DE3835647A1 - Schaltungsanordnung mit eingangsleitungen und einer ausgangsleitung - Google Patents

Schaltungsanordnung mit eingangsleitungen und einer ausgangsleitung

Info

Publication number
DE3835647A1
DE3835647A1 DE3835647A DE3835647A DE3835647A1 DE 3835647 A1 DE3835647 A1 DE 3835647A1 DE 3835647 A DE3835647 A DE 3835647A DE 3835647 A DE3835647 A DE 3835647A DE 3835647 A1 DE3835647 A1 DE 3835647A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
line
circuit
input
switching device
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Withdrawn
Application number
DE3835647A
Other languages
English (en)
Inventor
Mark E Fitzpatrick
Yat-Sum Chan
Richard F Pang
Gary R Gouldsberry
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Gazelle Microcircuits Inc
Original Assignee
Gazelle Microcircuits Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Gazelle Microcircuits Inc filed Critical Gazelle Microcircuits Inc
Publication of DE3835647A1 publication Critical patent/DE3835647A1/de
Withdrawn legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/317Testing of digital circuits
    • G01R31/3181Functional testing
    • G01R31/3185Reconfiguring for testing, e.g. LSSD, partitioning
    • G01R31/318502Test of Combinational circuits
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2832Specific tests of electronic circuits not provided for elsewhere
    • G01R31/2836Fault-finding or characterising
    • G01R31/2839Fault-finding or characterising using signal generators, power supplies or circuit analysers
    • G01R31/2841Signal generators

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • Techniques For Improving Reliability Of Storages (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Design And Manufacture Of Integrated Circuits (AREA)

