DE4124542A1 - Fehlerdiagnoseeinrichtung - Google Patents
FehlerdiagnoseeinrichtungInfo
- Publication number
- DE4124542A1 DE4124542A1 DE4124542A DE4124542A DE4124542A1 DE 4124542 A1 DE4124542 A1 DE 4124542A1 DE 4124542 A DE4124542 A DE 4124542A DE 4124542 A DE4124542 A DE 4124542A DE 4124542 A1 DE4124542 A1 DE 4124542A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- search tree
- test
- node
- fault
- search
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M99/00—Subject matter not provided for in other groups of this subclass
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07C—TIME OR ATTENDANCE REGISTERS; REGISTERING OR INDICATING THE WORKING OF MACHINES; GENERATING RANDOM NUMBERS; VOTING OR LOTTERY APPARATUS; ARRANGEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS FOR CHECKING NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
- G07C3/00—Registering or indicating the condition or the working of machines or other apparatus, other than vehicles
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S706/00—Data processing: artificial intelligence
- Y10S706/902—Application using ai with detail of the ai system
- Y10S706/911—Nonmedical diagnostics
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S706/00—Data processing: artificial intelligence
- Y10S706/902—Application using ai with detail of the ai system
- Y10S706/911—Nonmedical diagnostics
- Y10S706/912—Manufacturing or machine, e.g. agricultural machinery, machine tool
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S706/00—Data processing: artificial intelligence
- Y10S706/902—Application using ai with detail of the ai system
- Y10S706/911—Nonmedical diagnostics
- Y10S706/914—Process plant
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S706/00—Data processing: artificial intelligence
- Y10S706/902—Application using ai with detail of the ai system
- Y10S706/911—Nonmedical diagnostics
- Y10S706/914—Process plant
- Y10S706/915—Power plant
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
- Testing Or Calibration Of Command Recording Devices (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft eine Fehlerdiagnoseeinrichtung, die
Fehler von verschiedenen Geräten und Vorrichtungen wie Indu
striemaschinen oder Systemen solcher Vorrichtungen usw.
diagnostiziert.
Eine konventionelle Fehlerdiagnoseeinrichtung ist beispiels
weise von R. Cantone, "Diagnostic Reasoning With IN-ATETM",
Proceedings of A. I. ′87 Conference, April. 1987, angegeben. Die
Diagnose mit einer solchen Fehlerdiagnoseeinrichtung erfolgt
nach Maßgabe des binären Suchbaums von Fig. 5. Dabei wird
zuerst ein Test t7 16 am Grundknoten des Suchbaums durchge
führt, und dabei wird das Resultat wahr (t) oder unwahr (f)
erhalten. Wenn das Resultat unwahr (f) ist, wird ein Test
t1 17 durchgeführt. Wenn das Resultat beim Test t1 17 unwahr
(f) ist, wird auf einen Eingabefehler 18 eines UUT bzw. ge
prüften Geräts geschlossen. Wenn das Resultat beim Test t1 17
wahr (t) ist, wird der Test t3 19 durchgeführt, um mit der
Diagnose fortzufahren.
Die obige konventionelle Fehlerdiagnoseeinrichtung führt die
Diagnose über einen binären Suchbaum durch, so daß die beiden
folgenden Nachteile auftreten.
Erstens können nicht gleichzeitig zwei oder mehr Tests durch
geführt und die erhaltenen Beobachtungsdaten miteinander ver
glichen werden, um so eine Fehlerursache aus drei oder mehr
Fehlerursachen zu bestimmen oder aus einer Zwischenhypothese
auf Fehlerursachen zu schließen.
Wenn die geprüften Geräte kompliziert sind, wird zweitens der
binäre Suchbaum dafür groß und kompliziert. Daher wird die
Erstellung des Suchbaums schwierig. Wenn ferner nicht der
gesamte Suchbaum in den Hauptspeicher eines Rechners geladen
werden kann, wird die Ausführung der Diagnose extrem langsam
oder sogar unmöglich.
Aufgabe der Erfindung ist daher die Bereitstellung einer
Fehlerdiagnoseeinrichtung, die gleichzeitig zwei oder mehr
Tests durchführen kann und über die Resultate dieser Tests
eine Fehlerursache aus drei oder mehr Fehlerursachen bestim
men kann. Ferner soll dabei eine Fehlerdiagnoseeinrichtung
bereitgestellt werden, die eine Großdiagnose mit hohem Wir
kungsgrad durchführen kann.
Die genannte Aufgabe wird gemäß der Erfindung gelöst durch
eine Fehlerdiagnoseeinrichtung, die aufweist: eine Detektier
einrichtung, die Parameter eines geprüften Gerätes detek
tiert; eine Speichereinrichtung; einen in der Speicherein
richtung gespeicherten Suchbaum, der jeweiligen Untereinhei
ten des geprüften Geräts entsprechende Knoten hat, so daß der
Suchbaum eine Struktur hat, die der Hardware-Organisation des
geprüften Gerätes entspricht; in der Speichereinrichtung ge
speicherte und jeweiligen Knoten des Suchbaums zugeordnete
Testtabellen, die jeweils aufweisen: eine Beschreibung wenig
stens eines von der Detektiereinrichtung zu detektierenden
Parameters, wenigstens eine Testbedingung in bezug auf den
von der Detektiereinrichtung detektierten Parameter, und eine
Fehlerwahrscheinlichkeitstabelle, die Fehlerwahrscheinlich
keiten und Namen von Tochterknoten, die jeweiligen Resultaten
der Testbedingung entsprechen, enthält; und eine Such/Infe
renzeinrichtung, die nach Maßgabe des Suchbaums und der Test
tabellen nach einer Fehlerursache des geprüften Geräts sucht
und sie bestimmt; wobei wenigstens einer der Knoten wenig
stens drei Tochterknoten hat und die dem Knoten mit wenig
stens drei Tochterknoten zugeordnete Testtabelle aufweist:
eine Beschreibung von wenigstens zwei Parametern, die von der
Detektiereinrichtung zu detektieren sind; wenigstens zwei
Testbedingungen in bezug auf die von der Detektiereinrichtung
detektierten beiden Parameter; und eine Fehlerwahrscheinlich
keitstabelle, die Fehlerwahrscheinlichkeiten und Namen von
Tochterknoten bezeichnet, die jeweiligen Resultatmustern der
Testbedingungen entsprechen.
