Búsqueda Imágenes Maps Play YouTube Noticias Gmail Drive Más »
Iniciar sesión
Usuarios de lectores de pantalla: deben hacer clic en este enlace para utilizar el modo de accesibilidad. Este modo tiene las mismas funciones esenciales pero funciona mejor con el lector.

Patentes

  1. Búsqueda avanzada de patentes
Número de publicaciónDE4111903 A1
Tipo de publicaciónSolicitud
Número de solicitudDE19914111903
Fecha de publicación15 Oct 1992
Fecha de presentación12 Abr 1991
Fecha de prioridad12 Abr 1991
También publicado comoCA2065668A1, DE4111903C2, EP0508257A2, EP0508257A3, EP0508257B1, US5329352
Número de publicación19914111903, 914111903, DE 4111903 A1, DE 4111903A1, DE-A1-4111903, DE19914111903, DE4111903 A1, DE4111903A1, DE914111903
InventoresWolfgang Dr Jacobsen
SolicitanteBayer Ag
Exportar citaBiBTeX, EndNote, RefMan
Enlaces externos: DPMA, Espacenet
Spektroskopiekorrelierte licht-rastermikroskopie
DE 4111903 A1
Resumen  disponible en
Descripción  disponible en alemán
Reclamaciones(8)  disponible en alemán
Citas de patentes
Patente citada Fecha de presentación Fecha de publicación Solicitante Título
DE2456452A1 *29 Nov 19745 Jun 1975Inst Nat Sante Rech MedVorrichtung zur zerstoerungsfreien untersuchung von stoffen, besonders von heterogenen oberflaechen, mittels bestrahlung
EP0056426A2 *10 Sep 198128 Jul 1982Firma Carl ZeissVorrichtung zur Darstellung von Probenparametern
Otras citas
Referencia
1 *Applied Physics 22 (1980), S. 119
2 *Microscopia Acta 79 (1977), 3, S. 267-276
3 *Nature 347, (20.9.1990), S. 301-303
Citada por
Patente citante Fecha de presentación Fecha de publicación Solicitante Título
DE10341285B4 *4 Sep 20033 Nov 2016Carl Zeiss Meditec AgOperationsmikroskop mit Spektrometer und zugehöriges Verfahren
DE19829944A1 *4 Jul 19985 Ene 2000Zeiss Carl Jena GmbhVerfahren und Anordnung zur Gerätekonfiguration von konfokalen Mikroskopen
DE19829944C2 *4 Jul 199828 Mar 2002Zeiss Carl Jena GmbhVerfahren und Anordnung zur Gerätekonfiguration eines Fluoreszenz-Laserscanmikroskops
DE102005042672B4 *8 Sep 20051 Oct 2009Leica Microsystems Cms GmbhPhotosensor-Chip, Laser-Mikroskop mit Photosensor-Chip und Verfahren zum Auslesen eines Photosensor-Chips
DE102015111702A1 *20 Jul 201526 Ene 2017Carl Zeiss Microscopy GmbhHochauflösende, spektral selektive Scanning-Mikroskopie einer Probe
US680932418 May 200026 Oct 2004Carl Zeiss Jena GmbhScanning device, especially for detecting fluorescent light
US686789911 Dic 200215 Mar 2005Leica Microsystems Heidelberg GmbhMicroscope, flow cytometer, and method for examination of a specimen
WO2002097409A1 *24 May 20025 Dic 2002Rap.Id Particle Systems GmbhVerfahren zur automatisierten erkennung, spektroskopischen analyse und identifizierung von partikeln
WO2007028710A122 Ago 200615 Mar 2007Leica Microsystems Cms GmbhPhotosensor-chip, laser-mikroskop mit photosensor-chip und verfahren zum auslesen eines photosensor-chips
Clasificaciones
Clasificación internacionalG01J3/44, G01N21/63, G01J3/28, G02B21/00, G01N21/27, G01N21/65, G01J3/02
Clasificación cooperativaG01J3/02, G02B21/0028, G01J3/44, G01N21/65, G01J3/0264, G01N2021/1738, G02B21/0064, G01J3/2803
Clasificación europeaG02B21/00M4A1, G01J3/28B, G01J3/02, G01J3/44, G02B21/00M4A7M, G01J3/02E
Eventos legales
FechaCódigoEventoDescripción
15 Oct 1992OP8Request for examination as to paragraph 44 patent law
4 Feb 1993D2Grant after examination
29 Jul 19938364No opposition during term of opposition
10 Jun 19998339Ceased/non-payment of the annual fee