DE4421077A1 - Halbleitergehäuse und Verfahren zu dessen Herstellung - Google Patents
Halbleitergehäuse und Verfahren zu dessen HerstellungInfo
- Publication number
- DE4421077A1 DE4421077A1 DE19944421077 DE4421077A DE4421077A1 DE 4421077 A1 DE4421077 A1 DE 4421077A1 DE 19944421077 DE19944421077 DE 19944421077 DE 4421077 A DE4421077 A DE 4421077A DE 4421077 A1 DE4421077 A1 DE 4421077A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- connections
- tapes
- semiconductor chip
- plastic
- semiconductor
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
- H01L23/488—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor consisting of soldered or bonded constructions
- H01L23/495—Lead-frames or other flat leads
- H01L23/49541—Geometry of the lead-frame
- H01L23/49558—Insulating layers on lead frames, e.g. bridging members
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/28—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
- H01L23/28—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection
- H01L23/31—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape
- H01L23/3107—Encapsulations, e.g. encapsulating layers, coatings, e.g. for protection characterised by the arrangement or shape the device being completely enclosed
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/10—Bump connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/15—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process
- H01L2224/16—Structure, shape, material or disposition of the bump connectors after the connecting process of an individual bump connector
- H01L2224/161—Disposition
- H01L2224/16151—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/16221—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/16245—Disposition the bump connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/26—Layer connectors, e.g. plate connectors, solder or adhesive layers; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/31—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process
- H01L2224/32—Structure, shape, material or disposition of the layer connectors after the connecting process of an individual layer connector
- H01L2224/321—Disposition
- H01L2224/32151—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/32221—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/32245—Disposition the layer connector connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L2224/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/45001—Core members of the connector
- H01L2224/45099—Material
- H01L2224/451—Material with a principal constituent of the material being a metal or a metalloid, e.g. boron (B), silicon (Si), germanium (Ge), arsenic (As), antimony (Sb), tellurium (Te) and polonium (Po), and alloys thereof
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/4805—Shape
- H01L2224/4809—Loop shape
- H01L2224/48091—Arched
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L2224/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L2224/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
- H01L2224/481—Disposition
- H01L2224/48151—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive
- H01L2224/48221—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked
- H01L2224/48245—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic
- H01L2224/48247—Connecting between a semiconductor or solid-state body and an item not being a semiconductor or solid-state body, e.g. chip-to-substrate, chip-to-passive the body and the item being stacked the item being metallic connecting the wire to a bond pad of the item
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
- H01L2224/73—Means for bonding being of different types provided for in two or more of groups H01L2224/10, H01L2224/18, H01L2224/26, H01L2224/34, H01L2224/42, H01L2224/50, H01L2224/63, H01L2224/71
- H01L2224/732—Location after the connecting process
- H01L2224/73251—Location after the connecting process on different surfaces
- H01L2224/73265—Layer and wire connectors
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/44—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process
- H01L24/45—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors prior to the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
- H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
- H01L24/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
- H01L24/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/01—Chemical elements
- H01L2924/01079—Gold [Au]
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/06—Polymers
- H01L2924/078—Adhesive characteristics other than chemical
- H01L2924/07802—Adhesive characteristics other than chemical not being an ohmic electrical conductor
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L2924/00—Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
- H01L2924/15—Details of package parts other than the semiconductor or other solid state devices to be connected
- H01L2924/181—Encapsulation
Description
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Halbleitergehäuse und
ein Verfahren zu dessen Herstellung und insbesondere ein
Halbleitergehäuse aus Kunststoff und ein Verfahren zu dessen
Herstellung, bei dem Kontakthügel so gestaltet sind, daß das
Halbleitergehäuse leichtgewichtiger, dünner und kleiner ge
staltet werden kann, so daß es auf einer gedruckten Leiter
platte mit einer größeren Packungsdichte montiert werden
kann.
In Fig. 1 ist ein herkömmliches Halbleitergehäuse aus Kunst
stoff gezeigt. Wie in der Zeichnung zu sehen ist, umfaßt das
Halbleitergehäuse aus Kunststoff einen Halbleiterchip 1, ei
nen Anschlußrahmen 2 mit einem Anschlußrahmenauflager 2a,
auf dem der Halbleiterchip 1 angeordnet ist, eine Vielzahl
von inneren Anschlüssen 2b, die mit dem Halbleiterchip 1
durch Draht-Bonden verbunden sind, und äußere Anschlüsse 2c,
die seitlich abstehen, eine Vielzahl von Metalldrähten 3, um
die inneren Anschlüsse 2b des Anschlußrahmens 2 mit dem
Halbleiterchip 1 elektrisch zu verbinden, sowie ein Gießharz
4, um einen bestimmten Bereich einzuhüllen, der durch den
Draht-gebondeten Halbleiterchip 1 und die inneren Anschlüsse
2b des Anschlußrahmens 2 besetzt ist, um einen Gehäusekörper
zu bilden.
Der Halbleiterchip 1 ist auf dem Auflager 2a des Anschluß
rahmens 2 durch einen Epoxidklebstoff befestigt. Der Gehäu
sekörper ist aus dem Gießharz 4 durch Transfer-Gießen herge
stellt.
Ein Verfahren zur Herstellung des vorstehend beschriebenen
herkömmlichen Gehäuses aus Kunststoff umfaßt einen Schritt
des Anbringens des Halbleiterchips 1, der von einem Wafer
abgetrennt worden ist, auf dem Auflager 2a des Anschlußrah
mens 2 unter Verwendung des Epoxidklebstoffs 5, einen
Schritt des Drahtbondens, um den aufgeklebten Halbleiterchip
1 mit den inneren Anschlüssen 2b des Anschlußrahmens 2 mit
Hilfe von metallischen Drähten elektrisch zu verbinden, ei
nen Schritt des Gießens, um den Gehäusekörper durch Gießen
von Gießharz zu formen, wodurch ein durch den Draht-gebonde
ten Halbleiterchip 1 und die inneren Anschlüsse 2b besetzter
Bereich umhüllt wird, und einen Schritt des Trimmens und
Formens, bei dem Haltestäbe, die mit äußeren Enden des An
schlußrahmens 2 verbunden sind, zerschnitten werden, um ein
getrenntes Halbleitergehäuse bereitzustellen und die äußeren
Anschlüsse 2c des Halbleitergehäuses in die erforderlichen
Formen gebogen werden.
Allerdings hat das gemäß dem vorstehend erwähnten Verfahren
hergestellte Halbleitergehäuse aus Kunststoff insofern Nach
teile, als die durch ein einzelnes Gehäuse wegen des Vorhan
denseins der von beiden Seiten des Gießharzes 4 seitlich ab
stehenden äußeren Anschlüsse 2c und wegen der Metalldrähte 3
zum elektrischen Verbinden des Halbleiterchips 1 mit den in
neren Anschlüssen 2b benötigte Fläche erhöht ist, so daß die
Packungsdichte derartiger Gehäuse auf einer (nicht gezeig
ten) gedruckten Leiterplatte gering ist.
Da des weiteren bei den herkömmlichen äußeren Anschlüssen 2c
des Anschlußrahmens 2 das Biegen und die Kontaktgabe oftmals
von niedriger Qualität sind, ist die Genauigkeit bei Tests
hinsichtlich der elektrischen Eigenschaften verringert. Dar
über hinaus unterliegt das Gehäuse der Gefahr, daß es gebro
chen wird und sich zwischen Oberflächen aufgrund unter
schiedlicher thermischer Ausdehnungskoeffizienten zwischen
dem Halbleiterchip 1 und dem Auflager 2a ablöst
(delaminiert).
