DE3225780C2 - - Google Patents

Info

Publication number
DE3225780C2
DE3225780C2 DE3225780A DE3225780A DE3225780C2 DE 3225780 C2 DE3225780 C2 DE 3225780C2 DE 3225780 A DE3225780 A DE 3225780A DE 3225780 A DE3225780 A DE 3225780A DE 3225780 C2 DE3225780 C2 DE 3225780C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
metal
pole
layer
insulating layer
protective
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE3225780A
Other languages
English (en)
Other versions
DE3225780A1 (de
Inventor
John Randolph Saratoga Calif. Us Osborne
Peter Gerhard Cupertino Calif. Us Bischoff
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Unisys Corp
Original Assignee
Unisys Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Unisys Corp filed Critical Unisys Corp
Publication of DE3225780A1 publication Critical patent/DE3225780A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3225780C2 publication Critical patent/DE3225780C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/127Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
    • G11B5/31Structure or manufacture of heads, e.g. inductive using thin films
    • G11B5/3163Fabrication methods or processes specially adapted for a particular head structure, e.g. using base layers for electroplating, using functional layers for masking, using energy or particle beams for shaping the structure or modifying the properties of the basic layers
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/4902Electromagnet, transformer or inductor
    • Y10T29/49021Magnetic recording reproducing transducer [e.g., tape head, core, etc.]
    • Y10T29/49032Fabricating head structure or component thereof
    • Y10T29/49036Fabricating head structure or component thereof including measuring or testing
    • Y10T29/49043Depositing magnetic layer or coating
    • Y10T29/49044Plural magnetic deposition layers
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/4902Electromagnet, transformer or inductor
    • Y10T29/49021Magnetic recording reproducing transducer [e.g., tape head, core, etc.]
    • Y10T29/49032Fabricating head structure or component thereof
    • Y10T29/49036Fabricating head structure or component thereof including measuring or testing
    • Y10T29/49043Depositing magnetic layer or coating
    • Y10T29/49046Depositing magnetic layer or coating with etching or machining of magnetic material

