DE4013812C2 - Verfahren zur Herstellung eines luftdicht abgeschlossenen Elektronikbauelement-Pakets - Google Patents
Verfahren zur Herstellung eines luftdicht abgeschlossenen Elektronikbauelement-PaketsInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur Herstellung
eines luftdicht abgeschlossenen Elektronikbauelement-Pakets.
Kondensator- und Filter-Hersteller binden derzeit
elektronische Bauelemente, wie Chips, in ihre Pakete ein,
indem sie Epoxid verwenden und am Paket und Leiter die
elektrische Verbindung mit Lot, Silberpolyamid oder leitendem
Epoxid herstellen und dann das Paket mit Epoxid umschließen.
Ein sich bei der Verwendung von Epoxiden ergebendes Problem
besteht darin, daß Epoxide besonders bei kleinen Paketen
schwierig anwendbar sind, was zu hohen Arbeitskosten und
niedrigeren Produktionsraten führt. Andere infolge der
Verwendung von Epoxiden auftretende Probleme bei
Elektronikbauelement-Paketen schließen die Instabilität der
Epoxide bei Temperaturen oberhalb 175°C, schlechte
Feuchtigkeitsresistenz und niedrige mechanische Festigkeit
bei Verwendung bei dünnen Querschnitten ein. Es gibt jedoch
derzeitig wenig Alternativen zur Verwendung von Epoxid für
die Chipbefestigung und den Paketabschluß bei
Hochtemperatur-Elektronikbauelement-Paketen.
Aus der DE 35 23 493 A1 ist ein kapazitiver Filter mit einem
induktiven Element bekannt, der als elektromagnetischer
Interferenz- oder Tiefpaßfilter bezeichnet werden kann. Dabei
ist ein scheibenartiger Kondensator an der Innenseite eines
röhrenartigen Gehäuses und an einer zentralen Leitung
angebracht. Ein elektrisch isolierendes Dichtelement ist
unterhalb des Kondensators während des Zusammenbaus angeordnet,
und zwar vertikal in dem Gehäuse. Das Element schließt eng mit
der Leitung ab und ist umgeformt in Kontakt mit der Wand des
Gehäuses um den Kondensator. Das Element bildet so eine Sperre,
um Lot und Flußmittel aufzuhalten, die verwendet werden, um den
Kondensator an der Leitung anzukuppeln. Außerdem bildet das
Dichtelement eine Sperre an dem Gehäuse von oberhalb des
Kondensators, so daß das Lot und das Flußmittel nicht an dem
Kondensator vorbei in unerwünschte Bereiche unterhalb desselben
gelangen kann.
Des weiteren offenbart die US 4 424 551 ein Verfahren zur
Herstellung eines Kondensators aus einem Gehäuse mit einer
ersten und einer zweiten gegeneinander isolierten elektrisch
leitfähigen inneren Oberfläche. Das Gehäuse besitzt ein offenes
Ende und einen diesem gegenüberliegenden isolierten Boden.
Außerdem ist der Kondensator mit einer kapazitiven Struktur aus
einer Mehrzahl von Paaren von beabstandeten, elektrisch
leitenden Platten versehen. Außerdem weist der Kondensator eine
erste elektrisch leitende Verbindung zum Anschluß einer Platte
jedes Paares an den Abschluß der anderen Platte des jeweiligen
Paares auf sowie eine zweite elektrisch leitende Verbindung zum
Anschluß der anderen Platte jedes Paares an den Abschluß der
einen Platte.
Der erste Schritt des bekannten Verfahrens besteht darin, die
kapazitive Struktur in dem Gehäuse anzuordnen, so daß die erste
Verbindung an die erste Oberfläche des Gehäuses angrenzt, um auf
diese Weise zusammen mit der Oberfläche des Bodens des Gehäuses
einen ersten Hohlraum zu definieren, der in Verbindung mit dem
offenen Ende des Gehäuses steht. Gleichzeitig grenzt dabei die
zweite Verbindung an die zweite Oberfläche des Gehäuses an, um
zusammen mit der Oberfläche des Bodens des Gehäuses einen
zweiten Hohlraum zu definieren, der in Verbindung mit dem
offenen Ende des Gehäuses steht. Beide vorgenannten Hohlräume
stehen in keiner direkten Verbindung miteinander.