Weiterhin ist das herkömmliche Verfahren zur Herstellung ei
nes Halbleitergehäuses insofern nachteilig, als Spalten zwi
schen den Anschlüssen aufgrund mechanischer Belastungen wäh
rend des Schritts des Trimmens und Formens auftreten können,
so daß Feuchtigkeit dazwischen eindringen kann, wodurch das
Gehäuse verschlechtert wird. Da außerdem bei dem Verfahren
mehrere komplizierte Schritte auszuführen sind, ist die Pro
duktivität relativ gering und die Herstellungskosten relativ
hoch.
Die vorliegende Erfindung hat daher das Ziel, die Nachteile
des vorstehend beschriebenen Standes der Technik zu überwin
den und ein spezielles Ziel der Erfindung besteht darin, ein
Halbleitergehäuse aus Kunststoff bereitzustellen, das
leichtgewichtiger, dünner und kleiner ist, um mit einer ho
hen Packungsdichte auf einer gedruckten Leiterplatte Ober
flächen-montiert zu werden, und dessen elektrische Eigen
schaften verbessert sind.
Ein weiteres Ziel der vorliegenden Erfindung besteht darin,
ein Verfahren zur Herstellung eines Halbleitergehäuses aus
Kunststoff bereitzustellen, das in seinem Ablauf vereinfacht
ist und das die Produktivität erhöhen und die Herstellungs
kosten verringern kann.
Gemäß der vorliegenden Erfindung kann das erste Ziel der Er
findung dadurch erreicht werden, daß ein Halbleitergehäuse
bereitgestellt wird, mit: einer Vielzahl von signalübertra
genden Chipanschlüssen, die von einem Halbleiterchip abste
hen und als elektrische Leitungen wirken; eine Vielzahl von
Bändern aus Kunststoff, vorzugsweise aus Polyimid, die an
dem jeweiligen Anschluß befestigt sind und die gleiche Brei
te wie der Anschluß haben; eine Vielzahl von isolierenden
doppelseitigen Bändern, die jeweils an einer Seite mit einer
oberen Oberfläche des zugehörigen Anschlusses verbunden
sind, um den Anschluß mit dem Halbleiterchip zu verbinden;
eine Vielzahl von leitfähigen Kontakthügeln, die jeweils auf
der anderen Seite der oberen Oberfläche des zugehörigen An
schlusses angeordnet sind, um den Anschluß mit dem Halblei
terchip elektrisch zu verbinden; und Gießharz, das einen
vorbestimmten Bereich einhüllt, der den Halbleiterchip und
die Anschlüsse umfaßt.
Des weiteren kann das zweite Ziel der Erfindung durch Be
reitstellen eines Verfahrens zur Herstellung eines Halblei
terchips mit folgenden Schritten erzielt werden: Anordnen
von leitfähigen Kontakthügeln auf den jeweils einen Seiten
der oberen Oberflächen von signalübertragenden Chipanschlüs
sen und Anbringen von isolierenden Kunststoffbändern an un
teren Oberflächen der Anschlüsse; Befestigen der Anschlüsse
an dem Halbleiterchip mit Hilfe eines doppelseitigen zwi
schen diesen angebrachten Bandes; elektrisches Verbinden des
Halbleiterchips mit den Anschlüssen durch Heißpressen der
leitfähigen Kontakthügel mit den zugehörigen Anschlüssen;
Vergießen von Gießharz in einen vorbestimmten Bereich, der
den Halbleiterchip umgibt, um die unteren Oberflächen der
Anschlüsse an der unteren Oberfläche des gegossenen Harzkör
pers freiliegend zu haben; und Entfernen der Polyimidbänder
von den unteren Oberflächen der Anschlüsse, Ausführen eines
beispielsweise chemischen Reinigungsvorgangs, um Verunreini
gungen, Grate etc. zu entfernen, und Anlöten der freilie
genden Oberflächen der Anschlüsse.
Diese und andere Ziele und Gesichtspunkte der Erfindung wer
den aus der nachfolgenden Beschreibung einer Ausführungsform
unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen deutlich,
in denen
Fig. 1 eine Schnittansicht eines herkömmlichen Halbleiter
gehäuses aus Kunststoff ist;
Fig. 2A und 2B Schnittansichten einer Ausführungsform eines
Halbleitergehäuses aus Kunststoff gemäß der vorlie
genden Erfindung zeigen;
Fig. 3 eine Ansicht des in den Fig. 2A und 2B gezeigten
Halbleitergehäuses aus Kunststoff von unten ist; und
Fig. 4 eine Draufsicht auf das in den Fig. 2A und 2B ge
zeigte Halbleitergehäuse aus Kunststoff ist.
Die vorliegende Erfindung wird nachstehend unter Bezugnahme
auf die beigefügten Zeichnungen im Detail erläutert.
Die Fig. 2A und 2B sind Schnittansichten von Ausführungsfor
men eines Halbleitergehäuses aus Kunststoff gemäß der vor
liegenden Erfindung und Fig. 3 ist eine Ansicht eines Halb
leitergehäuses gemäß der Erfindung von unten.
Wie in Fig. 2A gezeigt, ist das Halbleitergehäuse gemäß der
vorliegenden Erfindung wie folgt aufgebaut: Eine Vielzahl
von signalübertragenden Chipanschlüssen 13, an denen ein
Halbleiterchip 11 mit einer vorbestimmten Gestalt angebracht
ist, sind von einer unteren Oberfläche eines Gießharzkörpers
abstehend angeordnet, und der Halbleiterchip 11 und die sig
nalübertragenden Chipanschlüsse 13 sind elektrisch miteinan
der durch leitfähige Kontakthügel 18 und 28 verbunden, die
zwischen ihnen jeweils angeordnet sind.
Genauer gesagt ist die Vielzahl von signalübertragenden
Chipanschlüssen 13 mit einem vorbestimmten Abstand zwischen
ihnen angeordnet und mit Bändern aus Polyimid 15 und 25 mit
vorbestimmten Abmessungen verbunden, wie dies in Fig. 4 ge
zeigt ist. Wie in Fig. 2A gezeigt, sind die Anschlüsse 13
und der Halbleiterchip 11 miteinander mit Hilfe von doppel
seitigen Klebebändern 16 und 26 verbunden, die zwischen ih
nen angeordnet sind, und auch elektrisch miteinander mit
Hilfe der leitfähigen Kontakthügel oder Kontaktkugeln 18 und
28 verbunden, die zwischen ihnen angeordnet sind. Der darü
ber befestigte Halbleiterchip 11, die Bänder 16 und 26, die
leitfähigen Kontakthügel 18 und 28, sowie innere Teile der
Anschlüsse 13 sind durch Vergießen des Gießharzes 14 um
hüllt.
Die signalübertragenden Chipanschlüsse 13 sind so bemessen
und angeordnet, daß sie nicht über den Umriß des Halbleiter
chips 11, gesehen aus der Ebene, vorstehen und sich bei die
ser Ausführungsform der Erfindung um etwa 50 bis 100 µm nach
unten erstrecken.