Description

Die Erfindung bezieht sich auf Multiplexerschaltungen und insbesondere auf eine solche Schaltungsanordnung, bei der ausgewählte Eingangs- und Ausgangsleitungen von­ einander getrennt werden können.
Bei einer typischen bekannten Multiplexerschaltung (wie sie in Fig. 1 mit 10 bezeichnet ist) kann die betreffende Schaltung 10 eine Vielzahl von Schaltungsteilen 12, 14, 16 aufweisen, deren jeder eine oder mehrere Eingangslei­ tungen 18, 20, 22 und eine oder mehrere damit verbundene Ausgangsleitungen 24, 26, 28 aufweist. Die Ausgangslei­ tungen 24, 26, 28 sind nacheinander mit einer Gesamtschal­ tungs-Ausgangsleitung 30 verbunden. Steuerleitungen 32, 34, 36 sind individuell mit den betreffenden Schaltungs­ teilen 12, 14, 16 verbunden, so daß der Anwender der Schaltung 10 den Schaltungsteil auswählen kann, den er im Betrieb wünscht und dem er sodann Eingangssignale zu­ führen und von dem er Ausgangssignale abnehmen kann, die an die Gesamt-Ausgangsleitung 30 der Schaltungsanordnung abzugeben sind.
Auf diese Art und Weise können die Funktionen des jeweili­ gen Schaltungsteiles individuell je nach Bedarf angewandt werden.
Derzeit hat es sich als wünschenswert herausgestellt, zunächst eine Multiplexerschaltung bereitzustellen, die eine Mehrzahl von Schaltungsteilen aufweist, von denen lediglich einer für eine beginnende zukünftige Anwendung aus­ zuwählen ist, während die übrigen Schaltungsteile zu­ nächst enthalten sind, jedoch schließlich von der Gesamt­ schaltung ausgeschlossen werden. In einem solchen Falle kann es erwünscht sein, jeden der betreffenden Schal­ tungsteile individuell zu testen, um dessen Funktionali­ tät zu bestimmen, und sodann den einen Schaltungsteil auszuwählen, der am optimalsten die Bedürfnisse des Anwenders erfüllt.
Die Multiplex- bzw. Multiplexerschaltung des in Fig. 1 dargestellten Typs führt selbst zu dem betreffenden Test. Eine derartige Schaltungsanordnung umfaßt jedoch an­ schließend an das Testen die unerwünschten Schaltungs­ teile als Teil der Gesamtschaltungsanordnung, was zu einem übermäßigen Leistungsverbrauch und zu einem höheren Belastungsmaß auf die vorhergehenden und nach­ folgenden Schaltungen führt als eine optimale Belastung.
Der Erfindung liegt demgemäß die Aufgabe zugrunde, eine Multiplexerschaltung zu schaffen, die das Testen ihrer individuellen Schaltungsteile ermöglicht und die an­ schließend diese Schaltungsteile, die als Teil der Gesamtschaltungsanordnung nicht erwünscht bzw. er­ forderlich sind, abzutrennen gestattet.
Umfassend gesagt, umfaßt die Erfindung eine Schaltungs­ anordnung mit ersten und zweiten Eingangsleitungen und einer Ausgangsleitung, wobei eine erste Schaltungsein­ richtung vorgesehen ist, welche die erste Eingangsleitung der Schaltungsanordnung mit der Ausgangsleitung der be­ treffenden Schaltungsanordnung verbindet. Ferner ist eine zweite Schaltungseinrichtung vorgesehen, welche die zweite Eingangsleitung der betreffenden Schaltungsan­ ordnung mit deren Ausgangsleitung verbindet. Außerdem ist eine durch Laser programmierbare Einrichtung vorge­ sehen, die eine selektive Trennung der ersten Eingangs­ leitung der Schaltungsanordnung von der Ausgangsleitung dieser Schaltungsanordnung hervorruft, wobei das Testen der ersten Schaltungseinrichtung und der zweiten Schal­ tungseinrichtung vor der Schaffung der betreffenden Trennung vorgenommen werden kann.
Anhand von Zeichnungen wird die Erfindung nachstehend beispielsweise näher erläutert.
Fig. 1 zeigt eine typische bekannte Multiplexschaltung.
Fig. 2 zeigt eine Schaltungsanordnung gemäß der vor­ liegenden Erfindung.
