DE3217721A1 - Verfahren zur einstellung der resonanzfrequenz eines kopplungsresonators - Google Patents
Verfahren zur einstellung der resonanzfrequenz eines kopplungsresonatorsInfo
- Publication number
- DE3217721A1 DE3217721A1 DE19823217721 DE3217721A DE3217721A1 DE 3217721 A1 DE3217721 A1 DE 3217721A1 DE 19823217721 DE19823217721 DE 19823217721 DE 3217721 A DE3217721 A DE 3217721A DE 3217721 A1 DE3217721 A1 DE 3217721A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- resonance frequency
- temperature
- resonator
- frequency
- temperature coefficient
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Ceased
Links
- 230000008878 coupling Effects 0.000 title claims abstract description 18
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 title claims abstract description 18
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 title claims abstract description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 24
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims description 30
- 239000010453 quartz Substances 0.000 description 35
- VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N silicon dioxide Inorganic materials O=[Si]=O VYPSYNLAJGMNEJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 35
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 14
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 7
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 5
- 238000005530 etching Methods 0.000 description 4
- 238000005452 bending Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 2
- 150000001875 compounds Chemical class 0.000 description 1
- 238000010276 construction Methods 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000008020 evaporation Effects 0.000 description 1
- 238000001704 evaporation Methods 0.000 description 1
- 239000003292 glue Substances 0.000 description 1
- 235000015250 liver sausages Nutrition 0.000 description 1
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 description 1
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03H—IMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
- H03H3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators
- H03H3/007—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks
- H03H3/02—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of piezoelectric or electrostrictive resonators or networks
- H03H3/04—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of piezoelectric or electrostrictive resonators or networks for obtaining desired frequency or temperature coefficient
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/42—Piezoelectric device making
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10T—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
- Y10T29/00—Metal working
- Y10T29/49—Method of mechanical manufacture
- Y10T29/49002—Electrical device making
- Y10T29/49004—Electrical device making including measuring or testing of device or component part
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
- Control Of Motors That Do Not Use Commutators (AREA)
Description
Dl P L.-PH Y S. F/ENfÜLlÖri" ^ „ρρμρρ,κ,« 11· Mai 19 82 E/m
PATENTANWALT ' "O*
GERMERlNQ
MDNCHEN W 3β 38
Meine Akte: D-4988
Anmelderin; Kabushiki Kaisha Daini Seikosha, Tokyo, Japan
Verfahren zur Einstellung der Resonanzfrequenz eines Kopplungsresonators
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Einstellung der Resonanzfrequenz
eines Kopplungsresonators/ insbesondere eines Schwingquarzes mit einem AT-Schnitt.
Derartige Schwingquarze, die mit einer Mehrzahl von Schwingungsformen gekoppelt werden können, sollen eine möglichst geringe
Temperaturabhängigkeit aufweisen. Eine Schwierigkeit bei einer
Miniaturisierung derartiger Schwingquarze besteht darin, daß durch eine Nebenkopplung eine verhältnismäßig große Anzahl von wilden
Schwingungen verursacht werden können.
Miniaturisierte Schwingquarze mit einem AT-Schnitt sind von besonderem Interesse für die Herstellung von Armbanduhren, während
mit Schwingquarzen in Form einer Stimmgabel im allgemeinen bessere Charakteristiken erzielt werden können.
Es ist bereits ein Verfahren zur Herstellung eines Resonators mit Hilfe eines fotolithografischen IC-Prozesses bekannt, mit dem es
möglich ist, extrem miniaturisierte Resonatoren herzustellen, beispielsweise für Schwingquarze mit einem GT-Schnitt, der eine sehr
gute Frequenz-Temperaturcharakteristik besitzt und sehr dünn ausgebildet werden kann. Mit derartigen Verfahren können Schwingquarze
für Biegeschwingungen hergestellt werden, welche eine Miniaturisierung ermöglichen, und wobei eine Torsionsschwingung mit einer
Biegeschwingung gekoppelt wird. Bei derartigen Biegetorsions-
Schwingungen durchführenden Schwingquarzen, die inufolgenden als
Schwingquarze mit einem FT-Schnitt bezeichnet werden, sowie bei Schwingquarzen mit einem GT-Schnitt finden zur Erzielung einer guten
Frequenz-Temperaturcharakteristik zwei Schwingingsformen Verwendung,
nämlich eine Kopplung einer Grundschwingung mit einer
Teilschwingung. Deshalb werden die Temperaturcharakteristiken durch die Frequenzdifferenz der Grundschwingung und der Teilschwingung
und durch die Intensität jeder Schwingung bestimmt. Da das Verhältnis der Intensität der betreffenden Grundschwingungen
und Teilschwingungen unterschiedlich ist, sind auch die Resonanzfrequenz-Differenzen
unterschiedlich, bei denen eine gute Frequenz-rTemperaturcharakteristik erzielbar ist, so daß eine
Einstellung der Resonanzfrequenz-Differenz für jeden Resonator erforderlich ist, welcheEinstellung eine verhältnismäßig großen
Zeitverbrauch und entsprechende Kosten verursacht, so daß derartige Verfahren für eine Massenproduktion nicht ohne weiteres
geeignet sind.