Der zweite Verfahrensschritt besteht darin, in das offene Ende
des Gehäuses ein elektrisch leitendes schmelzflüssiges
Verbindungsmaterial einzubringen. Bei diesem Verbindungsmaterial
handelt es sich um einen Duroplasten, der mit elektrisch
leitenden Partikeln versehen ist, die eine höhere Dichte als der
Duroplast aufweisen.
Gemäß einem dritten Verfahrensschritt wird das Gehäuse um seine
Längsachse in Rotation versetzt, wodurch aufgrund von
Zentrifugalkräften das Verbindungsmaterial in die beiden
Hohlräume eindringt.
Schließlich wird das Verbindungsmaterial ausgehärtet. Die durch
die Rotation hervorgerufene Zentrifugalkraft übersteigt die
Oberflächenspannung des Verbindungsmaterials, so daß dieses die
Hohlräume ohne Poren ausfüllt und dabei zuverlässige elektrische
Verbindungen zwischen den jeweiligen leitenden Oberflächen des
Gehäuses und den Verbindungen der kapazitiven Struktur bildet.
Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist es, für
industrielle Anwender dieser Elektronikbauelement-Pakete
ein von organischen Materialien freies
Paket bereitzustellen, das luftdicht und billiger herzustellen ist.
Die Erfindung schlägt dafür ein Verfahren zur Herstellung eines
luftdicht abgeschlossenen Elektronikbauelement-Pakets
einschließlich eines leitenden Gehäuses mit einer Bodenwand und
einem offenen Oberteil vor, die einen Hohlraum definieren, eines
Elektronikbauelements mit inneren und äußeren Kontaktklemmen und
ausgestaltet für die Anbringung innerhalb des Innenhohlraums und
eines Axialleiters, der isoliert an der Bodenwand gesichert ist
und sich nach außen vom Boden und nach außen durch das
Elektronikbauelement und das offene Oberteil erstreckt,
umfassend die folgenden Schritte:
- - Anordnung von Mitteln zur Verbindung des Elektronikbauelements innerhalb des Innenhohlraums des leitenden Gehäuses, angrenzend an die Bodenwand;
- - Anbringung des Elektronikbauelements oberhalb der Verbindungsmittel;
- - Schmelzen der Verbindungsmittel durch Erwärmen der Anordnung in einer vorgegebenen Umgebung auf eine erste vorgegebene Temperatur, um die Verbindung mit dem leitenden Gehäuse und dem Axialleiter zu schaffen und das Elektronikbauelement-Paket zu bilden;
- - Anbringung eines vorgeformten Abschlußteils aus anorganischem Material innerhalb des Innenhohlraums oberhalb des Elektronikbauelement-Pakets und
- - Schmelzen des vorgeformten Abschlußteils aus anorganischem Material durch Erwärmen der Anordnung auf eine zweite vorgegebene Temperatur, um einen luftdichten Abschluß zwischen Abschlußteil und Elektronikbauelement-Paket zu schaffen.
Eine vorteilhafte Weiterbildung des erfindungsgemäßen Verfahrens
besteht darin, daß die Verbindungsmittel erste und zweite
Hartlotelemente umfassen und der Anordnungsschritt weiterhin
umfaßt:
- - das Anordnen des ersten Hartlotelements innerhalb des Innenhohlraums des leitenden Gehäuses und
- - das Aufschieben des zweiten Hartlotelements auf den Axialleiter und in den Innenhohlraum, angrenzend an den Boden des leitenden Gehäuses.
Vorzugsweise besteht das Abschlußteil aus einer vorgeformten
Glasmasse.
Schließlich wird nach dem erfindungsgemäßen Verfahren noch
vorgeschlagen, daß die ringförmige Glasmasse des Abschlußteils
gegen die Oberfläche des Elektronikbauelements abgestützt und
eine Druckkraft auf das Abschlußteil aufgebracht wird, während
sich das Abschlußteil oberhalb seines Schmelzpunktes befindet,
wobei die Druckkraft in Richtung auf die Bodenwand eingetragen
wird.