Description

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum präzisen Ausrichten der Polspitzen eines Dünnfilm-Magnetkopfes nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1.
Dünnfilm-Magnetköpfe sind notwendigerweise Elemente mit hohen Toleranzen, die dazu verwendet werden, Informationen auf verschiedene Magnetmedien, wie z. B. schnell rotierende magnetische Platten, zu schreiben bzw. von ihnen zu lesen. Bisher wurden die Polschuhe dieser Magnetköpfe, d. h. die Elemente, die mit dem Magnetmedium in Wechselwirkung stehen bzw. ihm gegenüberliegen, nicht so kontrolliert, daß eine gleichmäßige Breite und eine präzise Ausrichtung der individuellen Pole eines einzelnen Polpaares sichergestellt war.
Obwohl ungleiche Paare bisher kein ernsthaftes Problem bei der Anwendung von Dünnfilmköpfen bei bisherigen Magnetmedien und bei gegenwärtig auf dem Markt befindlichen Scheiben- bzw. Plattenantriebssystemen verursacht haben, so werden doch zukünftige Anwendungen mit höherer Flächendichte die Einhaltung erheblich strengerer Dimensionierungstoleranzen der Köpfe erfordern. So werden beispielsweise in nicht zu ferner Zukunft Magnetplatten- bzw. -scheibenaufzeichnungssysteme verwendet werden, die viele hundert Spuren pro cm aufweisen. Derartige Systeme werden höchstwahrscheinlich so aufgebaut sein, daß die Spurbreite für die lesbare Information nur noch 0,02 mm (0,8 mils) oder weniger beträgt. Ungleiche und/oder unkorrekt ausgerichtete Pole werden dann nicht mehr mit dem Medium dieser Systeme in Wechselwirkung treten, ohne daß im Lesezyklus Nebensprechen von anderen Spuren und beim Schreibzyklus fehlererzeugende Signale auftreten.
Aufgrund der verhältnismäßig sehr engen Toleranzen der Polschuhe hat sich die Herstellung von Polpaaren mit im wesentlichen gleicher Breite und präziser Ausrichtung gegeneinander als äußerst schwierig dargestellt. In diesem Zusammenhang sei daran erinnert, daß bei heute auf dem Markt befindlichen Plattenantriebssystemen die Dicke der durchschnittlichen Magnetkopfpole lediglich ca. 1,78 µm- 3,05 µm (70-120 micro inches) und die Breite ca. 22,9 µm- 35,6 µm (0,9-1,4 mils) beträgt. Vor der vorliegenden Erfindung basierten Versuche zur Herstellung von Polen gleicher Breite und mit präziser Ausrichtung lediglich auf empirischen Methoden (Versuch und Irrtum) und zufälligen Fabrikationsvariablen, die sicherlich nicht mehr akzeptabel sind, wenn die Anforderungen an die Toleranzen höher werden, wie bei den erwähnten Magnetsystemen hoher Dichte.
Aus IEE Transactions on Magnetics, Vol. MAG-11, Nr. 1, Januar 1975, Seiten 50 bis 55 ist ein Verfahren zur Herstellung eines Dünnfilm-Magnetkopfes mit nur einer einzigen Windung bekannt, von dem der Oberbegriff des Anspruchs 1 ausgeht.
Aufgabe der Erfindung ist es demgegenüber, ein Verfahren zu schaffen, mit dem parallele Polspitzenpaare für die Anwendung bei Magnetköpfen präzise ausgerichtet werden können.
Diese Aufgabe wird durch die im Patentanspruch 1 gekennzeichnete Erfindung gelöst. Vorteilhafte Ausgestaltungen und Weiterbildungen der Erfindung sind den Unteransprüchen zu entnehmen.
Im folgenden wird die Erfindung anhand eines Ausführungsbeispiels im Zusammenhang mit der Zeichnung ausführlicher erläutert. Es zeigen
Fig. 1-5 in Schnittansicht die aufeinanderfolgenden Schritte des Verfahrens der vorliegenden Erfindung.