Es ist Aufgabe der Erfindung, Nachteile und Schwierigkeiten dieser
Art möglichst weitgehend zu vermeiden. Durch die Erfindung soll ein Verfahren zur Einstellung der Temperaturcharakteristik
und der Resonanzfrequenz geschaffen werden, bei dem zu einem Ausgangspunkt des Kopplungsresonators zurückgekehrt werden kann.
Insbesondere wird angestrebt, daß ein derartiger Kopplungsresonator eine sehr gute Frequenz-Temperaturcharakterisjtik aufweist.
Zur Durchführung eines Verfahrens gemäß der Erfindung kann eine Laser- oder Verdampfungseinrichtung Verwendung finden, um die
Resonanzfrequenzen und die Temperaturkoeffizienten einzustellen.
Sowohl bei der Verwendung eines Lasers als auch bei der Verwendung einer Aufdampfung wird in erster Linie ein Kopplungsresonator
derart ausgebildet, daß er eine optimale Temperaturcharakteristik und eine optimale Resonanzfrequenz aufweist, bevor die Resonanzfrequenz
eingestellt wird, indem die Resonanzfrequenzen f 1, f 2 der Grundschwingung bei ausgewählten Temperaturen t..,t2
gemessen werden. Entsprechend diesen Werten wird der Temperaturkoeffizient OV der ersten Ordnung berechnet, wonach durch Verwendung
des Lasers oder einer Aufdampfung der Temperaturkoeffizient Q^ der ersten Ordnung etwa auf 0 eingestellt wird. Ferner wird
dann die Resonanzfrequenz der Grundschwingung ebenfalls auf die
Ι Ί
Nennfrequenz fQ eingestellt, so daß als Folge davon möglich ist,
einen Schwingquarz mit einem GT-Schnitt herzustellen, der eine sehr gute Temperaturcharakteristik aufweist. Mit einem derartigen
Schwingquarz mit einem GT-Schnitt können deshalb Armbanduhren sehr hoher Ganggenauigkeit hergestellt werden. Da der Temperaturkoeffizient
der ersten Ordnung nach Messung der Temperaturcharakteristik jeden Resonators eingestellt wird, kann der Anteil an
Resonatoren mit nicht zufriedenstellender Temperaturcharakteristik erheblich verringert werden, wodurch auch eine entsprechende Verringerung
der Herstellungskosten möglich ist.
Anhand der Zeichnung soll die Erfindung beispielsweise näher, erläutert
werden. Es zeigen:
Fig. 1A und 1B eine Draufsicht bzw. eine Seitenansicht eines
Quarzresonators mit GT-Schnitt, der zur Erläuterung des Verfahrens gemäß der Erfindung dient;
Fig. 2A und 2B eine Draufsicht bzw. eine Seitenansicht eines
Quarzresonators mit GT-Schnitt, der auf einem Sockel angeordnet ist;
Fig. 3 die Freguenz-Temperaturcharakteristik eines Schwingquarzes mit GT-Schnitt, der nach dem fotolithografischen
Verfahren gemäß der Erfindung hergestellt ist;
Fig. 4 eine Ansicht eines derartigen Schwingquarzes mit einem
GT-Schnitt, an dem Massen angeordnet sind;
Fig. 5 eine grafische Darstellung der Abhängigkeit des Temperaturkoeffizienten
^ der ersten Ordnung in Abhängigkeit von der Entfernung von Massen in Fig. 4 mit Hilfe eines
Lasers;
Fig, 6 ein Ausführungsbeispiel eines weiteren Schwingquatzes
mit einem GT-Schnitt mit einer Anordnung von Massen an dessen vier Ecken;
Fig. 7 eine grafische Darstellung der Abhängigkeit des Temperaturkoeffizienten
ö< von der Menge beseitigter Massen bei dem Ausführungsbeispiel in Fig. 6;
Fig. 8 ein weiteres Ausführungsbeispiel eines detartigen Schwingquarzes
mit einem GT-Schnitt;
Fig. 9 eine grafische Darstellung der Abhängigkeit des Temperaturkoeffizienten
ö( von der Entfernung von Massen bei dem Ausführungsbeispiel in Fig. 8;
"" O ™"
Pig. 10 eine grafische Darstellung der .Abhängigkeit der Frequenzabweichung
der Grundschwingung von der Entfernung von Massen bei dem Ausführungsbeispiel in Fig. 8 mit
Hilfe eines Lasers;
Fig. 11 ein weiteres Ausführungsbeispiel eines Quarzresonators
mit einem GT-Schnitt, der nach einem Verfahren gemäß der Erfindung hergestellt ist;
Fig. 12 eine grafische Darstellung der Abhängigkeit der Frequenzabweichung
von der Temperatur vor der Einstellung der Resonanzfrequenz;
Fig. 13 eine grafische Darstellung der Abhängigkeit der Resonanzfrequenz
der Grundschwingung von der Temperatur zur Erläuterung des Verfahrens gemäß der Erfindung zur Einstellung
der Temperaturcharakteristik bei einem Schwingquarz mit einem GT-Schnitt; und
Fig. 14 eine grafische Darstellung eines Schwingquarzes mit einem
GT-Schnitt, der nach einem Verfahren gemäß der Erfindung unter Verwendung eines Lasers hergestellt wurde.
