DE4315240A1 - Verstärkungsstruktur für dünne Filme und Verfahren zu deren Herstellung - Google Patents
Verstärkungsstruktur für dünne Filme und Verfahren zu deren HerstellungInfo
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Description
Die Erfindung betrifft eine Verstärkungsstruktur für einen
dünnen Film, insbesondere einen ultradünnen Film, der für
Röntgen- und Ultraviolettstrahlung durchlässig ist, und ein
Verfahren zur Herstellung der Verstärkungsstruktur eines
photosensitiven Materials.
Ultradünne Filme mit einer Dicke im Bereich zwischen 10 Nanome
ter bis 5 Micrometer, welche für Röntgenstrahlung durchlässig
sind, können beispielsweise aus Kunststoff wie z. B. Polyimid
hergestellt werden. Dieser aus Polyimid hergestellte Film ist
beispielsweise aus den U.S. Patenten 4,119,234 und 5,090,046
bekannt. In diesen Publikationen werden die ultradünnen Filme
verwendet, um dünne Detektorfenster für Röntgendetektoren her
zustellen. Die als Detektorfenster für Röntgenmeßgeräte verwen
deten ultradünnen Filme werden normalerweise nur an ihren Ecken
mittels eines Befestigungsteils zwischen dem Film und der Wand
des Röntgendetektors angebracht und gleichzeitig getragen. Dar
aus resultierend ist die Handhabung der dünnen Filme z. B. wäh
rend des Transports lästig, weil leicht Spannungen in den Fil
men aufgrund der unelastischen Befestigung auftreten und diese
Spannungen den Film, welcher ja nur an seinen Ecken getragen
ist, zum Reißen bringen können. Filme, die an ihren Kanten ab
gestützt sind, haben normalerweise eine kleine Fläche, welche
wiederum die Verwendbarkeit dieser ultradünnen Filme beein
trächtigt, weil ein Teil der erwünschten Strahlungsinformation
außerhalb des Detektorfensters gestreut wird.
Die Verwendbarkeit ultradünner Filme wurde dadurch verbessert,
daß der Film mit einer Verstärkungsstruktur aus Silizium oder
Metall z. B. versehen worden ist. So eine Siliziumverstärkung
ist im U.S. Patent 5,039,203 gezeigt. Diese führt zu einer
Vergrößerung der Filmfläche, jedoch verhindert die strahlungs
undurchlässige Verstärkungsstruktur weiterhin ein Auftreffen
der gewünschten Strahlungsinformation auf den Film.
Aus der japanischen Anmeldung 4-21852 ist es bekannt, photosen
sitives Material zum Ausbalancieren der
Röntgentransmissionfluktuationen aufgrund der Unebenheit einer
Beryllium-Membran zu verwenden. Jedoch bildet das
photosensitive Material in diesem Fall nicht eine vorbestimmte
gleichförmige Struktur auf der Oberfläche der Beryllium-Membran
und daher bildet das photosensitive Material keine
Verstärkungsstruktur der Beryllium-Membran.
Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung, einige der
Nachteile des Standes der Technik zu beseitigen, und eine Ver
stärkungsstruktur für einen ultradünnen Film zu schaffen, die
eine verbesserte und weitreichendere Anwendung von ultradünnen
Filmen gestattet.
Diese Aufgabe wird durch eine Verstärkungsstruktur gemäß An
spruch 1 gelöst. Ein Verfahren zur Herstellung der Struktur ist
Gegenstand des Anspruchs 7. Vorteilhafte Weiterbildungen der
Erfindung sind in den Unteransprüchen beschrieben.
Durch die Erfindung wird eine verbesserte und weitreichendere
Verwendung der ultradünnen Filme, die für Röntgenstrahlen und
Ultraviolettstrahlen durchlässig sind, geschaffen, denn der
Film ist nicht nur an seinen Kanten, sondern über seine gesamte
Fläche mit einer Verstärkungsstruktur aus photosensitivem Mate
rial versehen. Die Verstärkungsstruktur des ultradünnen Films
ist vorzugsweise aus einem photosensitiven Polymer hergestellt,
welches im Laufe des Herstellungsverfahrens chemisch stabili
siert und verstärkt worden ist und welches seine Photosensiti
vität dabei verliert. Vorzugsweise wird als photosensitives
Polymer für die Herstellung der Verstärkungsstruktur gemäß der
Erfindung z. B. ein Polyimidlack verwendet, der unter dem
kommerziellen Namen PYRALIN PI 2732 vertrieben wird.
