DE3810293A1 - Elektronenkanone - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft eine Ionenplasma-Elektronenkanone.
Die erfindungsgemäße Ionenplasma-Elektronenkanone ist vom gleichen
Typ wie die in der US-PS 39 70 892 und der älteren Patentanmeldung
P 37 00 775.0 beschriebene Elektronenkanone. Wie in der US-PS
erwähnt ist, stellt die Plasmakathoden-Elektronenkanone den jüng
sten Fortschritt auf dem Gebiet der Erzeugung von Hochenergie-
Elektronenstrahlen dar, wie sie beispielsweise in elektronenstrahl
erregten Gaslasern verwendet werden. In einer solchen Elektronen
kanone wird in einer Hohlkathoden-Entladung zwischen der hohlen
Kathodenoberfläche und einem bezüglich der Kathode mit einer
relativ niedrigen Spannung gespeisten Anodengitter ein Plasma
erzeugt. Aus dem Entladungsplasma werden durch das Anodengitter
und ein Steuergitter Elektronen extrahiert,welche in einer
plasmafreien Zone zwischen den Gittern und einer Beschleunigungs
anode auf hohe Energien beschleunigt werden. Bei der Beschleuni
gungsanode handelt es sich typischerweise um ein dünnes Folien
fenster, welches gegenüber der Kathode auf einer relativ hohen
Spannung gehalten wird. Vorteile der Plasmakathoden-Elektronen
kanone sind deren konstruktive Einfachheit und Stabilität, die
leichte Steuerbarkeit sowie der hohe Wirkungsgrad, geringe Kosten
und die Eignung zur Erzeugung großflächiger Elektronenstrahlen.
Die Elektronenverteilung der in den Röhren nach der US-PS 39 70 892
und der US-PS 40 25 818 erzeugten Elektronenstrahlen ist im
allgemeinen gekennzeichnet durch einen Peak in der Mitte und
einen allmählichen Abfall auf Null an den Kanten des Folien
fensters. Das Gerät nach der älteren Anmeldung P 37 00 775.0
stellt demgegenüber einen Fortschritt dar, da es eine verbesserte
Struktur aufweist, die einen Elektronenstrahl mit gleichförmiger
Elektronenverteilung über den ganzen Strahl bei dessen Austritt
aus dem Folienfenster erzeugt.
Bei der Verwendung von bekannten Elektronenstrahlgeneratoren wurde
erkannt, daß die Strahlgleichförmigkeit grundsätzlich unabhängig von
der Strahlintensität ist. Der Strahlstrom ist proportional dem
Strom von der Hochspannungsstromversorgung. Die Kontrolle der Dosis
rate der Elektronen, die ein zu bestrahlendes laufendes Band
bombardieren, ist damit einfach eine Frage, den von der Hoch
spannungsstromversorgung gelieferten Strom zu messen und zu kon
trollieren. Im Falle von Draht-Ionenplasma-Geräten, beispielsweise
gemäß US-PS 39 70 892, ist der Hochspannungs-Stromversorgungs-Strom
die Summe der aufprallenden Heliumionen und der emittierten Elektronen.
Das Verhältnis der emittierten Elektronen zu den aufprallenden Ionen,
der Sekundäremissionskoeffizient, hängt von den Oberflächenbedingungen
der Emitteroberfläche ab. In Anbetracht der Tatsache, daß diese
Bedingungen sich ändern können, reicht eine einfache Überwachung der
Hochspannungsstromversorgung nicht dazu aus, die Dosisrate der
Sekundärelektronen zu kontrollieren, die auf die Oberfläche des
laufenden Bandes auftreffen.
Bei weiterer Betrachtung von Draht-Ionenplasma-Geräten ergibt sich,
daß, wenn die Option ausgeschlossen wird, das Gitter zwischen der
Plasmakammer und der unter Hochspannung stehenden emittierenden
Elektrode mechanisch zu ändern, die momentane Strahlstärke der
Sekundärelektronen nur dadurch variiert werden kann, daß die
Intensität der Plasmaentladung und damit der Heliumionenstrom
variiert wird. Es wurde jedoch festgestellt, daß eine Variation
des Plasmastroms über einen Faktor 2 nach oben oder unten zu einer
merklichen, unerwünschten Änderung der Strahlgleichförmigkeit führt,
wenn die Plasmaintensität variiert wird.
Aufgabe der Erfindung ist es deshalb, ein Gerät und ein Verfahren
zu dessen Betrieb verfügbar zu machen, mit dem es möglich ist, die
Sekundärelektronen-Strahl-Intensität zu variieren, die Gleichförmig
keit des abgegebenen Sekundärelektronenstrahls aber beizubehalten.
Weiter soll durch die Erfindung eine Einrichtung geschaffen werden,
mit der die Dosisrate der Sekundärelektronen variiert wird, die
durch ein Draht-Ionenplasma-Gerät hindurchtreten und auf ein
stehendes oder laufendes Materialband aufprallen, während die
Intensität des Sekundärelektronenstrahls über die ganze Oberfläche
des stehenden oder laufenden Bandes aufrechterhalten wird.
Die erfindungsgemäße Anordnung besteht aus einem elektrisch
leitenden, evakuierten Gehäuse, das eine erste und eine zweite
Kammer bildet, die einander benachbart sind und zwischen denen eine
Öffnung vorgesehen ist. Es sind Einrichtungen vorgesehen, um in
der ersten Kammer ein Plasma aus Elektronen und posiviten Ionen,
beispielsweise Heliumionen, zu erzeugen. Eine in der zweiten
Kammer angeordnete Kathode ist im Abstand von dem Gehäuse ange
ordnet und gegen dieses isoliert. Die Kathode ist mit einer
Sekundärelektronen emittierenden Oberfläche versehen.
Es sind Einrichtungen vorgesehen, um eine hohe negative Spannung zwischen
der Kathode und dem Gehäuse anzulegen, um die Kathode zu veranlassen,
positive Ionen von der ersten Kammer in die zweite Kammer zu ziehen,
damit diese auf die Kathodenoberfläche aufprallen und veranlassen,
daß diese Sekundärelektronen emittiert. Eine elektrisch leitende,
elektronendurchlässige Folie erstreckt sich über eine Öffnung in dem
Gehäuse an dem Ende der ersten Kammer, das der Kathode zu weist. Die
Folie ist elektrisch mit dem Gehäuse verbunden, um eine Anode für die
Sekundärelektronen zu bilden, wodurch sie veranlaßt werden, als
Elektronenstrahl durch die Folie hindurchzutreten.
Ein elektrisch leitendes Extraktionsgitter ist in der zweiten Kammer
benachbart der Sekundärelektronen emittierenden Kathodenoberfläche
montiert und ist mit dem Gehäuse verbunden, um ein elektrostatisches
Feld an der Sekundärelektronen emittierenden Oberfläche zu erzeugen,
mit dem Sekundärelektronen veranlaßt werden, durch die Öffnungen des
Gitters hindurch in die erste Kammer einzutreten. Ein elektrisch
leitendes Traggitter ist in der ersten Kammer der Folie benachbart
montiert; es ist mit der Folie und dem Gehäuse verbunden und dient
dazu, die Folie abzustützen. Das Traggitter bewirkt in Verbindung
mit dem Extraktionsgitter, daß Sekundärelektronen zur Folie hin
beschleunigt werden.