Auf einen geeigneten Träger werden zwei Metall­ schichten aufgebracht, die durch eine Isolierschicht getrennt sind. Die Magnetschichten sollen die endgültigen Polstücke des Dünnfilm-Magnetkopfes werden, während die Isolierschicht in der endgültigen Konfiguration als Abstandhalter bleiben soll. Dieser Abstandhalter wird allgemein als "Spalt"-Bereich bezeichnet. Die obere Elektrode kann mit verschiedenen Techniken hergestellt werden. Beispiels­ weise wird zuerst ein Photolack auf die obere Fläche der obersten Magnetschicht aufgebracht. Er wird entsprechend Größe und Form der fertigen Polschuhe belichtet und die unbelichteten Bereiche werden zur Erzeugung einer selekti­ ven Maske fortgewaschen. Dann wird die obere Magnetschicht geätzt unter Anwendung eines geeigneten Ätzmittels, wie z. B. 30 Volumen-% Chloreisen (FeCl3 · 6 H2O) in Äthylenglykol bei 55 ± 1°C, worauf der Photolack dann entfernt wird.
Die obere Elektrode könnte auch durch Ionen-Fräsen bzw. Ionen-Ätzen (ion milling) oder durch Schablonen-Galvani­ sieren (pattern electroplating) gebildet werden, wie in der US-PS 38 53 715 beschrieben. In beiden Fällen sollte eine stromführende Sammelschiene elektrisch mit der Elek­ trode während ihrer Formgebung verbunden sein.
Wenn der obere Pol - wie oben beschrieben - geformt ist, wird er in ein schützendes Metall eingekapselt und als Maske zum Ätzen der Isolierschicht verwendet. Dieses schützende Metall ist ätzfest hinsichtlich der für die un­ tere Elektrode oder die Isolierschicht verwendeten Ätzmit­ tel. Die Isolierschicht und die obere Magnetschicht mit der Schutzmetallkapselung wird dann zum Maskieren der un­ teren Metallschicht bei der Formung des unteren Poles ver­ wendet. Vorzugsweis bestehen die Metallschichten aus Permalloy (Ni-Fe-Legierung), während die Isolierschicht SiO2 oder Al2O3 ist.
Es sei nun auf die Zeichnung Bezug genommen. Als Träger für die dargestellte Drei-Schicht-Struktur wird eine Basis 4 verwendet. Auf den Träger 4 ist eine untere Metall­ schicht 3, eine isolierende Abstandhalterschicht 2 und eine obere Metallschicht 1 aufgebracht.
In Fig. 2 ist auf die obere Oberfläche der oberen Magnet­ schicht 1 ein Photolack 5 aufgebracht und so belichtet worden, daß er die Form der oberen Elektrode definiert. Wenn die obere Elektrode eine Nickel-Eisen- Legierung ist, so kann sie durch eine Lösung von FeCl3 in Äthylenglykol geätzt werden. Dieses Ätzmittel wird den Photolack 5 nicht angreifen, während die isolierende Schicht 2 als Ätz-Stop dient und für die Unversehrtheit der unteren Metallschicht 3 sorgt.
Die Photolackschicht 5 wird dann entfernt und die obere Elektrode 1 wird in ein schützendes Metall eingekapselt. Das schützende Metall muß ein Material sein, welches die obere Elektrode 1 einkapselt und diese gegenüber später verwendeten Ätzlösungen für die untere Metallschicht 3 isoliert. Da die Metallschichten 1 und 3 aus gleichem Ma­ terial gewählt sind, muß die obere Elektrode 1 vollständig eingekapselt sein und gegenüber den später verwendeten Ätzlösungen isoliert sein.
Es wurde gefunden, daß unter den möglichen schützenden Metallen Silber, Gold und Rhodium die günstigsten sind. Sie alle können eine ausreichende Schutzbarriere für spä­ tere Ätzvorgänge bilden. Von den drei bevorzugten Schutz­ metallen wird Rhodium am meisten bevorzugt. Es wurde gefunden, daß Silber aufgrund seiner chemischen Reaktions­ fähigkeit und seiner Neigung zu Langzeitoxydation und Korrosion, sofern es in der Struktur belassen wird, das (verhältnismäßig) schlechteste Metall ist. Gold als Edel­ metall wird nicht oxydieren, ist jedoch relativ weich und wird bei Kontakt zwischen den Polspitzen und der magneti­ schen Oberfläche, sofern es in der Struktur belassen wird, verschleißen. Andererseits ist Rhodium ausreichend hart und oxydationsfest, so daß es das bevorzugteste Schutzmetall ist. Falls jedoch das Schutzmetall nach der Herstellung der Pole entfernt wird, so bietet Rhodium keine wesentlichen Vorteile gegenüber den anderen erwähn­ ten Materialien.