Ausführungsbeispiele der Erfindung werden anhand der folgenden detaillierten
Beschreibung im Zusammenhang mit den begleitenden Zeichnungen
näher erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 eine explosionsartige perspektivische, teilweise
im Schnitt dargestellte Ansicht einer ersten
Ausführungsform eines Bauelements, hergestellt
nach dem Verfahren gemäß der vorliegenden
Erfindung;
Fig. 2 einen Querschnitt durch die erste Ausführungsform
einschließlich einer durch ein Gewicht am Platz
gehaltenen Glas-Vorform;
Fig. 4 einen Querschnitt einer zweiten Ausführungsform
eines Bauelements, hergestellt nach dem
Verfahren gemäß der vorliegenden Erfindung und
Fig. 5 eine perspektivische, teilweise im Schnitt
dargestellte Ansicht eines hermetisch
abgeschlossenen Pakets aus Elektronik-
Vielfachbauelementen zur Verwendung auf einer
Leiterplatte.
Die Erfindung wird unter Bezugnahme auf ein
luftdicht abgeschlossenes Elektronikbauelement-Paket und
unter Bezugnahme auf das erfindungsgemäße Verfahren zur Herstellung
eines solchen luftdicht abgeschlossenen
Elektronikbauelement-Pakets beschrieben.
In den Fig. 1, 2 und 3 ist eine Ausführungsform eines
Elektronikbauelement-Pakets, hergestellt nach der vorliegenden Erfindung,
dargestellt, das ein leitendes Gehäuse 10 mit einem Boden 12
und zumindest einer Seitenwand 14 einschließt, die einen
Innenhohlraum 16 definieren. Das leitende Gehäuse ist
üblicherweise zylindrisch, wie in Fig. 1 dargestellt. Jedoch
liegt jede andere Form im Umfang der vorliegenden Erfindung.
Das leitende Gehäuse 10 schließt einen einzelnen Axialleiter
18a, 18b ein, der am Boden 12 mittels z. B. eines
Glasabschlusses 19 gesichert ist und sich vom Boden 12 und
der offenen Oberseite nach außen erstreckt, um das
Elektronikbauelement-Paket mit einem (nicht dargestellten)
elektronischen Schaltkreis zu verbinden.
Um das Elektronikbauelement-Paket zusammenzubauen, wird ein
Hartlotring 20 mit einem Durchmesser, der geringfügig
kleiner ist als der Durchmesser des Hohlraums 16 des
leitenden Gehäuses 10, im Hohlraum des Gehäuses, an den
Baden 12 angrenzend, angeordnet. Ein anderer Hartlotring 22
mit einem Durchmesser, der geringfügig größer ist als der
Durchmesser des Axialleiters 18 wird im Hohlraum 16 des
Gehäuses 10, an den Boden 12 angrenzend, angebracht. Ein
Elektronikbauelement 24 mit einer inneren Klemme 23 und
einer äußeren Klemme 25, wie ein diskusförmiger
Chipkondensator, wird im Hohlraum 16 des Gehäuses 10 und
oben auf den Hartlotringen 20 und 22 angebracht. Wenn die
Teile wie beschrieben zusammengebaut werden, besteht ein
kleiner Spalt 15 zwischen dem diskusförmigen Chip 24 und der
Gehäusewand 14, und ein anderer kleiner Spalt 13 besteht
zwischen dem Chip 24 und dem Axialleiter 18, wie in Fig. 2
gezeigt. Mit den wie beschrieben zusammengebauten Teilen
wird das Paket ein erstes Mal auf ca. 710°C in einer
Stickstoff-Atmosphäre erwärmt, um die Hartlotringe 20, 22 zu
schmelzen und das Einfließen in die Spalte 13 bzw. 15 zu
bewirken. Die geschmolzenen Hartlotringe 20, 22 schaffen den
elektrischen Kontakt zwischen den Gehäusewänden 12, 14, dem
Axialleiter 18 und dem diskusförmigen Chip 24 und bewirken
auch die Verbindung des diskusförmigen Chips mit dem Gehäuse
10.