Bevorzugt hat der Grundknoten des Suchbaums wenigstens drei
Tochterknoten. Außerdem ist es bevorzugt, daß die Speicher
einrichtung einen Hauptspeicher und einen Hilfsspeicher um
faßt und daß der Suchbaum in einen Hauptsuchbaum, der im
Hauptspeicher gespeichert ist, und Zweigsuchbäume, die im
Hilfsspeicher gespeichert sind, unterteilt ist, wobei die
Such/Inferenzeinrichtung erforderlichenfalls einen Zweig
suchbaum in den Hauptspeicher lädt.
Die Erfindung wird nachstehend auch hinsichtlich weiterer
Merkmale und Vorteile anhand der Beschreibung von Ausfüh
rungsbeispielen und unter Bezugnahme auf die beiliegenden
Zeichnungen näher erläutert. Die Zeichnungen zeigen in:
Fig. 1 ein Blockschaltbild, das die Organisation einer
Fehlerdiagnoseeinrichtung gemäß einem Ausführungs
beispiel der Erfindung zeigt;
Fig. 2 ein Flußdiagramm, das den von der Fehlerdiagnose
einrichtung nach Fig. 1 angewandten Diagnoseablauf
zeigt;
Fig. 3 im einzelnen die Organisation des Hauptsuchbaums
und eines Zweigsuchbaums, die in den Hauptspeicher
der Fehlerdiagnoseeinrichtung von Fig. 1 geladen
sind;
Fig. 4 Einzelheiten der Testtabelle am Grundknoten des
Suchbaums von Fig. 3; und
Fig. 5 ein Diagramm, das den Suchbaum zeigt, mit dem eine
konventionelle Fehlerdiagnoseeinrichtung nach der
Fehlerursache eines geprüften Geräts sucht und sie
bestimmt.
In den Zeichnungen sind gleiche oder entsprechende Teile
jeweils mit gleichen Bezugszeichen versehen.
Nachstehend wird ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel der
Einrichtung beschrieben.
Das Blockschaltbild von Fig. 1 zeigt die Organisation des
Ausführungsbeispiels der Fehlerdiagnoseeinrichtung. Diese
kann durch einen Rechner und periphere Einrichtungen imple
mentiert sein. In dem Hochgeschwindigkeits-Hauptspeicher 1
des Rechners ist ein Hauptsuchbaum gespeichert, mit dem die
Fehlerursachen gesucht werden, um die Diagnose des geprüften
Geräts 6 durchzuführen. Im Hauptspeicher 1 sind ferner jewei
ligen Knoten zugeordnete Testtabellen gespeichert. Jeder
Knoten entspricht einer Hardware-Untereinheit des geprüften
Gerätes 6, und an jedem Knoten des Suchbaums ist der Knoten
name gespeichert, der die entsprechende Untereinheit des
geprüften Gerätes 6 bezeichnet. Wie noch beschrieben wird,
sind ferner an jedem Knoten die Fehlerwahrscheinlichkeiten
der den Knoten jeweils zugeordneten Untereinheiten des ge
prüften Gerätes 6 und erforderlichenfalls der Name des Zweig
suchbaums, der mit dem im Hauptspeicher 1 gespeicherten
Hauptsuchbaum zu verbinden ist, gespeichert. Diese Zweigsuch
bäume sind in einem Hilfsspeicher 4 gespeichert und werden
nach Bedarf in den Hauptspeicher 1 geladen.
Eine Such/Inferenzeinrichtung 3, die durch ein Programm im
plementiert sein kann, sucht nach den Fehlerursachen über den
in den Hauptspeicher 1 geladenen Suchbaum. Detektiereinrich
tungen wie etwa eine Detektiereinheit I 5a und eine Detek
tiereinheit II 5b in Fig. 1 detektieren die Zustände (d. h.
die Parameter) wie Spannungen, Ströme, Temperaturen und Feh
lercodes des geprüften Gerätes 6. Eine Mensch-Maschine-
Schnittstelle 5c fordert von einem Analytiker 7 eine Eingabe
des Fehlerzustands an oder erteilt ihm Reparaturanweisungen.
Das Flußdiagramm von Fig. 2 zeigt den Diagnoseablauf, der von
der Fehlerdiagnoseeinrichtung von Fig. 1 angewandt wird, und
Fig. 3 zeigt im einzelnen die Organisation des Hauptsuchbaums
und eines Zweigsuchbaums, der in den Hauptspeicher der Feh
lerdiagnoseeinrichtung von Fig. 1 geladen ist. Fig. 4 zeigt
die Einzelheiten der Testtabelle am Grundknoten des Suchbaums
von Fig. 3.