Im folgenden wird die bevorzugte Ausführungsform der Erfindung erläutert. Wie in Fig. 2 dargestellt, umfaßt die Gesamt-Multiplexschaltung 50 gemäß der vorliegenden Erfindung Schaltungsteile 52 A, 52 B, 52 C, 52 D, deren je­ der Paare von Schalttransistoren 54 A, 56 A, 54 B, 56 B, etc. aufweist. Jeder Schaltungsteil weist Eingangsleitungen 58 A, 60 A, etc. auf, die mit entsprechenden Gate-Elek­ troden der Transistoren 54 A, 56 A, etc. verbunden sind. Die Eingangsleitungen 58 A, 60 A, etc. sind mit ent­ sprechenden Gesamt-Eingangsleitungen 59 A, 61 A, etc. der Schaltungsanordnung 50 verbunden. Die Drain- bzw. Senke- Elektroden der Transistoren 54 A, 56 A, etc. sind mit entsprechenden Ausgangsleitungen 62 A, 62 B, etc. verbun­ den. Die Ausgangsleitungen 62 A, 62 B, etc. sind nach­ einander mit einer Ausgangsleitung 66 der Gesamtschal­ tungsanordnung 50 verbunden, während die Ausgangslei­ tungen 64 A, 64 B, etc. mit einer Ausgangsleitung 68 der Gesamtschaltungsanordnung 50 verbunden sind. Die Aus­ gangsleitung 66 ist über einen Widerstand 70 an einem Spannungsversorgungsanschluß 72 angeschlossen, während die Ausgangsleitung 68 über einen Widerstand 74 an dem Spannungsversorgungsanschluß 72 angeschlossen ist. Die Quelle- bzw. Source-Elektroden jedes Paares von Transistoren 54 A, 56 A, etc. sind gemeinsam miteinander sowie der Reihe nach mit einer entsprechenden Steuerlei­ tung 76 A, 76 B, etc. verbunden, welche über einen Transistor 78 A, 78 B, etc. und einen Widerstand 80 A, 80 B, etc. mit einem Masse- bzw. Erdanschluß 82 verbunden ist. Ein Spannungsversorgungsanschluß 84 ist mit der Gate- Elektrode des jeweiligen Transistors 78 A, 78 B, etc. ver­ bunden.
Wenn ausgewählt wird, beispielsweise den Schaltungsteil 52 A zu testen, wird ein Signal hoher Spannung an die Steuerleitungen 76 B, 76 C, 76 D über Dioden 86 B, 86 C, 86 D angelegt, deren jede von einer entsprechenden Steuerein­ gangsleitung zu einer entsprechenden Steuerleitung hin in Durchlaßrichtung beansprucht ist. Dadurch werden die Source-Elektroden der Transistoren 54 B, 56 B, 54 C, 56 C, 54 D, 56 D auf ein derart hohes Potential gebracht, daß die jenen Transistoren zugeführten Signale eine Schalt­ wirkung hervorrufen (die Drain-Elektroden der betreffen­ den Transistoren befinden sich bereits auf einem hohen Potential, und zwar über den Anschluß an dem Spannungs­ versorgungsanschluß 72). Demgemäß kann allein dadurch, daß das Signal auf der Steuerleitung 76 A einen niedrigen Signalwert führt, ein vollständiges Testen des Schal­ tungsteiles 52 A durch Abgabe geeigneter Signale an die Eingangsleitungen 58 A, 60 A durchgeführt werden.
Wenn es sodann erwünscht ist, den Schaltungsteil 52 B zu testen, werden die Signale für die Steueleitungen 76 A, 76 C, 76 D mit hohem Pegel verwendet, während das Signal für die Steuerleitung 56 B auf niedrigem Wert ge­ halten wird. Das Testen des Schaltungsteiles 52 B kann dann durch Abgabe geeigneter Signale an die Gate-Elek­ troden der Transistoren 58 B, 60 B durchgeführt werden.
Die Eingangsleitungen 58 A, 60 A, 58 B, 60 B, etc. jedes Schaltungsteiles weisen als einen Teil trennbare Ver­ bindungsglieder auf, die in Form von durch Laser pro­ grammierbaren Sicherungen 90 A, 92 A, etc. vorhanden sind. In entsprechender Weise umfassen die Ausgangsleitungen 62 A, 64 A, etc. jedes Schaltungsteiles als einen Teil auftrennbare Verbindungsglieder in Form von durch Laser programmierbaren Sicherungen 94 A, 96 A, etc. auf. Ferner umfaßt jede Verbindung von dem Bezugsspannungsanschluß 84 zu der Gate-Elektrode des jeweiligen Transistors 78 A, 78 B, etc. eine auftrennbare Verbindung in Form einer durch Laser programmierbaren Sicherung 98 A, 98 B, etc. auf.
Nachdem der gewünschte Schaltungsteil ausgewählt ist, können die anderen Schaltungsteile von der Gesamt­ schaltungsanordnung 50 durch Durchbrennen der in Frage kommenden Sicherungen gelöscht werden. In einem derarti­ gen Fall wird durch die gelöschten Schaltungsteile keine Leistung verbraucht, und es tritt aufgrund einer derar­ tigen selektiven Trennung, wie sie oben beschrieben worden ist, keine Geschwindigkeitsbeeinträchtigung auf­ grund des übrigbleibenden Schaltungsteiles ein. Das Durchbrennen der Sicherungen, die Teil der Eingangs- und Ausgangsleitungen sind, vermindert die Belastungen auf die vorhergehenden und nachfolgenden Schaltungen, während das Durchbrennen der Sicherungen, welche mit sämtlichen Transistoren 78 A, 78 B, etc. verbunden sind, den Verbrauch der Versorgungsleistung vermeidet, wie sie von dem Spannungsanschluß 84 zugeführt wird.
Es dürfte ohne weiteres einzusehen sein, daß jedes dieser Schaltungsteile unabhängig von jeglichen Schal­ tungsteilen der anderen Schaltungsteile testbar ist, so daß die zum Testen jedes derartigen Schaltungsteiles benötigte Leistung individuell diesem Schaltungsteil zugeführt werden kann.