Die isolierenden doppelseitigen Klebebänder 16 und 26 sind
aus wärmehärtbarem oder thermoplastischem Band und haben ei
ne Dicke von 70 bis 150 µm.
Die leitfähigen Kontakthügel sind aus Lot oder Gold als
Hauptbestandteil hergestellt und haben eine Höhe von 20 bis
50 µm.
In dem Halbleitergehäuse aus Kunststoff gemäß der vorliegen
den Erfindung ist die Relativposition der doppelseitigen
Bänder 16 und 26 zu den leitfähigen Kontakthügeln 18 und 28
alternativ in einer der beiden in den Fig. 2A und 2B gezeig
ten Strukturen gestaltet.
Andererseits umfaßt das Verfahren zur Herstellung des vor
stehend erläuterten Halbleitergehäuses gemäß der vorliegen
den Erfindung einen Schritt des Anbringens der leitfähigen
Hügel 18 und 28 auf der jeweils einen Seite der oberen Ober
flächen der signalübertragenden Chipanschlüsse 13 und das
Anbringen der isolierenden Polyimidbänder 15 und 25 an den
unteren Oberflächen der Anschlüsse 13, ein Schritt des Befe
stigens der Anschlüsse an dem Halbleiterchip 11 mit Hilfe
der doppelseitigen Bänder 16 und 26, die dazwischen angeord
net sind, einen Schritt des elektrischen Verbindens des
Halbleiterchips 11 mit den Anschlüssen 13 durch Wärmepressen
der leitfähigen Kontakthügel 18 und 28 auf die entsprechen
den Anschlüsse 13, einen Schritt des Vergießens des Gießhar
zes in einem vorbestimmten Bereich, der den Halbleiterchip
umgibt, wobei die unteren Oberflächen der Anschlüsse 13 an
der unteren Oberfläche des gegossenen Harzkörpers freilie
gen, und einen Schritt des Entfernens der Polyimidbänder 15
und 25 von den unteren Oberflächen der Anschlüsse 13, Aus
führen eines chemischen Reinigungsprozesses zum Entfernen
von Verunreinigungen, Graten usw., sowie Anlöten der frei
liegenden Oberflächen der Anschlüsse 13.
In diesem Verfahren wird als Technik zum Bonden der leitfä
higen Kontakthügel 18 und 28 zwischen dem Halbleiterchip 11
und den Anschlüssen 13 die an sich bekannte Band-Automaten-
Bond-Technik verwendet. Des weiteren wird als Befestigungs
technik zum Anbringen des Halbleiterchips 11 an den An
schlüssen 13 eine LOC (Lead ON Chip) (Anschluß-auf-Chip)-Ge
häusetechnik verwendet.
Die vorstehend erwähnte Band-Automaten-Bond-Technik ist eine
Technik, bei der metallische Kontakthügel auf Bänder aufge
bracht werden, auf denen metallische Muster (im wesentlichen
bestehend aus Kupfer und als Anschlußrahmen und -drähte wir
kend) vorgesehen sind.
Bei dem vorstehend beschriebenen Herstellungsverfahren wird
ein Schritt des Aushärtens der isolierenden doppelseitigen
Bänder 16 und 26 vor dem Gießschritt ausgeführt. Bei diesem
Schritt wird der Aushärtungs-Schritt je nach Art der verwen
deten doppelseitigen Bänder verändert. Das heißt, die Aus
härtung erfolgt in einem Ofen, falls die Befestigung des
Halbleiterchips 11 durch ein wärmehärtbares Band erfolgt,
und das Band wird bei einer Temperatur von 150°C bis 450°C
behandelt, falls es ein thermoplastisches Band ist.
Obwohl bei dem vergossenen Halbleitergehäuse gemäß der Er
findung die freiliegenden Oberflächen der Anschlüsse 13 mit
einer Oberfläche des vergossenen Gehäuses bündig abschließen
(z. B. eine untere Oberfläche des Gießharzes 14), stehen die
freiliegenden Oberflächen der Anschlüsse 13 von der unteren
Oberfläche des Gießharzes 14 um die Dicke des Lotes vor,
wenn der Lötschritt ausgeführt wird.
Die erhaltenen vorstehenden Anschlüsse 13 des Halbleiterge
häuses sind mit einem Muster ausgerichtet, das auf einer
(nicht gezeigten) gedruckten Leiterplatte ausgebildet ist,
und anschließend wird das Gehäuse einem Lötvorgang unterwor
fen, wodurch das benötigte fertige Halbleitergehäuse mit der
Leiterplatte verbunden, hergestellt wird.
Wie aus der vorstehenden Beschreibung deutlich wird, kann
das Gehäuse gemäß der Erfindung für die unterschiedlichsten
Karten (z. B. SRAM-CARD, DRAM-CARD, MODULE und dgl.) verwen
det werden, da das Halbleitergehäuse gemäß der Erfindung
leichtgewichtiger, dünner und kleiner ist, um so mit einer
größeren Packungsdichte auf der Leiterplatte Oberflächen
montiert zu werden.
Zusätzlich zu den strukturellen Vorteilen kann die Erfindung
die elektrischen Eigenschaften verbessern und einen Bruch
sowie eine Schichtablösung (Delamination) des Gehäuses ver
mindern.
Des weiteren ist die erfindungsgemäße Vorgehensweise bei der
Herstellung des Halbleitergehäuses geeignet, den Herstel
lungsprozeß insgesamt zu vereinfachen und somit eine Verbes
serung der Produktivität und eine Verringerung der Herstel
lungskosten zu erreichen.
Abwandlungen im Aufbau sind für Fachleute dieses Gebietes
erkennbar und unterschiedliche Abwandlungen und Ausführungs
formen können erreicht werden, ohne von dem Schutzbereich
der Ansprüche abzuweichen. Die in der vorstehenden Beschrei
bung und den beigefügten Zeichnungen erläuterte Ausführung
der Erfindung dient nur erläuternden Zwecken. Sie ist nicht
dazu gedacht, die Erfindung in irgendeiner Weise zu be
schränken.
Claims (10)
1. Ein Halbleitergehäuse aus Kunststoff ohne metallische
Drähte zum elektrischen Verbinden eines Halbleiterchips
mit inneren Anschlüssen, mit:
einer Vielzahl von signalübertragenden Chipanschlüssen (13), die von einem Halbleiterchip (11) abstehen und als elektrische Verbindung dienen;
einer Vielzahl von Kunststoffbändern (15, 25), die an den jeweiligen Anschlüssen (13) angebracht sind und die gleiche Breite wie die jeweiligen Anschlüsse (13) ha ben;
einer Vielzahl von isolierenden doppelseitigen Bändern (16, 26), von denen jedes an einer Seite einer oberen Oberfläche des jeweiligen Anschlusses (13) angebracht ist, um jeden Anschluß (13) mit dem Halbleiterchip (11) zu verbinden;
einer Vielzahl von leitfähigen Kontakthügeln (18, 28), um den jeweiligen Anschluß (13) mit dem Halbleiterchip (11) elektrisch zu verbinden; und
Gießharz (14), das einen vorbestimmten Bereich umhüllt, der den Halbleiterchip (11) und die Anschlüsse (13) um faßt.
einer Vielzahl von signalübertragenden Chipanschlüssen (13), die von einem Halbleiterchip (11) abstehen und als elektrische Verbindung dienen;
einer Vielzahl von Kunststoffbändern (15, 25), die an den jeweiligen Anschlüssen (13) angebracht sind und die gleiche Breite wie die jeweiligen Anschlüsse (13) ha ben;
einer Vielzahl von isolierenden doppelseitigen Bändern (16, 26), von denen jedes an einer Seite einer oberen Oberfläche des jeweiligen Anschlusses (13) angebracht ist, um jeden Anschluß (13) mit dem Halbleiterchip (11) zu verbinden;
einer Vielzahl von leitfähigen Kontakthügeln (18, 28), um den jeweiligen Anschluß (13) mit dem Halbleiterchip (11) elektrisch zu verbinden; und
Gießharz (14), das einen vorbestimmten Bereich umhüllt, der den Halbleiterchip (11) und die Anschlüsse (13) um faßt.
