24 im Vergleicher mi.t. Der an letzterem auftretende Spannungsabfall teilt sich wiederum dem Schwellwertschalter X mit, der - wie bereits beschrieben - seinen Kontakt xl schliesst. Hierbei steigt die Spannung am Widerstand R24 zunächst auf einen höheren als den Endwert an, nämlich bis sich der Kondensator C4 in dem u.a.über die Widerstände R13 und R24 verlaufenden Messtromkreis auf einen Spannungswert einstellt, der einem am Widerstand R23 sich einstellenden Spannungsabfall entspricht.The threshold switch X -ist with the connections of its winding I connected to the connections of the resistor R24. The threshold switch X thus measures the voltage applied to the terminals of the resistor R24. In the measuring circuit running between the two input terminals of the comparator V. the resistor R24 is in series with a differentiator that consists of the resistor R23 and capacitor C4. When the test and occupancy circuit is closed by means of the switching arm c of the selector W comes, among other things, via the resistors R6, R7, R8 and R9 running electric circuit. The one that occurs at resistor R7 The voltage drop is shared by resistor R24 in the comparator via resistor R13 with. The voltage drop occurring at the latter is in turn shared by the threshold switch X with, which - as already described - closes its contact xl. This increases the voltage at resistor R24 initially to a higher than the final value, namely until the capacitor C4 runs through the resistors R13 and R24 Set the measuring circuit to a voltage value that appears at resistor R23 the setting voltage drop.

Die besondere Bedeutung des aus dem Kondensator C4 und dem Widerstand R23 bestehenden Differenziergliedes wird weiter unten noch im einzelnen erläutert.The special meaning of the capacitor C4 and the resistor R23 existing differentiating element is explained in detail further below.

Das über den Ausgang v des Vergleichers V eingeschaltete Ausgangssignal von minus 11 Volt teilt sich u.a. auch über den Widerstand R18 der Wicklung II des als Relais ausgebildeten Schwellwertschalters mit. Auf diese Weise wird dem Schwellwertschalter X eine zusätzliche Haltespannung zugeführt, wenn er nach Zustandekommen des Prüf- und Belegungsstromkreises in der bereits beschriebenen Weise durch Schliessung seines Kontaktes xl reagiert hat. Diese Massnahme dient dazu, dass der Vergleicher V mit seinem Schwellwertschalter X gegenüber Spannungsschwankungen der Stromversorgung und gegenüber Störspannungen möglichst unempfindlich ist. Ferner wird dadurch ein unerwünschter Schwingvorgang des Schwellwertschalters im Augenblick seines Ansprechens während des Prüfvorganges mit Sicherheit unterbunden. Dies gilt insbesondere bei Ausbildung des Schwellwertschalters X als elektronischer Schalter.The output signal switched on via the output v of the comparator V. of minus 11 volts is also divided via resistor R18 of winding II of the designed as a relay with threshold value switch. In this way, the threshold switch X is supplied with an additional holding voltage if, after the test and occupancy circuit in the manner already described by closing his Contact xl has responded. This measure is used to ensure that the comparator V with its threshold switch X against voltage fluctuations in the power supply and is as insensitive as possible to interference voltages. It also becomes a unwanted oscillation of the threshold switch at the moment of its response certainly prevented during the test process. This is especially true for Formation of the threshold switch X as an electronic switch.

In dem über den Prüfpunkt PP verlaufenden Prüf- und Belegungsstromkreis spricht das Prüfrelais P des Wählers an. Es schliesst seinen Kontakt lp und schliesst dadurch seine höherohmige Vli.cklung II kurz. Es bleibt über seine Wicklung I weiterhin erregt.In the test and occupancy circuit running over the test point PP the selector's test relay P responds. It closes its contact lp and closes thus its higher-ohmic winding II is short. It remains over its winding I. excited.

Uber seinen Kontakt lp und seine Wicklung I liegt nunmehr Erdpotential relativ niederohmig am Prüfpunkt PP der Schalteinrichtung U. Dadurch werden weitere Wähler gehindert, in Freiwahl auf die belegte und durch das Ansprechen des Prüfrelais P bereits gesperrt te Schalteinrichtung U aufzuprüfen. Die durch das Ansprechen des Prüfrelais P ferner bewirkte Stromerhöhung u.a. im Widerstand R7 hat an diesem eine Erhöhung des Spannungsabfalles zur Folge, die auf den Vergleicher V jedoch keinen Einfluss hat.Earth potential now lies across its contact lp and its winding I. Relatively low resistance at the test point PP of the switching device U. This means that more Hindered voters in free voting on the occupied and by responding to the test relay P check switching device U already blocked. By speaking to them of the test relay P also caused an increase in current, including in resistor R7 an increase in the voltage drop, which affects the comparator V, however has no influence.

Etwa 40 Millisekunden, nachdem der Vergleicher V über seinen Ausgang v und über den Stromkreis zl die eingangsseitige Belegung der Schalteinrichtung U an die gemeinsame Steuerung G signalisiert hat, schaltet diese das über den Stromkreis z2 bis dahin angeschaltete Minuspotential ab. Nunmehr vermag sich das Pluspotential von+5 Volt über den Widerstand R1 durchzusetzen. Dadurch wird der Transistor T3 stromundurchlässig. Infolgedessen werden auch die Transistoren Tl und T2 stromundurchlässig. Durch das Pluspotential von 5 Volt über den Widerstand R1 wird Jedoch der Transistor T4 stromdurchlässig. Er schaltet Erdpotential an den Verbindungspunkt zwischen den beiden Widerständen R4 und R5. Infolgedessen stellt sich am Verbindungspunkt der beiden Widerstände R5 und RIO negatives Teilpotential ein, durch welches der Transistor T5 stromdurchlässig geschaltet wird. Dadurch wird der aus den Widerständen fill und R12 gebildete Spannungsteiler eingeschaltet, an dessen Spannungsteilermittelpunkt ein negatives Teilpotential entsteht, durch welches der Transistor T6 stromdurchlässig geschaltet wird.About 40 milliseconds after the comparator V has its output v and the input-side assignment of the switching device via the circuit zl U has signaled to the common control G, this switches this over the circuit z2 up to then switched on negative potential. Now the plus potential can from + 5 Volts enforce through resistor R1. This makes the transistor T3 current-impermeable. As a result, the transistors T1 and T2 are also impermeable to current. By the Positive potential of 5 volts across the resistor R1, however, the transistor T4 is current-permeable. It switches earth potential to the connection point between the two resistors R4 and R5. As a result, it appears at the junction of the two resistors R5 and RIO a negative partial potential, through which the transistor T5 is current-permeable is switched. This creates the voltage divider formed from the resistors fill and R12 switched on, at its voltage divider center point a negative partial potential arises, through which the transistor T6 is switched to be current-permeable.

Der zunächst über die Transistoren T1 und T2 verlaufende Belegungsstromkreis verläuft nunmehr nicht mehr über diese, sondern über die Widerstände R13 und R14. Durch die Kondensatoren C1 und C2 ist dafür gesorgt, dass bei den zuletzt beschriebenen Vorgängen die Transistoren T1 und T2 mit einer gewissen Verzögerung nach dem Transistor T3 stromundurchlässig werden, so dass der über den Widerstand R9 verlaufende beschriebene Belegungsstromkreis erst unterbrochen wird, wenn der Belegungs-Haltestromkreis über die Widerstände R13 und R14 mittels des Transistors T6 durchgeschaltet worden ist. Dadurch wird sichergestellt, dass in dem über den Prüfpunkt P verlaufenden Prüf- und Belegungsstromkreis keine Unterbrechung eintritt.The occupancy circuit initially running through transistors T1 and T2 now no longer runs through this, but through the resistors R13 and R14. The capacitors C1 and C2 ensure that the last described Transistors T1 and T2 processes with a certain delay after the transistor T3 are impermeable to current, so that the described running across the resistor R9 Occupancy circuit is only interrupted when the occupancy holding circuit is over the resistors R13 and R14 has been switched through by means of the transistor T6. This ensures that in the test point running over test point P and occupancy circuit no interruption occurs.