Claims (13)

1. Schaltungsanordnung mit ersten und zweiten Eingangs­ leitungen und einer Ausgangsleitung, dadurch gekennzeichnet, daß eine erste Schal­ tungseinrichtung (z. B. 54 A) vorgesehen ist, welche die erste Eingangsleitung (z. B. 58 A) mit der Ausgangs­ leitung (z. B. 62 A) verbindet,
daß eine zweite Schaltungseinrichtung (56 A) vorgesehen ist, welche die zweite Eingangsleitung (60 A) mit der Ausgangsleitung (62 A) verbindet,
daß durch Laser programmierbare Einrichtungen (z. B. 90 A, 94 A, 98 A) vorgesehen sind, die selektiv die erste Ein­ gangsleitung von der Ausgangsleitung zu trennen ge­ statten,
und daß das Testen der ersten Schaltungseinrichtung und der zweiten Schaltungseinrichtung vor einer Vor­ nahme der betreffenden Trennung durchführbar ist.
2. Schaltungsanordnung mit ersten und zweiten Eingangs­ leitungen und einer Ausgangsleitung, dadurch gekennzeichnet, daß eine erste Schal­ tungseinrichtung (z. B. 54 A) vorgesehen ist, welche die erste Eingangsleitung mit der Ausgangsleitung ver­ bindet,
daß eine zweite Schaltungseinrichtung (56 A) vorgesehen ist, welche die zweite Eingangsleitung mit der Ausgangs­ leitung verbindet,
daß durch Laser programmierbare Einrichtungen (90 A, 94 A, 98 A) vorgesehen sind, welche eine selektive Trennung der ersten Eingangsleitung von der Ausgangsleitung her­ beizuführen gestatten,
und daß das Testen der ersten Schaltungseinrichtung und der zweiten Schaltungseinrichtung vor der Herbei­ führung der betreffenden Trennung vornehmbar ist,
wobei die zum Testen der ersten oder der zweiten Schal­ tungseinrichtung erforderliche Leistung individuell zu­ führbar ist
und wobei auf die selektive Trennung der ersten Ein­ gangsleitung von der Ausgangsleitung keinerlei Leistung durch die erste Schaltungseinrichtung verbraucht wird.
3. Schaltungsanordnung mit ersten und zweiten Eingangs­ leitungen und einer Ausgangsleitung, dadurch gekennzeichnet, daß eine erste Schal­ tungseinrichtung (54 A) vorgesehen ist, welche die erste Eingangsleitung mit der Ausgangsleitung verbindet,
daß eine zweite Schaltungseinrichtung (56 A) vorgesehen ist, welche die zweite Eingangsleitung mit der Ausgangs­ leitung verbindet,
daß Einrichtungen (90 A, 94 A, 98 A) vorgesehen sind, die eine selektive Trennung der ersten Eingangsleitung von der Ausgangsleitung herbeizuführen gestatten,
und daß das Testen der ersten Schaltungseinrichtung und der zweiten Schaltungseinrichtung vor Vornahme einer derartigen Trennung durchführbar ist
wobei auf die selektive Abtrennung der ersten Eingangs­ leitung von der Ausgangsleitung keinerlei Geschwindig­ keits-Beeinträchtigung durch die zweite Schaltungsein­ richtung aufgrund einer Belastung von der ersten Schaltungseinrichtung vorhanden ist.
4. Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 1, 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtungen, die eine selektive Abtrennung herbeiführen, eine auftrennbare Verbindung als Teil der ersten Eingangsleitung umfassen.
5. Schaltungsanordnung nach einem der Ansprüche 1, 2 oder 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtungen zur Schaffung einer selektiven Auftrennung eine durch einen Laser programmierbare Sicherung als Teil der ersten Eingangsleitung umfassen.