Es sind Einrichtungen vorgesehen, mit denen ein Impuls von Sekundär
elektronen erzeugt wird. Das erfolgt dadurch, daß die Zeitspanne
variiert wird, in der Sekundärelektronen durch die Folie emittiert
werden. Wenn das geschieht, wird die Intensität der Sekundärelektronen,
die durch die Folie hindurch emittiert werden, im wesentlichen konstant
gehalten, während der Zeitbruchteil, während dessen Sekundärelektronen
durchgelassen werden, variiert wird. Dadurch wird ein Impuls in der
Weise erzeugt, daß eine Längeneinheit Bahnmaterial eine Dosis
Sekundärelektronen erhält, die variiert werden kann, um die gesamte
Energie zu kontrollieren, die die Bahnoberfläche bestrahlt, während
die gleichförmige Strahlintensität über die ganze Bahnoberfläche
erhalten wird.
Die Erfindung soll anhand der Zeichnung näher erläutert werden; es
zeigen:
Fig. 1 eine teilweise geschnittene, perspektivische Ansicht
der Hauptkomponenten einer Ausführungsform der Ionenplasma-
Elektronenkanone;
Fig. 2 ein vereinfachtes Blockschaltbild der Hauptkomponenten,
die dazu notwendig sind, eine Impulsbreitenmodulation
der Sekundärelektronenentladung von der Draht-Ionenplasma-
Anordnung nach der Erfindung zu erhalten;
Fig. 3 ein detailliertes Schaltbild einer Ausführungsform einer
Stromversorgung, die in der Erfindung verwendet werden kann;
Fig. 4 ein Detail-Schaltbild einer Schaltung, die in der bevor
zugten Ausführungsform der Erfindung als Interface
zwischen dem Impulsbreitengenerator und der Strom
versorgung verwendet wird;
Fig. 5 einen Impulszug-Spannungsverlauf, der mit der Schaltung
nach Fig. 3 und 4 erzeugt wird;
Fig. 6 ein vereinfachtes Schaltbild einer Nebenschluß-Regulator-
Stromversorgung, die als Dauer-Stromversorgung nach der
Erfindung verwendet werden kann.
Fig. 1 zeigt die Hauptkomponenten einer erfindungsgemäßen Plasma-
Elektronenkanone. Die Kanone enthält ein elektrisch leitendes, ge
erdetes Gehäuse, welches sich aus einer Hochspannungskammer 13, einer
Ionenplasma-Entladungskammer 12 und einem elektronendurchlässigen
Folienfenster 2 zusammensetzt. Durch die Plasma-Entladungskammer 12
hindurch erstreckt sich ein Draht 4. Das Folienfenster ist elektrisch
an das geerdete Gehäuse angeschlossen und bildet eine Anode, welche
Elektronen veranlaßt, auf sie und durch sie hindurch beschleunigt zu
werden. Das Gehäuse ist mit 1-10 Millitorr (0,133-1,33 Pa) Helium ge
füllt. In der Hochspannungskammer 13 befindet sich eine Kathode 6, auf
deren Unterseite ein Kathodeneinsatz 5 montiert ist. Der Einsatz 5 be
steht typischerweise aus Molybdän, kann jedoch aus irgendeinem anderen
Material bestehen, welches einen hohen Sekundäremissions-Koeffizienten
besitzt. Die Hochspannungskathode 6 ist gegenüber dem Gehäuse gleich
mäßig beabstandet, um einen Paschen-Durchbruch zu vermeiden.
Eine Hochspannungsquelle 210 liefert ein negatives Potential von 150-300
Kilovolt über ein Kabel 9 an die Kathode 6. Das Kabel 9 läuft durch einen
Epoxy-Isolator 14 zu einem optionalen Widerstand 8, der zwischen dem
Kabel 9 und der Kathode 6 liegt. Die Kathode 6 und der Einsatz 5 werden
durch eine geeignete Kühlflüssigkeit, zum Beispiel Öl, gekühlt, wozu
die Kühlflüssigkeit durch Leitungen 7 hindurchgepumpt wird.
Die Plasmakammer 12 enthält eine Anzahl metallischer Rippen 3, die mit
einander mechanisch und elektrisch verbunden sind. Die Rippen 3 ent
halten in der Mitte Ausschnitte, so daß der Draht 4 durch den gesamten
Aufbau hindurchlaufen kann. Die der Kathode 6 zugewandten Seiten der
Rippen 3 bilden ein Extraktionsgitter 16, während die gegenüberliegenden
Seiten der Rippen ein Traggitter 15 zur Abstützung des elektronen
durchlässigen Folienfensters 2 bilden. Stattdessen können das Extraktions
gitter und die Anodenplatten aus Metallblech mit ausgeschnittenen Löchern
bestehen. Flüssigkeitskühlkanäle 11 dienen zur Abfuhr von Wärme aus der
Plasmakammer.
Das elektronendurchlässige Fenster 2 kann aus einer 1 Millizoll
(zirka 25,4 Mikrometer) dicken Titan- oder Aluminium-Folie bestehen,
die von dem Traggitter 15 gehalten wird und mit Hilfe eines 0-Ringes
gegenüber dem Gehäuse abgedichtet ist. Eine Gas-Verteilungskanal
anordnung 10 ist ein optimales Hilfsmittel zum Kühlen des Folien
fensters mit unter Druck stehendem Stickstoff sowie zur Beseitigung
von Ozon aus dem Strahlbereich.
Wenn die modulierte Stromversorgung 1 erregt ist, wird von dem den
Draht 4 umgebenden elektrischen Feld in der Plasmakammer 12 ein
Plasma aufgebaut, das aus Heliumionen und Elektronen der Entladung
besteht. Bei dem Modulator kann es sich um eine Gleichstromversorgung
handeln, oder einen Hochfrequenzgenerator für 20-30 MHz. Wenn ein
mal das Plasma aufgebaut ist, werden die Heliumionen von dem Feld,
das durch das Extraktionsgitter 16 in die Plasmakammer hindurchgreift,
zur Kathode 6 angezogen. Die Stärke dieses Feldes kann
von einigen 100 Volt bis hinauf zu 10000 Volt variieren. Die Ionen
fließen längs der Feldlinien durch das Extraktionsgitter 16 in die
Hochspannungskammer 13. Hier werden sie über das volle Potential
beschleunigt und bombardieren den Kathodeneinsatz 5 als kolli
mierter Strahl. Die von der Kathode emittierten Sekundärelektronen
haben negative Ladung und werden deshalb zur Anode hin angezogen,
so daß der gewünschte Elektronenstrahl zum Durchtritt zur Bahn 50
geformt wird.
Der durch das Folienfenster 2 hindurchtretende Elektronenstrahl
trifft auf die Bahn 50 auf, die sich in Richtung eines Pfeils 51
bewegt. Es ist oft erwünscht, in der Lage zu sein, die Gesamtenergie
zu kontrollieren, die beim Härten oder sonstigen Bestrahlen einer
spezifischen Längeneinheit der laufenden Bahn 50 oder einer statio
nären Bahn in einer spezifizierten Zeiteinheit von den Sekundär
elektronen zur Verfügung gestellt wird. Wie bereits erwähnt, konnte
das vor der vorliegenden Erfindung nur dadurch geschehen, daß ent
weder das Gitter zwischen der Plasmakammer und der unter Hoch
spannung stehenden emittierenden Elektrode variiert wird, was eine
körperliche Modifikation des Draht-Ionenplasma-Gerätes erfordert,
oder durch Änderung der Intensität des Plasmaentladung und damit
des Heliumionenstroms. Wenn Versuche durchgeführt wurden, die
Ausgangsstrahlintensität durch Variation der Intensität des
Plasmastroms um mehr als den Faktor 3 nach oben oder unten zu
stabilisieren, ergab sich eine bedeutsame, unerwünschte Änderung
der Strahlgleichförmigkeit. Das ist offensichtlich nicht akzeptabel,
weil dann die laufende oder stehende Bahn über ihre Breite ungleich
förmig aushärten würde.