Durch diese Umschaltung des über den Prüfpunkt PP verlaufenden Prüf- und Belegungsstromkreises von seinem über die Transistoren Tl und T2 verlaufenden Abschnitt auf den über den Transistor T6 verlaufenden Abschnitt wird der Gesamtwiderstand zwischen dem Prüfpunkt PP und der Minusspannung erhöht. Durch diesen auch als 1,Hochohmigschalten11 des Belegungsstromkreises bezeichneten Schaltvorgang wird die Sperrsicherheit der Schalteinrichtung U erhöht, d.h. die Sicherheit dafür, dass kein anderer Wähler mehr auf den belegten und gesperrten Belegungsstromkreis der Schalteinrichtung U aufprüfen kann.Through this switchover of the test run via the test point PP and occupancy circuit of his running through the transistors T1 and T2 Section on the section running over the transistor T6 becomes the total resistance between the test point PP and the negative voltage increased. Through this also as 1, high resistance switching11 of the occupancy circuit designated switching process is the locking security of Switching device U increases, i.e. the security that no other voter more about the occupied and blocked occupancy circuit of the switching device U can check.

Durch die beschriebene Umschaltung des Belegungsstromkreises von seinem Verlauf über den Widerstand R9 auf den Verlauf über die Widerstände R13 und R14 wird ferner der dem Vergleicher V zugeführte Spannungsabfall noch erhöht. Dadurch wird der Prüf- und Belegungsstromkreis während der Dauer der ihm entsprechenden durchgeschalteten Verbindung gegenüber Störungen durch induzierte oder kapazitiv übertragene Fremdspannungen gesichert. Ferner wird die Sperrsicherheit gegen Doppelprüfen'erhöht und der Stromverbrauch vermindert.By switching the occupancy circuit from his Course via resistor R9 to the course via resistors R13 and R14 the voltage drop supplied to the comparator V is further increased. Through this is the test and occupancy circuit for the duration of the corresponding through-connected connection against interference by induced or capacitive transferred external voltages secured. Furthermore, the blocking security against double checking is increased and the power consumption is reduced.

Wird der Prüf- und Belegungsstromkreis vom vorgeordneten Wähler her aufgetrennt, also die ihm entsprechende Verbindung ausgelöst, so werden u.a. die Widerstände R7 und R13 stromlos. Der an ihnen bis dahin vorhandene Spannungsabfall entfällt. Der Vergleicher V schaltet das bis dahin über seinen Ausgang v abgegebene Signal von minus 11 Volt wieder ab und legt stattdessen das bereits erwähnte Potential von plus 1 Volt an. Dadurch wird über den Stromkreis zl zur gemeinsamen Steuerung G signalisiert, dass die Schalteinrichtung U vom vorgeordneten Wähler her ausgelöst worden ist. Die gemeinsame Steuerung G veranlasst nun auf im einzelnen nicht beschriebene Weise die Auslösung aller übrigen Teile der Schalteinrichtung U. Die gemeinsame Steuerung schaltet vorläufig nicht das Minuspotential über den Stromkreis z2 ein. Die Reaktionszeit des Vergleichers V bei der Verbindungsauslösung ist künstlich mittels des aus dem Widerstand R21 und dem Kondensator C3 bestehenden R-C-Gliedes geringfügig verlängert, um den Vergleicher V und seinen Schwellwertschalter X gegenüber Störspannungen unempfindlich zu machen, die in den Prüf- und Belegungsstromkreis in an sich bekannter Weise induziert werden können. Mittels dieses R-C-Gliedes erhält der Vergleicher V hinsichtlich des Auslösevorganges eine eindeutig definierte Reaktionszeit.If the test and occupancy circuit is made by the upstream selector is disconnected, i.e. the connection corresponding to it is released, the Resistors R7 and R13 de-energized. The voltage drop that has existed on them until then not applicable. The comparator V switches the output v up to that point Signal of minus 11 volts again and instead applies the aforementioned potential from plus 1 volt. This is via the circuit zl for common control G signals that the switching device U has been triggered by the upstream voter has been. The common control G now causes not described in detail Way, the triggering of all other parts of the switching device U. The common For the time being, the control does not switch on the negative potential via the circuit z2. The reaction time of the comparator V when the connection is released is artificial by means of the R-C element consisting of the resistor R21 and the capacitor C3 slightly extended compared to the comparator V and its threshold switch X. To make interference voltages insensitive to the test and occupancy circuit can be induced in a manner known per se. By means of this R-C link is obtained the comparator V has a clearly defined reaction time with regard to the triggering process.

Durch den Wechsel des Ausgangssignales seitens des Vergleichers V von minus II Volt auf plus 1 Volt wird der Transistor T5 wieder gesperrt und demzufolge auch der Transistor T6. Versucht nun ein Wähler, auf die noch im Schaltzustand der nicht vollständig abgewickelten Auslösung befindliche Schalteinrichtung U aufzuprüfen, so findet er das den Freizustand kennzeichnende Potential von minus 60 Volt weder über die Transistoren Tl und T2 noch über den Transistor T6 vor. Die Schalteinrichtung U ist also vorläufig gegen Neubelegung gesperrt.By changing the output signal on the part of the comparator V from minus II volts to plus 1 volt, the transistor T5 is blocked again and consequently also the transistor T6. Now tries a voter who is still in the switching state of the check the switching device U that has not been completely released, so he finds the potential that characterizes the free state from minus 60 volts neither through the transistors T1 and T2 nor through the transistor T6. the Switching device U is temporarily blocked against re-assignment.

Wie beschrieben, schaltet der Vergleicher V bei der Auslösung, also bei Auftrennung des Prüf- und Belegungsstromkreises an seinen Ausgang v wieder Pluspotential von ca. 1 Volt anstelle des Minuspotentials von 11 Volt an. Der Vergleicher V reagiert jedoch auf das Verschwinden des Spannungsabfalles an den Widerständen R7 und R13 mit einer gewissen Verzögerung. Dadurch wird sichergestellt, dass eine fälschliche Auslösung nicht etwa durch Störimpulse herbeigeführt werden kann, die auf induktivem oder kapazitivem Wege auf den im Sperrzustand befindlichen Prüf- und Belegungsstromkreis einer durchgeschalteten Verbindung übertragen werden können.As described, the comparator V switches when triggered, that is when the test and occupancy circuit is disconnected, positive potential again at its output v of approx. 1 volt instead of the negative potential of 11 volts. The comparator V reacts however, on the disappearance of the voltage drop across resistors R7 and R13 with a certain delay. This will ensure that an incorrect Triggering cannot be brought about by glitches that are based on inductive or capacitive path to the test and occupancy circuit that is in the blocked state a switched connection can be transmitted.