Obwohl das Schutzmetall durch alle dem Fachmann bekannten Einrichtungen bzw. Verfahren aufgebracht werden kann, wurde gefunden, daß es am günstigsten elektrolytisch aufgebracht werden kann. Im einzelnen wird eine Stromsam­ melschiene mit der oberen Elektrode 1 verbunden und eine Elektrolytlösung des geeigneten Schutzmetalles wird elek­ trolytisch an der oberen Elektrode zum Haften gebracht. Übli­ che, im Handel erhältliche Plattier-Lösungen, die bei­ spielsweise von den Firmen Lea-Ronal, Inc. und Sel-Rex erhältlich sind, sind für die Ausführung der Elektro­ plattier- bzw. Galvanisiervorgänge beim Abscheiden bzw. Ablagern der Schutzschicht 6 verwendbar.
Es sei auf Fig. 4 Bezug genommen. Wenn die obere Elektrode 1 geformt und in das Schutzmetall 6 eingekapselt ist, so wird die Isolierschicht 2 geätzt. Vorzugsweise besteht die Isolierschicht 2 aus SiO2 und wird mit einer gepufferten HF-Lösung von 4 Teilen NH4F und 1 Teil HF geätzt.
Wenn in Vakuum abgeschiedenes Al2O3 als Isoliermaterial verwendet wird, so kann es wie folgt entfernt werden:
  • 1. durch Ionenfräsen (ion-milling), wobei in diesem Fall das Schutzmetall 6 ausreichend dick sein muß, um Materialverluste während des Fräsens zu kompensieren;
  • 2. durch chemisches Ätzen in einer Mischung von beispiels­ weise 10 Teilen Salpetersäure, 15 Teilen Fluor-Wasser­ stoffsäure und 300 Teilen Wasser. In Vakuum abgeschie­ denes Al2O3 kann auch in 2 : 1 oder 1 : 1 Phosphorsäure : DI-Wassermischung bei 60-80°C geätzt werden. Es sei auf die schräg verlaufenden Wände der Isolierschicht hin­ gewiesen, die, sofern chemisch geätzt wird, einen ge­ wissen Grad des Unterätzens repräsentieren, obwohl die Gesamtbreite der Isolierschicht im wesentlichen gleich der Breite der oberen Elektrode ist.
Allerdings ist es wichtig, daß das Unterätzen sich nicht über die schützende Überzugsschicht hinaus erstreckt, da­ mit ein Angriff des oberen Poles während des nachfolgen­ den Ätzens des unteren Poles verhindert wird.
Als letzter Verfahrensschritt der Erfindung wird nun die untere Elektrode 3 geformt.
Es sei auf Fig. 5 Bezug genommen. Die mit dem Schutzme­ tall 6 beschichtete obere Elektrode 1 und die Isolier­ schicht 2 werden beide als Maske für die Formgebung der unteren Elektrode 3 verwendet. Sofern Permalloy als Metallschicht verwendet wird, kann - ebenso wie bei der oberen Elektrode - eine Lösung aus FeCl3 in Äthylenglykol als Ätzmittel verwendet werden. Wichtig ist, daß weder die obere Elektrode 1 noch das Schutzmetall 6 irgendwo in der Schaltung elektrischen Kontakt zur unteren Elektrode 3 hat, um die Bildung eines elek­ trochemischen Galvano-Paares zu verhindern, was zu be­ trächtlichem Unterätzen der unteren Elektrode 3 während des Ätzvorganges führen würde. Wenn die Bildung dieses Paares nicht zugelassen ist, ist das Unterätzen der Boden­ elektrode minimal. Bei einer Dicke der Ni-Fe-Legierung von 3,05 µm (120 micro inch) sollte das Unterätzen beispiels­ weise nicht mehr als 1,52-2,03 µm (60-80 micro inches) betragen. Folglich wurden Polschuhe eines Dünnfilm-Magnet­ kopfes derart ausgebildet, daß sie im wesentlichen voll­ ständig ausgerichtet sind.
Wie oben erwähnt, kann die Metallschicht 6 an dem oberen Pol 1 belassen werden. Der Grund hierfür besteht schlicht darin, daß die Schutzmetallschicht beim Betrieb des Magnet­ kopfes nicht nennenswert stört und ihr Entfernen manchmal verhältnismäßig schwierig sein kann. Allerdings sollte die Stromsammelschiene in späteren Verfahrensschritten ent­ fernt werden.
Sämtliche in der Beschreibung, den Ansprüchen und der Zeichnung dargestellten technischen Einzelheiten können sowohl für sich als auch in beliebiger Kombination mitein­ ander erfindungswesentlich sein.