Die Erfindung gibt eine sehr erwünschte Lösung des Problems der
Variation der Dosisrate der Sekundärelektronen, die auf eine laufende
oder stehende Bahn 50 auftreffen, während die Gleichförmigkeit über
die gesamte Oberfläche der Bahn beibehalten wird. Das wird dadurch
erreicht, daß ein Impulsbreiten-Modulations-Schema geschaffen wird,
bei dem die momentane Strahlintensität konstant gehalten wird, der
Zeitbruchteil jedoch variiert wird, über den der Strahl emittiert
wird. Die minimale Dauer eines Strahlimpulses wird durch die Zeit
festgelegt, die dazu benötigt wird, ein die Plasmakammer erfüllendes
Plasma zu bilden. Beispielsweise bei einem Heliumdruck von 20 Mikron
und bei einer maximalen oder "Durchbruch"-Spannung von 1500 Volt beträgt
bei einer Anodenbereichsdimension von mehreren Zentimetern (einigen
Zoll) längs des Anodendrahtes die zur Bildung eines die Plasmakammer
erfüllenden Plasmas benötigteZeit etwa 50 Mikrosekunden. Im Falle
einer laufenden Bahn wird die maximale Dauer der Modulationszeit
periode durch die Laufzeit des Bahnmaterials 50 festgelegt. Wenn auch
die Dosisrate eine Sache der Wahl bei der Konstruktion ist und von
dem zu bestrahlenden Werkstoff sowie der zum Aushärten benötigten
Gesamtenergie ist, wird doch vorgeschlagen, daß in den meisten
Fällen eine adäquate Gleichförmigkeit der Bestrahlung erhalten
werden kann, wenn die Bahn für wenigstens zehn Modulationszeit
perioden während des Durchlaufs unter dem Folienfenster exponiert
wird. In Fortführung des illustrierenden Beispiels, wenn eine
Bahngeschwindigkeit von rund 300 m pro Minute (1000 Fuß pro Minute)
gewählt werden soll, während eine Fensterlänge von 25 cm (10 Zoll)
verwendet wird, wird eine Laufzeit von 50 Millisekunden erhalten.
Die Impulsperiode könnte dann zu 5 Millisekunden gewählt werden.
Eine Variation der Impulsdauer von mindestens 50 Mikrosekunden bis
zu Dauerstrich würde damit einstellbar die Lieferdosis über einen
Bereich von 100 zu 1 variieren. Ersichtlich kann man einen größeren
dynamischen Bereich erreichen, wenn ein größeres Fenster und/oder
eine kleinere Bahngeschwindigkeit verwendet wird.
Variablen, die den Betrieb der erfindungsgemäßen Anordnung bestimmen,
um die erforderliche Dosierung der Sekundärelektronen zu erhalten,
sind beispielsweise die Intensität des Ausgangsstrahls, die Bahn
geschwindigkeit und die gewünschte Dosis oder Bestrahlungsquantität,
die dazu notwendig ist, auszuhärten oder sonst auf die Bahn einzu
wirken.
Es gibt eine Anzahl von bekannten Einrichtungen zur Überwachung der
Intensität des Ausgangsstrahls eines Elektronenstrahlgenerators und
es soll hier nicht versucht werden, diese Überwachungseinrichtungen
oder Monitoren zu beschreiben, weil sie zur Offenbarung der vor
liegenden Erfindung nicht erforderlich sind. Bei diesen Monitoren
kann es sich um einen direkt abfangenden Dosisratenmonitor oder einen
Röntgen-Dosisraten-Monitor handeln. Wenn jedoch einmal eine Messung
der momentanen Strahlintensität durchgeführt worden ist, kann der
Tastfaktor für die Bahn bestimmt werden, der lediglich das Energie
verhältnis konstituiert, das geliefert würde, wenn der Elektronen
strahl im Impulsbetrieb eingeschaltet ist, zu der Energie, die ge
liefert würde, wenn der Elektronenstrahl kontinuierlich an die Ober
fläche der laufenden Bahn geliefert würde.
In Fig. 2 ist ein Grundschaltbild der impulsmodulierten Plasma
stromversorgung für den Draht 4 der Plasma-Elektronenkanone darge
stellt. Eine Stromquelle liefert Strom an einen Stromgenerator 64.
Ein Schalter 66 wird von einem Impulsgenerator 68 in der Weise kon
trolliert, daß die Verbindung zwischen Stromgenerator 64 und Draht 4
geöffnet bzw. geschlossen wird. Der Stromgenerator 64 und der Schalter
66 bilden zusammen die modulierte Stromversorgung 1.
Der Impulsgenerator 68 wird vom Benutzer so eingestellt, daß er einen
Impulszug mit einem bezeichneten Tastverhältnis liefert. Der Impuls
zug ist ein periodisches Signal, von dem jede Periode einen EIN-
Zustand für einen vorgegebenen Teil der Periode, und einen AUS-
Zustand für den Rest dieser Periode hat. Das Verhältnis der EIN-
Zeit zur Zeit der gesamten Periode wird als Tastverhältnis des
Impulszuges bezeichnet. Wie oben erwähnt, wird das Tastverhältnis
des Impulszuges so gewählt, daß eine gewünschte Dosis zur Bahn 50
geliefert wird.
Eine genauere Beschreibung der Implementierung der Funktionen der
Stromquelle 64 und des Schalters 66 nimmt auf Fig. 3 und 4 Bezug.
Der Impulsgenerator 68 kann irgendeiner von einer Anzahl von Impuls
generatoren sein, die Impulszüge mit einstellbaren Tastverhältnissen
liefern können, beispielsweise Modell 100 A der Firma Systron Donner
Corporation, Concord, Cal., U.S.A.
Fig. 4 zeigt die Schaltung in der modulierten Stromversorgung 1 zum
Interface mit dem Impulsgenerator 68.
Die modulierte Stromversorgung 1 selbst wird in Verbindung mit Fig. 3
erläutert. Bei der bevorzugten Ausführungsform der Erfindung sollte
die Stromquelle 64 einen Impuls liefern, der anfänglich eine hohe
Spannungsspitze hat, der ein Dauerpegel angegebener Dauer folgt.
Beispielsweise kann die Hochspannungsspitze, oder der Triggerimpuls,
eine Spannung von etwa 2000 Volt haben, während der Dauerpegelteil
einen Pegel von etwa 400 Volt haben kann. Eine solche Spannungsverlauf-
Kennlinie kann dadurch erhalten werden, daß ein Triggerimpuls von
einer Trigger-Versorgung 70 mit einer Haltespannung von einer Halte
spannungsversorgung 72 kombiniert wird. Diese beiden Versorgungen
wandeln Strom von der Stromquelle 62 um, bei der es sich bei der
Schaltung nach Fig. 3 um Netzwechselspannung von 120 Volt handelt.
Der Triggerimpuls und der Halteimpuls werden am Knoten 74 mittels
der Kombination von Widerstand 76 und Diode 78 summiert. Der Wider
stand 76 erhält den Triggerimpuls von der Triggerimpulsschaltung 70
und legt das Signal über Diode 78 an den Summierknoten 74 an. Die
Diode 78 gewährleistet, daß der Stromfluß zwischen Triggerversorgung 70
und Summierknoten 74 in den Knoten 74 erfolgt und nicht in der Gegen
richtung und isoliert die Triggerversorgung 70 vom Signal von der
Spannungsversorgung 72. In ähnlicher Weise koppeln ein Widerstand 80
und eine Diode 82 das Halteimpulssignal von der Halteimpuls-Strom
versorgung 72 in den Summierknoten 74 in einer Richtung.