Im Hinblick auf das Problem des Aufprüfens auf auslösende Verbindungen kann der Fall eintreten, dass ein prüfender Wähler sein Prüfrelais über seinen Prüfschaltarm mit dem Prüfpunkt einer seitens eines anderen Wählers belegten und gesperrten Schalteinrichtung verbindet, und dass unmittelbar anschliessend der bis dahin mit dieser Schalteinrichtung verbundene und diese sperrende Wähler ausgelöst wird und den bis dahin bestehenden und im Sperrzustand befindlichen Prüf- und Belegungsstromkreis auftrennt. in einem solchen Falle besteht in herkömmlichen Vermittlungsanlagen die Möglichkeit, dass das Prüfrelais des genannten prüfenden Wählers anspricht und dass dadurch eine Falschverbindung zustandekommt. Um diese Möglichkeit zu unterbinden, sind entsprechende Vorkehrungen getroffen. Hierfür bestehen vier verschiedene Möglichkeiten, die nachfolgend im einzelnen beschrieben werden.With regard to the problem of checking for triggering compounds it can happen that a testing voter uses his test switch arm to switch his test relay with the test point of a switching device occupied and blocked by another voter connects, and that immediately afterwards the up to then with this switching device connected and this blocking voter is triggered and the existing up to then and disconnects the test and occupancy circuit that is in the blocked state. in one In such cases there is the possibility in conventional switching systems that the test relay of the named testing voter responds and that this results in a wrong connection comes about. Appropriate precautions must be taken to prevent this possibility met. There are four different options for this, which are described below in the described individually.

Zur Verhinderung des erwähnten Aufprüfens auf den Belegungsstromkreis einer gerade im Auslösestadium befindlichen Einrichtung U (1?Aufprüfen auf auslösende Verbindungen") ist als eine der drei genannten Möglichkeiten das aus dem Widerstand R23 und dem Kondensator C4 bestehende bereits oben erwähnte Differenzierglied vorgesehen. Bei einem solchen unerwünschten Prüfvorgang ist beachtlich, dass der zunächst bestehende und im Sperrzustand befindliche Prüf- und Belegungsstromkreis lediglich die Wicklung I des Prüfrelais des betreffenden sperrenden Wählers W enthält, dass jedoch dieser bei Auftrennung des im Sperrzustand befindlichen Prüf- und Belegungsstromkreises weiter bestehende Prüf-und Belegungsstromkreis des prüfenden Wählers ausser der niederohmigen Wicklung I auch die höherohmige Wicklung II des Prüfrelais P enthält. In diesem besonderen Betriebs fall ist also die Auslösung der ersten Verbindung nicht an einer Auftrennung des Prüf- und Belegungsstromkreises, also nicht an einem völligen Fortfall des Spannungsabfalles an den Widerständen R7 und R13 zu erkennen, sondern an einer Stromabsenkung, also an einer Absenkung des Spannungsabfalles an den genannten beiden Widerständen. Der in diesem besonderen Betriebsfall nach der Stromabsenkung am Vergleicher eingangsseitig wirksame Spannungsabfall tritt an den Widerständen R7 und R13 auf, ist also sogar grösser als der beim normalen Prüf-und Belegungsvorgang vor Ansprechen des betreffenden Prüfrelais am Vergleicher wirksame Spannungsabfall, weil dieser nur am Widerstand R7 entsteht. Um nun diesen besonderen Betriebsfall (Aufprüfen auf auslösende Xrerbindung) von einem normalen Prüf- und Belegungsvorgang mit einer im Freizustand befindlichen Schalteinrichtung U unterscheiden zu können, ist als erste der vier Möglichkeiten das genannte, aus dem Widerstand R23 und dem Kondensator C4 bestehende Differenzierglied vorgesehen. Bei der erwähnten Stromabsenkung in dem über die Wi.derstände R6, R7, R13 und R14 verlaufenden Haltestromkreis verringert sich der Spannungsabfall an den Widerständen R7 und R13; es verringert sich also die Eingangsspannung des Vergleichers V. Da der Kondensator C4 hierbei um einen der Verringerung der Eingangsspannung des Vergleichers V entsprechenden Teilbetrag zunächst einmal zu entladen ist, die Spannung am Widerstand R23 demgemäss also erst allmählich absinkt, muss die Spannung am Widerstand R24 im Zeitpunkt der Stromabsenkung im Belegungsstromkreis zunächst auf einen Wert absinken, der sich als Differenz aus dem Spannungsabfall an den Widerständen R7 und R13 nach der Stromabsenkung und der Kondensatorspannung am Kondensator C4 vor der Stromabsenkung ergibt. Mittels des aus dem Widerstand R23 und dem Kondensator C4 bestehenden Differenziergliedes ist der Vergleicher V in der Lage, eine Stromabsenkung im Belegungsstromkreis im Falle des Aufprüfens eines Wählers auf den Belegungsstromkreis einer im Auslösestadium befindlichen Verbindung zu erkennen und dadurch ein solches unerwünschtes Aufprüfen zu unterbinden. Bei einer solchen Stromabsenkung reagiert der Schwellwertschalter X in der Weise, dass er seinen Kontakt xl öffnet. Dadurch wird der über die Widerstände R6, R7, R13 und R14 und über den Transistor T6 verlaufende Stromkreis in der bereits beschriebenen Weise aufgetrennt. Der Schwellwert des Schwellwertschalters X ist so eingestellt, dass er seinen Kontakt öffnet, wenn die Spannung am Widerstand R24 einen Wert annimmt, der sich als Differenz aus dem Spannungsabfall an den Widerständen R7 und R13 nach der Stromabsenkung einerseits und der Kondensatorspannung am Kondensator C4 vor der Stromabsenkung andererseits ergibt.To prevent the mentioned checking of the occupancy circuit a device currently in the tripping stage U (1? Check for tripping Connections ") is one of the three possibilities mentioned above from resistance R23 and the capacitor C4 existing above-mentioned differentiating element are provided. In the case of such an undesired test process, it is noteworthy that the initially existing and locked Test and occupancy circuit contains only the winding I of the test relay of the relevant blocking selector W, However, this happens when the test and occupancy circuit that is in the blocked state is disconnected further existing test and occupancy circuit of the examining voter besides the The low-resistance winding I also contains the higher-resistance winding II of the test relay P. In this particular operating case, the first connection is released not on a separation of the test and occupancy circuit, so not on one to recognize the complete absence of the voltage drop at the resistors R7 and R13, but rather a decrease in current, i.e. a decrease in the voltage drop the mentioned two resistances. In this particular operating case, according to the Current reduction at the comparator on the input side effective voltage drop occurs Resistors R7 and R13 are even greater than that of the normal test and Allocation process effective before the relevant test relay on the comparator responds Voltage drop because it only occurs at resistor R7. To now this special Operational case (checking for triggering connection) from a normal test and Distinguish the occupancy process with a switching device U in the free state To be able to do so, the first of the four possibilities is the one mentioned, from resistance R23 and the capacitor C4 existing differentiating element is provided. With the one mentioned Current reduction in the holding circuit running through resistors R6, R7, R13 and R14 the voltage drop across resistors R7 and R13 decreases; it diminishes So the input voltage of the comparator V. Since the capacitor C4 here by one corresponding to the reduction in the input voltage of the comparator V. Partial amount is first to be discharged, the voltage across resistor R23 accordingly so only gradually decreases, the voltage across resistor R24 must be at the time of The current reduction in the occupancy circuit will initially drop to a value that is as the difference between the voltage drop across resistors R7 and R13 after the current reduction and the capacitor voltage on capacitor C4 before the current drop results. By means of the differentiating element consisting of the resistor R23 and the capacitor C4 the comparator V is able to reduce the current in the occupancy circuit in the Case of checking a voter on the occupancy circuit of one in the tripping stage to recognize the connection and thereby such an undesired checking to prevent. The threshold switch reacts to such a reduction in current X in such a way that he opens his contact xl. This gets the one over the resistors R6, R7, R13 and R14 and through the transistor T6 running circuit in the already as described. The threshold value of the threshold switch X is set so that it opens its contact when the voltage across resistor R24 assumes a value that is the difference between the voltage drop across the resistors R7 and R13 after the current reduction on the one hand and the capacitor voltage on the capacitor On the other hand, C4 results before the current reduction.