Die Filmverstärkungsstruktur gemäß der Erfindung wird auf der
Oberseite eines vorgefertigten Ultradünnfilms aufgebracht. Die
ser ultradünne Film kann z. B. aus einem bekannten Polyimidlack
unter dem kommerziellen Namen PYRALIN PI 2610 hergestellt sein,
welcher als dünne Lage auf der Oberfläche eines gleichförmigen
Substrats aufgebracht und durch Erhitzung im Vakuum zwischen
einer halben und einer Stunde bei einer Temperatur von 400°C
polymerisiert wird. Das bei der Herstellung dieses Films ver
wendete Substrat kann z. B. aus Silizium oder Metall wie z. B.
Kupfer oder Nickel bestehen.
Erfindungsgemäß wird auf der Oberfläche des ultradünnen Films
eine Lage photosensitiven Polyimidlacks aufgebracht, der zwi
schen einer halben Stunde und einer Stunde in Luft bei einer
Temperatur zwischen 50 und 100°C vorgeheizt wird. Auf der Ober
seite des vorgebackenen oder vorgeheizten Verstärkungsmaterials
wird dann eine negative Belichtungsmaske der herzustellenden
Verstärkungsstruktur angeordnet, die z. B. eine gitterartige
Form hat. Die Belichtungsmaske kann entsprechend dem Material
der Verstärkungsstruktur auch eine Positivmaske sein. Nach dem
Setzen der Belichtungsmaske wird das photosensitive Material
der Verstärkungsstruktur vorzugsweise einer Ultraviolettstrah
lung durch die Maske ausgesetzt. Nach Belichtung und Entfernung
der Maske wird das Material der Verstärkungsstruktur gebildet
und das unbelichtete Material wird von der Oberfläche des ul
tradünnen Films entfernt. Dann wird die in der gewünschten Form
auf der Oberfläche des ultradünnen Films gebildete Verstär
kungsstruktur in einer zumindest einstufigen Heizbehandlung
polymerisiert. Die Heizbehandlung wird bei einer Temperatur von
500°C bei einer Heizzeit von einer Stunde durchgeführt. Nun ist
das Material der Verstärkungsstruktur chemisch stabil und fest
und hat seine Photosensitivität verloren.
Um die Verstärkungsstruktur der Erfindung und den damit verbun
denen Film benützen zu können, muß das auf der Rückseite des
Films vorgesehene Substrat zuerst z. B. durch Naßätzen entweder
ganz oder so entfernt werden, daß das Substrat einen Stützring
an den Kanten des ultradünnen Films bildet. Der Film kann auch
von dem Substrat entfernt werden, indem man die Ätzlösung auf
den Film und dessen Kanten fließen läßt. Vorzugsweise ist die
Ätzlösung entweder eine Mischung aus wäßriger Flußsäure und
Salpetersäure für ein Siliziumsubstrat oder lediglich
Salpetersäure für ein metallisches Substrat.
Nach der Entfernung des Substrats wird der ultradünne Film zu
sammen mit der erfindungsgemäßen Verstärkungsstruktur gewa
schen, vorzugsweise mit einer leicht wäßrigen Natriumhydroxid
lösung. Nach dem Waschen kann die erfindungsgemäße Verstär
kungsstruktur falls notwendig einer weiteren Heizbehandlung in
gleicher Weise wie oben unterworfen werden, um vorzugsweise
Spannungen zu eliminieren und die Festigkeit zu erhöhen.
Der mit der erfindungsgemäßen Verstärkungsstruktur versehene
ultradünne Film kann neben der Anwendung als Röntenstrahlungs-
und Ultraviolett-strahlungsdurchlässiges Fenster auch in Infra
rotfiltern angewendet werden, um so deren vorteilhafte Eigen
schaften und Möglichkeiten auf dem Gebiet der Infrarotstrahlung
auszunutzen. Nach Bedarf kann der erfindungsgemäß mit der Ver
stärkungsstruktur versehene ultradünne Film als Diffusionsfilm
bei der Trennung von Gasen wie z. B. Wasserstoff und Helium ver
wendet werden.