Das in Fig. 1A und 1B dargestellte Ausführungsbeispiel zeigt einen
Kopp lungs res on a tor in Form eines Schwingquarzes mit einem GT-Schnitt.
An dem Schwingquarz 1 sind auf gegenüberliegenden Seiten Elektroden 2 und 3 angeordnet, so daß der Schwingquarz durch Zufuhr
einer Wechselspannung an die Elektroden in einfacher Weise erregbar ist. Die Resonanzfrequenz der beiden Schwingungsf-ormen
wird durch die Breite W und die Länge L bestimmt. Die von der Breite W abhängige Resonanzfrequenz der Grundschwingung wird mit
f bezeichnet und die von der Länge L abhängige Resonanzfrequenz der Teilschwingung wird mit f bezeichnet. Die Temperaturcharakteristik
wird durch die Differenz der beiden Resonanzfrequenzen (fw~fT) und die Intensität der Grundschwingung und der Teilschwingung
bestimmt.
Fig. 2A und 2B zeigen die Anordnung eines Schwingquarzes 5 mit
einem GT-Schnitt auf einem Sockel 4 mit Hilfe von Klebstoff oder Lot 8,9. Die Elektroden 6,7 zum Erregen des Resonators sind auf
gegenüberliegenden Seiten des Schwingquarzes angeordnet.
Fig. 3 zeigt ein Ausführungsbeispiel einer Temperaturcharakteristik
eines Schwingquarzes mit GT-Schnitt, der mit Hilfe eines fotolithografischen Verfahrens hergestellt wurde, bei dem keine
Masse zur Einstellung der Resonanzfrequenz vorgesehen ist. Die Temperaturcharakteristik unterscheidet sich durch das Ausmaß der
Kopplung, wenn die Kopplung zwischen der Grundschwingung und der Teilschwingung schwach ist. Dann ist die Temperaturcharakteristik
durch die Gerade a gegeben. Wenn die Kopplung stark ist, verläuft die Charakteristik entsprechend der Geraden b. Der absolute Wert
des Temperaturkoeffizienten ^ der ersten Ordnung beträgt etwa 2,5 χ 10 /C, so daß er zu groß ist und die Geraden keine besondere
Temperaturcharakteristik ergeben. Im allgemeinen hat ein durch ein fotolithografisches Verfahren hergestellter Resonator
eine derartige Temperaturcharakteristik. Wenn die Resonanzfrequenz der Grundschwingung durch Verwendung einer Lasereinrichtung
eingestellt wird, bevor als Last dienende Massen auf dem Resonator angeordnet werden, ergibt sich eine etwas unterschiedlicher Wert
des Temperaturkoeffizienten H der ersten Ordnung, welcher Wert
jedoch nahezu gleich ist und dieselbe Tendenz aufweist.
Fig. 4 zeigt ein Ausführungsbeispiel eines Schwingquarzes gemäß der Erfindung mit einem GT-Schnitt, an dem Massen 1O,11 in einem
zentralen Bereich entlang dessen Längskanten symmetrisch zu einem zentralen Teil eines Schwingungsteils angeordnet sind. Die Dicke
der Masse beträgt zwischen etwa 1 und 2 Mikrometer.
Fig. 5 zeigt die Abhängigkeit des Temperaturkoeffizienten öl der
ersten Ordnung, wenn von den Massen 10,11 in Fig. 4 mit Hilfe einer Lasereinrichtung Masse entfernt wird. Daraus ist ersichtlich,
daß der Temperaturkoeffizient mit der Entfernung von Masse linear ansteigt.
Fig. 6 zeigt ein Ausführungsbeispiel eines Schwingquarzes mit einem GT-Schnitt, an dessen vier Ecken vier Massen 12,13,14 und
15 angeordnet sind. Fig. 7 zeigt die Änderung des Temperaturkoeffizienten
0<. bei Verringerung der Massen mit Hilfe einer Lasereinrichtung.
