DE60021909T2 - Prägeform-lithographie - Google Patents
Prägeform-lithographie Download PDFInfo
- Publication number
- DE60021909T2 DE60021909T2 DE60021909T DE60021909T DE60021909T2 DE 60021909 T2 DE60021909 T2 DE 60021909T2 DE 60021909 T DE60021909 T DE 60021909T DE 60021909 T DE60021909 T DE 60021909T DE 60021909 T2 DE60021909 T2 DE 60021909T2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- transfer layer
- polymerizable liquid
- liquid composition
- polymer material
- mold
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C43/00—Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor
- B29C43/003—Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor characterised by the choice of material
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C43/00—Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor
- B29C43/02—Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor of articles of definite length, i.e. discrete articles
- B29C43/021—Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor of articles of definite length, i.e. discrete articles characterised by the shape of the surface
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y10/00—Nanotechnology for information processing, storage or transmission, e.g. quantum computing or single electron logic
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B82—NANOTECHNOLOGY
- B82Y—SPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
- B82Y40/00—Manufacture or treatment of nanostructures
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/0002—Lithographic processes using patterning methods other than those involving the exposure to radiation, e.g. by stamping
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B29—WORKING OF PLASTICS; WORKING OF SUBSTANCES IN A PLASTIC STATE IN GENERAL
- B29C—SHAPING OR JOINING OF PLASTICS; SHAPING OF MATERIAL IN A PLASTIC STATE, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; AFTER-TREATMENT OF THE SHAPED PRODUCTS, e.g. REPAIRING
- B29C43/00—Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor
- B29C43/02—Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor of articles of definite length, i.e. discrete articles
- B29C43/021—Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor of articles of definite length, i.e. discrete articles characterised by the shape of the surface
- B29C2043/023—Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor of articles of definite length, i.e. discrete articles characterised by the shape of the surface having a plurality of grooves
- B29C2043/025—Compression moulding, i.e. applying external pressure to flow the moulding material; Apparatus therefor of articles of definite length, i.e. discrete articles characterised by the shape of the surface having a plurality of grooves forming a microstructure, i.e. fine patterning
-
- H—ELECTRICITY
- H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
- H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
- H05K3/02—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding
- H05K3/06—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding the conductive material being removed chemically or electrolytically, e.g. by photo-etch process
- H05K3/061—Etching masks
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S977/00—Nanotechnology
- Y10S977/84—Manufacture, treatment, or detection of nanostructure
- Y10S977/887—Nanoimprint lithography, i.e. nanostamp
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S977/00—Nanotechnology
- Y10S977/84—Manufacture, treatment, or detection of nanostructure
- Y10S977/895—Manufacture, treatment, or detection of nanostructure having step or means utilizing chemical property
- Y10S977/896—Chemical synthesis, e.g. chemical bonding or breaking
- Y10S977/897—Polymerization
Description
- Gebiet der Erfindung
- Die Erfindung betrifft allgemein die Verwendung von Lithographie-Techniken bei der Herstellung verschiedener Mikrostrukturen.
- Hintergrund der Erfindung
- Es gibt gegenwärtig eine starke Entwicklung in Richtung auf die Herstellung kleiner Strukturen und die Verkleinerung bestehender Strukturen, was man gewöhnlich als Mikrofabrikation bezeichnet. Ein Bereich, in welchem Mikrofabrikation eine beträchtliche Bedeutung gehabt hat, ist der mikroelektronische Bereich. Insbesondere die Verkleinerung mikroelektronischer Strukturen hat es allgemein ermöglicht, dass die Strukturen preiswerter sind, höhere Leistung haben, einen geringeren Energieverbrauch aufweisen und mehr Komponenten bei einer vorgegeben Dimension besitzen, im Vergleich zu konventionellen elektronischen Vorrichtungen. Obwohl Mikrofabrikation in der Elektronikindustrie viel genutzt worden ist, ist sie auch bei andere Anwendungen wie der Biotechnologie, Optik, mechanischen System, Fühlelementen und Reaktoren eingesetzt worden.
- Lithographische Techniken werden häufig bei der Mikrofabrikation von Vorrichtungen eingesetzt. Siehe S. Wolf et al., Silicon Processing for the VLSI Era, Volume I-Process Technology, (1986), Seiten 407–413. Beispielsweise werden mittels der Mikroschaltkreis-Herstellung Photoresist-Materialien auf ein Substrat aufgebracht. Als Nächstes wird die Resistschicht selektiv einer Strahlungsform ausgesetzt. Es werden häufig eine Expositions-Vorrichtung und Maske verwendet, um die gewünschte selektive Exposition zu bewirken. Es werden Muster in dem Resist gebildet, wenn das Substrat einem anschließenden "Entwicklungs-Schritt" unterzogen wird. Die Resist-Bereiche, die nach der Entwicklung verbleiben, schützen die Substratregionen, die sie bedecken. Stellen, von de nen Resist entfernt worden ist, können einer Vielzahl von Additiven (z. B. Lift-off) oder Substraktiv-Verfahren (z. B. Ätzen) unterworfen werden, welche das Muster auf die Substratoberfläche übertragen.
- Es gibt gegenwärtig eine Bewegung in Richtung auf die Entwicklung von Photolithographie-Techniken, die es ermöglichen können, dass Mikromaßstabvorrichtungen mit kleineren Merkmalen gebildet werden. Whiteside et al., Angew. Chem. Int. Ed., 1998, 37, Seiten 550–575, schlagen verschiedene Techniken vor. Eine vorgeschlagene Technik schließt die Selbst-Aggregation von Monoschichten ein. Selbst-aggregierte Monoschichten (SAMs) bilden sich typischer Weise spontan durch Chemisorption und Selbstorganisation funktionalisierter, langkettiger organischer Moleküle auf den Oberflächen geeigneter Substrate. SAMs werden gewöhnlich hergestellt durch das Tauchen eines Substrats in eine Lösung, die einen Liganden enthält, der gegenüber der Oberfläche reaktiv ist, oder durch Exposition des Substrats mit einem Dampf der reaktiven Spezies. Die Selbst-Aggregation von Monoschichten ist potentiell vorteilhaft, weil sich schnell geordnete Strukturen bilden können.