Nach Fig. 3 hat der Grundknoten 8 drei Tochterknoten, und
zwar einen Gaseinheitsknoten 9a, einen Alarmeinheitsknoten 9b
und einen Kesseleinheitsknoten 9c, die den Untereinheiten,
also der Gas-, der Alarm- und der Kesseleinheit des geprüften
Gerätes 6 entsprechen. Ein im Hilfsspeicher 4 gespeicherter
Zweigsuchbaum, der einen Grundknoten 14 und zwei Tochter
knoten, nämlich einen Ventilknoten 14a und einen Pumpenknoten
14b, hat, ist in den Hauptspeicher 1 geladen, um mit dem Gas
einheitsknoten 9a gekoppelt zu werden und dadurch den Haupt
suchbaum von dem Gaseinheitsknoten 9a aus fortzusetzen. Ande
rerseits sind die beiden Tochterknoten, nämlich der Tochter
knoten 9d für den Sensor 1 und der Tochterknoten 9e für den
Sensor 2, des Alarmeinheitsknotens 9b von anfang an im Haupt
speicher 1 gespeichert. Ein weiterer Zweigsuchbaum (nicht
gezeigt), der mit dem Kesseleinheitsknoten 9c zur Bildung
eines integralen Teils des davon ausgehenden Suchbaums zu
verbinden ist, wird erforderlichenfalls in den Hauptspeicher
1 geladen. Eine Testtabelle ist jedem Tochterknoten aufwei
senden Knoten zugeordnet. So sind dem Grundknoten 8 bzw. dem
Alarmeinheitsknoten 9b des Hauptsuchbaums eine Testtabelle 2
bzw. eine Testtabelle 2a zugeordnet. Dem Grundknoten 14 des
mit dem Gaseinheitsknoten 9a zu koppelnden und damit zu
identifizierenden Zweigsuchbaums ist eine Testtabelle 15
zugeordnet.
Die Diagnose wird gemäß dem Ablauf von Fig. 2 durchgeführt.
In Schritt S1 wird von der Such/Inferenz-Einheit 3 die Test
tabelle 2 am Grundknoten 8 des Hauptsuchbaums ausgewählt.
Fig. 4 zeigt die Einzelheiten der Testtabelle am Grundknoten
des Suchbaums von Fig. 3. In der ersten Spalte einer Detek
tiertabelle 10 sind Namen von Detektoreinheiten TEMP1 und
TEMP2 gespeichert, die im vorliegenden Fall entsprechende
Temperaturen in dem geprüften Gerät 6 detektieren. Wenn die
Such/Inferenzeinrichtung 3 diese Testtabelle 2 in Schritt S1
auswählt, werden die in der Detektiertabelle 10 gespeicherten
Detektoreinheiten aktiviert, und die in der zweiten Spalte
der Detektiertabelle 10 gespeicherten Befehlsparameter werden
zu den jeweiligen Detektoreinheiten übertragen. Daraufhin
detektieren die Detektoreinheiten die den Befehlen entspre
chenden Werte. Die Werte oder Parameter, und zwar 120° bzw.
60°, die von den jeweiligen Detektoreinheiten detektiert
werden, werden in der dritten Spalte der Detektiertabelle 10
gespeichert.
Eine Beurteilungstabelle 11 der Testtabelle 2 enthält eine
Vielzahl von Beurteilungs- oder Testbedingungen in bezug auf
die detektierten Parameter. In dem in Fig. 4 gezeigten Fall
sind in der ersten und der zweiten Zeile zwei Beurteilungs-
bzw. Testbedingungen a und b gespeichert. Die Such/Inferenz
einrichtung 3 beurteilt, ob die Bedingungen in den jeweiligen
Zeilen a und b erfüllt sind, und speichert das Beurteilungs
ergebnis, nämlich wahr (t) oder unwahr (f), in der letzten
Spalte der Beurteilungstabelle 11. In dem in Fig. 4 gezeigten
Fall ist das Resultat für die erste Bedingung a wahr (t) und
für die Bedingung b unwahr (f).
Eine Fehlerwahrscheinlichkeitstabelle 12 der Testtabelle 2
speichert die Fehlerwahrscheinlichkeitswerte und die Namen
der Tochterknoten, die den in der Beurteilungstabelle 11
gespeicherten Beurteilungsergebnissen zugeordnet sind. In dem
Fall von Fig. 4 entspricht die erste Zeile dem Resultatmuster
wahr (t) für die Bedingung a und unwahr (f) für die Bedingung
b. Dabei ist dann die Wahrscheinlichkeit des Auftretens eines
Fehlers in der Gaseinheit (durch den Tochterknotennamen in
der letzten Spalte bezeichnet) 0,8, während die normale Wahr
scheinlichkeit 0 ist. Die ungewisse Wahrscheinlichkeit ist
0,2. In gleicher Weise entspricht die zweite Zeile dem
Resultatmuster unwahr (f) für die Bedingung a und wahr (t)
für die Bedingung b. Dabei ist dann die Wahrscheinlichkeit
des Auftretens eines Fehlers der Alarmeinheit 0,6, während
die normale Wahrscheinlichkeit 0 ist. Die ungewisse Wahr
scheinlichkeit ist 0,4. Die dritte Zeile (die mit "sonstige"
bezeichnet ist) entspricht den übrigen Resultatmustern, bei
denen die normale Wahrscheinlichkeit 1 ist.