Aus der grafischen Darstellung ist ersichtlich, daß der Temperaturkoeffizient mit der Entfernung von Masse linear abnimmt.
Deshalb steigt der Temperaturkoeffizient bei der Entfernung von Masse bei dem Ausführungsbeispiel in Fig. 4, während der Temperaturkoeffizient
bei Entfernung von Masse bei dem Ausführungsbeispiel
in Fig. 6 verringert wird. Wenn in der Mitte angeordnete Massen von den Massen 10,11 in Fig. 4 und den Massen 12,13,14, und 15
in Fig. 6 entfernt werden, ist eine Vorhersage möglich, daß der Temperaturkoeffizient der ersten Ordnung sich nicht ändert.
Fig. 8 zeigt ein weiteres Ausführungsbeispiel eines Schwingquarzes
mit einem GT-Schnitt, bei dem Massen 16, 19 in Lagen zwischen
der Masse 10 in Fig. 4 und den Massen 12 und 15 in Fig. 6, sowie Massen 17, 18 zwischen der Masse 11 in Fig. 4 und den Massen 13,
14 in Fig. 6 angeordnet sind.
Fig. 9 zeigt die Abhängigkeit des Temperaturkoeffizienten bei
der Entfernung von Massen 16,17,18, 19 in Fig. 8 mit Hilfe einer Lasereinrichtung. Aus der grafischen Darstellung ist ersichtlich,
daß sich dann der Temperaturkoeffizient nicht ändert. Fig. 10
zeigt die Änderung der Resonanzfrequenz der Grundschwingung in
Abhängigkeit von der Entfernung von Massen 16,17,18, 19 in Fig. 8 mit Hilfe einer Lasereinrichtung. Aus der grafischen Darstellung
ist ersichtlich, daß die Resonanzfrequenz der Grundschwingung
mit der Entfernung von Massen ansteigt.
Fig-. 11 zeigt ein Ausführungsbeispiel eines Schwingquarzes mit einem GT-Schnitt, bei dem durch Einstellung der Resonanzfrequenz
eine sehr gute Temperaturcharakteristik erzielt werden kann. Massen 24, 25 dienen zur Einstellung der Temperaturcharakteristik
und Massen 20, 21, 22 und 23 zur Einstellung der Resonanzfrequenz der Grundschwingung. Im folgenden soll das Verfahren
zur Einstellung der Frequenz näher erläutert werden. Wenn der Schwingquarz in Fig. 11 mit Hilfe des fotolithografischen Verfahrens
hergestellt wird, wird in folgender Weise vorgegangen; 1 . Der Temperaturkoeffizient der ersten Ordnung hat einen negativen
Wert, so daß die Resonanzfrequenz sich mit ansteigender Temperatur erniedrigt. 2. Die Resonanzfrequenz der Grundschwingung
ist niedriger als die einzustellende Nennfrequenz. Ein derartiger Resonator kann in einfacher Weise durch Auswahl der Form,
der Größe der Massen und der Ätzzeit hergestellt werden.
Fig. 12 zeigt die Temperaturcharakteristik eines Resonators nach
dem Ätzen. Ein Pfeil C zeigt die Abweichung von der Nennfrequenz, so daß die Resonanzfrequenz des Resonators niedriger als die
Nennfrequenz ist. Der Resonator wird auf eine ausgewählte Temperatur gebracht, welche Temperatur t. gemessen wird. Bei dieser
Temperatur t. wird die Resonansfrequenz f.. der Grundschwing.ung
gemessen. Danach wird der Resonator auf eine andere Temperatur
t„ gebracht, die gemessen wird und bei der die Resonanzfrequenz
±2 der Grundschwingung ebenfalls gemessen wird.
Mit Hilfe der Temperaturen t1 ,t2 und der Resonanzfrequenzen f^/fo
kann der Temperaturkoeffizient der ersten Ordnung in folgender Weise berechnet werden:
f7 - fi
C* = — I (Hz/°C) . . (1)
t2 - ti
Mit Hilfe der einzustellenden Nennfrequenz f ergibt sich daraus
folgende Beziehung:
f2 " f
1 „ Vt2 - t3 (1/°C) (2).
f0
Fig. 13 dient zur Erläuterung des Verfahrens zur Einstellung der Temperaturcharakteristik eines derartigen Schwingquarzes mit einem
GT-Schnitt. Nach Messung der Resonanzfrequenz f.*,t~ bei den Temperaturen
t1,t2 wird der Temperaturkoeffizient mit Hilfe der
Gleich (2) berechnet.