In Fig. 2 ist das zusammengebaute Paket dargestellt
einschließlich einer Glas-Vorform 26, die einen Durchmesser
hat, der geringfügig kleiner ist als der Durchmesser des
Hohlraums 16, und die in den Gehäusehohlraum 16, angrenzend
an den diskusförmigen Chip 24, eingebracht werden kann. Die
Glas-Vorform 26 kann aus einem nichtleitenden Material
bestehen. Um die Glas-Vorform luftdicht
mit dem Elektronikbauelement-Paket abzuschließen, wird ein
Gewicht 28 auf die Glas-Vorform 26 aufgesetzt, und das
gesamte Paket wird ein zweites Mal auf ca. 600°C in einer
Stickstoff-Atmosphäre erwärmt. Die Glas-Vorform schmilzt und
schließt den Axialleiter 18, die Gehäusewände 12, 14 und den
diskusförmigen Chip 24 ab.
Fig. 3 zeigt ein völlig zusammengebautes, luftdicht
abgeschlossenes Elektronikbauelement-Paket.
Eine zweite Ausführungsform, hergestellt nach der vorliegenden Erfindung, ist
in Fig. 4 dargestellt. Bei dieser Ausführungsform wird der
diskusförmige Chip 24 mit dem Boden 12 des Gehäuses 10 unter
Verwendung einer aus Glas bestehenden, bei ca.
600°C schmelzenden Verbindungsvorform 30 verbunden. Der
diskusförmige Chip 24 kann ausgestaltet werden, um in den
Hohlraum 16 des Gehäuses 10 eingepreßt zu werden, um den
elektrischen Kontakt zwischen der Gehäusewand 14 und dem
äußeren Abschluß 25 des diskusförmigen Chips und dem
Axialleiter 18 und dem inneren Abschluß 23 des
diskusförmigen Chips 24 herzustellen. Alternativ kann der
diskusförmige Chip 24 einen Durchmesser erhalten, der
geringfügig kleiner ist als der Durchmesser des Gehäuses 10,
und es kann eine leitende Paste, wie Silberpolyamid, auf
seiner inneren Klemme 23 und seiner äußeren Klemme 25
aufgebracht werden, um den elektrischen Kontakt zwischen dem
diskusförmigen Chip 24 und der Gehäusewand 14 und dem
Axialleiter 18 herzustellen.
Die Verbindungsvorform 30 ist im Hohlraum 16 des Gehäuses
10, an den Boden 12 angrenzend, angebracht. Der
diskusförmige Chip 24 ist im Hohlraum 16, an die Glas-Vorform
angrenzend, angebracht. Das Paket wird dann auf eine erste
Temperatur von ca. 600°C in einer Stickstoff-Atmosphäre
erwärmt, um die Verbindungsvorform 30 zu schmelzen und den
Chip 24 auf dem Boden 12 des Gehäuses 10 zu sichern. Eine
Glas-Vorform mit einem Durchmesser, der geringfügig kleiner
ist als der Durchmesser des Hohlraums 16, wird über dem Chip
24 angebracht, und ein Gewicht, wie das in Fig. 2
dargestellte Gewicht 28, wird oben auf den Chip aufgesetzt.
Das Paket wird dann auf eine zweite Temperatur von ca. 450°C
erwärmt. Das Glas schmilzt und schließt den Leiter 18a-18b,
die Gehäusewand 14 und den Chip 24 ein.
Fig. 5 zeigt ein luftdicht abgeschlossenes Paket mit
mehreren Bauelementen zur Verwendung auf einer Leiterplatte
32. Der Teil 18b des Axialleiters kann mit einer
Computer-Leiterplatte und der Teil 18a des Axialleiters kann
mit irgendeinem anderen elektronischen Gerät verbunden
werden.