Somit liest die Such/Inferenzeinrichtung 3 die Wahrschein
lichkeiten und den Namen des Tochterknotens aus, der dem
Beurteilungsresultatmuster entspricht, das in der Beurtei
lungstabelle 11 gespeichert ist. Wenn beispielsweise die
Resultate der Beurteilungstabelle 1 von Fig. 4 entsprechen,
wird von der Such/Inferenzeinrichtung 3 aus den drei Zeilen
die erste Zeile der Fehlerwahrscheinlichkeitstabelle 12 aus
gewählt. Damit wird die dem Gaseinheitsknoten 9a zugeordnete
Fehlerwahrscheinlichkei6t von 0,8 ausgelesen. Damit ist
Schritt S1 beendet.
In Schritt S2 wird die in Schritt S1 ausgelesene Fehlerwahr
scheinlichkeit im Fehlerwahrscheinlichkeitskästchen des
Tochterknotens gespeichert, der von der ausgewählten Zeile
der Fehlerwahrscheinlichkeitstabelle 12 der Testtabelle 2
bezeichnet ist. Die Fehlerwahrscheinlichkeitskästchen der
jeweiligen Knoten sind im Hauptspeicher 1 gespeichert.
In Schritt S3 wird abgefragt, ob die Fehlerwahrscheinlichkeit
des betreffenden Knotens (des Gaseinheitsknotens 9a in dem
Fall, dessen Testresultate den in Fig. 4 gezeigten Resultaten
entsprechen) einen vorbestimmten Grenzwert übersteigt und ob
der betreffende Knoten ein Blatt ist (d. h. ein unterster
Knoten, der weder eigene Tochterknoten noch einen damit zu
verbindenden Zweigsuchbaum hat). Wenn die Fehlerwahrschein
lichkeit den Grenzwert übersteigt und der betreffende Knoten
ein Blatt ist, bestimmt die Such/Inferenzeinrichtung 3, daß
die durch den Knotennamen bezeichnete Einheit fehlerhaft ist,
und beendet die Diagnose. Wenn dagegen der betreffende Knoten
kein Blatt ist oder wenn die Fehlerwahrscheinlichkeit des
Knotens unter dem Grenzwert liegt, geht der Ablauf der Dia
gnose zu Schritt S4 weiter.
In Schritt S4 wird abgefragt, ob die Fehlerwahrscheinlichkeit
des betreffenden Knotens den vorbestimmten Grenzwert über
steigt und ob der betreffende Knoten einen damit zu koppeln
den Zweigsuchbaum hat. Wenn die Fehlerwahrscheinlichkeit des
Knotens den Grenzwert übersteigt und der Knoten einen Zweig
suchbaum hat, wird der Zweigsuchbaum in Schritt S5 aus dem
Hilfsspeicher 4 in den Hauptspeicher 1 geladen. In dem in
Fig. 4 gezeigten Fall wird also der mit dem Gaseinheitsknoten
9a von Fig. 3 zu koppelnde Zweigsuchbaum in Schritt S5 in den
Hauptspeicher 1 geladen. Dann werden in Schritt S1 die in der
Testtabelle 15 am Grundknoten 14 des Zweigsuchbaums beschrie
benen Tests ausgeführt. Es ist im übrigen zu beachten, obwohl
nicht explizit in Fig. 2 gezeigt, daß dann, wenn die Fehler
wahrscheinlichkeit des betreffenden Knotens den Grenzwert
übersteigt und der betreffende Knoten einen im Hauptspeicher
1 gespeicherten Tochterknoten hat, die in der Testtabelle an
dem betreffenden Knoten beschriebenen Tests ausgeführt wer
den. Wenn beispielsweise der betreffende Knoten der Alarmein
heitsknoten 9b von Fig. 3 ist, werden die in der Testtabelle
2a beschriebenen Tests in ähnlicher Weise wie am Grundknoten
8, der unter Bezugnahme auf Fig. 4 bereits beschrieben wurde,
ausgeführt.
Wenn die Fehlerwahrscheinlichkeit am betreffenden Knoten in
Schritt S4 unter dem Grenzwert liegt, wird in Schritt S6 von
der Such/Inferenzeinrichtung 3 ein Knoten des im Hauptspei
cher 1 gespeicherten Suchbaums ausgewählt, in dessen Fehler
wahrscheinlichkeitskästchen eine maximale Fehlerwahrschein
lichkeit gespeichert ist. Im folgenden Schritt S7 wird der
dem ausgewählten Knoten zugeordnete Test ausgeführt, und die
Ausführung der Diagnose springt zu Schritt S2 zurück.
Bei dem obigen Ausführungsbeispiel ist der gesamte Suchbaum
in einen im Hauptspeicher 1 gespeicherten Hauptsuchbaum und
im Hilfsspeicher 4 gespeicherte Zweigsuchbäume unterteilt, so
daß ein Zweigsuchbaum nach Bedarf in den Hauptspeicher 1 ge
laden wird. Es kann aber auch, um den maximalen Wirkungsgrad
zu erzielen, der gesamte Suchbaum im Hauptspeicher 1 gespei
chert sein. Außerdem kann die Such/Inferenzeinrichtung 3 auch
durch Hardware anstatt durch ein Programm implementiert sein.