6. Schaltungsanordnung mit ersten und zweiten Eingangs­ leitungen und einer Ausgangsleitung, dadurch gekennzeichnet, daß eine erste Schalteinrichtung (54 A) vorgesehen ist, die mit einer Eingangsleitung an der genannten ersten Eingangsleitung angeschlossen ist und die mit einer Ausgangsleitung an der genannten Ausgangsleitung angeschlossen ist,
daß eine zweite Schalteinrichtung (56 A) vorgesehen ist, die mit einer Eingangsleitung an der genannten zweiten Eingangsleitung und mit einer Ausgangsleitung an der genannten Ausgangsleitung angeschlossen ist,
daß eine erste Steuerleitung mit der ersten Schaltein­ richtung verbunden ist,
daß eine zweite Steuerleitung mit der zweiten Schalt­ einrichtung verbunden ist,
daß eine auftrennbare Verbindung in der Ausgangsleitung in der ersten Schalteinrichtung vorgesehen ist,
und daß eine auftrennbare Verbindung in der Ausgangs­ leitung der zweiten Schalteinrichtung vorgesehen ist.
7. Schaltungsanordnung nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß eine auftrennbare Verbindung in der Eingangsleitung der ersten Schaltein­ richtung vorgesehen ist und daß eine auftrennbare Verbindung in der Eingangsleitung der zweiten Schalt­ einrichtung vorgesehen ist.
8. Schaltungsanordnung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß eine zweite Schal­ tungsausgangsleitung vorgesehen ist,
daß die erste Schalteinrichtung eine zweite Ausgangs­ leitung aufweist, die mit der genannten zweiten Schal­ tungsausgangsleitung verbunden ist,
daß die zweite Ausgangsleitung der ersten Schalteinrich­ tung eine auftrennbare Verbindung aufweist,
daß die zweite Schalteinrichtung eine zweite Ausgangs­ leitung aufweist, die mit der zweiten Schaltungsaus­ gangsleitung verbunden ist,
und daß die zweite Ausgangsleitung der zweiten Schalt­ einrichtung einen auftrennbaren Verbindungsteil auf­ weist.
9. Schaltungsanordnung nach Anspruch 7, dadurch gekennzeichnet, daß dritte und vierte Schaltungseingangsleitungen vorgesehen sind,
daß die erste Schalteinrichtung mit einer zweiten Eingangsleitung an der dritten Schaltungseingangsleitung angeschlossen ist,
daß die zweite Eingangsleitung der ersten Schaltein­ richtung eine auftrennbare Verbindung aufweist,
daß die zweite Schalteinrichtung eine zweite Eingangs­ leitung aufweist, die mit der vierten Schaltungsein­ gangsleitung verbunden ist,
und daß die zweite Eingangsleitung der zweiten Schalt­ einrichtung eine auftrennbare Verbindung aufweist.
10. Schaltungsanordnung mit ersten, zweiten, dritten und vierten Eingangsleitungen, mit ersten und zweiten Ausgangsleitungen, mit einem ersten Spannungsver­ sorgungsanschluß und mit einem zweiten Spannungs­ versorgungsanschluß, dadurch gekenn­ zeichnet,
daß eine erste Schalteinrichtung vorgesehen ist, die mit eine ersten Eingangsleitung mit der ersten Schal­ tungseingangsleitung verbunden ist und die mit einer zweiten Eingangsleitung mit der zweiten Schaltungsein­ gangsleitung verbunden ist,
daß eine zweite Schalteinrichtung vorgesehen ist, die mit einer ersten Eingangsleitung mit der dritten Schaltungseingangsleitung verbunden ist und die mit einer zweiten Eingangsleitung mit der vierten Schal­ tungseingangsleitung verbunden ist,
daß die ersten und zweiten Eingangsleitungen der ersten Schalteinrichtung auftrennbare Verbindungsglieder auf­ weisen,