Bei dem beschriebenen Ausführungsbeispiel wird der Temperaturkoeffizient
der ersten Ordnung mit Hilfe der Temperaturen t1,t~
und der Resonanzfrequenzen f.,,f9 berechnet. Wenn eine hohe Meßgenauigkeit
für den Temperaturkoeffizient erwünscht ist, wird die Anzahl der Messungen der Resonanzfrequenzen bei unterschiedlichen
Temperaturen erhöht, eo daß eine weitere Erhöhung der Meßgenauigkeit
des Temperaturkoeffizienten mit Hilfe entsprechender Berechnungen erzielt werden kann.
Um eine Annäherung des Temperaturkoeffizienten der ersten Ordnung
an den Weit 0 zu erzielen, werden entsprechend den Ausführungen zu Fig. 4 und 5 die Gewichte 10,11 und die Gewichte 24,25 in
Fig. 11 entfernt, so daß die Gerade e in Fig. 13 zu der gestrichelten
Linie f wird. Durch Fortsetzung der Einstellung ergibt sich eine Gerade g, dferen Temperaturkoeffizient nahezu 0 ist. Dadurch
kann eine fortschreitende Annäherung der Frequenz der Grundschwingung auf die Nennfrequenz fQ erzielt werden.
Ferner, ist es möglich, die Resonanzfrequenz der Grundschwingung
auf die Nennfrequenz fo bei Raumtemperatur einzustellen, indem
die Massen 20, 21, 22, 23 ohne Änderung der Temperaturcharakteristik entfernt werden. Deshalb ist es möglich, einen Resonator
-*. Λι Λ M * ■? Ol · · W 9
herzustellen, der sehr gute Temperatureigenschaften aufweist,
dessen Resonanzfrequenz der Grundschwingung auf die gewünschte Nennfrequenz eingestellt werden kann.
Die bisherigen Ausführungen betreffen die Verwendung einer Laseireinrichtung,
es können jedoch auch Aufdampfungsverfahren verwendet werden. Wenn der Resonator durch Ätzen hergestellt wird,
wird keine Masse auf dem Resonator angeordnet, wobei in folgender Weise vorgegangen wird. 1. Der Temperaturkoeffizient der ersten
Ordnung hat einen positiven Wert, so daß die Resonanzfrequenz mit ansteigender Temperatur ansteigt. 2. Die Resonanzfrequenz der
Grundschwingung ist höher als die einzustellende Nennfrequenz-
Ein derartiger Resonator kann in einfacher Weise durch Auswahl der
Form und der Ätzzeit hergestellt werden. Die Resonanzfrequenzen f. , f„ der Grundschwingung werden bei willkürlichen unterschiedlichen
Temperaturen t.. ,t„ gemessen. Der Temperaturkoeffizient
der ersten Ordnung wird mit Hilfe der Gleichungen (1) odsr (2) berechnet. Danach werden die Massen auf die Abschnitte entspre*-
chend den Bezugszeichen 24,25 in Fig. 11 aufgebracht. Da sich der Temperaturkoeffizient bei der Auftragurig der Massen verringert,
kann dessen Einstellung auf den Wert 0 erfolgen. Durch die Auftragung von Maasen auf die Abschnitte entsprechend den Bezugszeichen
20, 22, 22, 23 ist es möglich, die Resonanzfrequenz der Grundschwingung auf die Nennfrequenz f_ ohne Änderung der Temperaturcharakteristik
einausteilen. Wie bei der Verwendung der Lasereinrichtung ist es deshalb möglich, einen Kopplungsresonator
mit e'iner sehr guten Temperaturcharakteristik herzustellen, dessen
Resonanzfrequenz der Grundschwingung auf die Nennfrequenz fQ
eingestellt werden kann.
Fig. 14 zeigt ein Beispiel einer Temperaturcharakteristik, wobei die Linie h die Temperaturcharakteristik von der Einstellung der
Resonanzsfrequenz durch die Lasereinrichtung zeigt. Die Linie I
zeigt die Temperaturcharakteristik, die nach der Einstellung der Resonanzfrequenz mit der Lasereinrichtung gemessen wird. Daraus
ist ersichtlich, daß eine sehr gute Temperaturcharakteristik erzielt werden kann.
Es wird deshalb sowohl bei der Verwendung einer Lasereinrichtung als auch bei der Verwendung einer Einrichtung zum Aufdampfen
in erster Linie eine Konstruktion des Kopplungsresonators mit
einer optimalen Temperaturcharakterxstik und einer optimalen Resonanzfrequenz
hergestellt, bevor die Resonanzfrequenz eingestellt wird, indem die Resonanzfrequenzen f.., f2 der Grundschwingung
bei an sich willkürlichen Temperaturen t1, t_ gemessen werden.