Claims (3)
1. Fehlerdiagnoseeinrichtung zur Bestimmung einer Fehlerur
sache eines geprüften Gerätes,
gekennzeichnet durch
eine Detektiereinrichtung (5a, 5b), die Parameter eines geprüften Gerätes (6) detektiert;
eine Speichereinrichtung (1, 4);
einen in der Speichereinrichtung gespeicherten Suchbaum mit Knoten, die jeweiligen Untereinheiten des geprüften Gerä tes (6) entsprechen, so daß der Suchbaum eine der Hardware- Organisation des geprüften Gerätes entsprechende Suchbaum struktur hat;
Testtabellen (2), die in der Speichereinrichtung (1) ge speichert und jeweiligen Knoten des Suchbaums zugeordnet sind, wobei jede Testtabelle aufweist: eine Beschreibung von wenigstens einem von der Detektiereinrichtung zu detektie renden Parameter; wenigstens eine Testbedingung in bezug auf den von der Detektiereinrichtung detektierten Parameter; und eine Fehlerwahrscheinlichkeitstabelle, die Fehlerwahrschein lichkeiten und Namen von Tochterknoten bezeichnet, die je weiligen Resultaten der Testbedingung entsprechen; und
eine Such/Inferenzeinrichtung (3), die eine Fehlerursache des geprüften Gerätes nach Maßgabe des Suchbaums und der Testtabellen sucht und bestimmt;
wobei wenigstens einer der Knoten wenigstens drei Toch terknoten hat und die dem Knoten mit wenigstens drei Toch terknoten zugeordnete Testtabelle aufweist: eine Beschreibung von wenigstens zwei von der Detektiereinrichtung zu detektie renden Parametern; wenigstens zwei Testbedingungen in bezug auf die zwei von der Detektiereinrichtung detektierten Para meter; und eine Fehlerwahrscheinlichkeitstabelle, die Fehler wahrscheinlichkeiten und Namen von Tochterknoten bezeichnet, die jeweiligen Resultatmustern der Testbedingungen entspre chen.
eine Detektiereinrichtung (5a, 5b), die Parameter eines geprüften Gerätes (6) detektiert;
eine Speichereinrichtung (1, 4);
einen in der Speichereinrichtung gespeicherten Suchbaum mit Knoten, die jeweiligen Untereinheiten des geprüften Gerä tes (6) entsprechen, so daß der Suchbaum eine der Hardware- Organisation des geprüften Gerätes entsprechende Suchbaum struktur hat;
Testtabellen (2), die in der Speichereinrichtung (1) ge speichert und jeweiligen Knoten des Suchbaums zugeordnet sind, wobei jede Testtabelle aufweist: eine Beschreibung von wenigstens einem von der Detektiereinrichtung zu detektie renden Parameter; wenigstens eine Testbedingung in bezug auf den von der Detektiereinrichtung detektierten Parameter; und eine Fehlerwahrscheinlichkeitstabelle, die Fehlerwahrschein lichkeiten und Namen von Tochterknoten bezeichnet, die je weiligen Resultaten der Testbedingung entsprechen; und
eine Such/Inferenzeinrichtung (3), die eine Fehlerursache des geprüften Gerätes nach Maßgabe des Suchbaums und der Testtabellen sucht und bestimmt;
wobei wenigstens einer der Knoten wenigstens drei Toch terknoten hat und die dem Knoten mit wenigstens drei Toch terknoten zugeordnete Testtabelle aufweist: eine Beschreibung von wenigstens zwei von der Detektiereinrichtung zu detektie renden Parametern; wenigstens zwei Testbedingungen in bezug auf die zwei von der Detektiereinrichtung detektierten Para meter; und eine Fehlerwahrscheinlichkeitstabelle, die Fehler wahrscheinlichkeiten und Namen von Tochterknoten bezeichnet, die jeweiligen Resultatmustern der Testbedingungen entspre chen.
2. Fehlerdiagnoseeinrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet
daß ein Grundknoten des Suchbaums wenigstens drei Tochter
knoten aufweist.