daß die ersten und zweiten Eingangsleitungen der zwei­ ten Schalteinrichtung auftrennbare Verbindungsglieder aufweisen,
daß die erste Schalteinrichtung erste und zweite Ausgangsleitungen aufweist, die mit den ersten bzw. zweiten Schaltungsausgangsleitungen verbunden ist,
daß die zweite Schalteinrichtung erste und zweite Aus­ gangsleitungen aufweist, die mit den ersten bzw. zwei­ ten Schaltungsausgangsleitungen verbunden sind,
daß die ersten und zweiten Ausgangsleitungen der ersten Schalteinrichtung auftrennbare Verbindungsglieder auf­ weisen,
daß die ersten und zweiten Ausgangsleitungen der zweiten Schalteinrichtung auftrennbare Verbindungsglieder aufweisen,
daß erste und zweite Lasteinrichtungen vorgesehen sind, welche die ersten bzw. zweiten Schaltungsausgangs­ leitungen mit dem ersten Spannungsversorgungsanschluß verbinden,
daß eine erste Steuerleitung mit der ersten Schaltein­ richtung verbunden ist
daß eine dritte Lasteinrichtung die erste Steuerleitung mit dem zweiten Spannungsversorgungsanschluß verbindet,
daß eine erste Steuereingangsleitung vorgesehen ist,
daß eine vierte Lasteinrichtung die erste Steuereingangs­ leitung mit der ersten Steuerleitung verbindet,
daß eine zweite Steuerleitung mit der zweiten Schaltein­ richtung verbunden ist,
daß eine fünfte Lasteinrichtung die zweite Steuerleitung mit dem zweiten Spannungsversorgungsanschluß verbindet,
daß eine zweite Steuereingangsleitung vorgesehen ist
und daß eine sechste Lasteinrichtung die zweite Eingangs­ steuerleitung mit der zweiten Steuerleitung verbindet.
11. Schaltungsanordnung nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet, daß die vierte und sechste Lasteinrichtung eine Diode umfaßt, die in Richtung von den entsprechenden Steuereingangsleitungen zu den ent­ sprechenden Steuerleitungen hin in Durchlaßrichtung vorgespannt ist.
12. Schaltungsanordnung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß ein erster Transistor vorgesehen ist, der mit einem ersten strom­ führenden Anschluß an der ersten Steuerleitung ange­ schlossen ist und der mit einem zweiten stromführen­ den Anschluß an der dritten Lasteinrichtung angeschlos­ sen ist,
und daß ferner ein zweiter Transistor vorgesehen ist, der mit einem ersten stromführenden Anschluß an der zweiten Steuerleitung angeschlossen ist und der mit einem zweiten stromführenden Anschluß mit der fünften Lasteinrichtung verbunden ist.
13. Schaltungsanordnung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß jede Schalteinrich­ tung ein Paar von Transistoren umfaßt, deren jeder einen ersten stromführenden Anschluß, einen Steueranschluß und einen zweiten stromführenden Anschluß aufweist,
daß die zweiten stromführenden Anschlüsse der Transisto­ ren miteinander an der der betreffenden Schalteinrichtung zugehörigen Steuerleitung angeschlossen sind.
daß die ersten stromführenden Anschlüsse mit den ent­ sprechenden Ausgangsleitungen der betreffenden Schalt­ einrichtung verbunden sind
und daß die Steueranschlüsse der Transistoren mit den entsprechenden Eingangsleitungen der betreffenden Schalt­ einrichtung verbunden sind.
DE3835647A 1987-10-20 1988-10-19 Schaltungsanordnung mit eingangsleitungen und einer ausgangsleitung Withdrawn DE3835647A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US07/111,389 US4897836A (en) 1987-10-20 1987-10-20 Programmable connection path circuit