Mit diesen Werten wird der Temperaturkoeffizient der ersten
Ordnung berechnet. Dann wird mit Hilfe der Lasereinrichtung oder der Aufdampfungseinrichtung der Temperaturkoeffizient der ersten
Ordnung angenähert auf Null eingestellt. Ferner wird die Resonanzfrequenz der Grundschwingung auf die Nennfrequenz fo eingestellt,
so daß ein Schwingquarz mit einem GT-Schnitt derart ausgebildet werden kann, daß er eine sehr gute Temperaturcharakteristik besitzt.
Mit einem derartigen Schwingquarz mit einem GT-Schnitt können deshalb Armbanduhren mit sehr hoher Ganggenauigkeit hergestellt
werden. Da der Temperaturkoeffizient der ersten Ordnung nach der Messung der Temperaturcharakteristik jedes Resonators
bei diesem Verfahren eingestellt wird, kann der Prozentsatz ungeeigneter Temperaturcharakteristiken erheblich verringert werden,
und damit auch die Herstellungskosten. Obwohl die beschriebenen Ausführungsbeispiele die Herstellung. von Schwinquarzen mit einem
GT-Schnitt betreffen, ist die Erfindung auch auf andere Kopplungsresonatoren anwendbar, wie beispielsweise auf FT-Quarzresonatoren.
Claims (1)
1982 E/m
MÖNCHEN M 38 38
SSr MÖNCHEN
DIPL.-PHYS. F. ENDLICH, POSTFACH, D-8034 QERMERINQ
TELEX: B21730 paled
Meine Akte: D-4988
Anmelderin: Kabushiki Kaisha "Daini Seikosha, Tokyo, Japan
Patentansprüche
Verfahren zur Einstellung der Resonanzfrequenz eines Kopplungsresonators , der mit einer Mehrzahl von Schwingungsformen gekoppelt
ist, dadurch gekennzeichnet, daß die Resonanzfrequenz einer Grundschwingung bei mindestens
zwei unterschiedlichen Temperaturen gemessen wird, daß aus diesen Temperaturen/den gemessenen Resonanzfrequenzen ein
Frequenz-Temperaturkoeffizient der ersten Ordnung berechnet wird, daß dann Massen auf den Resonator aufgetragen oder von
diesem entfernt werden, um den Temperaturkoeffizienten der ersten Ordnung zumindest angenähert auf den Wert 0 einzustellen,
und daß danach die Resonanzfrequenz der Grundschwingung auf eine Nennfrequenz (fn) eingestellt wird.
Verfahren zur Einstellung der Resonanzfrequenz eines Kopplungsresonators nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
daß der Resonator auf eine erste Temperatur Ct1) gebracht wird, daß die Resonanzfrequenz (f-i) einer Grundschwingung
bei dieser Temperatur (t^) gemessen wird, daß dann der Resonator auf eine andere Temperatur (t2) gebracht wird,
daß dann die Resonanzfrequenz (f„) der Grundschwingung bei
dieser Temperatur (t2) gemessen wird, daß ein Frequenz-Temperaturkoeffizient
der ersten Ordnung mit Hilfe dieser Temperaturen (t-,t„) und dieser Resonanzfrequenzen (f.,f„) gemessen wird,
:·Χ\: 321772
daß Massen auf den Resonator aufgebracht oder davon entfernt werden, um eine Annäherung des Temperaturkoeffizienten der
ersten Ordnung auf den Wert 0 zu erzielen, und daß dann die Resonanzfrequenz der Grundschwingung auf die Nennfrequenz (fn)
eingestellt wird.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56073245A JPS57188121A (en) | 1981-05-15 | 1981-05-15 | Frequency adjusting method of coupling oscillator |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3217721A1 true DE3217721A1 (de) | 1982-12-02 |
Family
ID=13512598
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19823217721 Ceased DE3217721A1 (de) | 1981-05-15 | 1982-05-11 | Verfahren zur einstellung der resonanzfrequenz eines kopplungsresonators |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4484382A (de) |
JP (1) | JPS57188121A (de) |
CH (1) | CH652563GA3 (de) |
DE (1) | DE3217721A1 (de) |
GB (1) | GB2103874B (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2502867A1 (fr) * | 1981-03-25 | 1982-10-01 | Seiko Instr & Electronics | Resonateur a quartz miniature en coupe gt |
Families Citing this family (40)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4658175A (en) * | 1986-03-26 | 1987-04-14 | The Singer Company-Kearfott Division | Vibrating beam force transducer with A-frame beam root and frequency adjusting means |
US5216490A (en) * | 1988-01-13 | 1993-06-01 | Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Bridge electrodes for microelectromechanical devices |
US5032755A (en) * | 1988-03-03 | 1991-07-16 | Motorola, Inc. | Method and means for damping modes of piezoelectric vibrators |
US5187458A (en) * | 1989-09-21 | 1993-02-16 | Nihon Musen Kabushiki Kaisha | Composite longitudinal vibration mechanical filter having central frequency deviation elimination means and method of manufacturing same |