Claims (13)

1. Verfahren zum präzisen Ausrichten der Polspitzen eines Dünnfilm-Magnetkopfes mit folgenden Schritten:
  • a) Aufbringen von zwei durch eine Isolierschicht getrennten Metallschichten auf einen Träger, wobei die Metallschichten die Polspitzen des Magnetkopfes werden;
  • b) Aufbringen eines Photolackes auf die Oberfläche einer oberen Metallschicht und Belichtung des Lacks zur Definition der Pole;
  • c) Ätzen der oberen Metallschicht, der Isolierschicht und der unteren Metallschicht in den Bereichen, die nicht von dem Photolack abgedeckt sind, wodurch der obere Pol geformt wird;
gekennzeichnet durch folgende Schritte
  • d) Ätzen zunächst nur der oberen Metallschicht zur Erzeugung des oberen Pols;
  • e) Entfernen des Photolackes und Einkapseln des oberen Poles mit einem Schutzmetall;
  • f) Ätzen der Isolierschicht, wobei der obere Pol als Maske verwendet wird; und
  • g) Ätzen der unteren Metallschicht, wobei der obere Pol und die Isolierschicht als Maske für die Formung des unteren Poles verwendet werden.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Metallschicht aus einer Nickel-Eisen-Legierung bestehen.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Isolierschicht aus SiO2 oder Al2O3 besteht.
4. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Metallschichten durch Spritz-Ätzen in einer Lösung von FeCl3 in Äthylenglykol geätzt werden.
5. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß das Schutzmetall ein Metall ent­ hält, das aus der Gruppe Silber, Gold und Rhodium aus­ gewählt ist.
6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekenn­ zeichnet, daß das Schutzmetall auf die obere Elektrode durch galvanisches Aufbringen des Schutzme­ talles mittels einer Stromsammelschiene aufgebracht wird.
7. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß das Schutzmetall Rhodium ist.
8. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß das Schutzmetall nach der Formung des unteren Poles entfernt wird.
9. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Pole ca. 1,02-2,56 µm (40- 140 micro inches) dick sind.
10. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die SiO2-Schicht mit einer ge­ pufferten HF-Lösung geätzt wird.
11. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekenn­ zeichnet, daß das Al2O3 in einer Mischung aus Salpetersäure, Fluorwasserstoff und Wasser geätzt wird.
12. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn­ zeichnet, daß die Isolierschicht durch Ionen-Fräsen (ion-milling) entfernt wird.
DE19823225780 1981-07-13 1982-07-09 Verfahren zum praezisen ausrichten der polspitzen eines duennfilm-magnetkopfes Granted DE3225780A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US06/282,540 US4436593A (en) 1981-07-13 1981-07-13 Self-aligned pole tips

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3225780A1 DE3225780A1 (de) 1983-02-03
DE3225780C2 true DE3225780C2 (de) 1990-12-06

Family

ID=23081984

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19823225780 Granted DE3225780A1 (de) 1981-07-13 1982-07-09 Verfahren zum praezisen ausrichten der polspitzen eines duennfilm-magnetkopfes

Country Status (6)

Country Link
US (1) US4436593A (de)
JP (1) JPS5817523A (de)
DE (1) DE3225780A1 (de)
FR (1) FR2509503B1 (de)
GB (1) GB2104418B (de)
IE (1) IE53689B1 (de)