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE3835647A1 true DE3835647A1 (de) 1989-05-03

Family

ID=22338257

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE3835647A Withdrawn DE3835647A1 (de) 1987-10-20 1988-10-19 Schaltungsanordnung mit eingangsleitungen und einer ausgangsleitung

Country Status (4)

Country Link
US (1) US4897836A (de)
JP (1) JPH02124628A (de)
DE (1) DE3835647A1 (de)
GB (1) GB2211310A (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6308291B1 (en) 1997-09-18 2001-10-23 Siemens Aktiengesellschaft Ag Method for testing an electronic circuit

Families Citing this family (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5367208A (en) 1986-09-19 1994-11-22 Actel Corporation Reconfigurable programmable interconnect architecture
US5281553A (en) * 1987-07-02 1994-01-25 Bull, S.A. Method for controlling the state of conduction of an MOS transistor of an integrated circuit
US5780323A (en) * 1990-04-12 1998-07-14 Actel Corporation Fabrication method for metal-to-metal antifuses incorporating a tungsten via plug
US5614756A (en) * 1990-04-12 1997-03-25 Actel Corporation Metal-to-metal antifuse with conductive
US5166556A (en) * 1991-01-22 1992-11-24 Myson Technology, Inc. Programmable antifuse structure, process, logic cell and architecture for programmable integrated circuits
KR930008655B1 (ko) * 1991-07-02 1993-09-11 삼성전자 주식회사 누화방지 스위치회로
US5485031A (en) * 1993-11-22 1996-01-16 Actel Corporation Antifuse structure suitable for VLSI application
US5502413A (en) * 1994-01-31 1996-03-26 Motorola, Inc. Switchable constant gain summing circuit
US5813881A (en) * 1994-02-08 1998-09-29 Prolinx Labs Corporation Programmable cable and cable adapter using fuses and antifuses
US5808351A (en) * 1994-02-08 1998-09-15 Prolinx Labs Corporation Programmable/reprogramable structure using fuses and antifuses
US5917229A (en) * 1994-02-08 1999-06-29 Prolinx Labs Corporation Programmable/reprogrammable printed circuit board using fuse and/or antifuse as interconnect
US5834824A (en) * 1994-02-08 1998-11-10 Prolinx Labs Corporation Use of conductive particles in a nonconductive body as an integrated circuit antifuse
US5726482A (en) * 1994-02-08 1998-03-10 Prolinx Labs Corporation Device-under-test card for a burn-in board
US5572409A (en) * 1994-02-08 1996-11-05 Prolinx Labs Corporation Apparatus including a programmable socket adapter for coupling an electronic component to a component socket on a printed circuit board
US5537108A (en) * 1994-02-08 1996-07-16 Prolinx Labs Corporation Method and structure for programming fuses
US5962815A (en) * 1995-01-18 1999-10-05 Prolinx Labs Corporation Antifuse interconnect between two conducting layers of a printed circuit board
US5528179A (en) * 1995-05-31 1996-06-18 Texas Instruments Incorporated Constant capacitance prgrammable transconductance input stage
US5906042A (en) * 1995-10-04 1999-05-25 Prolinx Labs Corporation Method and structure to interconnect traces of two conductive layers in a printed circuit board
US5767575A (en) * 1995-10-17 1998-06-16 Prolinx Labs Corporation Ball grid array structure and method for packaging an integrated circuit chip
US5872338A (en) * 1996-04-10 1999-02-16 Prolinx Labs Corporation Multilayer board having insulating isolation rings
US6034427A (en) * 1998-01-28 2000-03-07 Prolinx Labs Corporation Ball grid array structure and method for packaging an integrated circuit chip