Etliche Vorteile werden mit der erfindungsgemäßen Verstärkungs
struktur im Vergleich mit dem Stand der Technik erzielt: Die
vorteilhafte Adhäsion zwischen dem ultradünnen Film und der
Verstärkungsstruktur wird ohne einen zusätzlichen Verbindungs
schritt erreicht. Nach Bedarf ist die Verstärkungsstruktur
durchlässig für weiche Röntgenstrahlung, so daß z. B. aus dem
Raum emittierte weiche Röntgenstrahlung über die gesamte Ober
fläche des Films empfangen werden kann, ohne daß der Empfang
durch die Verstärkungsstruktur gestört oder geschwächt wird.
Darüber hinaus verursacht keiner der Schritte in dem erfin
dungsgemäßen Verfahren irgendwelche Schäden an dem zu verstär
kenden Film. Die Anlagen und Produktionskosten sind gering.
Weiterhin kann bei der Herstellung der Verstärkungsstruktur
eine erhöhte Präzision erreicht werden, und weil die Verstär
kungsstruktur elastisch ist, bricht sie nicht leicht, sondern
verträgt sehr gut z. B. mögliche Spannungswechsel beim Transport.
Vorzugsweise ist die erfindungsgemäße Filmverstärkungsstruktur
netz- oder gitterförmig, so daß die Löcher in dem Netz oder in
dem Gitter im wesentlichen rund oder polygonal sind. Die Ab
stände der die Verstärkungsstruktur bildenden Stege liegen
vorzugsweise im Bereich von 5 bis 50 µm. In Abhängigkeit von
der Größe des dünnen Films liegt die durch die
Verstärkungsstruktur unbedeckte offene Fläche des Films im
Bereich von 50 bis 95% der gesamten strahlungsdurchlässigen
Fläche des Dünnfilms.
Claims (11)
1. Verstärkungsstruktur für einen Dünnfilm,
dadurch gekennzeichnet,
daß auf der Oberfläche des Films eine Verstärkungsstruktur aus
einem photosensitiven Material gebildet ist.
2. Verstärkungsstruktur nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Verstärkungsstruktur gitterförmig ist.
3. Verstärkungsstruktur nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Verstärkungsstruktur netzförmig ist.
4. Verstärkungsstruktur nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Verstärkungsstruktur aus einem Polymer besteht.
5. Verstärkungsstruktur nach einem der vorhergehenden Ansprü
che,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Verstärkungsstruktur aus Polyimid besteht.
6. Verstärkungsstruktur nach einem der vorhergehenden Ansprü
che,
dadurch gekennzeichnet,
daß sie für einen röntgenstrahlungs- und ultraviolettstrah
lungsdurchlässigen Dünnfilm mit einer Dicke von weniger als 5
µm vorgesehen ist.
7. Verfahren zur Herstellung einer Verstärkungsstruktur für
einen Dünnfilm nach einem der vorhergehenden Ansprüche,
gekennzeichnet durch folgende Verfahrensschritte:
- a) das Material der Verstärkungsstruktur wird auf eine Oberfläche aufgebracht, die aus einem ultradünnen Film und einem Substrat gebildet ist, und wird vorgeheizt
- b) auf der Oberseite des vorgeheizten Materials der Verstärkungsstruktur wird eine Belichtungsmaske mit der Form der herzustellenden Verstärkungsstruktur aufgebracht und das Material der Verstärkungsstruk tur wird belichtet;
- c) das belichtete Material der Verstärkungsstruktur wird entwickelt und die in der gewünschten Form gebildete Verstärkungsstruktur wird polymerisiert in einem zumindest einstufigen Heizvorgang;
- d) das auf der Rückseite des ultradünnen Films be findliche Substrat wird durch Ätzen entfernt.
8. Verfahren nach Anspruch 7,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Verstärkungsstruktur in einem einstufigen Heizschritt
bei einer Temperatur von 400°C polymerisiert wird.
9. Verfahren nach Anspruch 7,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Verstärkungsstruktur in einem zweistufigen Heizschritt
bei einer Temperatur von 400°C polymerisiert wird.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 7 bis 9,
dadurch gekennzeichnet,
daß als Substrat ein Siliziumstück verwendet wird.
11. Verfahren nach einem der Ansprüche 7 bis 9,
dadurch gekennzeichnet,
daß als Substrat ein Metallstück verwendet wird.
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