Claims (4)
1. Verfahren zur Herstellung eines luftdicht abgeschlossenen Elektronikbauelement-
Pakets einschließlich eines leitenden Gehäuses mit einer Bodenwand und einem offenen
Oberteil, die einen Hohlraum definieren, eines Elektronikbauelements mit inneren und
äußeren Kontaktklemmen und ausgestaltet für die Anbringung innerhalb des Innenhohl
raums und eines Axialleiters, der isoliert an der Bodenwand gesichert wird und sich
nach außen vom Boden und nach außen durch das Elektronikbauelement und das offe
ne Oberteil erstreckt, umfassend die folgenden Schritte:
- 1. Anordnung von Mitteln zur Verbindung des Elektronikbauelements innerhalb des Innenhohlraums des leitenden Gehäuses, angrenzend an die Bodenwand;
- 2. Anbringung des Elektronikbauelements oberhalb der Verbindungsmittel;
- 3. Schmelzen der Verbindungsmittel durch Erwärmen der Anordnung in einer vor gegebenen Umgebung auf eine erste vorgegebene Temperatur, um die Verbindung mit dem leitenden Gehäuse und dem Axialleiter zu schaffen und das Elektronik bauelement-Paket zu bilden;
- 4. Anbringung eines vorgeformten Abschlußteils aus anorganischem Material inner halb des Innenhohlraums oberhalb des Elektronikbauelement-Pakets und
- 5. Schmelzen des vorgeformten Abschlußteils aus anorganischem Material durch Erwärmen der Anordnung auf eine zweite vorgegebene Temperatur, um einen luftdichten Abschluß zwischen Abschlußteil und Elektronikbauelement-Paket zu schaffen.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Verbindungsmittel erste
und zweite Hartlotelemente umfassen und der Anordnungsschritt weiterhin umfaßt:
- 1. das Anordnen des ersten Hartlotelements innerhalb des Innenhohlraums des leiten den Gehäuses und
- 2. das Aufschieben des zweiten Hartlotelements auf den Axialleiter und in den Innen hohlraum, angrenzend an den Boden des leitenden Gehäuses.
3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Abschlußteil aus
einer vorgeformten Glasmasse besteht.
4. Verfahren nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die ringförmige Glasmasse des
Abschlußteils gegen die Oberfläche des Elektronikbauelements abgestützt und eine
Druckkraft auf das Abschlußteil aufgebracht wird, während sich das Abschlußteil ober
halb seines Schmelzpunktes befindet, wobei die Druckkraft in Richtung auf die Boden
wand eingetragen wird.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE202004021673U DE202004021673U1 (de) | 1990-04-29 | 2004-06-11 | Kabelschacht für Leistungskabel |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US07/349,395 US5032692A (en) | 1989-05-09 | 1989-05-09 | Process for manufactoring hermetic high temperature filter packages and the products produced thereby |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4013812A1 DE4013812A1 (de) | 1990-11-15 |
DE4013812C2 true DE4013812C2 (de) | 2000-06-21 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4013812A Expired - Fee Related DE4013812C2 (de) | 1989-05-09 | 1990-04-29 | Verfahren zur Herstellung eines luftdicht abgeschlossenen Elektronikbauelement-Pakets |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
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DE (1) | DE4013812C2 (de) |
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GB (1) | GB2233158B (de) |
Families Citing this family (38)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5333095A (en) * | 1993-05-03 | 1994-07-26 | Maxwell Laboratories, Inc., Sierra Capacitor Filter Division | Feedthrough filter capacitor assembly for human implant |
US5440447A (en) * | 1993-07-02 | 1995-08-08 | The Morgan Crucible Company, Plc | High temperature feed-through system and method for making same |
AU3299995A (en) * | 1994-10-04 | 1996-04-18 | Medtronic, Inc. | Protective feedthrough |
US5825608A (en) * | 1996-10-18 | 1998-10-20 | Novacap, Inc. | Feed-through filter capacitor assembly |