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4092589A (en) * 1977-03-23 1978-05-30 Fairchild Camera And Instrument Corp. High-speed testing circuit
US4206443A (en) * 1978-02-17 1980-06-03 Westinghouse Electric Corp. Protective load disconnect unit for remote load control systems
US4347602A (en) * 1978-05-31 1982-08-31 Vdo Adolf Schindling Ag Circuit arrangement for time division multiplex data transmission with a bus system
GB2105050B (en) * 1978-08-25 1983-08-03 Racal Automation Ltd Improvements in and relating to circuit testing apparatus
US4390837A (en) * 1980-08-25 1983-06-28 Kevin Hotvedt Test unit for a logic circuit analyzer
WO1982002096A1 (en) * 1980-12-15 1982-06-24 Corp Ivac Electrical monitoring system
FR2498385A1 (fr) * 1981-01-20 1982-07-23 Modeles Fs Dispositif de distribution de courant electrique a securite sur engin volant leger equipe pour le vol aux instruments
US4435805A (en) * 1981-06-04 1984-03-06 International Business Machines Corporation Testing of logic arrays
US4387503A (en) * 1981-08-13 1983-06-14 Mostek Corporation Method for programming circuit elements in integrated circuits
US4409683A (en) * 1981-11-18 1983-10-11 Burroughs Corporation Programmable multiplexer
US4556975A (en) * 1983-02-07 1985-12-03 Westinghouse Electric Corp. Programmable redundancy circuit
JPS59162711A (ja) * 1983-03-04 1984-09-13 株式会社東芝 保護継電装置
GB2149129B (en) * 1983-11-04 1987-10-21 Membrain Ltd Automatic test equipment
DE3520003A1 (de) * 1985-06-04 1986-12-04 Texas Instruments Deutschland Gmbh, 8050 Freising Elektrisch programmierbare verknuepfungsmatrix

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6308291B1 (en) 1997-09-18 2001-10-23 Siemens Aktiengesellschaft Ag Method for testing an electronic circuit

Also Published As

Publication number Publication date
GB8824338D0 (en) 1988-11-23
US4897836A (en) 1990-01-30
JPH02124628A (ja) 1990-05-11
GB2211310A (en) 1989-06-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3835647A1 (de) Schaltungsanordnung mit eingangsleitungen und einer ausgangsleitung
DE3830573A1 (de) Halbleitereinrichtung
DE3520003C2 (de)
DE2544974C3 (de) Schaltkreis zur Realisierung logischer Funktionen
DE3603953C2 (de) Gate-Array-Halbleiteranordnung in CMOS-Technologie
DE19581814B4 (de) Halbleiter-Testchip mit waferintegrierter Schaltmatrix
DE3215671C2 (de) Programmierbare Logikanordnung
DE2434704A1 (de) Logische schaltungsanordnung
EP0010173A1 (de) Halbleiterplättchen mit verbesserter Prüfbarkeit der monolithisch hochintegrierten Schaltungen
DE1762172C3 (de) Verknüpfungsschaltung mit Stromübernahmeschaltern
DE2335785B2 (de) Schaltungsanordnung zum Prüfen einer Matrixverdrahtung
EP0074417B1 (de) Verfahren und Schaltungsanordnung zum Prüfen des mit einer Tristate-Treiberschaltung integrierten Schaltnetzes, das diese in den Zustand hoher Ausgangsimpedanz steuert
DE3346158A1 (de) Analoger festkoerperschalter
DE2141915C3 (de) Transistor-Treiberschaltkreis
EP0203535B1 (de) Verfahren zur Simulation eines Fehlers in einer logischen Schaltung und Schaltungsanordnung zur Durchführung desselben
DE3148410C2 (de) Programmierbare Verknüpfungsschaltung
DE19937820C2 (de) Vorrichtung zum Testen integrierter Halbleiterschaltungen und Verfahren zum Steuern derselben
EP0984290A1 (de) Verfahren zum Betrieb einer integrierten Schaltung
DE2335824A1 (de) Verfahren und schaltungsanordnung zum pruefen von verbindungen
DE2840349A1 (de) Elektronische umschaltvorrichtung
DE19631425A1 (de) Verfahren zur Identifikation von an Meß- oder Werkzeugmaschinen austauschbar angeordneten Zubehörteilen sowie Identifikator zur Verfahrensdurchführung
DE3133746A1 (de) "festkoerper-leistungsregler mit ein-aus-anzeige"
DE102004059505B4 (de) Anordnung zum Test von eingebetteten Schaltungen mit Hilfe von Testinseln
DE10258780A1 (de) Selbstendender Brennprozeß für elektrische Anti-Fuses
EP0034712B1 (de) Integrierte digitale Halbleiterschaltung

Legal Events

Date Code Title Description
8139 Disposal/non-payment of the annual fee