3. Fehlerdiagnoseeinrichtung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Speichereinrichtung einen Hauptspeicher (1) und einen
Hilfsspeicher (4) umfaßt und daß der Suchbaum in einen im
Hauptspeicher (1) gespeicherten Hauptsuchbaum und in im
Hilfsspeicher (4) gespeicherte Zweigsuchbäume unterteilt ist,
wobei die Such/Inferenzeinrichtung (3) nach Bedarf einen
Zweigsuchbaum in den Hauptspeicher (1) lädt.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2198273A JPH0481616A (ja) | 1990-07-24 | 1990-07-24 | 故障診断装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4124542A1 true DE4124542A1 (de) | 1992-02-06 |
DE4124542C2 DE4124542C2 (de) | 1995-10-26 |
Family
ID=16388390
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE4124542A Expired - Fee Related DE4124542C2 (de) | 1990-07-24 | 1991-07-24 | Fehlerdiagnoseeinrichtung |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5587930A (de) |
JP (1) | JPH0481616A (de) |
CA (1) | CA2047439C (de) |
DE (1) | DE4124542C2 (de) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19707065A1 (de) * | 1997-02-22 | 1998-09-03 | Daimler Benz Ag | System zur Erstellung eines Entscheidungsbaums insbesondere für eine Fehlerdiagnose bei einem Kraftfahrzeug |
DE19713917A1 (de) * | 1997-04-04 | 1998-10-08 | Abb Research Ltd | Verfahren zur Bestimmung von Zuverlässigkeitskennwerten einer technischen Anlage |
WO2001075535A2 (de) * | 2000-04-04 | 2001-10-11 | Technische Universität Dresden | Zustandssteuerung von technischen systemen |
DE102007028826A1 (de) * | 2007-06-20 | 2008-12-24 | Db Regio Ag | Verfahren zur Ermittlung der qualitativen Güte von in Einrichtungen zur Fehlerdiagnose technischer Geräte oder Anlagen erzeugten Fehlermeldungen |
DE10024211B4 (de) * | 2000-05-17 | 2010-05-12 | Volkswagen Ag | Diagnoseverfahren für den Zustand eines Kraftfahrzeuges |
Families Citing this family (45)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2985505B2 (ja) * | 1991-07-08 | 1999-12-06 | 株式会社日立製作所 | 品質情報収集診断システム及びその方法 |
FR2697652B1 (fr) * | 1992-10-30 | 1994-12-16 | Bull Sa | Procédé de détermination automatique des probabilités associées à une fonction booléenne. |
US5548715A (en) * | 1994-06-10 | 1996-08-20 | International Business Machines Corporation | Analysis of untestable faults using discrete node sets |
JPH08224346A (ja) * | 1995-02-22 | 1996-09-03 | Ace Denken:Kk | 電子管理装置、および遊技管理方法 |
DE19742448C1 (de) | 1997-09-26 | 1998-12-17 | Daimler Benz Ag | Diagnosemodul zum Erstellen einer Diagnose für elektrisch ansteuerbare Systeme und Diagnoseeinrichtung zum Erstellen einer Gesamtsystemdiagnose |
DE19742446B4 (de) * | 1997-09-26 | 2006-05-24 | Daimlerchrysler Ag | Fehlerdiagnoseverfahren |
US6192302B1 (en) | 1998-07-31 | 2001-02-20 | Ford Global Technologies, Inc. | Motor vehicle diagnostic system and apparatus |
SE511967C2 (sv) * | 1998-09-10 | 1999-12-20 | Mecel Ab | Metod och system för diagnosticering av sammansatta distribuerade system, företrädesvis implementerade i fordon |
US6813611B1 (en) * | 1999-06-08 | 2004-11-02 | International Business Machines Corporation | Controlling, configuring, storing, monitoring and maintaining accounting of bookkeeping information employing trees with nodes having embedded information |
DE50001644D1 (de) * | 1999-07-28 | 2003-05-08 | Siemens Ag | Diagnoseverfahren und diagnosesystem für eine technische anlage |
JP3734392B2 (ja) * | 1999-10-29 | 2006-01-11 | 松下電器産業株式会社 | 半導体集積回路の故障検査方法及びレイアウト方法 |
GB2373607B (en) * | 2001-03-23 | 2003-02-12 | Sun Microsystems Inc | A computer system |
GB2373606B (en) | 2001-03-23 | 2003-06-04 | Sun Microsystems Inc | A computer system |
US6721914B2 (en) | 2001-04-06 | 2004-04-13 | International Business Machines Corporation | Diagnosis of combinational logic circuit failures |
DE10135560B4 (de) * | 2001-07-20 | 2004-08-12 | Audi Ag | Fehleranalyse-System für Kraftfahrzeuge |
US7146371B2 (en) * | 2002-12-05 | 2006-12-05 | International Business Machines Corporation | Performance and memory bandwidth utilization for tree searches using tree fragmentation |
US20060167947A1 (en) * | 2003-03-01 | 2006-07-27 | Dunkle Mark V | Communications interface database for electronic diagnostic apparatus |
US7260744B2 (en) | 2003-10-21 | 2007-08-21 | Sap Aktiengesellschaft | Computer system diagnosis with user-developed procedure |
US7263634B2 (en) | 2003-10-21 | 2007-08-28 | Sap Aktiengesellschaft | Failures of computer system diagnostic procedures addressed in specified order |
US7260750B2 (en) * | 2003-10-22 | 2007-08-21 | Sap Aktiengesellschaft | Computer system diagnostic procedures performed in specified order |
US7203881B1 (en) | 2004-06-29 | 2007-04-10 | Sun Microsystems, Inc. | System and method for simulating system operation |
US7120559B1 (en) | 2004-06-29 | 2006-10-10 | Sun Microsystems, Inc. | System and method for performing automated system management |