Allgemein verwendet die Triggerimpuls-Stromversorgung 70 einen
Aufwärtstransformator 86 und einen Kondensator 88 zur Erzeugung der
geforderten Spannungsspitze. Während der Erzeugung der Spannungsspitze
wird der Kondensator 88 mit einer vorgegebenen Strommenge versorgt.
Dieser Strom wird durch eine Zenerdiode 90, einen Widerstand 92 und
die Basis-Emitter-Strecke eines Transistors 94 bestimmt. Wie aus
Fig. 3 erkennbar ist, liegt der Widerstand 92 zwischen dem Emitter
des Transistors 94 und der Kathode der Zenerdiode 90. Die Anode der
Zenerdiode 90 ist mit der Basis des Transistors 94 verbunden. Auf
diese Weise bestimmt die Zenerdiode 90 den Spannungsabfall über
dem Widerstand 92. Dadurch wird der Pegel des durch den Widerstand 92
fließenden Stroms eingestellt.
Die Basis des Transistors 94 wird über einen Widerstand 96 getrieben,
der am Knoten 98 über Widerstand 100 mit der gleichgerichteten Span
nung verbunden ist. Der gleichgerichtete Strom wird durch eine Voll
weg-Diodenbrücke 102 geliefert, der den Wechselstrom von der Sekundär
seite eines 1:2-Aufwärtstransformators 104 gleichrichtet. Die Primär
wicklung des Aufwärtstransformators 104 ist mit der Stromquelle 62
verbunden, bei der es sich in diesem Fall um die Wechselstromquelle
von 120 Volt handelt.
Der Emitter des Transistors 107 ist mit dem Kollektor des Transistors
94 verbunden, seine Basis mit der Verbindung der Widerstände 96 und 100,
und sein Kollektor mit dem Knoten 98. Der Transistor 107 handhabt
einen Teil der Spannung, die sonst an die Kollektor-Basis des Tran
sistors 94 angelegt würde, wenn die Trigger-Impuls-Versorgung 70 in
den Zustand AUS getriggert wird. Das erlaubt es, Transistoren mit
niedrigeren Durchbruchspannungen zu verwenden, statt eines einzigen,
teureren Hochspannungstransistors.
Zur Erläuterung des Mechanismus, mit dem der Kondensator 88 und der
Aufwärtstransformator 86 die Hochspannungsspitze erzeugen, sei
darauf hingewiesen, daß die Dioden 106 und 108 zusammen mit einem
gesteuerten Siliciumgleichrichter 110 das Laden und Entladen des
Kondensators 88 steuern. Der gesteuerte Gleichrichter 110 wird
mit der Zündungs-Triggerschaltung 109 gemäß Fig. 4 ein- und aus
geschaltet. Fig. 4 wird später näher erläutert.
Wenn der gesteuerte Siliciumgleichrichter 110 im Zustand AUS ist,
sind die Dioden 106 und 108 in Sperrichtung vorgespannt und der
Kondensator 88 lädt sich über Transistoren 94 und 107, Widerstand 92
und Zenerdiode 90 auf. Wenn der Kondensator 88 seine Ladespannung
erreicht, schalten die Transistoren 94 und 106 ab. Wenn der gesteuerte
Gleichrichter 110 im Zustand EIN ist, sind die Dioden 106 und 108 in
Durchlaßrichtung vorgespannt, also leitend, so daß die Transistoren 94
und 106 auf AUS gehalten werden und der Kondensator 88 entlädt sich
durch die Primärwicklung 86.
Wie aus Fig. 3 erkennbar ist, ist der Aufwärtstransformator 86 pola
risiert, wie durch die Punkte an zweien der Anschlüsse angedeutet ist,
so daß, wann immer der Kondensator 88 sich entlädt, in der Sekundär
wicklung des Aufwärtstransformators 86 eine Hochspannungsspitze indu
ziert wird. Die Klemme der Sekundärwicklung des Transformators 86,
die mit einem Punkt markiert ist, liefert ein positiv gehendes Hoch
spannungspotential an Widerstand 76 und Diode 78. In diesem Zustand
ist die Diode 78 in Vorwärtsrichtung vorgespannt und leitet, so daß
die Hochspannung an den Draht 4 angelegt wird.
Wenn der Kondensator 88 anfänglich beginnt, zu laden, ist die Span
nung über ihm klein und der durchfließende Strom groß. Wie erinner
lich, wird der zum Kondensator 88 gelieferte Strom durch den Spannungs
abfall über Widerstand 92 bestimmt. Wenn sich der Kondensator 88 auf
lädt, steigt die Spannung über ihm und der durchfließende Strom fällt.
Da in dieser Situation der Strom durch die Primärwicklung des Trans
formators 86 in einen nichtgepunkteten Anschluß fließt, wird in der
Sekundärwicklung ein negativgehendes Signal induziert. Dadurch wird
die Diode 78 in Sperrichtung vorgespannt und der Knoten 74 erhält
kein Signal.
Wenn der gesteuerte Siliciumgleichrichter 110 im Zustand EIN ist,
entlädt sich der Kondensator 88 durch die Primärwicklung des Trans
formators 86. Diese Entladung sorgt dafür, daß über der Sekundär
wicklung des Transformators 86 eine positiv gehende Spannungsspitze
induziert wird. Dieser Spannungsverlauf hat eine sehr schnelle
Anstiegszeit auf hohe Spannung, beispielsweise 2000 Volt, und
dann einen etwas allmählicheren Abfall der Spannung auf 0 Volt hin.
Diese Spitze sorgt dafür, daß die Diode 78 in Durchlaßrichtung vor
gespannt wird, so daß die Spitze zum Knoten 74 hindurchtritt.
Ein Klingeln in der Primärwicklung des Aufwärtstransformators 86
erlaubt es dem gesteuerten Gleichrichter 110, in den Zustand AUS
zurückzukehren. Wenn der Kondensator 88 entladen ist und der ge
steuerte Gleichrichter 110 sich im Zustand AUS befindet, werden
die Transistoren 94 und 107 wieder in den Zustand EIN gebracht.
Der Kondensator 88 wird dann wie eben geladen, in Vorbereitung
für den nächsten Triggerimpuls.
Nun zu der Halte-Stromversorgung 72 in Fig. 3. Dort ist eine
Spannungsquelle gezeigt, die mit einem MOSFET-Schalter 108 mit
einem Widerstand 80 verbunden bzw. von diesem getrennt werden
kann. Diese Spannungsquelle arbeitet mit einem Transformator 110
mit einer Primärwicklung 112, die mit zwei gesteuerten Silicium
gleichrichtern 114 und 116 verbunden ist. Das Paar von gesteuerten
Gleichrichtern kann mit entsprechenden Raten ein- und ausgeschaltet
werden, um den Spannungspegel zu kontrollieren, der in der Sekundär
wicklung 118 des Transformators 110 vorhanden ist.