US5895293A (en) * | 1997-04-23 | 1999-04-20 | The Whitaker Corporation | Filtered terminal block assembly |
US5870272A (en) * | 1997-05-06 | 1999-02-09 | Medtronic Inc. | Capacitive filter feedthrough for implantable medical device |
US5896267A (en) * | 1997-07-10 | 1999-04-20 | Greatbatch-Hittman, Inc. | Substrate mounted filter for feedthrough devices |
US5905627A (en) * | 1997-09-10 | 1999-05-18 | Maxwell Energy Products, Inc. | Internally grounded feedthrough filter capacitor |
US6643903B2 (en) | 1997-11-13 | 2003-11-11 | Greatbatch-Sierra, Inc. | Process for manufacturing an EMI filter feedthrough terminal assembly |
US6008980A (en) * | 1997-11-13 | 1999-12-28 | Maxwell Energy Products, Inc. | Hermetically sealed EMI feedthrough filter capacitor for human implant and other applications |
US6275369B1 (en) | 1997-11-13 | 2001-08-14 | Robert A. Stevenson | EMI filter feedthough terminal assembly having a capture flange to facilitate automated assembly |
US5959829A (en) * | 1998-02-18 | 1999-09-28 | Maxwell Energy Products, Inc. | Chip capacitor electromagnetic interference filter |
US6816033B2 (en) * | 1998-02-24 | 2004-11-09 | Wems, Inc. | Electromagnetic interference filter |
US5973906A (en) * | 1998-03-17 | 1999-10-26 | Maxwell Energy Products, Inc. | Chip capacitors and chip capacitor electromagnetic interference filters |
US6424234B1 (en) | 1998-09-18 | 2002-07-23 | Greatbatch-Sierra, Inc. | Electromagnetic interference (emi) filter and process for providing electromagnetic compatibility of an electronic device while in the presence of an electromagnetic emitter operating at the same frequency |
WO2000055875A1 (en) | 1999-03-16 | 2000-09-21 | Maxwell Energy Products | Low inductance four terminal capacitor lead frame |
US6882248B2 (en) | 2000-09-07 | 2005-04-19 | Greatbatch-Sierra, Inc. | EMI filtered connectors using internally grounded feedthrough capacitors |
US6567259B2 (en) | 2001-05-31 | 2003-05-20 | Greatbatch-Sierra, Inc. | Monolithic ceramic capacitor with barium titinate dielectric curie point optimized for active implantable medical devices operating at 37° C. |
US6456481B1 (en) | 2001-05-31 | 2002-09-24 | Greatbatch-Sierra, Inc. | Integrated EMI filter-DC blocking capacitor |
CA2446476A1 (en) * | 2002-02-28 | 2003-09-04 | Greatbatch-Sierra, Inc. | Emi feedthrough filter terminal assembly utilizing hermetic seal for electrical attachment between lead wires and capacitor |
US6985347B2 (en) * | 2002-02-28 | 2006-01-10 | Greatbatch-Sierra, Inc. | EMI filter capacitors designed for direct body fluid exposure |
DE10236163A1 (de) * | 2002-08-07 | 2004-02-19 | Siemens Ag | Anschlussstück für eine elektrische Zuleitung einer Scheibenwaschanlage |
US7038900B2 (en) * | 2003-02-27 | 2006-05-02 | Greatbatch-Sierra, Inc. | EMI filter terminal assembly with wire bond pads for human implant applications |
US7623335B2 (en) * | 2003-02-27 | 2009-11-24 | Greatbatch-Sierra, Inc | Hermetic feedthrough terminal assembly with wire bond pads for human implant applications |
US6999818B2 (en) * | 2003-05-23 | 2006-02-14 | Greatbatch-Sierra, Inc. | Inductor capacitor EMI filter for human implant applications |
US7765005B2 (en) * | 2004-02-12 | 2010-07-27 | Greatbatch Ltd. | Apparatus and process for reducing the susceptability of active implantable medical devices to medical procedures such as magnetic resonance imaging |
US7035077B2 (en) * | 2004-05-10 | 2006-04-25 | Greatbatch-Sierra, Inc. | Device to protect an active implantable medical device feedthrough capacitor from stray laser weld strikes, and related manufacturing process |
US7068491B1 (en) * | 2005-09-15 | 2006-06-27 | Medtronic, Inc. | Implantable co-fired electrical interconnect systems and devices and methods of fabrication therefor |
US7187535B1 (en) * | 2006-01-30 | 2007-03-06 | Medtronic, Inc. | Multipolar feedthrough assembly with customizable filter and method of manufacture |