US5144184A (en) * | 1990-01-26 | 1992-09-01 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Micromechanical device with a trimmable resonant frequency structure and method of trimming same |
US5473945A (en) * | 1990-02-14 | 1995-12-12 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Micromechanical angular accelerometer with auxiliary linear accelerometer |
US5112642A (en) * | 1990-03-30 | 1992-05-12 | Leybold Inficon, Inc. | Measuring and controlling deposition on a piezoelectric monitor crystal |
US5605598A (en) * | 1990-10-17 | 1997-02-25 | The Charles Stark Draper Laboratory Inc. | Monolithic micromechanical vibrating beam accelerometer with trimmable resonant frequency |
US5408119A (en) * | 1990-10-17 | 1995-04-18 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Monolithic micromechanical vibrating string accelerometer with trimmable resonant frequency |
US5129983A (en) * | 1991-02-25 | 1992-07-14 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Method of fabrication of large area micromechanical devices |
US5203208A (en) * | 1991-04-29 | 1993-04-20 | The Charles Stark Draper Laboratory | Symmetrical micromechanical gyroscope |
US5331852A (en) * | 1991-09-11 | 1994-07-26 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Electromagnetic rebalanced micromechanical transducer |
US5635639A (en) * | 1991-09-11 | 1997-06-03 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Micromechanical tuning fork angular rate sensor |
US5408877A (en) * | 1992-03-16 | 1995-04-25 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Micromechanical gyroscopic transducer with improved drive and sense capabilities |
US5767405A (en) * | 1992-04-07 | 1998-06-16 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Comb-drive micromechanical tuning fork gyroscope with piezoelectric readout |
US5349855A (en) * | 1992-04-07 | 1994-09-27 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Comb drive micromechanical tuning fork gyro |
DE4321949C2 (de) * | 1992-07-03 | 1997-07-10 | Murata Manufacturing Co | Vibratoreinheit |
DE4322144C2 (de) * | 1992-07-03 | 1997-06-05 | Murata Manufacturing Co | Vibratoreinheit |
US5650568A (en) * | 1993-02-10 | 1997-07-22 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Gimballed vibrating wheel gyroscope having strain relief features |
JPH06268462A (ja) * | 1993-03-12 | 1994-09-22 | Seiko Electronic Components Ltd | Ns−gtカット水晶振動子の周波数調整方法 |
CN1034535C (zh) * | 1993-05-31 | 1997-04-09 | 株式会社村田制作所 | 片型压电共振动元件 |
US5621263A (en) * | 1993-08-09 | 1997-04-15 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Piezoelectric resonance component |
US5648746A (en) * | 1993-08-17 | 1997-07-15 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Stacked diezoelectric resonator ladder-type filter with at least one width expansion mode resonator |
DE4429132C2 (de) * | 1993-08-17 | 1998-06-04 | Murata Manufacturing Co | Abzweigfilter |
US5487211A (en) * | 1993-08-19 | 1996-01-30 | Motorola, Inc. | Method for fabricating a surface-mountable crystal resonator |
US5646348A (en) * | 1994-08-29 | 1997-07-08 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Micromechanical sensor with a guard band electrode and fabrication technique therefor |
US5581035A (en) * | 1994-08-29 | 1996-12-03 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Micromechanical sensor with a guard band electrode |
US5495135A (en) * | 1994-09-21 | 1996-02-27 | Motorola, Inc. | Piezoelectric resonator with an attenuated spurious response |
US5725729A (en) * | 1994-09-26 | 1998-03-10 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Process for micromechanical fabrication |
JP3114526B2 (ja) * | 1994-10-17 | 2000-12-04 | 株式会社村田製作所 | チップ型圧電共振部品 |
US5817942A (en) * | 1996-02-28 | 1998-10-06 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Capacitive in-plane accelerometer |
JPH1098350A (ja) * | 1996-07-31 | 1998-04-14 | Daishinku Co | 圧電振動デバイス |
US5892153A (en) * | 1996-11-21 | 1999-04-06 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Guard bands which control out-of-plane sensitivities in tuning fork gyroscopes and other sensors |