Families Citing this family (34)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5972639A (ja) * 1982-10-20 1984-04-24 Fuji Photo Film Co Ltd 磁気ヘツドの製造方法
DE3330041A1 (de) * 1983-08-19 1985-02-28 Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München Magnetkopf fuer ein senkrecht zu magnetisierendes aufzeichnungsmedium
JPS60133516A (ja) * 1983-12-22 1985-07-16 Hitachi Ltd 薄膜磁気ヘツドの製造方法
US4652954A (en) * 1985-10-24 1987-03-24 International Business Machines Method for making a thin film magnetic head
JPS62219217A (ja) * 1986-03-19 1987-09-26 Hitachi Maxell Ltd 磁気ヘツド
US5108837A (en) * 1987-12-04 1992-04-28 Digital Equipment Corporation Laminated poles for recording heads
US4992901A (en) * 1990-02-15 1991-02-12 Seagate Technology, Inc. Self aligned magnetic poles using sacrificial mask
US5116719A (en) * 1990-02-15 1992-05-26 Seagate Technology, Inc. Top pole profile for pole tip trimming
US5200056A (en) * 1990-02-15 1993-04-06 Seagate Technology Inc. Method for aligning pole tips in a thin film head
US5141623A (en) * 1990-02-15 1992-08-25 Seagate Technology, Inc. Method for aligning pole tips in a thin film head
NL9000546A (nl) * 1990-03-09 1991-10-01 Philips Nv Werkwijze voor het vervaardigen van een dunnefilm magneetkop alsmede een dunnefilm magneetkop vervaardigbaar volgens de werkwijze.
US5157570A (en) * 1990-06-29 1992-10-20 Digital Equipment Corporation Magnetic pole configuration for high density thin film recording head
FR2669466B1 (fr) * 1990-11-16 1997-11-07 Michel Haond Procede de gravure de couches de circuit integre a profondeur fixee et circuit integre correspondant.
US5256249A (en) * 1991-09-17 1993-10-26 Seagate Technology, Inc. Method of manufacturing a planarized magnetoresistive sensor
US5621595A (en) * 1992-10-20 1997-04-15 Cohen; Uri Pinched-gap magnetic recording thin film head
US5283942A (en) * 1992-12-29 1994-02-08 International Business Machines Corporation Sacrificial layer planarization process for fabricating a narrow thin film inductive head
US5452166A (en) * 1993-10-01 1995-09-19 Applied Magnetics Corporation Thin film magnetic recording head for minimizing undershoots and a method for manufacturing the same
US5578342A (en) * 1995-07-05 1996-11-26 Read-Rite Corporation Alignment of magnetic poles of thin film transducer
JP3349925B2 (ja) * 1996-09-10 2002-11-25 アルプス電気株式会社 薄膜磁気ヘッドの製造方法
JP2953401B2 (ja) * 1996-10-04 1999-09-27 日本電気株式会社 磁気抵抗効果型複合ヘッドの製造方法
US5804085A (en) * 1997-01-30 1998-09-08 Quantum Corporation Process for producing a pole-trimmed writer in a magnetoresistive read/write head and a data transducer made thereby
JPH117608A (ja) * 1997-04-25 1999-01-12 Fujitsu Ltd 磁気ヘッド及びその製造方法
US5916423A (en) * 1997-05-06 1999-06-29 International Business Machines Corporation P1 notched write head with minimum overmilled p1 and p2
US5966800A (en) * 1997-07-28 1999-10-19 Read-Rite Corporation Method of making a magnetic head with aligned pole tips and pole layers formed of high magnetic moment material
US6073338A (en) * 1997-08-19 2000-06-13 Read-Rite Corporation Thin film read head with coplanar pole tips
US6055138A (en) * 1998-05-06 2000-04-25 Read-Rite Corporation Thin film pedestal pole tips write head having narrower lower pedestal pole tip
EP0987529A1 (de) * 1998-09-14 2000-03-22 Heraeus Electro-Nite International N.V. Elektrischer Widerstand mit wenigstens zwei Anschlusskontaktfeldern auf einem Substrat mit wenigstens einer Ausnehmung sowie Verfahren zu dessen Herstellung
US6490125B1 (en) 1999-04-09 2002-12-03 Read-Rite Corporation Thin film write head with improved yoke to pole stitch
US6462919B1 (en) 1999-04-28 2002-10-08 Seagate Technology Llc Spin valve sensor with exchange tabs
US6375063B1 (en) * 1999-07-16 2002-04-23 Quantum Corporation Multi-step stud design and method for producing closely packed interconnects in magnetic recording heads
US6396668B1 (en) 2000-03-24 2002-05-28 Seagate Technology Llc Planar double spin valve read head
US6466419B1 (en) 2000-03-31 2002-10-15 Seagate Technology Llc Current perpendicular to plane spin valve head
US6700760B1 (en) 2000-04-27 2004-03-02 Seagate Technology Llc Tunneling magnetoresistive head in current perpendicular to plane mode
US7086139B2 (en) * 2004-04-30 2006-08-08 Hitachi Global Storage Technologies Netherlands B.V. Methods of making magnetic write heads using electron beam lithography

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
NL7608002A (nl) * 1976-07-20 1978-01-24 Philips Nv Werkwijze ter vervaardiging van een magnetische inrichting.
JPS5381110A (en) * 1976-12-25 1978-07-18 Toshiba Corp Manufacture of magnetic film head
DE2721201A1 (de) * 1977-05-11 1978-11-16 Siemens Ag Verfahren zur herstellung integrierter magnetkopfstrukturen
JPS554762A (en) * 1978-06-28 1980-01-14 Fujitsu Ltd Production of thin film magnetic head

Also Published As

Publication number Publication date
IE53689B1 (en) 1989-01-18
JPS5817523A (ja) 1983-02-01
IE821556L (en) 1983-01-13
US4436593A (en) 1984-03-13
GB2104418B (en) 1985-05-22
FR2509503B1 (fr) 1986-07-25
JPH0338646B2 (de) 1991-06-11
FR2509503A1 (fr) 1983-01-14
GB2104418A (en) 1983-03-09
DE3225780A1 (de) 1983-02-03

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3225780C2 (de)
US5059278A (en) Selective chemical removal of coil seed-layer in thin film head magnetic transducer
DE2611158C2 (de) Verfahren zum Verformen eines einkristallinen Siliciumkörpers
EP0200015B1 (de) Verfahren zur Herstellung mindestens eines Magnetkopfes in Dünnfilmtechnik
DE1930669C2 (de) Verfahren zur Herstellung einer integrierten Halbleiterschaltung
DE2036139A1 (de) Dunnfümmetallisierungsverfahren fur Mikroschaltungen
DE1271235B (de) Verfahren zur Herstellung von leitenden Verbindungen zwischen den leitenden Schichten einer elektrischen Schaltungsplatte
DE2017613B2 (de) Verfahren zum Herstellen von Koaxial-Schal tungsanordnungen
DE2401333A1 (de) Verfahren zur herstellung von isolierfilmen auf verbindungsschichten
DE60201914T2 (de) Herstellungsverfahren eines magnetkopfes
DE19753974C2 (de) Verfahren zur Herstellung eines Magnetkopf-Gleitstückes und dafür verwendete Führungsplatte
DE2313106C2 (de) Verfahren zum Herstellen eines mindestens einlagigen elektrischen Verbindungssystems
DE1764378B2 (de) Integrierte randschichtdiodenmatrix und verfahren zu ihrer herstellung
DE2835577A1 (de) Verfahren zum herstellen eines duennfilmmagnetkopfes und duennfilmmagnetkopf mit einem nickel-eisen-muster mit boeschungen
EP0308816A1 (de) Verfahren zum Herstellen von Anschlusskontakten für Dünnfilm-Magnetköpfe
DE1589076C3 (de) Verfahren zum Herstellen von Halbleiteranordnungen mit tragfähigen elektrischen Leitern
DE2931825A1 (de) Magnetblasen-speichervorrichtung
DE2458079C2 (de) Verfahren zur Herstellung eines Magnetkopfes in Dünnschichttechik
DE1499819C3 (de) Verfahren zur Herstellung einer Mehrfach-Magnetkopfeinheit und danach hergestellte Mehrfach-Magnetkopfeinheit
DE2838263A1 (de) Magnetkopf und verfahren zu seiner herstellung
DE3236879A1 (de) Verfahren zur schaffung unterschiedlich geneigter und gerader kanten an duennfilmmagnetkoepfen
DE1564743A1 (de) Verfahren zur Herstellung von Halbleitergeraeten mit daran befestigten Anschlussleitungen
DE2522861B2 (de) Verfahren zum Herstellen eines magnetischen Wiedergabekopfes
DE3604720C2 (de)
DE1922552A1 (de) Magnetschichtspeicherzelle mit geschlossenem magnetischen Kreis in Richtung leichter Magnetisierbarkeit der Speicherschichten und Verfahren zur Herstellung

Legal Events

Date Code Title Description
8128 New person/name/address of the agent

Representative=s name: BERNHARDT, K., DIPL.-ING., PAT.-ANW., 8000 MUENCHE

8110 Request for examination paragraph 44
8127 New person/name/address of the applicant

Owner name: UNISYS CORP., BLUE BELL, PA., US

8128 New person/name/address of the agent

Representative=s name: BLUMBACH, P., DIPL.-ING., 6200 WIESBADEN WESER, W.

D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8328 Change in the person/name/address of the agent

Free format text: BLUMBACH, KRAMER & PARTNER, 65193 WIESBADEN

8339 Ceased/non-payment of the annual fee