US7839620B2 (en) * | 2007-09-20 | 2010-11-23 | Medtronic, Inc. | Filtered feedthrough assemblies for implantable devices and methods of manufacture |
US8391983B2 (en) * | 2008-05-08 | 2013-03-05 | Pacesetter, Inc. | Implantable pulse generator EMI filtered feedthru |
US10286218B2 (en) | 2009-07-31 | 2019-05-14 | Medtronic, Inc. | Connector enclosure assemblies of medical devices including an angled lead passageway |
CN103282080B (zh) | 2010-12-28 | 2016-05-18 | 美敦力公司 | 包括金属连接件封壳的医疗装置 |
EP2667936B1 (de) * | 2011-01-26 | 2017-08-23 | Medtronic, Inc. | Implantierbare medizinprodukte und zugehörige steckverbindergehäuseanordnungen mit elektrisch an durchführungsstiften gekoppelten steckern |
US9974201B1 (en) * | 2016-10-28 | 2018-05-15 | General Electric Company | High power feedthrough for use with a high frequency power converter |
US10044175B1 (en) | 2017-07-31 | 2018-08-07 | Honeywell International Inc. | High temperature avionic line replaceable units and aircraft systems containing the same |
WO2019090298A1 (en) | 2017-11-06 | 2019-05-09 | Avx Corporation | Emi feedthrough filter terminal assembly containing a laminated insulative seal |
US11253708B2 (en) | 2018-05-24 | 2022-02-22 | Medtronic, Inc. | Machined features of enclosures for implantable medical devices |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4424551A (en) * | 1982-01-25 | 1984-01-03 | U.S. Capacitor Corporation | Highly-reliable feed through/filter capacitor and method for making same |
DE3523493A1 (de) * | 1984-08-14 | 1986-02-27 | Murata Erie North America, Ltd., Trenton, Ontario | Elektrischer filter |
Family Cites Families (39)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2825855A (en) * | 1954-09-29 | 1958-03-04 | Cornell Dubilier Electric | Electrolytic capacitor |
US2785350A (en) * | 1954-10-18 | 1957-03-12 | Erie Resistor Corp | Capacitor |
US2994048A (en) * | 1958-03-14 | 1961-07-25 | Allen Bradley Co | High frequency capacitor of corrugated configuration |
US2983855A (en) * | 1958-03-20 | 1961-05-09 | Allen Bradley Co | De-resonated capacitor |
US3056072A (en) * | 1958-06-26 | 1962-09-25 | Sprague Electric Co | Tantalum capacitor |
US3320557A (en) * | 1963-04-02 | 1967-05-16 | Globe Union Inc | Feed-through capacitor |
US3533832A (en) * | 1965-09-30 | 1970-10-13 | Gen Electric | Glass covered semiconductor device |
US3697823A (en) * | 1971-11-03 | 1972-10-10 | Gen Electric | Metal-to-glass-to-metal hermetic seal |
US3766616A (en) * | 1972-03-22 | 1973-10-23 | Statek Corp | Microresonator packaging and tuning |
US3896543A (en) * | 1972-05-15 | 1975-07-29 | Secr Defence Brit | Semiconductor device encapsulation packages and arrangements and methods of forming the same |
US3936864A (en) * | 1973-05-18 | 1976-02-03 | Raytheon Company | Microwave transistor package |
US4023198A (en) * | 1974-08-16 | 1977-05-10 | Motorola, Inc. | High frequency, high power semiconductor package |
US4410874A (en) * | 1975-03-03 | 1983-10-18 | Hughes Aircraft Company | Large area hybrid microcircuit assembly |
US4372037A (en) * | 1975-03-03 | 1983-02-08 | Hughes Aircraft Company | Large area hybrid microcircuit assembly |
CA1042537A (en) * | 1975-03-07 | 1978-11-14 | Sprague Electric Company | Terminal cover assembly for an electrical component package and method for making |
US3961295A (en) * | 1975-03-25 | 1976-06-01 | Amp Incorporated | Solderless filter assembly |
DE2518831A1 (de) * | 1975-04-28 | 1976-11-04 | Siemens Ag | Durchfuehrungskondensator |
JPS5220259A (en) * | 1975-08-08 | 1977-02-16 | Taiyo Yuden Kk | Cylinderical throughhtype ceramic condenser and its fabrication method |
US4016527A (en) * | 1975-09-25 | 1977-04-05 | North American Philips Corporation | Hermetically sealed film resistor |
US4208698A (en) * | 1977-10-26 | 1980-06-17 | Ilc Data Device Corporation | Novel hybrid packaging scheme for high density component circuits |
JPS5925486B2 (ja) * | 1977-11-15 | 1984-06-18 | シチズン時計株式会社 | 圧電振動子の容器 |
CA1112729A (en) * | 1977-11-19 | 1981-11-17 | Tomiji Kobayashi | Tubular capacitor and method of making the same |
US4248920A (en) * | 1978-04-26 | 1981-02-03 | Tokyo Shibaura Denki Kabushiki Kaisha | Resin-sealed semiconductor device |
US4380041A (en) * | 1978-09-25 | 1983-04-12 | Motorola Inc. | Capacitor pressure transducer with housing |
US4326180A (en) * | 1979-11-05 | 1982-04-20 | Microphase Corporation | Microwave backdiode microcircuits and method of making |
JPS5745955A (en) * | 1980-09-02 | 1982-03-16 | Seikosha Co Ltd | Sealing container |
US4446502A (en) * | 1982-06-14 | 1984-05-01 | U.S. Philips Corporation | Metallurgical contacts in hermetically sealed glass encapsulated ceramic capacitors |
US4608592A (en) * | 1982-07-09 | 1986-08-26 | Nec Corporation | Semiconductor device provided with a package for a semiconductor element having a plurality of electrodes to be applied with substantially same voltage |
US4477828A (en) * | 1982-10-12 | 1984-10-16 | Scherer Jeremy D | Microcircuit package and sealing method |
US4633573A (en) * | 1982-10-12 | 1987-01-06 | Aegis, Inc. | Microcircuit package and sealing method |
GB2146839B (en) * | 1983-07-27 | 1987-04-01 | Nihon Dempa Kogyo Co | Piezoelectric resonator |
US4560826A (en) * | 1983-12-29 | 1985-12-24 | Amp Incorporated | Hermetically sealed chip carrier |
US4590617A (en) * | 1984-01-30 | 1986-05-20 | Sperry Corporation | Hermetically sealed planar structure for high frequency device |
JPS61224714A (ja) * | 1985-03-29 | 1986-10-06 | Murata Mfg Co Ltd | Lcフイルタの製造方法 |
US4725480A (en) * | 1985-09-24 | 1988-02-16 | John Fluke Mfg. Co., Inc. | Hermetically sealed electronic component |
US4687540A (en) * | 1985-12-20 | 1987-08-18 | Olin Corporation | Method of manufacturing glass capacitors and resulting product |
US4758926A (en) * | 1986-03-31 | 1988-07-19 | Microelectronics And Computer Technology Corporation | Fluid-cooled integrated circuit package |
US4678890A (en) * | 1986-05-09 | 1987-07-07 | North American Philips Corporation | Hermetically sealed metal film resistor |
US4730232A (en) * | 1986-06-25 | 1988-03-08 | Westinghouse Electric Corp. | High density microelectronic packaging module for high speed chips |
-
1989
- 1989-05-09 US US07/349,395 patent/US5032692A/en not_active Expired - Lifetime
-
1990
- 1990-04-10 GB GB9008102A patent/GB2233158B/en not_active Expired - Fee Related
- 1990-04-29 DE DE4013812A patent/DE4013812C2/de not_active Expired - Fee Related
- 1990-05-01 KR KR1019900006192A patent/KR0163430B1/ko not_active IP Right Cessation
- 1990-05-08 JP JP2117037A patent/JPH0719989B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 1990-05-09 FR FR9005789A patent/FR2646984A1/fr active Granted
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4424551A (en) * | 1982-01-25 | 1984-01-03 | U.S. Capacitor Corporation | Highly-reliable feed through/filter capacitor and method for making same |
US4424551B1 (en) * | 1982-01-25 | 1991-06-11 | Highly-reliable feed through/filter capacitor and method for making same | |
DE3523493A1 (de) * | 1984-08-14 | 1986-02-27 | Murata Erie North America, Ltd., Trenton, Ontario | Elektrischer filter |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
KR900019204A (ko) | 1990-12-24 |
GB9008102D0 (en) | 1990-06-06 |
DE4013812A1 (de) | 1990-11-15 |
JPH0719989B2 (ja) | 1995-03-06 |
GB2233158B (en) | 1993-10-20 |
US5032692A (en) | 1991-07-16 |
KR0163430B1 (ko) | 1999-04-15 |
FR2646984B1 (de) | 1993-02-26 |
GB2233158A (en) | 1991-01-02 |
FR2646984A1 (fr) | 1990-11-16 |
JPH02309697A (ja) | 1990-12-25 |
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Representative=s name: BAUER & BAUER, 52080 AACHEN |
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