US5911156A (en) * | 1997-02-24 | 1999-06-08 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Split electrode to minimize charge transients, motor amplitude mismatch errors, and sensitivity to vertical translation in tuning fork gyros and other devices |
US5783973A (en) * | 1997-02-24 | 1998-07-21 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Temperature insensitive silicon oscillator and precision voltage reference formed therefrom |
US5952574A (en) * | 1997-04-29 | 1999-09-14 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Trenches to reduce charging effects and to control out-of-plane sensitivities in tuning fork gyroscopes and other sensors |
JPH11168338A (ja) * | 1997-10-01 | 1999-06-22 | Murata Mfg Co Ltd | 圧電共振子、圧電共振子の周波数調整方法および通信機器 |
US8187902B2 (en) | 2008-07-09 | 2012-05-29 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | High performance sensors and methods for forming the same |
JP4938124B2 (ja) * | 2009-12-15 | 2012-05-23 | 日本電波工業株式会社 | 水晶デバイス |
JP6023687B2 (ja) * | 2013-10-30 | 2016-11-09 | 京セラドキュメントソリューションズ株式会社 | 光走査装置、該光走査装置を備えた画像形成装置、及び光走査装置における振動ミラー部の共振周波数の調整方法 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2640450A1 (de) * | 1975-09-10 | 1977-03-17 | Seikosha Kk | Verfahren zum einstellen der frequenz-temperaturcharakteristik eines quarzoszillators |
DE2828048A1 (de) * | 1977-06-27 | 1979-01-11 | Centre Electron Horloger | Verfahren zur einstellung der eigenschaften eines quarzkristall-resonators |
Family Cites Families (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2505370A (en) * | 1947-11-08 | 1950-04-25 | Bell Telephone Labor Inc | Piezoelectric crystal unit |
DE1566009A1 (de) * | 1967-08-26 | 1971-02-18 | Telefunken Patent | Mechanisches Frequenzfilter und Verfahren zu seiner Herstellung |
-
1981
- 1981-05-15 JP JP56073245A patent/JPS57188121A/ja active Granted
-
1982
- 1982-03-29 GB GB08209176A patent/GB2103874B/en not_active Expired
- 1982-03-30 US US06/363,466 patent/US4484382A/en not_active Expired - Lifetime
- 1982-05-11 DE DE19823217721 patent/DE3217721A1/de not_active Ceased
- 1982-05-14 CH CH302982A patent/CH652563GA3/fr unknown
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2640450A1 (de) * | 1975-09-10 | 1977-03-17 | Seikosha Kk | Verfahren zum einstellen der frequenz-temperaturcharakteristik eines quarzoszillators |
DE2828048A1 (de) * | 1977-06-27 | 1979-01-11 | Centre Electron Horloger | Verfahren zur einstellung der eigenschaften eines quarzkristall-resonators |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2502867A1 (fr) * | 1981-03-25 | 1982-10-01 | Seiko Instr & Electronics | Resonateur a quartz miniature en coupe gt |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2103874A (en) | 1983-02-23 |
US4484382A (en) | 1984-11-27 |
JPS57188121A (en) | 1982-11-19 |
GB2103874B (en) | 1985-04-17 |
JPH0150129B2 (de) | 1989-10-27 |
CH652563GA3 (de) | 1985-11-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3217721A1 (de) | Verfahren zur einstellung der resonanzfrequenz eines kopplungsresonators | |
DE3108166C2 (de) | Stimmgabelquarzkristallschwinger mit Schwingungskopplung | |
DE3013185C2 (de) | ||
DE2805491C2 (de) | Quarzschwinger mit Dickenscherschwingung | |
DE2948331C2 (de) | ||
DE3210578A1 (de) | Schwingquarz | |
DE3220032C2 (de) | ||
DE2849782A1 (de) | Piezoelektrischer schwinger | |
DE3149171A1 (de) | Stimmgabel | |
DE2750144A1 (de) | Vorrichtung fuer elastische oberflaechenwellen | |
EP3186887A1 (de) | Filterchip und verfahren zur herstellung eines filterchips | |
DE3620558C2 (de) | ||
DE2828048C2 (de) | ||
DE3420320A1 (de) | Piezokristallresonator | |
DE3009531A1 (de) | Piezoelektrischer dickenschwinger | |
DE4008920A1 (de) | Longitudinal schwingendes mechanisches koppelfilter und verfahren zu dessen herstellung | |
DE2920356C2 (de) | ||
DE2921774A1 (de) | Quarzresonator | |
DE2650210C3 (de) | Frequenzmodulierter Oszillator | |
DE1962220B2 (de) | Elektrostriktiv angetriebene Stimmgabel | |
DE2746154A1 (de) | Quarzschwinger | |
DE3135102C2 (de) | Modengekoppelte Quarzstimmgabel | |
DE2702106A1 (de) | Piezoelektrischer schwinger | |
DE2842644A1 (de) | Quarzschwinger mit einer dicken- breiten-scherschwingung | |
DE3229972A1 (de) | Kopplungsresonator |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8127 | New person/name/address of the applicant |
Owner name: SEIKO INSTRUMENTS AND ELECTRONICS LTD., TOKIO, JP |
|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8131 | Rejection |