2. Halbleitergehäuse aus Kunststoff gemäß Anspruch 1, da
durch gekennzeichnet, daß die signalübertragenden Chip
anschlüsse (13) so bemessen und angeordnet sind, daß
die Anschlüsse (13) nicht von dem Umriß des (auf einer
gedruckten Leiterplatte oberflächenmontierten) Halblei
terchips (11) aus der Ebene gesehen vorstehen, und um
50 µm bis 100 µm nach unten abstehen.
3. Halbleitergehäuse aus Kunststoff gemäß Anspruch 1, bei
dem die isolierenden doppelseitigen Bänder (16, 26)
thermisch abbindende oder thermoplastische Bänder sind.
4. Halbleitergehäuse aus Kunststoff gemäß Anspruch 3, bei
dem die isolierenden doppelseitigen Bänder eine Dicke
von 70 µm bis 150 µm aufweisen.
5. Halbleitergehäuse aus Kunststoff gemäß Anspruch 1, bei
dem die leitfähigen Kontakthügel (18, 28) aus Lot oder
aus Gold hergestellt sind.
6. Halbleitergehäuse aus Kunststoff gemäß Anspruch 5, bei
dem die leitfähigen Hügel (18, 28) eine Höhe von 20 µm
bis 50 µm aufweisen.
7. Halbleitergehäuse aus Kunststoff gemäß Anspruch 10, bei
dem die leitfähigen Kontakthügel (18, 28) und die dop
pelseitigen Bänder (16, 26) in ihrer Stellung ver
tauscht werden.
8. Verfahren zur Herstellung eines Halbleitergehäuses mit
den Schritten:
Anbringen von leitfähigen Kontakthügeln auf einer Seite von oberen Oberflächen von signalübertragenden Chipan schlüssen und Anbringen von isolierenden Kunststoffbän dern an unteren Oberflächen der Anschlüsse;
Befestigen der Anschlüsse an einem Halbleiterchip mit Hilfe von doppelseitigen Bändern, die dazwischen ange ordnet sind;
Elektrisches Verbinden des Halbleiterchips mit den An schlüssen durch Wärmepressen der leitfähigen Kontakthü gel an die zugehörigen Anschlüsse;
Vergießen von Gießharz in einen vorbestimmten Bereich, der den Halbleiterchip umgibt, so daß die unteren Ober flächen der Anschlüsse, die an der unteren Oberfläche des vorgegossenen Harzkörpers vorgesehen sind, freilie gen; und
Entfernen der Kunststoffbänder von den unteren Oberflä chen der Anschlüsse, Ausführen eines chemischen Reini gungsvorgangs, um Verunreinigungen und Grate zu entfer nen, und Anlöten der freiliegenden Oberflächen der An schlüsse.
Anbringen von leitfähigen Kontakthügeln auf einer Seite von oberen Oberflächen von signalübertragenden Chipan schlüssen und Anbringen von isolierenden Kunststoffbän dern an unteren Oberflächen der Anschlüsse;
Befestigen der Anschlüsse an einem Halbleiterchip mit Hilfe von doppelseitigen Bändern, die dazwischen ange ordnet sind;
Elektrisches Verbinden des Halbleiterchips mit den An schlüssen durch Wärmepressen der leitfähigen Kontakthü gel an die zugehörigen Anschlüsse;
Vergießen von Gießharz in einen vorbestimmten Bereich, der den Halbleiterchip umgibt, so daß die unteren Ober flächen der Anschlüsse, die an der unteren Oberfläche des vorgegossenen Harzkörpers vorgesehen sind, freilie gen; und
Entfernen der Kunststoffbänder von den unteren Oberflä chen der Anschlüsse, Ausführen eines chemischen Reini gungsvorgangs, um Verunreinigungen und Grate zu entfer nen, und Anlöten der freiliegenden Oberflächen der An schlüsse.
9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß
die doppelseitigen Bänder in einem Ofen nach dem An
bringen der doppelseitigen Bänder abbinden, falls die
Bänder wärmeaushärtende Bänder sind.
10. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß
die doppelseitigen Bänder bei einer Temperatur von
150°C bis 450°C nach dem Anbringen der doppelseitigen
Bänder aushärten, wenn die Bänder thermoplastische Bän
der sind.
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR11506/93 | 1993-06-23 | ||
KR1019930011506A KR0152901B1 (ko) | 1993-06-23 | 1993-06-23 | 플라스틱 반도체 패키지 및 그 제조방법 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4421077A1 true DE4421077A1 (de) | 1995-01-05 |
DE4421077B4 DE4421077B4 (de) | 2007-01-04 |
Family
ID=19357883
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19944421077 Expired - Fee Related DE4421077B4 (de) | 1993-06-23 | 1994-06-16 | Halbleitergehäuse und Verfahren zu dessen Herstellung |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5444301A (de) |
JP (1) | JP3454920B2 (de) |
KR (1) | KR0152901B1 (de) |
DE (1) | DE4421077B4 (de) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19651549A1 (de) * | 1996-06-14 | 1997-12-18 | Lg Semicon Co Ltd | Anschlußrahmen und Halbleitergehäuse |
DE19955537A1 (de) * | 1999-11-18 | 2001-05-31 | Orga Kartensysteme Gmbh | Verfahren zur Herstellung eines Trägerelements für einen IC-Baustein |
Families Citing this family (172)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0468566A (ja) * | 1990-07-09 | 1992-03-04 | Fujitsu Ltd | 半導体装置及びその製造方法 |
US5866951A (en) * | 1990-10-12 | 1999-02-02 | Robert Bosch Gmbh | Hybrid circuit with an electrically conductive adhesive |
US5677566A (en) * | 1995-05-08 | 1997-10-14 | Micron Technology, Inc. | Semiconductor chip package |
JP3565454B2 (ja) * | 1995-08-02 | 2004-09-15 | 大日本印刷株式会社 | 樹脂封止型半導体装置 |
JP3467611B2 (ja) * | 1995-09-29 | 2003-11-17 | 日本テキサス・インスツルメンツ株式会社 | 半導体装置の製造方法 |
JP3189703B2 (ja) * | 1996-10-08 | 2001-07-16 | 富士通株式会社 | 半導体装置及びその製造方法 |
KR0179803B1 (ko) * | 1995-12-29 | 1999-03-20 | 문정환 | 리드노출형 반도체 패키지 |
JPH09260538A (ja) * | 1996-03-27 | 1997-10-03 | Miyazaki Oki Electric Co Ltd | 樹脂封止型半導体装置及び製造方法とその実装構造 |
JP3427874B2 (ja) * | 1996-05-16 | 2003-07-22 | 沖電気工業株式会社 | 樹脂封止型半導体装置とその製造方法 |
KR100206910B1 (ko) * | 1996-06-14 | 1999-07-01 | 구본준 | 반도체 패키지의 디플래쉬 방법 |
KR0179924B1 (ko) * | 1996-06-14 | 1999-03-20 | 문정환 | 버텀리드 반도체 패키지 |
US6881611B1 (en) * | 1996-07-12 | 2005-04-19 | Fujitsu Limited | Method and mold for manufacturing semiconductor device, semiconductor device and method for mounting the device |
CN1110846C (zh) * | 1996-07-12 | 2003-06-04 | 富士通株式会社 | 半导体装置的制造方法 |
JP3284262B2 (ja) * | 1996-09-05 | 2002-05-20 | セイコーエプソン株式会社 | 液晶表示装置及びそれを用いた電子機器 |
EP0844665A3 (de) * | 1996-11-21 | 1999-10-27 | Texas Instruments Incorporated | Halbleiterscheibengrosse Verpackung |
KR100239708B1 (ko) * | 1996-11-27 | 2000-01-15 | 김영환 | 비엘피 패키지의 제조방법 |
DE19708617C2 (de) * | 1997-03-03 | 1999-02-04 | Siemens Ag | Chipkartenmodul und Verfahren zu seiner Herstellung sowie diesen umfassende Chipkarte |