Die Sekundärwicklung 118 ist über eine Diodenbrücke 120 geschaltet,
die für eine Doppelweggleichrichtung des Wechselstromsignals von
der Sekundärwicklung 118 sorgt. Eine Drossel 122 und ein Kondensator
124 filtern das Doppelweg-gleichgerichtete Signal und liefern eine
Gleichspannung an den Knoten 126. Der Drain des MOSFET 108 ist mit
dem Knoten 126 verbunden, und die Source ist mit Widerstand 80 ver
bunden. Das Gate des MOSFET 108 ist über einen Widerstand 128 und
einen Widerstand 130 mit Masse verbunden. Das Gate ist auch mit
einer Gate-Treibschaltung 132 verbunden, die in Verbindung mit
Fig. 4 noch näher erläutert wird. Schließllich ist der Verbindungs
punkt der Widerstände 128 und 130 auch mit der Gate-Treibschaltung
132 verbunden.
Der MOSFET 108 ist ein Enhancement-Mode-n-Kanal-Element derart, daß
eine positive Spannung zwischen Gate und Source einen Stromfluß vom
Drain zur Source ergibt. Umgekehrt, wenn sich die Spannung zwischen
Gate und Source dem Wert Null nähert, schaltet der MOSFET 108 ab.
Als solches arbeitet der MOSFET 108 also als Schalter in Abhängig
keit von der angelegten Gate-Source-Spannung. In einigen Fällen
wird der MOSFET 108 servo-gesteuert, um den Plasmastrom während des
Impulses abzuflachen.
Die Gate-Treibschaltung 132 legt das entsprechende Steuersignal an
Gate-Source von MOSFET 108, um den Halte-Impuls-Teil des an den
Draht 4 gelegten Signals zu erzeugen.
Wie dargestellt, befindet sich in der Halteimpuls-Stromversorgung 72
ein Widerstandspaar 134, 136, die zwischen Knoten 126 und Masse
liegen. Diese Widerstände arbeiten als Spannungsteiler und liefern
eine Spannung, bei der es sich um einen vorgegebenen Anteil der
Spannung am Knoten 126 handelt, an den Spannungsmonitor 138. Auf
diese Weise kann der von der Halteimpulsversorgung 72 gelieferte
Spannungspegel festgelegt werden.
In ähnlicher Weise wird ein Strom-Fühl-Widerstand 140 zwischen einen
Punkt der Diodenbrücke 120 und Masse geschaltet. Die über dem Strom-
Fühl-Widerstand 140 erzeugte Spannung ist proportional dem von der
Haltestromversorgung 72 gelieferten Strom. Diese Spannung wird an
einen Strommonitor 142 geliefert.
Wie oben diskutiert, ist der gewünschte Spannungsverlauf für den
Plasmastrom eine Reihe von Impulsen mit einem vorgegebenen Tast
verhältnis, von denen jeder Impuls eine anfängliche Hochspannungs
spitze hat, der ein Halteimpuls mit erheblich niedrigerer konstanter
Spannung folgt. Fig. 5 veranschaulicht zwei Perioden eines solchen
Spannungsverlaufs. Dieser Spannungsverlauf steht am Knoten 74 der
Fig. 3 und ist eine Summe des Triggerimpulses von der Triggerimpuls
versorgung 70 und des Halteimpulses von der Halteimpulsversorgung 72.
Der Betrieb der Zünder-Trigger-Schaltung 109 und der Gate-Treib
schaltung 132 sollte synchronisiert erfolgen, so daß die Spannungs
verläufe von jeder Versorgung in der richtigen Folge mit Bezug auf
einander erzeugt werden. Diese Funktion wird mit der Interface-
Schaltung nach Fig. 4 kontrolliert.
Diese Schaltung ist in Fig. 4 veranschaulicht. Wie erinnerlich, treibt
gemäß Fig. 1 der Impulsgenerator 68 die modulierte Stromversorgung 1
als Funktion des vom Dosisratenmonitor 69 gemessenen Strompegels.
Die Schaltung nach Fig. 4 sorgt für das Interface zwischen dem
Impulsgenerator 68 und den Trigger- und Halte-Stromversorgungen nach
Fig. 3. Eine detailliertere Darstellung der Schaltung für den Zündungs
trigger 109 und den Gate-Treiber 132 ist in Fig. 4 in unterbrochenen
Linien eingeschlossen.
Genauer gesagt, der Zündungstrigger 109 verwendet einen photooptischen
Anschluß zur Aufnahme von Signalen vom Impulsgenerator 68. Diese
Signale treiben einen digitalen Monoflop 146, der seinerseits einen
MOSFET 148 betreibt. Seinerseits schaltet der MOSFET 148 den gesteuer
ten Siliciumgleichrichter 110 aus oder ein, synchron mit dem Signal
vom Impulsgenerator 68. In ähnlicher Weise erhält die Gate-Treib
schaltung 132 Signale vom Impulsgenerator 68 über einen photo
optischen Anschluß 150. Ihrerseits treiben die empfangenen Signale
eine Inverterstufe 152, die zwischen ein isoliertes Paar Spannungs
versorgungen gekoppelt ist. Wenn der Spannungsverlauf vom Impuls
generator 68 positiv geht, sorgt der Inverter 152 dafür, daß der
Knoten 154 positiver wird. Der Knoten 154 ist an das Gate des
MOSFET 108 über Widerstand 155 und Widerstand 129 gekoppelt (vergl.
Fig. 3). Der Widerstand 156 ist zwischen Knoten 154 und die negativ
isolierte Versorgung gekoppelt, vergl. Fig. 4. Die Verbindung zwischen
Widerstand 156 und der negativen Versorgung ist ihrerseits an die
Verbindung zwischen Widerstände 128 und 130 gemäß Fig. 3 angeschlos
sen. Wenn in dieser Konfiguration der Knoten 154 positiv geht, wird
über Widerstand 128 eine positive Spannung induziert, und damit
über Gate-Source von MOSFET 108. Dadurch schaltet der MOSFET 108
ein.
Umgekehrt, wenn das Signal vom Impulsgenerator 68 logisch Null ist,
hört der Inverter 152 auf, zu leiten. Als solche wird die Spannung
am Knoten 154 nur durch Signale von der Halteimpuls-Stromversorgung 72
in Fig. 3 bestimmt. Im Effekt resultiert das darin, daß über Wider
stand 128 Null Voll induziert werden, und dadurch schaltet MOSFET 108
ab. Auf diese Weise sorgt der Impulsgenerator 68 dafür, daß die
Halteimpulsversorgung 72 mit dem Knoten 74 verbunden bzw. von diesem
getrennt wird.
Wie aus Fig. 4 ersichtlich ist, werden Signale vom Impulsgenerator 68
an gemeinsame photooptische Anschlüsse 144 und 150 gelegt, damit
werden die Steuersignale, die von der Zündschaltung 109 und der
Gate-Treibschaltung 132 erzeugt werden, synchronisiert. In Relation
zum Schalter 66 nach Fig. 2 sind der gemeinsame Treiber für die
photooptischen Anschlüsse 144 und 150 und der Betrieb des gesteuerten
Gleichrichters 110 und des MOSFET 108 in Antwort darauf, das funk
tionelle Äquivalent des Schalters 66.
Die photooptischen Anschlüsse 144 und 150 werden dazu verwendet, den
Impulsgenerator von den Impuls-Stromversorgungen zu isolieren. Das
ist auch der Grund für die Verwendung von isolierten Stromversorgungen
zum Speisen der Gate-Treibschaltung 132.