US7200525B1 (en) | 2004-06-29 | 2007-04-03 | Sun Microsystems, Inc. | System and method for generating a data structure representative of a fault tree |
US7379846B1 (en) | 2004-06-29 | 2008-05-27 | Sun Microsystems, Inc. | System and method for automated problem diagnosis |
US7516025B1 (en) | 2004-06-29 | 2009-04-07 | Sun Microsystems, Inc. | System and method for providing a data structure representative of a fault tree |
KR100862407B1 (ko) * | 2004-07-06 | 2008-10-08 | 인텔 코오퍼레이션 | 에러를 검출하고 잠재적 고장을 예상하는 시스템 및 방법 |
DE602005004997T2 (de) * | 2004-12-21 | 2008-07-03 | International Business Machines Corp. | Diagnostisches Verfahren und System |
JP4791520B2 (ja) * | 2007-11-01 | 2011-10-12 | キヤノンアネルバ株式会社 | クライオポンプ装置、真空処理装置及びクライオポンプ装置の動作方法 |
US8793048B2 (en) * | 2007-12-26 | 2014-07-29 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Apparatus and method for analyzing multiple fault occurrence of multiple-state device |
US8165705B2 (en) * | 2008-07-10 | 2012-04-24 | Palo Alto Research Center Incorporated | Methods and systems for continuously estimating persistent and intermittent failure probabilities for production resources |
US8145334B2 (en) * | 2008-07-10 | 2012-03-27 | Palo Alto Research Center Incorporated | Methods and systems for active diagnosis through logic-based planning |
US8266092B2 (en) | 2008-07-10 | 2012-09-11 | Palo Alto Research Center Incorporated | Methods and systems for target value path identification |
US8359110B2 (en) * | 2009-03-23 | 2013-01-22 | Kuhn Lukas D | Methods and systems for fault diagnosis in observation rich systems |
JP5462018B2 (ja) * | 2010-02-10 | 2014-04-02 | 株式会社日立国際電気 | 試験装置 |
CN102682187B (zh) * | 2011-03-14 | 2015-08-26 | 卡斯柯信号有限公司 | 一种用于轨道交通设备的智能故障诊断方法 |
US8806277B1 (en) * | 2012-02-01 | 2014-08-12 | Symantec Corporation | Systems and methods for fetching troubleshooting data |
JP6099478B2 (ja) * | 2013-05-13 | 2017-03-22 | 三菱電機株式会社 | 状態監視装置 |
US9638601B2 (en) * | 2013-10-09 | 2017-05-02 | Simmonds Precision Products, Inc. | Systems and methods for determining rotary blade track and balance adjustments |
US9940235B2 (en) | 2016-06-29 | 2018-04-10 | Oracle International Corporation | Method and system for valid memory module configuration and verification |
DE102019108268A1 (de) * | 2019-03-29 | 2020-10-01 | Festo Ag & Co. Kg | Anomaliedetektion in einem pneumatischen System |
DE102019126597A1 (de) * | 2019-10-02 | 2021-04-08 | Bayerische Motoren Werke Aktiengesellschaft | Verfahren, Vorrichtung, Computerprogramm und computerlesbares Speichermedium zur Analyse eines mechatronischen Systems |
DE102019126817A1 (de) * | 2019-10-07 | 2021-04-08 | Bayerische Motoren Werke Aktiengesellschaft | Verfahren, Vorrichtung, Computerprogramm und computerlesbares Speichermedium zur Analyse eines mechatronischen Systems |
CN113721557B (zh) * | 2020-05-25 | 2022-12-20 | 中国石油化工股份有限公司 | 基于关联参数的石化装置运行工艺参数监测方法及装置 |
CN114296435B (zh) * | 2021-12-30 | 2023-12-01 | 沈阳东睿科技有限公司 | 一种航空发动机故障诊断系统 |
CN114739712B (zh) * | 2022-04-12 | 2023-01-06 | 江苏省特种设备安全监督检验研究院 | 一种用于高空特种设备检测装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3141016A1 (de) * | 1980-10-15 | 1982-04-22 | Westinghouse Electric Corp., 15222 Pittsburgh, Pa. | "einrichtung und verfahren zum diagnostizieren der funktionsweise von anlagen" |
DE3919486A1 (de) * | 1988-07-18 | 1990-01-25 | Zittau Tech Hochschule | Verfahren und vorrichtung zur multivalenten signalerfassung, -verarbeitung und -bewertung |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
USRE31247E (en) * | 1974-01-15 | 1983-05-17 | Kearney & Trecker Corporation | Diagnostic communications system for computer controlled machine tools |
JPS61218323A (ja) * | 1985-03-20 | 1986-09-27 | 株式会社東芝 | 事故判定方法 |
US4841456A (en) * | 1986-09-09 | 1989-06-20 | The Boeing Company | Test system and method using artificial intelligence control |
US4817092A (en) * | 1987-10-05 | 1989-03-28 | International Business Machines | Threshold alarms for processing errors in a multiplex communications system |
US5090014A (en) * | 1988-03-30 | 1992-02-18 | Digital Equipment Corporation | Identifying likely failure points in a digital data processing system |
JPH022406A (ja) * | 1988-06-13 | 1990-01-08 | Mitsubishi Heavy Ind Ltd | プラント故障診断装置 |
US4970725A (en) * | 1989-03-14 | 1990-11-13 | Westinghouse Electric Corp. | Automated system testability assessment method |
US5107497A (en) * | 1989-07-28 | 1992-04-21 | At&T Bell Laboratories | Technique for producing an expert system for system fault diagnosis |
JP3224226B2 (ja) * | 1989-09-22 | 2001-10-29 | 株式会社リコー | 故障診断エキスパートシステム |
JPH0820284B2 (ja) * | 1989-10-23 | 1996-03-04 | 株式会社小松製作所 | 故障診断装置 |
-
1990
- 1990-07-24 JP JP2198273A patent/JPH0481616A/ja active Pending
-
1991
- 1991-07-22 CA CA002047439A patent/CA2047439C/en not_active Expired - Fee Related
- 1991-07-24 US US07/739,591 patent/US5587930A/en not_active Expired - Fee Related