US5777705A (en) * | 1997-05-30 | 1998-07-07 | International Business Machines Corporation | Wire bond attachment of a liquid crystal display tile to a tile carrier |
JP3881751B2 (ja) | 1997-08-20 | 2007-02-14 | 沖電気工業株式会社 | 半導体チップの実装構造および実装方法 |
US6229200B1 (en) | 1998-06-10 | 2001-05-08 | Asat Limited | Saw-singulated leadless plastic chip carrier |
US8330270B1 (en) | 1998-06-10 | 2012-12-11 | Utac Hong Kong Limited | Integrated circuit package having a plurality of spaced apart pad portions |
US6933594B2 (en) * | 1998-06-10 | 2005-08-23 | Asat Ltd. | Leadless plastic chip carrier with etch back pad singulation |
US7247526B1 (en) | 1998-06-10 | 2007-07-24 | Asat Ltd. | Process for fabricating an integrated circuit package |
US6872661B1 (en) | 1998-06-10 | 2005-03-29 | Asat Ltd. | Leadless plastic chip carrier with etch back pad singulation and die attach pad array |
US7226811B1 (en) | 1998-06-10 | 2007-06-05 | Asat Ltd. | Process for fabricating a leadless plastic chip carrier |
US6989294B1 (en) | 1998-06-10 | 2006-01-24 | Asat, Ltd. | Leadless plastic chip carrier with etch back pad singulation |
US7271032B1 (en) | 1998-06-10 | 2007-09-18 | Asat Ltd. | Leadless plastic chip carrier with etch back pad singulation |
US7270867B1 (en) | 1998-06-10 | 2007-09-18 | Asat Ltd. | Leadless plastic chip carrier |
US6635957B2 (en) * | 1998-06-10 | 2003-10-21 | Asat Ltd. | Leadless plastic chip carrier with etch back pad singulation and die attach pad array |
US7005326B1 (en) | 1998-06-24 | 2006-02-28 | Amkor Technology, Inc. | Method of making an integrated circuit package |
US6893900B1 (en) | 1998-06-24 | 2005-05-17 | Amkor Technology, Inc. | Method of making an integrated circuit package |
US7071541B1 (en) | 1998-06-24 | 2006-07-04 | Amkor Technology, Inc. | Plastic integrated circuit package and method and leadframe for making the package |
US6143981A (en) | 1998-06-24 | 2000-11-07 | Amkor Technology, Inc. | Plastic integrated circuit package and method and leadframe for making the package |
US7112474B1 (en) | 1998-06-24 | 2006-09-26 | Amkor Technology, Inc. | Method of making an integrated circuit package |
US7030474B1 (en) | 1998-06-24 | 2006-04-18 | Amkor Technology, Inc. | Plastic integrated circuit package and method and leadframe for making the package |
US7332375B1 (en) | 1998-06-24 | 2008-02-19 | Amkor Technology, Inc. | Method of making an integrated circuit package |
US6448633B1 (en) * | 1998-11-20 | 2002-09-10 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package and method of making using leadframe having lead locks to secure leads to encapsulant |
KR100526844B1 (ko) * | 1999-10-15 | 2005-11-08 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체패키지 및 그 제조방법 |
KR100379089B1 (ko) | 1999-10-15 | 2003-04-08 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 리드프레임 및 이를 이용한 반도체패키지 |
KR100403142B1 (ko) * | 1999-10-15 | 2003-10-30 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체패키지 |
KR20010037247A (ko) | 1999-10-15 | 2001-05-07 | 마이클 디. 오브라이언 | 반도체패키지 |
US20070176287A1 (en) * | 1999-11-05 | 2007-08-02 | Crowley Sean T | Thin integrated circuit device packages for improved radio frequency performance |
US6580159B1 (en) | 1999-11-05 | 2003-06-17 | Amkor Technology, Inc. | Integrated circuit device packages and substrates for making the packages |
US6847103B1 (en) | 1999-11-09 | 2005-01-25 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package with exposed die pad and body-locking leadframe |
KR100421774B1 (ko) | 1999-12-16 | 2004-03-10 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체패키지 및 그 제조 방법 |
US6639308B1 (en) * | 1999-12-16 | 2003-10-28 | Amkor Technology, Inc. | Near chip size semiconductor package |
KR100583494B1 (ko) * | 2000-03-25 | 2006-05-24 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체패키지 |
US7042068B2 (en) * | 2000-04-27 | 2006-05-09 | Amkor Technology, Inc. | Leadframe and semiconductor package made using the leadframe |
US6300674B1 (en) * | 2000-06-19 | 2001-10-09 | Harvatek Corp. | Flat package for semiconductor diodes |
US6840777B2 (en) * | 2000-11-30 | 2005-01-11 | Intel Corporation | Solderless electronics packaging |
KR20020058209A (ko) * | 2000-12-29 | 2002-07-12 | 마이클 디. 오브라이언 | 반도체패키지 |
KR100731007B1 (ko) * | 2001-01-15 | 2007-06-22 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 적층형 반도체 패키지 |
US6657132B2 (en) * | 2001-03-15 | 2003-12-02 | Micron Technology, Inc. | Single sided adhesive tape for compound diversion on BOC substrates |
US6545345B1 (en) | 2001-03-20 | 2003-04-08 | Amkor Technology, Inc. | Mounting for a package containing a chip |
US6967395B1 (en) | 2001-03-20 | 2005-11-22 | Amkor Technology, Inc. | Mounting for a package containing a chip |
KR100369393B1 (ko) | 2001-03-27 | 2003-02-05 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 리드프레임 및 이를 이용한 반도체패키지와 그 제조 방법 |
KR100393448B1 (ko) | 2001-03-27 | 2003-08-02 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체 패키지 및 그 제조 방법 |
US7064009B1 (en) | 2001-04-04 | 2006-06-20 | Amkor Technology, Inc. | Thermally enhanced chip scale lead on chip semiconductor package and method of making same |
US7045883B1 (en) | 2001-04-04 | 2006-05-16 | Amkor Technology, Inc. | Thermally enhanced chip scale lead on chip semiconductor package and method of making same |
US6900527B1 (en) | 2001-09-19 | 2005-05-31 | Amkor Technology, Inc. | Lead-frame method and assembly for interconnecting circuits within a circuit module |
US7485952B1 (en) | 2001-09-19 | 2009-02-03 | Amkor Technology, Inc. | Drop resistant bumpers for fully molded memory cards |
US6630726B1 (en) | 2001-11-07 | 2003-10-07 | Amkor Technology, Inc. | Power semiconductor package with strap |
US7732914B1 (en) | 2002-09-03 | 2010-06-08 | Mclellan Neil | Cavity-type integrated circuit package |
US6818973B1 (en) * | 2002-09-09 | 2004-11-16 | Amkor Technology, Inc. | Exposed lead QFP package fabricated through the use of a partial saw process |
US6905914B1 (en) | 2002-11-08 | 2005-06-14 | Amkor Technology, Inc. | Wafer level package and fabrication method |
US7190062B1 (en) | 2004-06-15 | 2007-03-13 | Amkor Technology, Inc. | Embedded leadframe semiconductor package |
US7361533B1 (en) | 2002-11-08 | 2008-04-22 | Amkor Technology, Inc. | Stacked embedded leadframe |
US7723210B2 (en) | 2002-11-08 | 2010-05-25 | Amkor Technology, Inc. | Direct-write wafer level chip scale package |
US6798047B1 (en) | 2002-12-26 | 2004-09-28 | Amkor Technology, Inc. | Pre-molded leadframe |
US6847099B1 (en) | 2003-02-05 | 2005-01-25 | Amkor Technology Inc. | Offset etched corner leads for semiconductor package |
US6750545B1 (en) | 2003-02-28 | 2004-06-15 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package capable of die stacking |
US6927483B1 (en) | 2003-03-07 | 2005-08-09 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package exhibiting efficient lead placement |
US7001799B1 (en) | 2003-03-13 | 2006-02-21 | Amkor Technology, Inc. | Method of making a leadframe for semiconductor devices |
US6794740B1 (en) | 2003-03-13 | 2004-09-21 | Amkor Technology, Inc. | Leadframe package for semiconductor devices |
US6879034B1 (en) | 2003-05-01 | 2005-04-12 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package including low temperature co-fired ceramic substrate |
US7095103B1 (en) | 2003-05-01 | 2006-08-22 | Amkor Technology, Inc. | Leadframe based memory card |
US7008825B1 (en) | 2003-05-27 | 2006-03-07 | Amkor Technology, Inc. | Leadframe strip having enhanced testability |
US6897550B1 (en) | 2003-06-11 | 2005-05-24 | Amkor Technology, Inc. | Fully-molded leadframe stand-off feature |
TWI233674B (en) * | 2003-07-29 | 2005-06-01 | Advanced Semiconductor Eng | Multi-chip semiconductor package and manufacturing method thereof |
KR100506035B1 (ko) * | 2003-08-22 | 2005-08-03 | 삼성전자주식회사 | 반도체 패키지 및 그 제조방법 |
US7245007B1 (en) | 2003-09-18 | 2007-07-17 | Amkor Technology, Inc. | Exposed lead interposer leadframe package |
US6921967B2 (en) * | 2003-09-24 | 2005-07-26 | Amkor Technology, Inc. | Reinforced die pad support structure |
US7138707B1 (en) | 2003-10-21 | 2006-11-21 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package including leads and conductive posts for providing increased functionality |
US7144517B1 (en) | 2003-11-07 | 2006-12-05 | Amkor Technology, Inc. | Manufacturing method for leadframe and for semiconductor package using the leadframe |
US7211879B1 (en) | 2003-11-12 | 2007-05-01 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package with chamfered corners and method of manufacturing the same |
US7009286B1 (en) | 2004-01-15 | 2006-03-07 | Asat Ltd. | Thin leadless plastic chip carrier |
US7057268B1 (en) | 2004-01-27 | 2006-06-06 | Amkor Technology, Inc. | Cavity case with clip/plug for use on multi-media card |
US7091594B1 (en) | 2004-01-28 | 2006-08-15 | Amkor Technology, Inc. | Leadframe type semiconductor package having reduced inductance and its manufacturing method |
US20080003722A1 (en) * | 2004-04-15 | 2008-01-03 | Chun David D | Transfer mold solution for molded multi-media card |
US7091581B1 (en) | 2004-06-14 | 2006-08-15 | Asat Limited | Integrated circuit package and process for fabricating the same |
US7411289B1 (en) | 2004-06-14 | 2008-08-12 | Asat Ltd. | Integrated circuit package with partially exposed contact pads and process for fabricating the same |
US7202554B1 (en) | 2004-08-19 | 2007-04-10 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package and its manufacturing method |
US7595225B1 (en) | 2004-10-05 | 2009-09-29 | Chun Ho Fan | Leadless plastic chip carrier with contact standoff |
US7217991B1 (en) | 2004-10-22 | 2007-05-15 | Amkor Technology, Inc. | Fan-in leadframe semiconductor package |
US7645640B2 (en) * | 2004-11-15 | 2010-01-12 | Stats Chippac Ltd. | Integrated circuit package system with leadframe substrate |
US7358119B2 (en) * | 2005-01-12 | 2008-04-15 | Asat Ltd. | Thin array plastic package without die attach pad and process for fabricating the same |
US7038321B1 (en) * | 2005-04-29 | 2006-05-02 | Delphi Technologies, Inc. | Method of attaching a flip chip device and circuit assembly formed thereby |
US7348663B1 (en) | 2005-07-15 | 2008-03-25 | Asat Ltd. | Integrated circuit package and method for fabricating same |
US7410830B1 (en) | 2005-09-26 | 2008-08-12 | Asat Ltd | Leadless plastic chip carrier and method of fabricating same |
US7507603B1 (en) | 2005-12-02 | 2009-03-24 | Amkor Technology, Inc. | Etch singulated semiconductor package |
US7572681B1 (en) | 2005-12-08 | 2009-08-11 | Amkor Technology, Inc. | Embedded electronic component package |
US7902660B1 (en) | 2006-05-24 | 2011-03-08 | Amkor Technology, Inc. | Substrate for semiconductor device and manufacturing method thereof |
US7968998B1 (en) | 2006-06-21 | 2011-06-28 | Amkor Technology, Inc. | Side leaded, bottom exposed pad and bottom exposed lead fusion quad flat semiconductor package |
US7687893B2 (en) | 2006-12-27 | 2010-03-30 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package having leadframe with exposed anchor pads |
US7829990B1 (en) | 2007-01-18 | 2010-11-09 | Amkor Technology, Inc. | Stackable semiconductor package including laminate interposer |
US7982297B1 (en) | 2007-03-06 | 2011-07-19 | Amkor Technology, Inc. | Stackable semiconductor package having partially exposed semiconductor die and method of fabricating the same |
US7772047B2 (en) * | 2007-06-28 | 2010-08-10 | Sandisk Corporation | Method of fabricating a semiconductor die having a redistribution layer |
US7763980B2 (en) * | 2007-06-28 | 2010-07-27 | Sandisk Corporation | Semiconductor die having a distribution layer |
US7977774B2 (en) | 2007-07-10 | 2011-07-12 | Amkor Technology, Inc. | Fusion quad flat semiconductor package |
US7687899B1 (en) | 2007-08-07 | 2010-03-30 | Amkor Technology, Inc. | Dual laminate package structure with embedded elements |
US7777351B1 (en) | 2007-10-01 | 2010-08-17 | Amkor Technology, Inc. | Thin stacked interposer package |
US8089159B1 (en) | 2007-10-03 | 2012-01-03 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package with increased I/O density and method of making the same |
US7868362B2 (en) * | 2007-10-16 | 2011-01-11 | Honeywell International Inc. | SOI on package hypersensitive sensor |
JP2009099709A (ja) * | 2007-10-16 | 2009-05-07 | Nec Electronics Corp | 半導体装置 |
US7847386B1 (en) | 2007-11-05 | 2010-12-07 | Amkor Technology, Inc. | Reduced size stacked semiconductor package and method of making the same |
US7956453B1 (en) | 2008-01-16 | 2011-06-07 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package with patterning layer and method of making same |
US7723852B1 (en) | 2008-01-21 | 2010-05-25 | Amkor Technology, Inc. | Stacked semiconductor package and method of making same |
US8067821B1 (en) | 2008-04-10 | 2011-11-29 | Amkor Technology, Inc. | Flat semiconductor package with half package molding |
US7768135B1 (en) | 2008-04-17 | 2010-08-03 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package with fast power-up cycle and method of making same |
US7808084B1 (en) | 2008-05-06 | 2010-10-05 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor package with half-etched locking features |
US8097929B2 (en) * | 2008-05-23 | 2012-01-17 | Chia-Sheng Lin | Electronics device package and fabrication method thereof |
US7791031B2 (en) * | 2008-06-09 | 2010-09-07 | Honeywell International Inc. | Neutron detection structure |
US8125064B1 (en) | 2008-07-28 | 2012-02-28 | Amkor Technology, Inc. | Increased I/O semiconductor package and method of making same |
US8184453B1 (en) | 2008-07-31 | 2012-05-22 | Amkor Technology, Inc. | Increased capacity semiconductor package |
US7847392B1 (en) | 2008-09-30 | 2010-12-07 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device including leadframe with increased I/O |
US7989933B1 (en) | 2008-10-06 | 2011-08-02 | Amkor Technology, Inc. | Increased I/O leadframe and semiconductor device including same |
US8008758B1 (en) | 2008-10-27 | 2011-08-30 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device with increased I/O leadframe |
US8089145B1 (en) | 2008-11-17 | 2012-01-03 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device including increased capacity leadframe |
US8072050B1 (en) | 2008-11-18 | 2011-12-06 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device with increased I/O leadframe including passive device |
US7875963B1 (en) | 2008-11-21 | 2011-01-25 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device including leadframe having power bars and increased I/O |
US7982298B1 (en) | 2008-12-03 | 2011-07-19 | Amkor Technology, Inc. | Package in package semiconductor device |
US8487420B1 (en) | 2008-12-08 | 2013-07-16 | Amkor Technology, Inc. | Package in package semiconductor device with film over wire |
US7838324B2 (en) * | 2008-12-19 | 2010-11-23 | Honeywell International Inc. | Neutron detection structure and method of fabricating |
US20170117214A1 (en) | 2009-01-05 | 2017-04-27 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device with through-mold via |
US8680656B1 (en) | 2009-01-05 | 2014-03-25 | Amkor Technology, Inc. | Leadframe structure for concentrated photovoltaic receiver package |
US8058715B1 (en) | 2009-01-09 | 2011-11-15 | Amkor Technology, Inc. | Package in package device for RF transceiver module |
US8153985B2 (en) | 2009-01-30 | 2012-04-10 | Honeywell International Inc. | Neutron detector cell efficiency |
US8026589B1 (en) | 2009-02-23 | 2011-09-27 | Amkor Technology, Inc. | Reduced profile stackable semiconductor package |
US7960818B1 (en) | 2009-03-04 | 2011-06-14 | Amkor Technology, Inc. | Conformal shield on punch QFN semiconductor package |
US8575742B1 (en) | 2009-04-06 | 2013-11-05 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device with increased I/O leadframe including power bars |
US8796561B1 (en) | 2009-10-05 | 2014-08-05 | Amkor Technology, Inc. | Fan out build up substrate stackable package and method |
US8937381B1 (en) | 2009-12-03 | 2015-01-20 | Amkor Technology, Inc. | Thin stackable package and method |
US9691734B1 (en) | 2009-12-07 | 2017-06-27 | Amkor Technology, Inc. | Method of forming a plurality of electronic component packages |
US8324511B1 (en) | 2010-04-06 | 2012-12-04 | Amkor Technology, Inc. | Through via nub reveal method and structure |
US8294276B1 (en) | 2010-05-27 | 2012-10-23 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device and fabricating method thereof |
US8440554B1 (en) | 2010-08-02 | 2013-05-14 | Amkor Technology, Inc. | Through via connected backside embedded circuit features structure and method |
US8487445B1 (en) | 2010-10-05 | 2013-07-16 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device having through electrodes protruding from dielectric layer |
US8791501B1 (en) | 2010-12-03 | 2014-07-29 | Amkor Technology, Inc. | Integrated passive device structure and method |
US8674485B1 (en) | 2010-12-08 | 2014-03-18 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device including leadframe with downsets |
US8390130B1 (en) | 2011-01-06 | 2013-03-05 | Amkor Technology, Inc. | Through via recessed reveal structure and method |
US8648450B1 (en) | 2011-01-27 | 2014-02-11 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device including leadframe with a combination of leads and lands |
TWI557183B (zh) | 2015-12-16 | 2016-11-11 | 財團法人工業技術研究院 | 矽氧烷組成物、以及包含其之光電裝置 |
TW201311069A (zh) * | 2011-08-25 | 2013-03-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | 晶片封裝件及晶片封裝方法 |
US8552548B1 (en) | 2011-11-29 | 2013-10-08 | Amkor Technology, Inc. | Conductive pad on protruding through electrode semiconductor device |
US9704725B1 (en) | 2012-03-06 | 2017-07-11 | Amkor Technology, Inc. | Semiconductor device with leadframe configured to facilitate reduced burr formation |
US9048298B1 (en) | 2012-03-29 | 2015-06-02 | Amkor Technology, Inc. | Backside warpage control structure and fabrication method |
US9129943B1 (en) | 2012-03-29 | 2015-09-08 | Amkor Technology, Inc. | Embedded component package and fabrication method |
TWI556361B (zh) * | 2012-12-11 | 2016-11-01 | 鴻海精密工業股份有限公司 | 鐳射晶片封裝結構 |
US9647997B2 (en) | 2013-03-13 | 2017-05-09 | Nagrastar, Llc | USB interface for performing transport I/O |
USD759022S1 (en) | 2013-03-13 | 2016-06-14 | Nagrastar Llc | Smart card interface |
US9041226B2 (en) * | 2013-03-13 | 2015-05-26 | Infineon Technologies Ag | Chip arrangement and a method of manufacturing a chip arrangement |
USD729808S1 (en) | 2013-03-13 | 2015-05-19 | Nagrastar Llc | Smart card interface |
USD758372S1 (en) * | 2013-03-13 | 2016-06-07 | Nagrastar Llc | Smart card interface |
US9888283B2 (en) | 2013-03-13 | 2018-02-06 | Nagrastar Llc | Systems and methods for performing transport I/O |
KR101486790B1 (ko) | 2013-05-02 | 2015-01-28 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 강성보강부를 갖는 마이크로 리드프레임 |
KR101563911B1 (ko) | 2013-10-24 | 2015-10-28 | 앰코 테크놀로지 코리아 주식회사 | 반도체 패키지 |
US9673122B2 (en) | 2014-05-02 | 2017-06-06 | Amkor Technology, Inc. | Micro lead frame structure having reinforcing portions and method |
TWI628723B (zh) * | 2015-03-10 | 2018-07-01 | 精材科技股份有限公司 | 一種晶片尺寸等級的感測晶片封裝體及其製造方法 |
USD780763S1 (en) | 2015-03-20 | 2017-03-07 | Nagrastar Llc | Smart card interface |
USD864968S1 (en) | 2015-04-30 | 2019-10-29 | Echostar Technologies L.L.C. | Smart card interface |
JP1647727S (de) | 2018-02-01 | 2019-12-09 | ||
USD930000S1 (en) | 2018-10-12 | 2021-09-07 | Huawei Technologies Co., Ltd. | Memory card |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6094744A (ja) * | 1983-10-27 | 1985-05-27 | Nippon Denso Co Ltd | 混成集積回路装置 |
US4604644A (en) * | 1985-01-28 | 1986-08-05 | International Business Machines Corporation | Solder interconnection structure for joining semiconductor devices to substrates that have improved fatigue life, and process for making |
US4974057A (en) * | 1986-10-31 | 1990-11-27 | Texas Instruments Incorporated | Semiconductor device package with circuit board and resin |
JPS63254758A (ja) * | 1987-04-13 | 1988-10-21 | Tomoegawa Paper Co Ltd | 半導体装置 |
JPH01161724A (ja) * | 1987-12-18 | 1989-06-26 | Citizen Watch Co Ltd | 表面実装用半導体装置の製造方法 |
JPH01179334A (ja) * | 1988-01-05 | 1989-07-17 | Citizen Watch Co Ltd | 半導体素子の実装方法 |
US4842662A (en) * | 1988-06-01 | 1989-06-27 | Hewlett-Packard Company | Process for bonding integrated circuit components |
US5200362A (en) * | 1989-09-06 | 1993-04-06 | Motorola, Inc. | Method of attaching conductive traces to an encapsulated semiconductor die using a removable transfer film |
JP2895920B2 (ja) * | 1990-06-11 | 1999-05-31 | 株式会社日立製作所 | 半導体装置及びその製造方法 |
JP2762792B2 (ja) * | 1991-08-30 | 1998-06-04 | 日本電気株式会社 | 光半導体装置 |
KR940006083B1 (ko) * | 1991-09-11 | 1994-07-06 | 금성일렉트론 주식회사 | Loc 패키지 및 그 제조방법 |
KR940007757Y1 (ko) * | 1991-11-14 | 1994-10-24 | 금성일렉트론 주식회사 | 반도체 패키지 |
-
1993
- 1993-06-23 KR KR1019930011506A patent/KR0152901B1/ko not_active IP Right Cessation
-
1994
- 1994-06-16 DE DE19944421077 patent/DE4421077B4/de not_active Expired - Fee Related
- 1994-06-16 US US08/260,571 patent/US5444301A/en not_active Expired - Lifetime
- 1994-06-22 JP JP13981294A patent/JP3454920B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19651549A1 (de) * | 1996-06-14 | 1997-12-18 | Lg Semicon Co Ltd | Anschlußrahmen und Halbleitergehäuse |
DE19651549B4 (de) * | 1996-06-14 | 2004-03-18 | LG Semicon Co., Ltd., Cheongju | Anschlußrahmen und Chipgehäuse |
DE19955537A1 (de) * | 1999-11-18 | 2001-05-31 | Orga Kartensysteme Gmbh | Verfahren zur Herstellung eines Trägerelements für einen IC-Baustein |
DE19955537B4 (de) * | 1999-11-18 | 2006-04-13 | Orga Kartensysteme Gmbh | Verfahren zur Herstellung eines Trägerelementes für einen IC-Baustein |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE4421077B4 (de) | 2007-01-04 |
US5444301A (en) | 1995-08-22 |
KR950002000A (ko) | 1995-01-04 |
JPH0722474A (ja) | 1995-01-24 |
JP3454920B2 (ja) | 2003-10-06 |
KR0152901B1 (ko) | 1998-10-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE4421077A1 (de) | Halbleitergehäuse und Verfahren zu dessen Herstellung | |
DE19723203B4 (de) | Verfahren zum Herstellen eines Halbleiterbauteils in Chipgröße | |
DE19845316C2 (de) | Stapelbares Ball-Grid-Array-Halbleitergehäuse und Verfahren zu dessen Herstellung | |
DE4238646B4 (de) | Halbleiter-Bauelement mit spezieller Anschlusskonfiguration | |
DE19747105B4 (de) | Bauelement mit gestapelten Halbleiterchips | |
DE10295972B4 (de) | Nicht in einer Form hergestellte Packung für eine Halbleiteranordnung und Verfahren zur Herstellung | |
DE19716668C2 (de) | Halbleiterchip-Stapelgehäuse mit untenliegenden Zuleitungen | |
DE69737588T2 (de) | Halbleiteranordnung und Herstellungsverfahren dafür | |
DE10229692B4 (de) | Leiterplatte, Mehrchippackung und zugehöriges Herstellungsverfahren | |
DE19802347B4 (de) | Stapelbares Halbleitersubstrat und stapelbare Halbleiterbaugruppe sowie Herstellungsverfahren derselben und Herstellungsverfahren eines stapelbaren Halbleiterbaugruppenmoduls | |
DE112006003372T5 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Montage eines oben und unten freiliegenden eingehausten Halbleiters | |
DE19725464A1 (de) | Halbleiterchip-Stapelgehäuse und Verfahren zu dessen Herstellung | |
DE4337675A1 (de) | Halbleitergehäuse und Verfahren zu dessen Herstellung | |
DE4328916A1 (de) | Ladungsgekoppelte Speichergehäuseanordnung mit Glasabdeckung | |
DE19708002A1 (de) | Halbleiterbauelement und Anschlußrahmen dafür | |
DE112004000258T5 (de) | Alternativer Entwurf für ein Flip Chip in Leaded Molded Package und Verfahren zur Herstellung | |
DE19507573A1 (de) | Leiterstruktur und Halbleitergehäuse mit dieser Leiterstruktur | |
DE19756185A1 (de) | Verfahren zum Herstellen einer Anordnung aus Verbindungskontakten für IC-Chips | |
DE19743537A1 (de) | Halbleitergehäuse für Oberflächenmontage sowie Verfahren zu seiner Herstellung | |
DE69628964T2 (de) | Harzvergossenes Halbleiterbauteil und Herstellungsverfahren | |
DE4230030A1 (de) | Halbleitergehaeuse und verfahren zu dessen zusammenbau | |
EP0646971B1 (de) | Zweipoliges SMT-Miniatur-Gehäuse für Halbleiterbauelemente und Verfahren zu dessen Herstellung | |
DE19808193A1 (de) | Leadframevorrichtung und entsprechendes Herstellungsverfahren | |
DE60316664T2 (de) | Verfahren zur Herstellung einer Festkörper-Bildaufnahmevorrichtung | |
DE3243689C2 (de) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |
Effective date: 20140101 |