In Fig. 6 ist ein Nebenschluß-Regulator gezeigt, der anstelle der
Schaltung 72 verwendet werden kann, bei der es sich um einen Reihen
regulator handelt. Im Fall der Fig. 6 ist ein Reihenschaltungs-
Array von MOSFET-Transistoren 158 in Nebenschluß zwischen den Ausgang
der Stromversorgung und Masse geschaltet. Die Stromversorgung ist
so ausgelegt, daß der entsprechende Halteimpuls-Spannungspegel gelie
fert wird. Wenn der Impuls für die gewünschte Zeitspanne angelegt
worden ist, wird an die MOSFET-Struktur 158 ein Steuersignal gelegt,
so daß die Struktur den Ausgang der Versorgung nach Masse hin kurz
schließt. Eine Reihenschaltung von Dioden 160 liefert ein Ein-Weg
gleichgerichtetes Signal an Filterkondensatoren 162. Zenerdioden 164
regulieren den Spannungspegel, der am Knoten 166 steht. Widerstände
168 und Zenerdioden 170 sorgen für eine Vorspannung der MOSFET-
Transistoren in der Struktur 158.
Die impulsbreiten-modulierte Plasmastromversorgung, die oben beschrie
ben worden ist, kann in eine servo-gesteuerte Konfiguration eingebaut
werden, um die Dosis enger zu kontrollieren, die von der Ionenplasma-
Elektronenkanone nach der Erfindung geliefert wird. In Fig. 7 ist eine
solche Konfiguration in vereinfachter funktioneller Form dargestellt.
Fig. 7 ist ähnlich der Anordnung nach Fig. 1, nur daß der Impuls
generator 68 nach Fig. 1 durch einen Dosisraten-Steuerblock 200 in
Fig. 7 ersetzt ist, und daß anstelle eines Reihen-Regulators der
Nebenschluß-Regulator nach Fig. 6 in Verbindung mit einer Halte-
Plasmastromversorgung 202 verwendet wird.
In Fig. 1 ist durch eine unterbrochene Linie angedeutet, daß das
Signal vom Dosisratenmonitor 69 mit dem Impulsgenerator 68 gekoppelt
ist, wodurch angedeutet wird, daß das Signal vom Dosisratenmonitor 69
den Impulsgenerator 68 indirekt steuert. Genauer gesagt, bestimmt der
Benutzer aufgrund des Signals die richtige Impulsbreite für die
gewünschte Dosis und stellt den Impulsgenerator 68 entsprechend ein.
Im Kontrast dazu wird in der Konfiguration nach Fig. 7 das Dosisraten
monitorsignal als das Rückmeldesignal in einer Servoschleife ver
wendet, in der der Dosisraten-Kontrollblock 200 das Dosisratensignal
mit einem Dosisraten-Einstellpunkt und der Bahngeschwindigkeit ver
gleicht, um automatisch die Impulsbreite zur Kontrolle der modulierten
Stromversorgung 1 einzustellen.
Ein Synchronsignal wird gleichzeitig an den Triggerpulser 70 und die
Dosisratenkontrolle 200 geliefert. Der Triggerpulser 70 schickt dann
einen Triggerimpuls ab, der das Plasma startet. Die Dosisraten
kontrolle 200 hält ein Eingangssignal an die Halteversorgung 72
aufrecht, so daß die Halteversorgung eingeschaltet bleibt, bis das
Integral des Dosisratensignals den eingestellten Dosispegel über
steigt. An diesem Punkt schaltet die Dosisratensteuerung 200 das
Eingangssignal für die Halteversorgung 72 ab, so daß der Plasma
impuls beendet wird.
Fig. 8 ist ein detaillierteres Schaltbild der Schaltung der bevor
zugten Ausführungsform des Dosisraten-Steuerblocks 200. Illustriert
ist eine Schaltung für einen Integrator 202, einen Komparator 204
und eine Impulsformerschaltung 206. Der Integrator 202 erhält ein
Dosisratensignal vom Dosisratenmonitor 69 und integriert es. Der
Ausgang des Integrators 202 wird mit einer e-Strahl-Integrations
schwelle im Komparator 204 verglichen. Die e-Strahl-Integrations
schwelle wird hier auch als Dosis-Einstellpunkt bezeichnet. Wenn
die e-Strahl-Integrationsschwelle vom integrierten Dosisratensignal
überschritten wird, wodurch angezeigt wird, daß die richtige Dosis
rate für die laufende Periode geliefert worden ist, liefert der
Komparator 204 ein Signal an die Impulsformerschaltung 206, um
die modulierte Stromversorgung 1 in den Zustand AUS zu bringen.
Eine nicht dargestellte Taktschaltung liefert das Synchronsignal
auf Leitung 207 an Integrator 202 und Impulsformerschaltung 206,
um den Beginn jeder Periode des Impulszuges einzuleiten. Dieses
Synchronsignal wird gleichzeitig an den Triggerpulser 70 geliefert.
Der Integrator 202 antwortet auf das Signal durch Reinitialisierung
seines Zustandes auf Null. Die Impulformerschaltung 206 antwortet
durch Rückstellen ihres Zustandes so, daß die modulierte Strom
versorgung 1 in den Zustand EIN gebracht wird.
Unter Umständen ist ein Betrieb mit offener Schleife erwünscht, und
dann kann das Dosisratensignal manuell an den Integrator 202 ge
gezeigt, die als einstellbare Stromquelle arbeitet, die mit dem Ein
gang 209 des Integrators 202 mittels eines Schalters 210 verbunden
werden kann. Der Schalter 210 hat zwei Stellungen, von denen die
erste dafür sorgt, daß das Signal vom Dosisratenmonitor 69 mit
dem Eingang 209 des Integrators 202 verbunden ist. In der zweiten
Position ist die manuelle Einstellschaltung 208 mit dem Eingang 209
des Integrators 202 verbunden.
Jeder dieser Funktionsblöcke der Fig. 8 wird jetzt näher erläutert.
Der Integrator 202 weist eine Verstärkungsstufe 212 auf, die die
Dosisratensignale aufnimmt und verstärkt. Eine invertierende Puffer
stufe 214 korrigiert die Polarität des Signals von der Verstärkungs
stufe 212.
Die tatsächliche Integration erfolgt in einer Integrationsstufe 216,
die auf das Signal von der invertierenden Pufferstufe 214 arbeitet.
Die Integrationsstufe 216 weist einen Verstärker 218 mit einem Konden
sator 220 auf, der zwischen dessen Ausgang und dessen invertierenden
Eingang geschaltet ist. Der nichtinvertierende Eingang ist mit Signal-
Masse verbunden. Das Signal von der invertierenden Pufferstufe 216 wird
mit einem Widerstand 222 an den invertierenden Eingang des Verstärkers
218 gelegt. Ein MOS-Schalter 224 liegt im Nebenschluß über dem Konden
sator 220, so daß die Spannung über dem Kondensator 220 als Antwort
auf das Synchronsignal auf Null gesetzt werden kann, wenn ein neuer
Integrationsvorgang erwünscht ist.
Der Komparator 204 weist eine einstellbare Spannungsteilerschaltung 226
auf, die das e-Strahl-Integrationsschwelle-Signal erzeugt. Genauer
gesagt, ein fester Widerstand 228 und ein variabler Widerstand 230
sind in Reihe geschaltet und teilen die Versorgungsspannung auf eine
Spannung herab, die für den gewünschten Schwellwertpegel repräsentativ
ist. Durch Manipulation des variablen Widerstandes 230 kann der Be
nutzer die erzeugte Spannung variieren.
Das e-Strahl-Integrationsschwelle-Signal wird an den invertierenden
Eingang eines Komparators 232 gelegt. Das integrierte Dosisratensignal
wird an den nichtinvertierenden Eingang des Komparators 232 gelegt.
Wenn das integrierte Dosisratensignal die e-Strahl-Integrationsschwelle
übersteigt, wodurch angezeigt wird, daß die gewünschte Dosis geliefert
worden ist, liefert der Komparator 232 einen Ausgangspegel "logisch eins"
an die Impulsformerschaltung 206. Umgekehrt, wenn das integrierte
Dosisratensignal kleiner ist als die e-Strahl-Integrationsschwelle,
liefert der Komparator 232 Ausgangspegel "logisch null".