- 1991-07-24 DE DE4124542A patent/DE4124542C2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3141016A1 (de) * | 1980-10-15 | 1982-04-22 | Westinghouse Electric Corp., 15222 Pittsburgh, Pa. | "einrichtung und verfahren zum diagnostizieren der funktionsweise von anlagen" |
DE3919486A1 (de) * | 1988-07-18 | 1990-01-25 | Zittau Tech Hochschule | Verfahren und vorrichtung zur multivalenten signalerfassung, -verarbeitung und -bewertung |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
DE-Buch: R. Ahlswede, I. Wegener: Suchprobleme, B.G. Teubner-Verlag, Stuttgart, 1979, S. 38-40, 52-65 * |
DE-Buch: W.J. Bartz (Hrsg.): Expertensysteme expert verlag, Ehningen bei Böblingen, 1988, Kapitel 6 * |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19707065A1 (de) * | 1997-02-22 | 1998-09-03 | Daimler Benz Ag | System zur Erstellung eines Entscheidungsbaums insbesondere für eine Fehlerdiagnose bei einem Kraftfahrzeug |
DE19713917A1 (de) * | 1997-04-04 | 1998-10-08 | Abb Research Ltd | Verfahren zur Bestimmung von Zuverlässigkeitskennwerten einer technischen Anlage |
US6065133A (en) * | 1997-04-04 | 2000-05-16 | Abb Research Ltd. | Method for determining reliability characteristics for a technical installation |
WO2001075535A2 (de) * | 2000-04-04 | 2001-10-11 | Technische Universität Dresden | Zustandssteuerung von technischen systemen |
WO2001075535A3 (de) * | 2000-04-04 | 2002-05-10 | Univ Dresden Tech | Zustandssteuerung von technischen systemen |
US7065413B2 (en) | 2000-04-04 | 2006-06-20 | Technische Universitaet Dresden | Method for producing software for controlling mechanisms and technical systems |
DE10024211B4 (de) * | 2000-05-17 | 2010-05-12 | Volkswagen Ag | Diagnoseverfahren für den Zustand eines Kraftfahrzeuges |
DE102007028826A1 (de) * | 2007-06-20 | 2008-12-24 | Db Regio Ag | Verfahren zur Ermittlung der qualitativen Güte von in Einrichtungen zur Fehlerdiagnose technischer Geräte oder Anlagen erzeugten Fehlermeldungen |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0481616A (ja) | 1992-03-16 |
US5587930A (en) | 1996-12-24 |
CA2047439C (en) | 1999-08-31 |
CA2047439A1 (en) | 1992-01-25 |
DE4124542C2 (de) | 1995-10-26 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE4124542A1 (de) | Fehlerdiagnoseeinrichtung | |
DE60208117T2 (de) | Selbsttest-Schaltung für Cache-Speicher | |
DE3607015A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur funktionspruefung von direktzugriffsspeichern | |
DE10225381A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Speichern von Speichertestinformantion | |
DE19741174A1 (de) | Speichertestgerät | |
DE3629178A1 (de) | Pruefverfahren und -vorrichtung fuer eine verteilte datenverarbeitungsanlage | |
EP1113362B1 (de) | Integrierter Halbleiterspeicher mit einer Speichereinheit zum Speichern von Adressen fehlerhafter Speicherzellen | |
EP0843317B1 (de) | Verfahren zum Testen eines in Zellenfelder unterteilten Speicherchips im laufenden Betrieb eines Rechners unter Einhaltung von Echtzeitbedingungen | |
DE102015016413A1 (de) | Leiterprogrammabrufvorrichtung, die dazu fähig ist, Leiterschaltungen basierend auf vorgegebenen Signaloperationsbedingungen abzurufen | |
DE112008000429T5 (de) | Prüfvorrichtung und Prüfverfahren | |
DE112006003647T5 (de) | Anlagensteuersystem und Anlaufsperrfaktor-Spezifikationsverfahren | |
DE102004020875A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Maskieren bekannter Ausfälle während Speichertestauslesungen | |
EP0990236B1 (de) | Anordnung mit speicherzellen und verfahren zur funktionsüberprüfung von speicherzellen | |
DE3200626C2 (de) | Verfahren zur Überprüfung, ob ein außer dem Hauptspeicher vorgesehener weiterer Speicher in ein Mikrocomputersystem eingefügt ist | |
DE3210616A1 (de) | Rechner | |
DE10111831A1 (de) | Verfahren zum automatischen Suchen und Sortieren von Fehlersignaturen von Wafern | |
DE2222350B2 (de) | Fehlerdiagnoseeinrichtung fuer eine zeichenerkennungsmaschine und verfahren zu deren betrieb | |
DE19904375A1 (de) | Verfahren zur Funktionsüberprüfung von Speicherzellen eines integrierten Halbleiterspeichers | |
DE10124878A1 (de) | Testvorrichtung für Halbleiterbauelemente | |
DE2441486C2 (de) | Verfahren zur automatischen Fehlerprüfung eines elektrischen Schaltkreises und Einrichtung zur Durchführung des Verfahrens | |
DE69637427T2 (de) | Verfahren und Gerät zur Erkennung doppelter Eintragungen in einer Nachschlagtabelle | |
DE10115280C2 (de) | Verfahren zum Klassifizieren von Bauelementen | |
DE3390313T1 (de) | Ein Verfahren und Vorrichtung zur Prüfung des internen Verbundnetzes zwischen Anschlüssen eines elektrischen Netzwerkes | |
EP0729034A2 (de) | Prüfschaltung und Prüfverfahren zur Funktionsprüfung von elektronischen Schaltungen | |
DE3708506C2 (de) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8320 | Willingness to grant licences declared (paragraph 23) | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |