DE502008002340D1 - Plunger zum halten und bewegen von elektronischen bauelementen, insbesondere ic's mit wärmeleitkörper - Google Patents

Plunger zum halten und bewegen von elektronischen bauelementen, insbesondere ic's mit wärmeleitkörper

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Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102008020585B4 (de) * 2008-04-24 2011-03-24 Multitest Elektronische Systeme Gmbh Plunger mit Schnellverriegelungssystem
DE102012219874A1 (de) * 2012-10-30 2014-04-30 Thyssenkrupp Steel Europe Ag Vorrichtung und Verfahren zur Handhabung von Werkstücken
US9035669B2 (en) * 2013-02-20 2015-05-19 Multitest Elektronische Systeme Gmbh Apparatus and method for testing electronic devices
JP6777688B2 (ja) * 2018-06-15 2020-10-28 ファナック株式会社 コネクタ接続用ハンドおよびハンドシステム
KR102239739B1 (ko) * 2019-04-15 2021-04-13 주식회사 아테코 전자부품 테스트 핸들러

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2963706B2 (ja) * 1989-10-24 1999-10-18 株式会社日本マイクロニクス Ｉｃハンドラ
US5147821A (en) * 1990-09-28 1992-09-15 Motorola, Inc. Method for making a thermally enhanced semiconductor device by holding a leadframe against a heatsink through vacuum suction in a molding operation
JPH06297371A (ja) * 1993-04-16 1994-10-25 Hagiwara Eng Kk 吸着機構
JPH0794034A (ja) * 1993-09-22 1995-04-07 Fujitsu Ltd フラットケーブル及びこれを用いたコネクタ付ケーブル
JPH07202095A (ja) * 1994-01-04 1995-08-04 Hitachi Ltd 電子デバイスの冷却装置
EP0857304A2 (de) * 1995-10-23 1998-08-12 Aetrium Incorporated Flexibel aufgehängter wärmetauscher für prüfling
US5977785A (en) * 1996-05-28 1999-11-02 Burward-Hoy; Trevor Method and apparatus for rapidly varying the operating temperature of a semiconductor device in a testing environment
US5847366A (en) * 1996-06-18 1998-12-08 Intel Corporation Apparatus and method for controlling the temperature of an integrated circuit under test
US6069483A (en) * 1997-12-16 2000-05-30 Intel Corporation Pickup chuck for multichip modules
US6019166A (en) * 1997-12-30 2000-02-01 Intel Corporation Pickup chuck with an integral heatsink
SG77182A1 (en) * 1998-05-29 2000-12-19 Advanced Systems Automation Ltd Temperature control system for test heads
JP5000803B2 (ja) * 1998-07-14 2012-08-15 デルタ・デザイン・インコーポレイテッド 電子デバイスの速応温度反復制御を液体を利用して広範囲に行うための装置、方法
JP2000329821A (ja) * 1999-05-24 2000-11-30 Advantest Corp 半導体試験装置のハンドラ
KR100392229B1 (ko) * 2001-01-09 2003-07-22 미래산업 주식회사 반도체 소자 테스트 핸들러의 인덱스헤드
US6861859B1 (en) * 2001-10-22 2005-03-01 Electroglas, Inc. Testing circuits on substrates
US6891385B2 (en) * 2001-12-27 2005-05-10 Formfactor, Inc. Probe card cooling assembly with direct cooling of active electronic components
US6978541B1 (en) * 2002-10-01 2005-12-27 Xilinx, Inc. Apparatus and methods to enhance thermal energy transfer in IC handler systems
JP4044063B2 (ja) * 2004-03-15 2008-02-06 ミレ株式会社 半導体素子テストハンドラ用キャリアモジュール
CN2736833Y (zh) * 2004-09-06 2005-10-26 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 中央处理器拆装治具
JP2006125864A (ja) * 2004-10-26 2006-05-18 Yokogawa Electric Corp デバイスハンドラー装置
JP4490332B2 (ja) * 2005-05-31 2010-06-23 ヤマハ発動機株式会社 Ｉｃハンドラー
JP4546335B2 (ja) * 2005-06-27 2010-09-15 富士通株式会社 パッケージ冷却装置
JP2007003152A (ja) * 2005-06-27 2007-01-11 Seiko Epson Corp 冷却装置及びそれを備えた電子部品ハンドラ
JP4315141B2 (ja) * 2005-09-09 2009-08-19 セイコーエプソン株式会社 電子部品の温度制御装置並びにハンドラ装置
JP4179478B2 (ja) 2005-09-29 2008-11-12 富士フイルム株式会社 描画データ取得方法および装置並びに描画方法および装置

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