Die Impulsformerschaltung 206 weist einen D-Flipflop 234 und eine
Folger-Treiberstufe 236 auf. Das Signal vom Komparator 232 wird an
den Takteingang des Flipflop 234 gelegt. Der D-Eingang des Flipflop
234 ist auf Pegel "logisch eins" gezogen, und der invertierte Ausgang
des Flipflop 234 treibt die Folger-Treiberstufe 236.
Der Rücksetzeingang des D-Flipflop 234 erhält das Komplement des
Synchronsignals auf Leitung 207 über Inverter 238. Wie erinnerlich,
wird das Synchronsignal auch an den Steuereingang des MOS-Schalters 224
geliefert und bewirkt die Entladung des Kondensators 220, wenn ein
neuer Integrationsvorgang beginnen soll. Wenn also das Synchronsignal
vom Zustand "logisch eins", in dem der Schalter 224 EIN ist, in einen
Zustand "logisch null" übergeht, in dem der Schalter 224 AUS ist und
der Kondensator 220 lädt, wird der D-Flipflop 234 rückgestellt.
Wenn der D-Flipflop 234 rückgestellt ist, ist sein invertierender
Ausgang auf "logisch eins" und Folger-Treibersignal 236 signalisiert
der modulierten Stromversorgung 1, den Erregungsimpuls einzuleiten.
Bei einer weiteren Ausführungsform der modulierten Stromversorgung 1
nach der Erfindung könnten der Triggerpulser 72 und die Halte
versorgung 70 nach Fig. 7 durch eine stromgeregelte Versorgung er
setzt werden, die eine Maximalspannung entsprechend der hat, die für
den Triggerimpuls gefordert wird. Die stromgeregelte Versorgung
würde anstelle der Halte-Plasmastromversorgung 202 nach Fig. 7 in
Verbindung mit dem Nebenschlußregulator 201 verwendet. Wenn der
Nebenschlußregulator 201 nach Fig. 7 ausgeschaltet wird, steigt die
stromgeregelte Stromversorgung auf ihren maximalen Spannungspegel,
bis die Plasmaentladung geformt ist. Danach stellt sich die strom
geregelte Versorgung darauf ein, den voreingestellten Strom auf einem
niedrigeren Haltespannungspegel zu liefern.
Das Ganze sorgt dafür, daß ein Strahl erzeugt wird und eine Dosis
an das Target oder Produkt geliefert wird. Der Dosisratenmonitor 69
mißt die angelegte Dosis und liefert ein diese repräsentierendes
Dosisratensignal an den Dosisratensteuerblock 200. Der Integrator 218
im Dosisratensteuerblock 200 integriert dieses Signal und liefert
das Integral an den Komparator 204. Wenn das Integral die e-Strahl
Integrationsschwelle übersteigt, liefert der Komparator 204 einen
positiv gehenden Taktimpuls an den D-Flipflop 234. Das sorgt dafür,
daß der D-Flipflop 234 den Logikzustand speichert, der am D-Eingang
angeboten wird, in diesem Falle logisch eins, und liefert am inver
tierenden Ausgang logisch null. Seinerseits liefert der Folger-
Treiber 235 ein Signal an den Nebenschlußregulator 200, um diesen
zu veranlassen, einzuschalten. Der Nebenschlußregulator 200 leitet
den Strom ab, der die Plasmaentladung aufrechterhalten hat. Das
Plasma verschwindet und der Elektronenstrahl endet. Das beendet den
Impuls für die Impulsperiode. Das wird in der nächsten Impulsperiode
wiederholt.
Auf diese Weise wird ein servogesteuertes System geschaffen.
Claims (9)
1. Ionenplasma-Elektronenkanone mit
- - einem elektrisch leitenden, evakuierten Gehäuse, das eine erste und eine zweite Kammer bildet, die einander benachbart sind und eine Öffnung zwischen sich besitzen;
- - einer Einrichtung (4) zum Erzeugen positiver Ionen in der ersten Kammer (12);
- - einer in der zweiten Kammer (13) angeordneten Kathode (6), die mit Abstand von dem Gehäuse und von diesem isoliert angebracht ist und eine Sekundärelektronen-Emissionsfläche (5) besitzt;
- - einer Einrichtung (8, 9) zum Anlegen einer negativen Hochspannung zwischen die Kathode (6) und das Gehäuse, damit die Kathode (6) die positiven Ionen aus der ersten Kammer (12) in die zweite Kammer (13) zieht, so daß sie auf die Emissionsfläche (5) der Kathode (6) auftreffen und veranlassen, daß die Emissionsfläche Sekundärelektronen emittiert;
- - einer elektrisch leitenden, elektronendurchlässigen Folie (2), die sich über eine Öffnung in dem Gehäuse an der Seite der ersten Kammer (12), die der Kathode (6) zugewandt ist, erstreckt und elektrisch mit dem Gehäuse verbunden ist, um eine Anode für die Sekundärelektronen zu bilden und zu veranlassen, daß die Sekundär elektronen in Form eines Elektronenstrahls durch die Folie (2) hindurchgelangen;
- - einem elektrisch leitenden Extraktionsgitter (16), das in der zweiten Kammer (13) benachbart der Sekundärelektronen-Emissions fläche (5) der Kathode (6) montiert ist und an das Gehäuse ange schlossen ist, um ein elektrostatisches Feld an der Oberfläche zu erzeugen und zu veranlassen, daß von dort kommende Sekundärelektronen durch die Öffnungen in dem Gitter (16) in die erste Kammer (12) hineingelangen; und
- - einem elektrisch leitenden Traggitter (15), das in der ersten Kammer (12) der Folie benachbart montiert ist sowie an die Folie und das Gehäuse angeschlossen ist, wobei das Gitter (15) die Folie (2) trägt und gemeinsam mit dem Extraktionsgitter (16) die Sekundärelektronen auf die Folie zu beschleunigt, dadurch gekennzeichnet, daß eine Einrichtung vorgesehen ist, mit der ein Impuls von Sekundärelektronen durch Variation der Zeit spanne erzeugt wird, in der die Sekundärelektronen durch die Folie hindurchtreten.
2. Elektronenkanone nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die
Intensität der durch die Folie hindurchtretenden Sekundärelektronen
im wesentlichen konstant gehalten wird, während der Zeitbruchteil
variiert wird, während dessen die Sekundärelektronen hindurchgelassen
werden.
3. Elektronenkanone nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die
Sekundärelektronen veranlaßt werden, auf eine stehende oder
laufende Materialbahn in der Nachbarschaft des Folienfensters
aufzuprallen, so daß diese mit den Sekundärelektronen bestrahlt
wird.
4. Elektronenkanone nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß der
Zeitbruchteil, während dessen Sekundärelektronen hindurchgelassen
werden und damit auf die stehende oder laufende Materialbahn auf
treffen, variiert wird, um einen Impuls der Art zu erzeugen, daß
eine Längeneinheit Bahnmaterial eine Dosis von Sekundärelektronen
erhält, die über einen Bereich von 100 zu 1 der Dosis einstellbar
ist, die sie erhalten würde, wenn das Basismaterial mit den Sekundär
elektronen kontinuierlich bestrahlt würde.
5. Elektronenkanone nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekenn
zeichnet, daß der Minimalimpuls aus Sekundärelektronen durch die
Zeit bestimmt ist, die dazu benötigt wird, ein die Plasmakammer
erfüllendes Plasma zu bilden.
6. Verfahren zur Erzeugung von Sekundärelektronen von einer Ionenplasma-
Elektronenkanone,während die Dosis der Sekundärelektronen variiert
wird, die auf eine stehende oder laufende Materialbahn auftreffen,
die mit der Ionenplasma-Elektronenkanone bestrahlt werden kann,
die besteht aus:
einer Ionenplasma-Elektronenkanonen-Anordnung, die ihrerseits auf weist ein elektrisch leitendes, evakuiertes Gehäuse, das eine erste und eine zweite Kammer bildet, die einander benachbart sind und eine Öffnung zwischen sich besitzen; eine Einrichtung (4) zum Erzeugen positiver Ionen in der ersten Kammer (12); eine in der zweiten Kammer (13) angeordnete Kathode (6), die mit Abstand von dem Gehäuse und von diesem isoliert angebracht ist und eine Sekundär elektronen-Emissionsfläche (5) besitzt; eine Einrichtung (8, 9, 10) zum Anlegen einer negativen Hochspannung zwischen die Kathode (6) und das Gehäuse, damit die Kathode (6) die positiven Ionen aus der ersten Kammer (12) in die zweite Kammer (13) zieht, so daß sie auf die Emissionsfläche (5) der Kathode (6) auftreffen und veranlassen, daß die Emissionsfläche Sekundärelektronen emittiert; eine elektrisch leitende, elektronendurchlässige Folie (2), die sich über eine Öffnung in dem Gehäuse an der Seite der ersten Kammer (12), die der Kathode (6) zugewandt ist, erstreckt und elektrisch mit dem Gehäuse verbunden ist, um eine Anode für die Sekundärelektronen zu bilden und zu veranlassen, daß die Sekundärelektronen in Form eines Elektronenstrahls durch die Folie (2) hindurchgelangen; ein elektrisch leitendes Extraktionsgitter (16), das in der zweiten Kammer (13) benachbart der Sekundärelektronen-Emissionsfläche (5) der Kathode (6) montiert ist und an das Gehäuse angeschlossen ist, um ein elektro statisches Feld an der Oberfläche zu erzeugen und zu veranlassen, daß von dort kommende Sekundärelektronen durch die Öffnungen in dem Gitter (16) in die erste Kammer (12) hineingelangen; und ein elektrisch leitendes Traggitter (15), das in der ersten Kammer (12) der Folie benachbart montiert ist sowie an die Folie und das Gehäuse ange schlossen ist, wobei das Gitter (15) die Folie (2) trägt und in sich Öffnungen aufweist, die vorzugsweise mit den Öffnungen in dem Extraktionsgitter (16) ausgerichtet sind, um gemeinsam mit diesem die Sekundärelektronen auf die Folie zu beschleunigen, dadurch gekennzeichnet, daß die Zeitspanne variiert wird, in der die Sekundärelektronen durch die Folie hindurchtreten, um einen Impuls der Sekundärelektronen zu erzeugen.
einer Ionenplasma-Elektronenkanonen-Anordnung, die ihrerseits auf weist ein elektrisch leitendes, evakuiertes Gehäuse, das eine erste und eine zweite Kammer bildet, die einander benachbart sind und eine Öffnung zwischen sich besitzen; eine Einrichtung (4) zum Erzeugen positiver Ionen in der ersten Kammer (12); eine in der zweiten Kammer (13) angeordnete Kathode (6), die mit Abstand von dem Gehäuse und von diesem isoliert angebracht ist und eine Sekundär elektronen-Emissionsfläche (5) besitzt; eine Einrichtung (8, 9, 10) zum Anlegen einer negativen Hochspannung zwischen die Kathode (6) und das Gehäuse, damit die Kathode (6) die positiven Ionen aus der ersten Kammer (12) in die zweite Kammer (13) zieht, so daß sie auf die Emissionsfläche (5) der Kathode (6) auftreffen und veranlassen, daß die Emissionsfläche Sekundärelektronen emittiert; eine elektrisch leitende, elektronendurchlässige Folie (2), die sich über eine Öffnung in dem Gehäuse an der Seite der ersten Kammer (12), die der Kathode (6) zugewandt ist, erstreckt und elektrisch mit dem Gehäuse verbunden ist, um eine Anode für die Sekundärelektronen zu bilden und zu veranlassen, daß die Sekundärelektronen in Form eines Elektronenstrahls durch die Folie (2) hindurchgelangen; ein elektrisch leitendes Extraktionsgitter (16), das in der zweiten Kammer (13) benachbart der Sekundärelektronen-Emissionsfläche (5) der Kathode (6) montiert ist und an das Gehäuse angeschlossen ist, um ein elektro statisches Feld an der Oberfläche zu erzeugen und zu veranlassen, daß von dort kommende Sekundärelektronen durch die Öffnungen in dem Gitter (16) in die erste Kammer (12) hineingelangen; und ein elektrisch leitendes Traggitter (15), das in der ersten Kammer (12) der Folie benachbart montiert ist sowie an die Folie und das Gehäuse ange schlossen ist, wobei das Gitter (15) die Folie (2) trägt und in sich Öffnungen aufweist, die vorzugsweise mit den Öffnungen in dem Extraktionsgitter (16) ausgerichtet sind, um gemeinsam mit diesem die Sekundärelektronen auf die Folie zu beschleunigen, dadurch gekennzeichnet, daß die Zeitspanne variiert wird, in der die Sekundärelektronen durch die Folie hindurchtreten, um einen Impuls der Sekundärelektronen zu erzeugen.
7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß die Intensität
der Sekundärelektronen, die durch die Folie hindurchtreten, im
wesentlichen konstant gehalten wird, während der Zeitbruchteil variiert
wird, während dessen die Sekundärelektronen emittiert werden.
8. Verfahren nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß der Zeit
bruchteil, während dessen Sekundärelektronen durch die Folie hindurch
treten und damit auf die stehende oder laufende Materialbahn auf
treffen, variabel über einen Bereich von 100 zu 1 der Dosis ein
stellbar ist, die die Materialbahn erhalten würde, wenn das Bahn
material kontinuierlich mit den Sekundärelektronen bestrahlt
werden sollte.
9. Verfahren nach Anspruch 6, 7 oder 8, dadurch gekennzeichnet, daß
der Minimalimpuls aus Sekundärelektronen durch die Zeit bestimmt
wird, die dazu benötigt wird, ein die Plasmakammer erfüllendes
Plasma zu bilden.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/031,618 US4786844A (en) | 1987-03-30 | 1987-03-30 | Wire ion plasma gun |
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Publication Number | Publication Date |
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DE3810293A1 true DE3810293A1 (de) | 1988-10-13 |
Family
ID=21860468
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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DE3810293A Withdrawn DE3810293A1 (de) | 1987-03-30 | 1988-03-25 | Elektronenkanone |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4786844A (de) |
JP (1) | JPS63279542A (de) |
DE (1) | DE3810293A1 (de) |
FR (1) | FR2615324B1 (de) |
GB (1) | GB2203889B (de) |
SE (1) | SE469810B (de) |
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- 1988-03-28 JP JP63072149A patent/JPS63279542A/ja active Granted
- 1988-03-29 FR FR888804080A patent/FR2615324B1/fr not_active Expired - Fee Related
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8128 | New person/name/address of the agent |
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|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8128 | New person/name/address of the agent |
Representative=s name: BLUMBACH, KRAMER & PARTNER, 65193 WIESBADEN |
|
8139 | Disposal/non-payment of the annual fee |