Als zweite der genannten vier Möglichkeiten ist vorgesehen, den Kollektor des Transistors T5 über einen Widerstand R19 mit dem oberen Anschluss des Widerstandes R18 zu verbinden. Dadurch wird die über den Widerstand R18 der Wicklung II des Schwellwertschalters X zugeführte zusätzliche Halte spannung teilweise wieder unterdrückt, wenn der im Zuge des weiter oben ausführlich erläuterten Hochohmigschaltens reagierende Transistor T5 stromdurchlässig wird.The second of the four possibilities mentioned is the collector of the transistor T5 via a resistor R19 to the upper connection of the resistor R18 to connect. As a result, the resistor R18 of winding II of the threshold switch X supplied additional holding voltage is partially suppressed again when the im In the course of the high-resistance switching explained in detail above, the transistor reacts T5 becomes current-permeable.

Dabei gelangt Erdpotential an seinen Kollektor. Dieses Erdpotential greift über den Widerstand R19 auf den Widerstand R18 durch.In doing so, earth potential reaches its collector. This earth potential reaches through to resistor R18 via resistor R19.

Dadurch wird der Strom in der Wicklung II des Schwellwertschalters X herabgesetzt. Der über-den Widerstand R19 mittels des Transistors T5 eingeschaltete Stromkreis dient dazu, nach dem Hochohmigschaltee die dem Schwellwertschalter X über seine beiden Wicklungen zugeführte Gesamterregung künstlich herabzusetzen. Dadurch wird es dem Schwellwertschalter X ermöglicht, im Falle des Aufprüfens auf den Belegungsstromkreis einer im Auslösestadium befindlichen Einrichtung U eine Stromabsenkung in den Widerständen R7 und R13 zu erkennen. Auch in diesem Zusammenhang ist nämlich beachtlich, dass der zunächst bestehende und im Sperrzustand befindliche Prüf- und Belegungsstromkreis lediglich die Wicklung I des Prüfrelais des betreffenden sperrenden Wählers W enthält, dass jedoch dieser bei Auftrennung des im Sperrzustand befindlichen Prüf- und Belegungsstromkreises weiter bestehende Prüf- und Belegungsstromkreis des prüfenden Wählers ausser der niederohmigen Wicklung I auch die höherohmige Wicklung II des Prüfrelais P enthält. In diesem besonderen Betriebsfall ist also die Auslösung der ersten Verbindung nicht an einer Auftrennung des Prüf- und Belegungsstromkreises, also nicht an einem völligen Fortfall des Spannungsabfalles an den Widerständen R7 und R13 zu erkennen, sondern an einer Stromabsenkung, also an einer Absenkung des Spannungsabfalles an den genannten beiden Widerständen. Der in diesem besonderen Betriebsfall nach der Stromabsenkung am Vergleicher eingangsseitig wirksame Spannungsabfall tritt an den Widerständen R7 und R13 auf, ist also sogar grösser als der beim normalen Prüf- und Belegungsvorgang vor Ansprechen des betreffenden Prüfrelais am Vergleicher wirksame Spannungsabfall, weil dieser nur am Widerstand R7 entsteht.This causes the current in winding II of the threshold switch X reduced. The switched on via the resistor R19 by means of the transistor T5 Circuit is used to switch the threshold value switch X artificially reduce the total excitation supplied via its two windings. This enables the threshold switch X to be checked in the event of a check on the occupancy circuit of a device U which is in the triggering stage Detect current drop in resistors R7 and R13. Also in this context it is namely noteworthy that the initially existing and in the blocked state Test and occupancy circuit only the winding I of the test relay of the concerned Locking selector W contains, however, that this is when the lock is disconnected existing test and occupancy circuit further existing test and occupancy circuit of the checking selector, in addition to the low-resistance winding I, also the higher-resistance winding II of the test relay P contains. In this particular operating case, the trip is the first connection is not due to a disconnection of the test and occupancy circuit, so not a complete elimination of the voltage drop across the resistors R7 and R13 can be recognized, but rather by a decrease in current, i.e. a decrease the voltage drop across the two resistors mentioned. The one in this particular one Operating case after the current reduction at the comparator, effective voltage drop on the input side occurs at the resistors R7 and R13, so it is even larger than the normal one Test and assignment process before the relevant test relay on the comparator responds effective voltage drop because it only occurs at resistor R7.

Um nun diesen besonderen Betriebsfall (Aufprüfen auf auslösende Verbindung) von einem normalen Prüf- und Belegungsvorgang mit einer im Freizustand befindlichen Schalteinrichtung U tufterscheiden zu können, wird die Gesamterregung des Schwellwertschalters X im Vergleicher V künstlich dadurch herabgesetzt, dass in der bereits beschriebenen Weise das Erdpotential-über den Transistor T5, den Gleichrichter D7 und den Widerstand R19 auf den über den Widerstand R18 und die Wicklung II des Schwellwertschalters X zustandegekommenen Haltestromkreis durchgreift, wodurch die Stromhöhe in dieser Wicklung II herabgesetzt wird.In order to now deal with this special operating case (checking for the triggering connection) from a normal test and allocation process with a one in the free state Switching device U to be able to separate tufts, the total excitation of the threshold switch X in the comparator V artificially reduced by the fact that in the already described Way the earth potential via the transistor T5, the rectifier D7 and the resistor R19 to the resistor R18 and winding II of the threshold switch X reached through holding circuit, whereby the current level in this Winding II is reduced.

Die dritte Möglichkeit, nach dem Hochohmigschalten - also wenn dem Vergleicher V eingangsseitig nicht nur der Spannungsabfall am Widerstand R7 sondern der Spannungsabfall an den Widerständen R7 und R13 zugeführt wird - mit Sicherheit eine in den Widerständen R7 und R13 3 auftretende Stromabsenkung zu erkennen, die auf ein Aufprüfen eines Wählers W auf eine im Auslösestadium befindliche Einrichtung U zurUckzuführen ist, besteht darin, bei der Bemessung der Widerstandswerte der Widerstände R6, R7, R13 und R14 unter Berücksichtigung der Widerstandswerte der beiden Wicklungen des Prüfrelais P dafür zu sorgen, dass erstens der beim Prüfen des Wählers W am Widerstand R7 entstehende Spannungsabfall gross genug ist, um den Schwellwertschalter X des Vergleichers V zum Ansprechen zu bringen, dass zweitens der an den Widerständen R7 und R13 nach dem Hochohmigschalten entstehende Spannungsabfall gross genug ist, um den Schwellwertschalter X des Vergleichers V zu "halten", d.h. ihn zu hindern, in seine Ruhelage zurückzukehren und seinen Kontakt xl wieder zu öffnen, und dass drittens der an den Widerständen R7 und R13 im unerwünschten und zu verhindernden Falle des Aufprüfens auf den Belegungsstromkreis einem Auslösestadium befindlichen Einrichtung U entstehende Spannungsabfall, der wegen der Einbeziehung der Wicklung II des Prüfrelais P des betreffenden Wählers W kleiner ist als im Schätzustand nach dem Hochohmigschalten des Haltezweiges des Belegungsstromkreises, kleiner ist als der für die Rückstellung (Auslösung, wobei der Kontakt xl geöffnet wird) des Schwellwertschalters X des Vergleichers V massgebliche Schwellwert.The third option, after switching to high resistance - that is, if that Comparator V on the input side not only shows the voltage drop across resistor R7 but also the voltage drop across resistors R7 and R13 is fed - for sure to detect a current drop occurring in resistors R7 and R13 3, the upon checking of a voter W for a device under tripping U is to be returned, consists in dimensioning the resistance values of resistors R6, R7, R13 and R14 taking into account the resistance values of the two windings of the test relay P to ensure that, firstly, when testing of the selector W across the resistor R7 voltage drop is large enough to the Threshold switch X of the comparator V to respond to that second the voltage drop occurring at resistors R7 and R13 after switching to high resistance is large enough to "hold" the threshold switch X of the comparator V, i.e. to prevent him from returning to his rest position and to re-establish his contact xl open, and that thirdly the one at the resistors R7 and R13 in the unwanted and to prevent the case of checking on the occupancy circuit a tripping stage located device U resulting voltage drop due to the inclusion the winding II of the test relay P of the relevant selector W is smaller than in the estimated state after switching the holding branch of the occupancy circuit to high resistance, is smaller than that for resetting (tripping, whereby contact xl is opened) of the Threshold switch X of the comparator V is the relevant threshold value.

Die vierte Möglichkeit, nach dem Hochohmigschalten - also wenn dem Vergleicher V eingangsseitig nicht nur der Spannungsabfall am Widerstand R7 sondern der Spannungsabfall an den Widerständen R7 und R13 zugeführt wird - mit Sicherheit eine in den Widerständen R7 und R13 auftretende Stromabsenkung zu erkennen, die auf ein Aufprüfen eines Wählers W auf eine im Auslösestadium befindliche Einrichtung U zurückzuführen ist, besteht darin, den Schwellwert des Schwellwertschalters X im Vergleicher V so zu bemessen, dass der Schwellwertschalter nicht bereits beim Zustandekommen des Prüf- und Belegungsstromkreises über den Schaltarm c des Wählers l, anspricht, sondern erst nach Ansprechen des Prüfrelais P. Bei dieser Möglichkeit spricht also nach Zustandekommen des Prüf- und Belegungsstromlrreises mittels des Schaltarmes c des Wählers W zunächst das Prüfrelais P an. Es schliesst seinen Kontakt ip und schliesst dadurch seine höherohmige Wicklung II kurz. Infolge Kurzschliessung der Wicklung II des Relais P steigt der Strom im Prüf- und Belegungsstromkreis an. Der Schwellwertschalter X des Vergleichers V ist im Falle dieser Möglichkeit so zu bemessen, dass er erst anspricht.. nachdem der Strom im Prüf- und Belegungsstromkreis durch Schliessung des Kontaktes 1p heraufgesetzt ist.The fourth option, after switching to high resistance - that is, if that Comparator V on the input side not only shows the voltage drop across resistor R7 but also the voltage drop across resistors R7 and R13 is fed - for sure to detect a current decrease occurring in the resistors R7 and R13, the upon checking of a voter W for a device under tripping U is to be traced back to the threshold value of the threshold switch X to be dimensioned in the comparator V in such a way that the threshold value switch is not already activated when Establishment of the test and occupancy circuit via the switch arm c of the selector l, responds, but only after the test relay P has responded opportunity thus speaks after the test and occupancy current flow has come about by means of the Switching arm c of the selector W first the test relay P on. It closes its contact ip and thereby short-circuits its higher-resistance winding II. As a result of short circuit winding II of relay P increases the current in the test and occupancy circuit. The threshold switch X of the comparator V is like this in the case of this possibility to be dimensioned so that it only responds .. after the current in the test and occupancy circuit is increased by closing the contact 1p.

Beim Hochohmigschalten sinkt der Strom im Prüf- und Belegungsstromkreis wieder ab. Da jedoch am Eingang des Vergleichers V infolge des Hochohmigschaltens nicht nur der Spannungsabfall am Widerstand R7, sondern der Spannungsabfall der beiden Widerstände R7 und R13 auftritt, verringert sich beim Hochohmigschalten nicht die Eingangsspannung am Eingang des Vergleichers V. Tritt Jedoch eine Stromabsenkung in dem über die Widerstände R6, R7, R13 und R14 verlaufenden Haltezweig des Prüf- und Belegungsstromkreises auf, so erkennt der Schwellwertschalter X hieran den unerwünschten Fall des Aufprüfens eines Wählers W auf die bereits im Auslösestadium befindliche Einrichtung U. Der Schwellwertschalter öffnet seinen Kontakt x und trennt mittels des Transistors T6 den über die Widerstände R6, R7, R13 und R14 verlaufenden Haltezweig des Prüf- und Belegungsstromes auf. Dadurch wird der unerwünschte Aufprüfvorgang abgebrochen.When switching to high resistance, the current in the test and occupancy circuit drops off again. Since, however, at the input of the comparator V as a result of the high resistance switching not only the voltage drop across the resistor R7, but the voltage drop of the occurs in both resistors R7 and R13, is not reduced when switching to high resistance the input voltage at the input of the comparator V. However, a current drop occurs in the holding branch of the test unit running across resistors R6, R7, R13 and R14 and occupancy circuit, the threshold value switch X recognizes the undesired Case of checking a voter W on the one already in the triggering stage Device U. The threshold switch opens its contact x and disconnects by means of of the transistor T6 the holding branch running through the resistors R6, R7, R13 and R14 of the test and occupancy stream. This eliminates the unwanted verification process canceled.

Von den vier zuvor im einzelnen beschriebenen Möglichkeiten zur Verhinderung des Aufprüfens auf auslösende Verbindungen kann sowohl einzeln als auch in Jeder beliebigen Kombination Gebrauch gemacht werden.Of the four options for prevention described in detail above of checking for triggering compounds can be done individually as well as in each any combination can be used.

Wie beschrieben, verläuft der Belegungsstromkreis der Schalteinrichtung U vom Prüfpunkt PP über die Widerstände R6, R7, R8 und R9 und über die Transistoren T1 und T2. Beim Hochohmigschalten wird derjenige Teil des Belegungsstromkreises, der die Widerstände R8 und R9 und die Transistoren T1 und T2 umfasst, ausgeschaltet und statt dessen ein über die Widerstände R13 und R14 und über den Transistor T6 verlaufende Haltestromkreis eingeschaltet. - Besondere Beachtung kommt dem die Widerstände R8 und R9 und die Transistoren Ti und T2 enthaltenden Teil des Belegungsstromkreises zu. Dieser Teil des Belegungsstromkreises wirkt in Verbindung mit dem Anschluss an die Spannungsquelle von minus 60 Volt als Konstantstromquelle. Der Transistor T1 hat hierzu eine stromregelnde Wirkung. Das dem über den Widerstand R9 angeschalteten Batteriepotential vön minus 60 Volt gegenüber positive Potential, das der Basis des Transistors T1 über den Transistor T3 und den Widerstand R2 zugeführt wird, ist durch die Zenerdiode Di so begrenzt, dass der Absolutwert des Basispotentials des Transistors T1 nicht über einen durch die Zenerdiode D1 vorgegebenen Wert hinaus ansteigen kann. Der im Belegungsstromkreis fliessende Strom ruft am Widerstand R9 einen Spannungsabfall hervor. Die Zenerspannung der Diode D1 abzüglich dieses Spannungsabfalles wirkt steuernd am Transistor Ti und bestimmt seinen Basisstrom. Da also das Basispotential am voraussetzungsgemäss stromdurchlässigen Transistor T1 positiv gegenüber seinem Emitterpotential sein und bleiben muss, kann der durch den Strom im Belegungsstromkreis erzeugte Spannungsabfall im Widerstand R9 nur so gross werden, dass dieser Spannungsabfall höchstens einen der um die für den Transistor Ti notwendige Steuerspannung verminderten Zenerspannung entsprechenden Spannungsgrenzwert erreichen kann. Da also der Spannungsabfall am Widerstand R9 begrenzt ist, ist folglich auch dem Strom im Belegungsstromkreis selbst eine nicht zu überschreitende Grenze gesetzt.As described, the occupancy circuit of the switching device runs U from test point PP via resistors R6, R7, R8 and R9 and via the transistors T1 and T2. When switching to high resistance, that part of the occupancy circuit is comprising the resistors R8 and R9 and the transistors T1 and T2, turned off and instead one about the resistors R13 and R14 and above the transistor T6 running holding circuit switched on. - Special attention comes the one containing the resistors R8 and R9 and the transistors Ti and T2 Part of the occupancy circuit too. This part of the occupancy circuit acts in Connection to the connection to the voltage source of minus 60 volts as a constant current source. The transistor T1 has a current-regulating effect for this purpose. The one about the resistance R9 connected battery potential of minus 60 volts compared to positive potential, fed to the base of transistor T1 through transistor T3 and resistor R2 is limited by the Zener diode Di so that the absolute value of the base potential of the transistor T1 does not go beyond a value predetermined by the Zener diode D1 can increase. The current flowing in the occupancy circuit calls the resistor R9 a voltage drop emerges. The Zener voltage of the diode D1 minus this voltage drop has a controlling effect on the transistor Ti and determines its base current. So there the base potential on the current-permeable transistor T1 as required, positive compared to his The emitter potential can be and must remain due to the current in the occupancy circuit The voltage drop generated in the resistor R9 will only be so large that this voltage drop at most one reduced by the control voltage required for the transistor Ti Zener voltage can reach the corresponding voltage limit. So there the voltage drop is limited at resistor R9, is consequently also the current in the occupancy circuit even set a limit that should not be exceeded.

Folglich wirkt der Transistor T1 stromregelnd. Er bildet praktisch einen zwischen Null Ohm und unendlich grossem-Widerstand regelbaren Widerstand nach.As a result, the transistor T1 acts to regulate the current. He educates practically a resistor adjustable between zero ohms and infinitely large resistance.

Dem Transistor T1 parallel liegt der Widerstand R8 über den in diesem Betriebszustand niederohmig stromdurchlässigen Transistor T2. Der Regelbereich der durch die Transistoren T1 und T2 und die Widerstände R8 und R9 sowie die Diode D7 gebildeten Konstantstromquelle ist durch den Widerstandswert des Widerstandes R8 bestimmt. Diese Konstantstromquelle vermag also mittels des durch den Transistor Tl jeweils nachgebildeten Widerstandes den Strom im Prüf- und Belegungsstromkreis in den Grenzen zu regeln, die durch Kurzschliessung des Widerstandes R8 einerseits und durch seine volle Wirksamkeit andererseits bestimmt sind. Der Widerstand R8 dient im wesentlichen dazu, die durch die Stromregelung bedingte Vernichtung der zwischen den Widerständen R7 und R9 umzusetzenden Verlustleistung vom Transistor T1 so weit wie möglich abzuziehen, also teilweise ausserhalb dieses Transistors umzusetzen und abzuführen. Dadurch kann die im Transistor T1 maximal auftretende Verlustleistung in einem praktischen Anwendungsfall im Verhältnis von ungefähr 2 zu 1 herabgesetzt werden (also im Vergleich dazu, dass der Widerstand R8 und der Transistor T2 nicht vorgesehen wären).The resistor R8 is parallel to the transistor T1 via the resistor R8 in it Operating state low-resistance, current-permeable transistor T2. The control range of the through the transistors T1 and T2 and the resistors R8 and R9 and the diode D7 constant current source is formed by the resistance value of resistor R8 certainly. This constant current source is thus able to use the transistor Tl each simulated resistance the current in the test and occupancy circuit to regulate within the limits, by short-circuiting the resistor R8 on the one hand and by its full effectiveness on the other. Of the Resistor R8 essentially serves to destroy the current regulation the power dissipation from the transistor to be converted between the resistors R7 and R9 Subtract T1 as far as possible, i.e. partially outside of this transistor to implement and discharge. This allows the maximum occurring in transistor T1 Power loss in a practical application in the ratio of approximately 2 can be reduced to 1 (compared to the fact that the resistor R8 and the Transistor T2 would not be provided).

Es ist jedoch auch möglich, den Transistor T2 und den Widerstand R8 wegzulassen. Dadurch vergrössert sich der Regelbereich des Transistors T1. Jedoch erhöht sich dadurch zugleich auch die im Transistor T1 umzusetzende Verlustleistung.However, it is also possible to use the transistor T2 and the resistor R8 omit. This increases the control range of the transistor T1. However this also increases the power dissipation to be converted in transistor T1 at the same time.

Anschliessend sei die stromregelnde Wirkung der beschriebenen Konstantstromquelle erläutert. Hierbei sind der Einzelprüffall und der Parallelprüffall miteinander zu vergleichen. Unter d.er Voraussetzung, dass es sich bei zwei parallel prüfenden Wählen um Wähler mit gleichen Prüfstromkreisen handelt, weist die Parallelschaltung der beiden Prufstromkreise im Parallelprüffall bekanntlich den halben Innenwiderstandswert auf gegenüber dem Innenwiderstand nur eines einzigen dieser beiden PrAfstromkreise. Die Konstantstromquelle findet also jenseits des Prüfpunktes PP der Schalteinrichtung U im Parallelprüffall nur einen halb so grossen Widerstand vor, wie im Einzelprüffall. Sie sorgt aber dafür, dass in beiden Fällen nur der gleiche' Strom im Belegungsstromkreis der Schalteinrichtung U fliesst. Dadurch wird erreicht, dass in einem Prüfrelais eines Wählers im Parallelprüffall nur halb so viel Strom fliesst, wie im Einzelprüffall. Dadurch wird der Parallelprüffall gegenüber dem Einzelprüffall besser unterscheidbar für die Prüfrelais der betreffenden Wähler. Dadurch lässt sich also die Sicherheit gegen Doppelprüfen im Parallelprüffall erhöhen.Then consider the current-regulating effect of the constant current source described explained. Here, the individual test case and the parallel test case are mutually exclusive to compare. Under the condition that there are two parallel examiners Selecting is a selector with the same test circuits, the parallel connection of the two test circuits in the parallel test case is known to have half the internal resistance value to the internal resistance of only one of these two test circuits. The constant current source is located beyond the test point PP of the switching device U in the parallel test case only has half the resistance as in the individual test case. But it ensures that in both cases only the same 'current in the occupancy circuit the switching device U flows. This ensures that in a test relay of a voter in the parallel test case only half as much current flows as in the individual test case. This makes it easier to differentiate between the parallel test case and the individual test case for the test relays of the voters concerned. So this allows security increase against double testing in the case of parallel testing.

In diesem Zusammenhang ist ferner zu beachten, dass Prüf- und Belegungsstromkreise jeweils über eine der Adern einer Verbindungsleitung verlaufen, die verschieden lang sein kann und demgemäss unterschiedlich grossen zusätzlichen Leitungswiderstand in den Jeweiligen Belegungsstromkreis einer Schalteinrichtung U einbringen kann. Der Leitungswiderstand einer Verbindungsleitung ist zwischen dem Widerstand R6 der Schalteinrichtung U und ihrem Prüfpunkt PP eingefügt zu denken. Die Konstantstromquelle wirkt nun ausserdem dahingehend, den von Verbindungsleitung zu Verbindungsleitung variierenden Leitungswiderstand der betreffenden 9-legungsstromkreise auszugleichen. - Darüberhinaus bietet die Konstantstromquelle eine gute Sicherheit gegen Erdschluss am Prüfpunkt PP der Schalteinrichtung U. In einem derartigen Kurzschlussfall verhindert die Konstantstromquelle also eine Überlastung der den Kurzschlosstrom führenden Widerstände R6 und R7.In this context, it should also be noted that test and occupancy circuits each via one of the cores of a connecting cable get lost, which can be of different lengths and, accordingly, of different sizes Line resistance in the respective occupancy circuit of a switching device U can bring in. The line resistance of a connection line is between the resistor R6 of the switching device U and its test point PP inserted. The constant current source now also acts to the effect of the connection line to the connecting line varying line resistance of the relevant 9-laying circuits balance. - In addition, the constant current source offers good security against earth fault at test point PP of switching device U. In such a short circuit The constant current source prevents the short-circuit current from being overloaded leading resistors R6 and R7.

Die Kondensatoren Ci und C2 haben ausser der beschriebenen Aufgabe, beim Hochohmigschalten die Abschaltung des über den Widerstand R9 verlaufenden Zweig des Belegungsstromkreises zu verzögern, die weitere Aufgabe, beim Beginn eines Prüf- und Belegungsvorganges für einen verzögerten Stromanstieg im Prüf- und Eelegungsstromkreis zu sorgen. Denn bekanntlich setzen Prüfrelais in von ihnen erreichbaren Belegungsstromkreisen Belegungsrelais voraus, deren Wicklungen einen komplexen Widerstand aufweisen, der beim Beginn eines jeden Prüf- und Belegungsvorganges einen verzögerten Stromanstieg verursacht. Um eine möglichst kurze Ansprechzeit des jeweiligen Prüfrelais zu erreichen, tragen die Belegungsrelais in der Regel eine im Ruhezustand kurzgeschlossene Zweitwicklung, wodurch in einem geschlossenen Prüf- und Belegungsstromkreis der Stromanstieg sich steiler gestaltet, als wenn die kurzgeschlossene Zweitwicklung nicht vorgesehen wäre. Dadurch wird für die Prüfrelais eine relativ kurze Ansprechzeit erzielt. In Motorwählerschaltungen werden bekanntlich Prüfrelais verwendet, die im Vergleich zu anderen bekannten elektromechanischen Relais überaus schnell ansprechen. Diese Prüfrelais besitzen also eine besonders hohe Empfindlichkeit. Sie sind so aufgebaut, dass sie die Motorstillsetzung zu bewerkstelligen vermögen, obwohl ihr Ansprechstromkreis über eine Wicklung eines elektromagnetischen Belegungsrelais im Belegungsstromkreis einer nachfolgenden belegbaren Schalteinrichtung verläuft, und obwohl dieses Belegungsrelais trotz seiner kurzgeschlossenen Zweitwicklung aufgrund der verbleibenden Induktivität einen in gewissem Masse verzögerten Stromanstieg im Prüf- und Belegungsstromkreis zur Folge hat. Würden nun solche hochempfindlichen und schnell ansprechenden Prüfrelais von Motorwählern auf Belegungsstromkreise aufprüfen, die lediglich rein ohm'sche Widerstände enthalten, so würde dadurch die Ansprechgeschwindigkeit noch weiter gesteigert werden. Eine Folge davon wären Kontaktprellungen und eine erhöhte Abnutzung der betreffenden Kontakte, insbesondere derjenigen Kontakte, die unmittelbar zur Motorstillsetzung dienen und deshalb einer besonders hohen Strombelastung unterworfen sind. Dieser unerwünschte Effekt wird durch die vorliegende Schaltungsanordnung dadurch beseitigt, dass beim Beginn jedes Prüf- und Belegungsvorganges der Stromanstieg im Transistor Ti mittels des Kondensators C1 verzögert ist. Im Ruhezustand fliesst über den Transistor T3, den Widerstand R2, die Basis-Emitter-Strecke des Transistors T1 und den Widerstand R9 ein Ruhestrom, sofern die Schalteinrichtung U von der gemeinsamen Steuerung G her als belegbar gekennzeichnet ist. Der Widerstand R2 ist relativ hochohmig gegenüber dem Widerstand R9. Deshalb tritt an diesem Widerstand ein relativ geringer Spannungsabfall auf. Ebenfalls ist der an der Basis-Emitter-Strecke des Transistors T1 auftretende Spannungsabfall sehr klein. Der Kondensator C1 ist deshalb im Ruhezustand auf nur etwa 1 V aufgeladen. Wird nun ein Prüf- und Belegungsstromkreis geschlossen so kommt durch die beschriebene stromregelnde Wirkung des Transistors T1 im Prüf- und Belegungsstromkreis zunächst nur ein relativ geringer Strom zustande. Da nämlich - wie beschrieben - der im Belegungsstromkreis fliessende Strom am Widerstand R9 einen dementsprechenden Spannungsabfall hervorruft, und da dieser höchstens einen gegenüber der Kondensatorspannung um die für den Transistor T1 notwendige Steuerspannung geringeren Wert erreichen kann, bestimmt die Spannung am Kondensator Ci den Höchststrom im Belegungsstromkreis. - Der Kondensator C1 wird nun über den Widerstand R2 aufgeladen. Entsprechend diesem Aufladungsvorgang steigt das Steuerpotential am Transistor T1. Demgemäss steigt auch der Strom im Prüf- und Belegungsstromkreis mit an. Der Aufladungsvorgang des Kondensators C7 wird bei Erreichen der Zenerspannung der Diode D1 beendet. Der Kondensator behält danach diese Spannung bei. Der Strom im Belegungsstromkreis steigt von diesem Zeitpunkt an nicht mehr weiter an. Beim Hochohmigschalten, wenn also der Transistor T3 und der Widerstand R2 stromlos werden, wird der Kondensator C1 über den Widerstand R15 entladen.The capacitors Ci and C2 have, in addition to the described task, when switching to high resistance, the branch running across resistor R9 is switched off to delay the occupancy circuit, the further task at the beginning of a test and allocation process for a delayed increase in current in the test and Eelegungsstromkreis to care. It is well known that test relays are set in the occupancy circuits that can be reached by them Occupancy relays ahead, the windings of which have a complex resistance that a delayed increase in current at the beginning of each test and assignment process caused. In order to achieve the shortest possible response time of the respective test relay, The occupancy relays usually have a secondary winding that is short-circuited in the idle state, whereby the current increase in a closed test and occupancy circuit designed steeper than if the short-circuited secondary winding was not provided were. This results in a relatively short response time for the test relays. In Motor selector circuits are known to be used test relays in comparison respond extremely quickly to other known electromechanical relays. These Test relays therefore have a particularly high sensitivity. They are built so that they are able to bring about the motor shutdown, although their response circuit via a winding of an electromagnetic occupancy relay in the occupancy circuit a subsequent assignable switching device runs, and although this occupancy relay despite its short-circuited secondary winding due to the remaining Inductance a somewhat delayed increase in current in the test and occupancy circuit has the consequence. Such a highly sensitive and quickly responding test relay would now from motor selectors to check occupancy circuits that are purely ohmic Contain resistors, this would increase the response speed even further can be increased. One consequence of this would be contact bruises and increased wear the relevant contacts, in particular those contacts that are directly related to Serve motor shutdown and are therefore subject to a particularly high current load are. This undesirable effect is caused by the present circuit arrangement this eliminates the fact that the current increase at the beginning of every test and assignment process is delayed in the transistor Ti by means of the capacitor C1. Flows in the idle state via the transistor T3, the resistor R2, the base-emitter path of the transistor T1 and the resistor R9 a quiescent current, provided that the switching device U of the common Control G here is marked as assignable. The resistor R2 has a relatively high resistance compared to resistor R9. Therefore, there is a relatively small amount of resistance at this resistance Voltage drop. The one is also at the base-emitter path of the transistor T1 occurring voltage drop very small. The capacitor C1 is therefore in the quiescent state charged to only about 1V. A test and occupancy circuit is now closed the described current-regulating effect of the transistor T1 in the test and occupancy circuit initially only a relatively low current. Namely there - as described - the current flowing in the occupancy circuit at resistor R9 causes a corresponding voltage drop, and since this at most one compared to the capacitor voltage by the control voltage necessary for the transistor T1 can reach a lower value, the voltage across the capacitor Ci determines the maximum current in the occupancy circuit. - The capacitor C1 is now charged via the resistor R2. The control potential at transistor T1 rises in accordance with this charging process. The current in the test and occupancy circuit rises accordingly. The charging process of the capacitor C7 is terminated when the Zener voltage of the diode D1 is reached. Of the The capacitor then retains this voltage at. The current in the occupancy circuit no longer increases from this point on. When switching to high resistance, if so the transistor T3 and the resistor R2 are de-energized, becomes the capacitor Discharge C1 through resistor R15.

Ebenso wie dem Transistor T1 ein aus dem Widerstand R2 und dem Kondensator Ci bestehender R-C-Kreis zum verzögerten Stromanstieg in der Emitter-Koliektor-Strecke zugeordnet ist, ist auch dem Transistor T2 ein aus dem Widerstand R3 und dem Kondensator C2 bestehender R-C-Kreis zugeordnet. Beide R-C-Kreise sind ungefähr gleich dimensioniert. Da mit der Emitter-Kollektor-Strecke des Transistors T2 der Widerstand R8 in Reihe geschaltet ist, bestimmt den verzögerten Stromanstieg im Prüf- und Belegungsstromkreis im wesentlichen der Transistor T1.Just like the transistor T1 one from the resistor R2 and the capacitor Ci Existing R-C circuit for the delayed increase in current in the emitter-Koliektor route is assigned, the transistor T2 is one of the resistor R3 and the capacitor C2 existing R-C circuit assigned. Both R-C circles are roughly the same size. Since the resistor R8 is in series with the emitter-collector path of the transistor T2 is switched, determines the delayed increase in current in the test and occupancy circuit essentially the transistor T1.

Soll die Schalt einrichtung U im Ruhezustand gegen Neubelegung seitens eines vorgeordneten Wählers gesperrt werden, so entzieht die gemeinsame Steuerung G das bis dahin im Ruhezustand über den Stromkreis z2 angelegte Minuspotential. Dadurch wird der Transistor T3 stromundurchlässig. Ebenfalls werden die Basis-Emitter-Strecken der Transistoren T1 und T2 stromlos. Infolgedessen kann auch kein vorgeordneter Wähler auf die im Ruhezustand gesperrte Schalteinrichtung U aufprüfen. - Die Schalteinrichtung U empfängt also von der gemeinsamen Steuerung G über ein und denselben Stromkreis z2 sowohl das Schaltkennzeichen "Hochohmigschalten" als auch das Schaltkennzeichen "Sperrung im Ruhezustand". Diese beiden Schaltkennzeichen, die die gemeinsame Steuerung G in der gleichen Form an die Schalteinrichtung U abgibt, sind in dieser dadurch voneinander unterscheidbar, dass die gemeinsame Steuerung die über den stromkreis z2 angelegte Minus spannung zum Hochohmigschalten nach erfolgter Belegung, dagegen zum Sperren des Belegungsstromkreises im Ruhezustand anlegt. Beide Schaltkennzeichen werden aber über ein und denselben Stromkreis z2 an die Schalteinrichtung U übertragen.Should the switching device U in the idle state against re-assignment on the part of an upstream voter are blocked, the common control is withdrawn G the negative potential applied up to then in the idle state via the circuit z2. This makes the transistor T3 current-impermeable. The base-emitter lines are also used the transistors T1 and T2 are de-energized. As a result, there can be no upstream Check the selector on the switching device U, which is locked in the idle state. - The switching device U receives from the common control G via one and the same circuit z2 both the switching indicator "high-resistance switching" and the switching indicator "Lock in idle state". These two switching indicators that share the control G delivers in the same form to the switching device U, are thereby in this distinguishable from each other that the common control is via the circuit z2 applied minus voltage for high-resistance switching after occupancy, on the other hand to block the occupancy circuit in the idle state. Both switching indicators but are transmitted to the switching device U via one and the same circuit z2.

6 Patent ansprüche 1 Figur Leerseite6 claims 1 figure Blank page

Claims

Patent claims circuit arrangement for telecommunications systems, in particular Telephone switching systems in which switching elements can be assigned by the occupancy states the free state by a via resistors of an occupancy circuit of the respective relevant switching element applied to a test point free potential and the blocking state by its lack, e.g. suppression, is marked at the checkpoint and in which the occupancy status (free or blocked) of a switching element by means of relatively large Internal resistance having test switching means of a for the purpose of testing, upstream switching element, e.g. selector, by connecting the test switching means The test and occupancy circuit at the test point can be determined, and in which the blocking of a Belgian switching element due to an occupancy on the part of the upstream switching element by connecting one that differs from the free potential Blocking potential over provided in the upstream switching element and relatively small Internal resistance having test switching means in the test and occupancy circuit causes is, and in which precautions are taken by the after separation of a locked test and occupancy circuit in the course of connection triggering Checking for an occupancy circuit to be triggered is to be prevented, and in which one is in the occupancy circle.

provided current measuring device a lowering of the locked state recognizes flowing current as tripping and the occupancy circuit up to the complete Tripping of the relevant switching element disconnects, according to patent ............

(Az: P 25 12 551.3), d a d u r c h g e k e n n n n z e i c h -n e t, that the occupancy circuit has a response branch running through a first resistor and one across the first and a second resistor connected in series with it Has running holding branch and after the assignment of the response branch to the Holding branch is switched, and that the current measuring device from these resistors and from a voltage measurement connected in parallel to their series connection nrichbung exists.

2. Circuit arrangement according to claim 1, d a d u r c h g e -k e n n it is clear that the holding branch has one with the first and second resistance has a third resistor connected in series.

3. Circuit arrangement according to claim 2, d a d u r c h g e -k e n n z e i n e t that the three resistors are dimensioned in such a way that the voltage drop at the first and second resistor after switching the occupancy circuit the voltage drop across the first resistor before switching over the occupancy circuit is adjusted or approximated.

4. Circuit arrangement according to claim 1, d a d u r c h g e -k e n n notices that the occupancy circuit has been blocked before it is switched over takes place from the response branch to the holding branch.

5. Circuit arrangement according to claims 3 and 4, d a d u r c h it is not indicated that the three resistances are dimensioned in such a way that the Voltage drop across the first and second resistor after switching the occupancy circuit the voltage drop across the first resistor before the occupancy circuit is blocked is adjusted or approximated.

6. Circuit arrangement ne-h to claims 3 and 4, d a d u r c h it is not indicated that the three resistances are dimensioned in such a way that the Voltage drop across the first and second resistor after switching the occupancy circuit the voltage drop across the first resistor after the blocking and before the switchover of the occupancy circuit is matched or approximated.