- Ein Präge-Lithographie-Verfahren, das die Herstellung von Nanostrukturen mit einer Merkmalsgröße von 10 nm lehrt, wird von Chou et al., Microelectronic Engineering, 35, (1997), Seiten 237–240, vorgeschlagen. Insbesondere lehren Chou et al. das Pressen einer Form, die darin ausgebildete Nanostrukturen besitzt, in einen dünnen Resist-Abguss, der sich auf der Oberfläche eines Substrats befindet. Der Resist-Abguss ist so ausgebildet, dass er an die Gestalt der Form angepasst ist. Die Form wird dann von dem Resist-Abguss entfernt und das Substrat, auf dem sich der Resist-Abguss befindet, wird derart geätzt, dass das Muster der Form auf das Substrat übertragen wird.
- Chou lehrt die Verwendung von (Poly)methylmethacrylat für den Resist-Abguss. Die Verwendung dieses Materials kann jedoch deshalb nachteilig sein, weil es möglicherweise schwierig ist, einige Strukturen mit variierenden Musterdichten zu bilden. Weiterhin ist bemerkt worden, dass es sein kann, dass die Ätz-Selektivität für die übliche Bearbeitung mikroelektronischer Vorrichtungen potentiell nicht wünschenswert ist.
- Im Hinblick auf das Obige besteht in der Technik ein Bedarf an einem Präge-Lithographie-Verfahren, welches die Bildung von Nanostrukturen erlaubt, die eine hohe Auflösung für einen weiten Bereich von Musterdichten besitzen. Es wäre insbesondere wünschenswert, wenn die Nanostrukturen in effizienterer Art, im Vergleich zum Stand der Technik, gebildet werden könnten.
- Zusammenfassung der Erfindung
- Die vorliegende Erfindung befasst sich mit den potentiellen Problemen des Standes der Technik und stellt in einem Aspekt ein Verfahren zur Bildung eines Reliefbildes in einer Struktur bereit, die ein Substrat und eine darauf gebildete Transferschicht umfasst. Das Verfahren bezieht sich auf die Bildung von Strukturen mit Nanomaßstab-Mustern. Das Verfahren umfasst das Bedecken der Transferschicht mit einer polymerisierbaren flüssigen Zusammensetzung; das in Kontakt bringen der polymerisierbaren flüssigen Zusammensetzung mit einer Form, welche eine darin ausgebildete Reliefstruktur besitzt, so dass die polymerisierbare flüssige Zusammensetzung die Reliefstruktur in der Form ausfüllt; Aussetzen der Zusammensetzung Bedingungen, um die polymerisierbare flüssige Zusammensetzung zu polymerisieren und daraus ein verfestigtes Polymermaterial auf der Transferschicht zu bilden; Abtrennung der Form von dem verfestigten Polymermaterial, so dass ein Abbild der Reliefstruktur in der Form in dem verfestigten Polymermaterial gebildet wird und abschließend das Aussetzen der Transferschicht und des verfestigten Polymermaterials einer Umgebung, die das selektive Ätzen der Transferschicht relativ zu dem verfestigten Polymermaterial gestattet, so dass ein Reliefbild in der Transferschicht gebildet wird.
- Kurze Beschreibung der Zeichnungen
-
1 veranschaulicht ein Verfahren zur Bildung einer Reliefstruktur in einem Substrat in Übereinstimmung mit der Erfindung. - Detaillierte Beschreibung der bevorzugten Ausführungsbeispiele
- Die vorliegende Erfindung wird nun nachfolgend ausführlicher unter Bezugnahme auf die beigefügte Zeichnung und Beschreibung beschrieben, in welcher bevorzugte Ausführungsbeispiele der Erfindung gezeigt werden. Diese Erfindung kann jedoch in vielen verschiedenen Formen ausgeführt werden und sollte nicht als durch die hierin dargelegten Ausführungsbeispiele begrenzt verstanden werden. Stattdessen werden diese Ausführungsbeispiele bereitgestellt, damit diese Offenbarung genau und vollständig wird und einem Durchschnittsfachmann der Geltungsbereich der Erfindung vollständig vermittelt wird. In den Zeichnungen wird die Dicke der Schichten und Bereiche überhöht. Gleiche Zahlen bezeihen sich durchweg auf gleiche Elemente. Es wird auch begreiflich sein, dass wenn eine Schicht als "auf" einer anderen Schicht oder einem anderen Substrat bezeichnet wird, sie sich direkt auf der anderen Schicht oder dem anderen Substrat befinden kann oder auch Zwischenschichten vorhanden sein können.
- In einem Aspekt betrifft die Erfindung wenigstens ein Verfahren zur Bildung eines Reliefbildes in einer Struktur, die ein Substrat und eine darauf gebildete Transferschicht umfasst. Das Verfahren umfasst das Bedecken der Transferschicht mit einer polymerisierbaren flüssigen Zusammensetzung. Die polymerisierbare flüssige Zusammensetzung wird dann mit einer Form in Kontakt gebracht, die eine darin ausgebildete Reliefstruktur besitzt, so dass die polymerisierbare flüssige Zusammensetzung die Reliefstruktur in der Form ausfüllt. Die polymerisierbare flüssige Zusammensetzung wird dann Bedingungen ausgesetzt, um die polymerisierbare flüssige Zusammensetzung zu polymerisieren und daraus ein verfestigtes Polymermaterial auf der Transferschicht zu bilden. Anders ausgedrückt, wird die polymerisierbare flüssige Zusammensetzung chemisch vernetzt oder gehärtet, um ein duroplastisches Material (d. h. verfestigtes Polymermaterial) zu bilden. Die Form wird dann von dem verfestigten Polymermaterial abgetrennt, so dass ein Abbild der Reliefstruktur in der Form in dem verfestigten Polymermaterial gebildet wird. Die Transferschicht und das verfestigte Polymermaterial werden dann einer Umgebung ausgesetzt, so dass die Transferschicht selektiv geätzt wird, relativ zum verfestigten Polymermaterial. Als Ergebnis wird in der Transferschicht ein Reliefbild gebildet. Das erfindungsgemäße Verfahren ist vorteilhaft, weil dadurch eine Anzahl von Vorrichtungen unter Nutzung von einem Durchschnittsfachmann bekannten Verfahren hergestellt werden können, wie, aber nicht begrenzt auf, mikroelektronische Vorrichtungen, Informationsspeicher-Vorrichtungen, Leiterplatten, Flachbildschirme, Mikromaschinen und Ladungskopplungsspeicher.
- Das in der obigen Erfindung verwendete Substrat kann eine Anzahl verschiedener Materialien umfassen, wie, aber nicht begrenzt auf, Silizium, Kunststoff, Galliumarsenid, Quecksilbertellurid und deren Gemische. Die Transferschichten werden aus Materialien gebildet, die im Stand der Technik bekannt sind, wie zum Beispiel duroplastische Polymere, thermoplastische Polymere, Polyepoxis, Polyamide, Polyurethane, Polycarbonate, Polyester und deren Kombinationen. Die Transferschicht wird derart hergestellt, dass sie eine kontinuierliche, weiche, relativ fehlerfreie Oberfläche besitzt, die exzellente Adhäsion an die polymerisierbare Flüssigkeit zeigen kann. Wie ein Durch schnittsfachmann gut verstehen wird, bezieht sich der Begriff "Transferschicht" auf eine Schicht, die Material enthält, das geätzt werden kann, um ein Bild von der polymerisierbaren flüssigen Zusammensetzung auf das darunter liegende Substrat zu übertragen, wie es hierin im Detail beschrieben wird.
- Die polymerisierbare flüssige Zusammensetzung, die in Übereinstimmung mit den erfindungsgemäßen Verfahren polymerisiert und verfestigt wird, umfasst gewöhnlich ein polymerisierbares Material, ein Verdünnungsmittel und andere Materialien, die in polymerisierbaren Flüssigkeiten eingesetzt werden, wie, aber nicht begrenzt auf, Initiatoren und andere Materialien. Polymerisierbare (oder vernetzbare) Materialien, die in den erfindungsgemäßen Verfahren verwendet werden können, umfassen verschiedene Silizium-enthaltende Materialien, die häufig in Form von Polymeren vorliegen. Die Silizium-enthaltende Materialien schließen ein, sind aber nicht begrenzt auf, Silane, Silylether, Silylester, funktionalisierte Siloxane, Silsesquioxane und deren Mischungen. Silizium-enthaltenden Materialien, die bevorzugt eingesetzt werden, sind siliziumorganische Verbindungen. Die Silizium-enthaltenden Materialien enthalten das Element Silizium bevorzugt in einer Menge, die größer ist als ungefähr 8 Prozent, bezogen auf das Gewicht der polymerisierbaren flüssigen Zusammensetzung, und stärker bevorzugt größer ist als ungefähr 10 Gewichtsprozent.
- Die Polymere, die in der polymerisierbaren flüssigen Zusammensetzung vorliegen können, schließen bevorzugt verschiedene reaktive Seitengruppen ein. Beispiele für Seitengruppen schließen ein, sind aber nicht begrenzt auf, Epoxygruppen, Ketenacetylgrupen, Acrylatgruppen, Methacrylatgruppen und Kombinationen der Obigen ein. Obwohl nicht gewünscht wird, auf irgendeine Theorie festgelegt zu werden, wird angenommen, dass die polymerisierbare flüssige Zusammensetzung gemäß einer Vielzahl von Reakti onsmechanismen reagieren kann, wie, aber nicht begrenzt auf, Säurekatalyse, radikalische Katalyse oder 2 + 2-Photozykloaddition.
- Die in den erfindungsgemäßen Verfahren verwendete Form kann aus verschiedenen konventionellen Materialien hergestellt werden. Gewöhnlich werden die Materialien derart ausgewählt, dass die Form transparent ist, wodurch es ermöglicht wird, die polymerisierbare flüssige Zusammensetzung, welche von der Form bedeckt wird, einer externen Strahlungsquelle auszusetzen. Beispielsweise kann die Form Materialien umfassen, wie, ist aber nicht begrenzt auf, Quarz, Silizium, organische Polymere, Siloxan-Polymere, Borosilicatglas, Fluorcarbon-Polymere, Metall und Kombinationen der Obigen. Bevorzugt umfasst die Form Quarz. Um die Ablösung der Form von dem festen Polymermaterial zu erleichtern, kann die Form mit einem oberflächenmodifizierenden Agens behandelt werden. Oberflächenmodifizierende Agenzien, die eingesetzt werden können, schließen jene ein, die im Stand der Technik bekannt sind. Ein Beispiel eines oberflächenmodifizierenden Agens ist ein Fluorkohlenwasserstoff-Silylierungsmittel. Diese oberflächenmodifizierenden Agenzien oder Ablösungsmittel können zum Beispiel angewendet werden mittels Plasmaquellen, einem chemischen Aufdampfungs-Verfahren (CVD), wie zum Beispiel Analoga von Paralene, oder einer Behandlung, die eine Lösung einschließt.
- Es wird begreiflich sein, dass ein Durchschnittsfachmann das Substrat, die Form, die polymerisierbare flüssige Zusammensetzung, das oberflächenmodifizierende Agens, wie auch jedes andere Material auswählen kann, so dass das erfindungsgemäße Verfahren optimal gemäß der spezifischen Bedürfnisse des Endverbrauchers arbeitet.
- Die erfindungsgemäßen Verfahren werden nun detaillierter in Bezug auf die beigefügte Zeichnung beschrieben, in welcher ein bevorzugtes Ausführungsbeispiel der Erfindung gezeigt wird.
1a veranschaulicht eine schrittweise Abfolge zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens. Es liegt eine Struktur30 vor, welche ein Substrat10 einschließt, das eine darauf befindliche Transferschicht20 besitzt. Wie gezeigt wird, ist Form40 derart über der Transferschicht20 ausgerichtet, dass die Aussparung50 zwischen der Form40 und Transferschicht20 gebildet wird. Form40 hat eine darin ausgebildete Reliefstruktur im Nanomaßstab, die ein Längenverhältnis besitzt, das bevorzugt von ungefähr 0,1 bis 10, und stärker bevorzugt von ungefähr 0,5 bis ungefähr 2 reicht. Insbesondere haben die Reliefstrukturen in der Form bevorzugt eine Breite w1, die von ungefähr 10 nm bis ungefähr 5000 μm reicht. Die Reliefstrukturen sind durch einen Abstand d1 von einander getrennt, der von ungefähr 10 nm bis ungefähr 5000 μm reicht. - Eine polymerisierbare flüssige Zusammensetzung
60 kommt dann mit der Transferschicht20 und Form40 in Kontakt, um die dazwischen befindliche Aussparung50 zu füllen, wie in1b gezeigt wird. Die polymerisierbare flüssige Zusammensetzung kann eine niedrige Viskosität besitzen, so dass sie die Aussparung auf effiziente Weise füllen kann. Bevorzugt reicht die Viskosität der polymerisierbaren flüssigen Zusammensetzung von ungefähr 0,01 cps bis ungefähr 100 cps, gemessen bei 25°C, und stärker bevorzugt von ungefähr 0,01 cps bis ungefähr 1 cps, bei dieser Temperatur gemessen. - Nun bezugnehmend auf
1c , wird dann die Form dichter an die Transferschicht20 bewegt um überschüssige polymerisierbare flüssige Zusammensetzung60 hinauszudrängen, so dass die Kanten41a bis41f der Form40 in Kontakt mit der Transferschicht20 kommen. Die polymerisierbare flüssige Zusammensetzung60 wird dann Bedingungen ausgesetzt, die ausreichend sind, die Flüssigkeit zu polymerisieren. Bevorzugt wird die polymerisierbare flüssige Zusammensetzung60 Strahlung ausgesetzt, die ausreichend ist um die flüssige Zusammensetzung zu polymerisie ren und ein verfestigtes Polymermaterial zu bilden, das durch70 in1c repräsentiert wird. Genauer gesagt, wird die polymerisierbare flüssige Zusammensetzung ultraviolettem Licht ausgesetzt, obwohl auch andere Mittel für die Polymerisierung der Flüssigkeit eingesetzt werden können, wie zum Beispiel Wärme oder andere Strahlungsformen. Die Auswahl eines Verfahrens zur Einleitung der Polymerisation der flüssigen Zusammensetzung ist einem Durchschnittsfachmann bekannt und hängt gewöhnlich von der spezifischen Anwendung ab, die gewünscht wird. - Die Form
40 lässt dann das verfestigte Polymermaterial70 auf der Transferschicht20 zurück, wie in1d gezeigt wird. Die Transferschicht20 wird dann selektiv relativ zu dem festen Polymermaterial70 geätzt, so dass ein Reliefbild80 , korrespondierend zu dem Bild in der Form40 in der Transferschicht20 gebildet wird. Der Ätzschritt wird durch1c dargestellt. Die Ätzselektivität der Transferschicht20 , relativ zu dem festen Polymermaterial70 , liegt im Bereich von ungefähr 1,5 bis ungefähr 100. Beispielsweise kann das selektive Ätzen oder Ionenfräsen durchgeführt werden, indem die Transferschicht20 und das feste Polymermaterial70 einer Umgebung ausgesetzt werden, wie, aber nicht begrenzt auf, einem Argonstrom, einem Sauerstoff-enthaltendem Plasma, einem reaktiven Ionenätzgas, einem Halogen-enthaltenden Gas, einem Schwefeldioxid-enthaltendem Gas und Kombinationen der Obigen. - Restmaterial (als
90 bezeichnet), welches vorliegen kann in Form von: (1) einem Anteil der polymerisierbaren flüssigen Zusammensetzung, (2) einem Anteil des festen Polymermaterials oder (3) Kombinationen von (1) und (2), könnte in den Aussparungen innerhalb des Reliefbildes80 vorliegen. Das erfindungsgemäße Verfahren kann deshalb weiterhin den Schritt umfassen, bei dem das Restmaterial90 Bedingungen ausgesetzt wird, so dass das Restmaterial90 entfernt wird (z. B. Reinigungsätzen). Das Reinigungs ätzen kann unter Verwendung bekannter Verfahren durchgeführt werden. Zusätzlich sollte verständlich sein, dass dieser Schritt während verschiedener Stufen des erfindungsgemäßen Verfahrens durchgeführt werden kann. Zum Beispiel kann das Entfernen des Restmaterials vor dem Schritt durchgeführt werden, bei dem die Transferschicht und das feste Polymermaterial einer Umgebung ausgesetzt werden, in der die Transferschicht selektiv relativ zu dem festen Polymermaterial geätzt wird. Es können werden während des Reinigungsätzens verschiedene Umgebungen eingesetzt, wie beispielsweise Argonionenfräsen, ein Fluorenthaltendes Plasma, ein reaktives Ionenätzgas und deren Kombinationen. - In den Zeichnungen und der Beschreibung sind typische Ausführungsbeispiele der Erfindung offenbart worden und obwohl spezifische Begriffe verwendet werden, werden diese nur in einem allgemeinen und deskriptiven Sinn verwendet, und nicht zum Zweck der Begrenzung; der Geltungsbereich der Erfindung wird in den folgenden Ansprüchen dargelegt.
Claims (16)
- Verfahren zur Bildung eines Reliefbildes in einer Struktur, die ein Substrat und eine darauf gebildete Transferschicht umfasst, wobei dieses Verfahren umfasst: Bedeckung der Transferschicht mit einer polymerisierbaren flüssigen Zusammensetzung; in Kontakt bringen der polymerisierbaren flüssigen Zusammensetzung mit einer Form, die eine darin ausgebildete Reliefstruktur besitzt, so dass die polymerisierbare flüssige Zusammensetzung im Wesentlichen die Reliefstruktur in der Form ausfüllt; Unterwerfen der polymerisierbaren flüssigen Zusammensetzungen Bedingungen, um die polymerisierbare flüssige Zusammensetzung zu polymerisieren und daraus ein verfestigtes Polymermaterial auf der Transferschicht auszubilden; Abtrennung der Form vom festen Polymermaterial, so dass ein Abdruck der Reliefstruktur aus der Form in dem verfestigten Polymermaterial gebildet wird; und Aussetzen der Transferschicht und des verfestigten Polymermaterials einer Umgebung, um selektiv die Transferschicht relativ zu dem verfestigten Polymermaterial derart zu ätzen, dass ein Reliefbild in der Transferschicht gebildet wird.
- Verfahren gemäß Anspruch 1, das weiterhin den Schritt der Fertigung einer Vorrichtung aus der Struktur umfasst, wobei die Vorrichtung ausgewählt ist aus einer mikroelektronischen Vorrichtung, einer Informationsspeicher-Vorrichtung, einer Leiterplatte, einem Flachbildschirm, einer Mikromaschine und einem Ladungskopplungsspeicher.
- Verfahren gemäß Anspruch 1 oder 2, worin die polymerisierbare flüssige Zusammensetzung ein Silizium enthaltendes Material oder ein Organosilan umfasst.
- Verfahren gemäß Anspruch 3, worin das Organosilan elementares Silizium in einer Menge enthält, die größer ist als ungefähr 8 Gewichtsprozent, bezogen auf das Gewicht der polymerisierbaren flüssigen Zusammensetzung.
- Verfahren gemäß irgendeinem der vorangehenden Ansprüche, worin die polymerisierbare flüssige Zusammensetzung eine reaktive Seitengruppe einschließt, ausgewählt aus einer Epoxygruppe, einer Ketenacetylgruppe, einer Acrylatgruppe, einer Methacrylatgruppe und deren Kombinationen.
- Verfahren gemäß irgendeinem der vorangehenden Ansprüche, worin die Transferschicht ein Material umfasst, ausgewählt aus einem organischen duroplastischen Polymer, einem thermoplastischen Polymer, einem Polyepoxy, einem Polyamid, einem Polyurethan, einem Polycarbonat, einem Polyester und deren Kombinationen.
- Verfahren gemäß irgendeinem der vorangehenden Ansprüche, worin die Form ein Material umfasst, ausgewählt aus Metall, Silizium, einem organischen Polymer, einem Siloxan-Polymer, Borosilicatglas, einem Fluorcarbon-Polymer und deren Kombinationen.
- Verfahren gemäß irgendeinem der vorangehenden Ansprüche, worin die Form Quarz umfasst.
- Verfahren gemäß irgendeinem der vorangehenden Ansprüche, das weiterhin den Schritt der Behandlung der Form mit einem oberflächenmodifizierenden Agens umfasst.
- Verfahren gemäß Anspruch 9, worin das oberflächenmodifizierende Agens ein Fluorkohlenwasserstoff-Silylierungsmittel ist.
- Verfahren gemäß Anspruch 9 oder Anspruch 10, worin der genannte Schritt der Behandlung der Form durchgeführt wird, indem eine Technik angewandt wird, ausgewählt aus einer Plasma-Technik, einer chemischen Aufdampfungs-Technik, einer Lösungsglühungs-Technik und deren Mischungen.
- Verfahren gemäß irgendeinem der vorangehenden Ansprüche, worin die Form transparent ist und worin der genannte Schritt des Unterwerfens der polymerisierbaren flüssigen Zusammensetzung umfasst, dass man die polymerisierbare flüssige Zusammensetzung Strahlung unterwirft, die ausreichend ist, um die flüssige Zusammensetzung zu polymerisieren und ein festes Polymermaterial zu bilden.
- Verfahren gemäß irgendeinem der vorangehenden Ansprüche, worin der genannte Schritt der Aussetzung der Transferschicht und des festen Polymermaterials einer Umgebung umfasst, dass man die Transferschicht und das feste Polymermaterial einer Umgebung aussetzt, die einen Argonionenstrom, ein Sauerstoff-enthaltendes Plasma, ein reaktives Ionenätzgas, ein Halogen enthaltendes Gas, ein Schwefeldioxid enthaltendes Gas und deren Kombinationen umfasst.
- Verfahren gemäß irgendeinem der vorangehenden Ansprüche, worin das Restmaterial, ausgewählt aus einem Anteil der polymerisierbaren flüssigen Zusammensetzung, einem Anteil des festen Polymermaterials und deren Kombinationen im Anschluss an den genannten Schritt vorliegt, bei dem man die polymerisierbare flüssige Zusammensetzung Bedingungen unterwirft, um ein festes Polymermaterial zu bilden, und das genannte Verfahren weiterhin den Schritt umfasst, bei dem das Restmaterial Bedingungen unterworfen wird, so dass das Restmaterial entfernt wird.
- Verfahren gemäß Anspruch 14, worin der genannte Schritt des Unterwerfens des Restmaterials vor dem genannten Schritt erfolgt, bei dem man die Transferschicht und das feste Polymermaterial einer Umwelt aussetzt, um selektiv die Transferschicht relativ zu dem festen Polymermaterial zu ätzen.
- Verfahren gemäß Anspruch 14 oder Anspruch 15, worin der genannte Schritt, bei dem man das Restmaterial Bedingungen aussetzt, so dass das Restmaterial entfernt wird, umfasst, dass man das Restmaterial einer Umgebung aussetzt, die ausgewählt ist aus einem Argonionenstrom, einem Fluorid enthaltenden Plasma, einem reaktiven Ionenätzgas und deren Mischungen.
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US09/266,663 US6334960B1 (en) | 1999-03-11 | 1999-03-11 | Step and flash imprint lithography |
US266663 | 1999-03-11 | ||
PCT/US2000/005751 WO2000054107A1 (en) | 1999-03-11 | 2000-03-03 | Step and flash imprint lithography |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE60021909D1 DE60021909D1 (en) | 2005-09-15 |
DE60021909T2 true DE60021909T2 (de) | 2006-05-24 |
Family
ID=23015492
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE60021909T Expired - Lifetime DE60021909T2 (de) | 1999-03-11 | 2000-03-03 | Prägeform-lithographie |
Country Status (6)
Country | Link |
---|---|
US (4) | US6334960B1 (de) |
EP (1) | EP1228401B1 (de) |
JP (1) | JP2002539604A (de) |
AT (1) | ATE301846T1 (de) |
DE (1) | DE60021909T2 (de) |
WO (1) | WO2000054107A1 (de) |
Families Citing this family (423)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8128856B2 (en) * | 1995-11-15 | 2012-03-06 | Regents Of The University Of Minnesota | Release surfaces, particularly for use in nanoimprint lithography |
US20040137734A1 (en) * | 1995-11-15 | 2004-07-15 | Princeton University | Compositions and processes for nanoimprinting |
US6334960B1 (en) * | 1999-03-11 | 2002-01-01 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Step and flash imprint lithography |
US6780001B2 (en) * | 1999-07-30 | 2004-08-24 | Formfactor, Inc. | Forming tool for forming a contoured microelectronic spring mold |
US6939474B2 (en) * | 1999-07-30 | 2005-09-06 | Formfactor, Inc. | Method for forming microelectronic spring structures on a substrate |
US6873087B1 (en) * | 1999-10-29 | 2005-03-29 | Board Of Regents, The University Of Texas System | High precision orientation alignment and gap control stages for imprint lithography processes |
US7432634B2 (en) | 2000-10-27 | 2008-10-07 | Board Of Regents, University Of Texas System | Remote center compliant flexure device |
SE516194C2 (sv) * | 2000-04-18 | 2001-12-03 | Obducat Ab | Substrat för samt process vid tillverkning av strukturer |
EP1303792B1 (de) * | 2000-07-16 | 2012-10-03 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Hoch auflösende ausrichtungsverfahren und entsprechende systeme für die präge-lithographie |
EP2270592B1 (de) * | 2000-07-17 | 2015-09-02 | Board of Regents, The University of Texas System | Verfahren zur Bildung einer Struktur auf einem Substrat |
US20050160011A1 (en) * | 2004-01-20 | 2005-07-21 | Molecular Imprints, Inc. | Method for concurrently employing differing materials to form a layer on a substrate |
AU2001280980A1 (en) * | 2000-08-01 | 2002-02-13 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Methods for high-precision gap and orientation sensing between a transparent template and substrate for imprint lithography |
US8016277B2 (en) * | 2000-08-21 | 2011-09-13 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Flexure based macro motion translation stage |
US20050274219A1 (en) * | 2004-06-01 | 2005-12-15 | Molecular Imprints, Inc. | Method and system to control movement of a body for nano-scale manufacturing |
US20060005657A1 (en) * | 2004-06-01 | 2006-01-12 | Molecular Imprints, Inc. | Method and system to control movement of a body for nano-scale manufacturing |
JP2004523906A (ja) * | 2000-10-12 | 2004-08-05 | ボード・オブ・リージエンツ,ザ・ユニバーシテイ・オブ・テキサス・システム | 室温かつ低圧マイクロおよびナノ転写リソグラフィのためのテンプレート |
US6964793B2 (en) * | 2002-05-16 | 2005-11-15 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Method for fabricating nanoscale patterns in light curable compositions using an electric field |
SE519573C2 (sv) | 2001-07-05 | 2003-03-11 | Obducat Ab | Stamp med antividhäftningsskikt samt sätt att framställa och sätt att reparera en sådan stamp |
US9678038B2 (en) | 2001-07-25 | 2017-06-13 | The Trustees Of Princeton University | Nanochannel arrays and their preparation and use for high throughput macromolecular analysis |
CA2454570C (en) | 2001-07-25 | 2016-12-20 | The Trustees Of Princeton University | Nanochannel arrays and their preparation and use for high throughput macromolecular analysis |
JP2003109915A (ja) * | 2001-09-28 | 2003-04-11 | National Institute Of Advanced Industrial & Technology | 剥離性雰囲気でのインプリントリソグラフィー方法及び装置 |
US20030071016A1 (en) * | 2001-10-11 | 2003-04-17 | Wu-Sheng Shih | Patterned structure reproduction using nonsticking mold |
KR20050035134A (ko) * | 2001-10-11 | 2005-04-15 | 브레우어 사이언스 인코포레이션 | 비점착성 몰드를 이용한 패턴 구조의 재현 |
KR20030057067A (ko) * | 2001-12-28 | 2003-07-04 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 인쇄방식을 이용한 패턴형성방법 |
JP2003218658A (ja) * | 2002-01-17 | 2003-07-31 | Nec Corp | 弾性表面波素子及び半導体装置の製造方法 |
US20030186405A1 (en) * | 2002-04-01 | 2003-10-02 | The Ohio State University Research Foundation | Micro/nano-embossing process and useful applications thereof |
US7652574B2 (en) * | 2002-04-08 | 2010-01-26 | Sayegh Adel O | Article surveillance tag having a vial |
EP2484751B1 (de) | 2002-04-16 | 2018-11-28 | Princeton University | Verfahren zur analyse von polynukleotiden |
US6730617B2 (en) | 2002-04-24 | 2004-05-04 | Ibm | Method of fabricating one or more tiers of an integrated circuit |
US7037639B2 (en) * | 2002-05-01 | 2006-05-02 | Molecular Imprints, Inc. | Methods of manufacturing a lithography template |
US20030235787A1 (en) * | 2002-06-24 | 2003-12-25 | Watts Michael P.C. | Low viscosity high resolution patterning material |
US20080160129A1 (en) | 2006-05-11 | 2008-07-03 | Molecular Imprints, Inc. | Template Having a Varying Thickness to Facilitate Expelling a Gas Positioned Between a Substrate and the Template |
US7179079B2 (en) * | 2002-07-08 | 2007-02-20 | Molecular Imprints, Inc. | Conforming template for patterning liquids disposed on substrates |
US6926929B2 (en) * | 2002-07-09 | 2005-08-09 | Molecular Imprints, Inc. | System and method for dispensing liquids |
US7019819B2 (en) * | 2002-11-13 | 2006-03-28 | Molecular Imprints, Inc. | Chucking system for modulating shapes of substrates |
US6908861B2 (en) * | 2002-07-11 | 2005-06-21 | Molecular Imprints, Inc. | Method for imprint lithography using an electric field |
US6932934B2 (en) * | 2002-07-11 | 2005-08-23 | Molecular Imprints, Inc. | Formation of discontinuous films during an imprint lithography process |
US6900881B2 (en) * | 2002-07-11 | 2005-05-31 | Molecular Imprints, Inc. | Step and repeat imprint lithography systems |
MY144124A (en) * | 2002-07-11 | 2011-08-15 | Molecular Imprints Inc | Step and repeat imprint lithography systems |
US7077992B2 (en) | 2002-07-11 | 2006-07-18 | Molecular Imprints, Inc. | Step and repeat imprint lithography processes |
US7442336B2 (en) * | 2003-08-21 | 2008-10-28 | Molecular Imprints, Inc. | Capillary imprinting technique |
US7027156B2 (en) * | 2002-08-01 | 2006-04-11 | Molecular Imprints, Inc. | Scatterometry alignment for imprint lithography |
US7070405B2 (en) * | 2002-08-01 | 2006-07-04 | Molecular Imprints, Inc. | Alignment systems for imprint lithography |
US7071088B2 (en) * | 2002-08-23 | 2006-07-04 | Molecular Imprints, Inc. | Method for fabricating bulbous-shaped vias |
US6936194B2 (en) * | 2002-09-05 | 2005-08-30 | Molecular Imprints, Inc. | Functional patterning material for imprint lithography processes |
US20040065252A1 (en) * | 2002-10-04 | 2004-04-08 | Sreenivasan Sidlgata V. | Method of forming a layer on a substrate to facilitate fabrication of metrology standards |
US8349241B2 (en) * | 2002-10-04 | 2013-01-08 | Molecular Imprints, Inc. | Method to arrange features on a substrate to replicate features having minimal dimensional variability |
EP2233564A3 (de) * | 2002-10-30 | 2012-11-21 | Hitachi, Ltd. | Zellkulturträger umfassend ein funktionelles Substrat mit einer Gruppe kolumnarer Mikrosäulen und Herstellverfahren hierfür |
CN1726433B (zh) * | 2002-11-12 | 2010-12-15 | 普林斯顿大学 | 用于纳米压印的组合物和方法 |
JP4391420B2 (ja) | 2002-11-13 | 2009-12-24 | モレキュラー・インプリンツ・インコーポレーテッド | 基板の形状を調整するチャック・システムと方法 |
US7641840B2 (en) * | 2002-11-13 | 2010-01-05 | Molecular Imprints, Inc. | Method for expelling gas positioned between a substrate and a mold |
US6929762B2 (en) * | 2002-11-13 | 2005-08-16 | Molecular Imprints, Inc. | Method of reducing pattern distortions during imprint lithography processes |
US6980282B2 (en) * | 2002-12-11 | 2005-12-27 | Molecular Imprints, Inc. | Method for modulating shapes of substrates |
US6900126B2 (en) | 2002-11-20 | 2005-05-31 | International Business Machines Corporation | Method of forming metallized pattern |
US7365103B2 (en) * | 2002-12-12 | 2008-04-29 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Compositions for dark-field polymerization and method of using the same for imprint lithography processes |
US6871558B2 (en) | 2002-12-12 | 2005-03-29 | Molecular Imprints, Inc. | Method for determining characteristics of substrate employing fluid geometries |
US20040112862A1 (en) * | 2002-12-12 | 2004-06-17 | Molecular Imprints, Inc. | Planarization composition and method of patterning a substrate using the same |
TW200500811A (en) * | 2002-12-13 | 2005-01-01 | Molecular Imprints Inc | Magnification correction employing out-of-plane distortion of a substrate |
JP2004241397A (ja) * | 2003-01-23 | 2004-08-26 | Dainippon Printing Co Ltd | 薄膜トランジスタおよびその製造方法 |
US7452574B2 (en) * | 2003-02-27 | 2008-11-18 | Molecular Imprints, Inc. | Method to reduce adhesion between a polymerizable layer and a substrate employing a fluorine-containing layer |
US20040168613A1 (en) * | 2003-02-27 | 2004-09-02 | Molecular Imprints, Inc. | Composition and method to form a release layer |
JP4317375B2 (ja) * | 2003-03-20 | 2009-08-19 | 株式会社日立製作所 | ナノプリント装置、及び微細構造転写方法 |
US7179396B2 (en) * | 2003-03-25 | 2007-02-20 | Molecular Imprints, Inc. | Positive tone bi-layer imprint lithography method |
US7186656B2 (en) * | 2004-05-21 | 2007-03-06 | Molecular Imprints, Inc. | Method of forming a recessed structure employing a reverse tone process |
US7122079B2 (en) * | 2004-02-27 | 2006-10-17 | Molecular Imprints, Inc. | Composition for an etching mask comprising a silicon-containing material |
US7323417B2 (en) * | 2004-09-21 | 2008-01-29 | Molecular Imprints, Inc. | Method of forming a recessed structure employing a reverse tone process |
US20040202865A1 (en) * | 2003-04-08 | 2004-10-14 | Andrew Homola | Release coating for stamper |
US7410904B2 (en) * | 2003-04-24 | 2008-08-12 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Sensor produced using imprint lithography |
US7396475B2 (en) * | 2003-04-25 | 2008-07-08 | Molecular Imprints, Inc. | Method of forming stepped structures employing imprint lithography |
US6805054B1 (en) | 2003-05-14 | 2004-10-19 | Molecular Imprints, Inc. | Method, system and holder for transferring templates during imprint lithography processes |
US6951173B1 (en) * | 2003-05-14 | 2005-10-04 | Molecular Imprints, Inc. | Assembly and method for transferring imprint lithography templates |
WO2004103666A2 (en) * | 2003-05-14 | 2004-12-02 | Molecular Imprints, Inc. | Method, system, holder and assembly for transferring templates during imprint lithography processes |
US7307118B2 (en) * | 2004-11-24 | 2007-12-11 | Molecular Imprints, Inc. | Composition to reduce adhesion between a conformable region and a mold |
US20050160934A1 (en) | 2004-01-23 | 2005-07-28 | Molecular Imprints, Inc. | Materials and methods for imprint lithography |
US20060108710A1 (en) * | 2004-11-24 | 2006-05-25 | Molecular Imprints, Inc. | Method to reduce adhesion between a conformable region and a mold |
US7157036B2 (en) * | 2003-06-17 | 2007-01-02 | Molecular Imprints, Inc | Method to reduce adhesion between a conformable region and a pattern of a mold |
US7150622B2 (en) * | 2003-07-09 | 2006-12-19 | Molecular Imprints, Inc. | Systems for magnification and distortion correction for imprint lithography processes |
KR100606532B1 (ko) * | 2003-08-02 | 2006-07-31 | 동부일렉트로닉스 주식회사 | 반도체 소자의 제조 방법 |
DE10340608A1 (de) | 2003-08-29 | 2005-03-24 | Infineon Technologies Ag | Polymerformulierung und Verfahren zur Herstellung einer Dielektrikumsschicht |
ATE551383T1 (de) | 2003-09-23 | 2012-04-15 | Univ North Carolina | Photohärtbare perfluorpolyether zur verwendung als neue werkstoffe in mikrofluidischen vorrichtungen |
US7136150B2 (en) * | 2003-09-25 | 2006-11-14 | Molecular Imprints, Inc. | Imprint lithography template having opaque alignment marks |
US7090716B2 (en) * | 2003-10-02 | 2006-08-15 | Molecular Imprints, Inc. | Single phase fluid imprint lithography method |
US8211214B2 (en) * | 2003-10-02 | 2012-07-03 | Molecular Imprints, Inc. | Single phase fluid imprint lithography method |
US7261830B2 (en) * | 2003-10-16 | 2007-08-28 | Molecular Imprints, Inc. | Applying imprinting material to substrates employing electromagnetic fields |
US20050084804A1 (en) * | 2003-10-16 | 2005-04-21 | Molecular Imprints, Inc. | Low surface energy templates |
US7122482B2 (en) * | 2003-10-27 | 2006-10-17 | Molecular Imprints, Inc. | Methods for fabricating patterned features utilizing imprint lithography |
US20050106321A1 (en) * | 2003-11-14 | 2005-05-19 | Molecular Imprints, Inc. | Dispense geometery to achieve high-speed filling and throughput |
US20050098534A1 (en) * | 2003-11-12 | 2005-05-12 | Molecular Imprints, Inc. | Formation of conductive templates employing indium tin oxide |
EP1538482B1 (de) * | 2003-12-05 | 2016-02-17 | Obducat AB | Gerät und Methode für grossflÀ¤chige Lithographie |
CA2847260C (en) | 2003-12-19 | 2016-06-21 | The University Of North Carolina At Chapel Hill | Methods for fabricating isolated micro- and nano- structures using soft or imprint lithography |
US9040090B2 (en) | 2003-12-19 | 2015-05-26 | The University Of North Carolina At Chapel Hill | Isolated and fixed micro and nano structures and methods thereof |
KR101010431B1 (ko) * | 2003-12-27 | 2011-01-21 | 엘지디스플레이 주식회사 | 평판표시소자의 제조방법 및 장치 |
US20050158419A1 (en) * | 2004-01-15 | 2005-07-21 | Watts Michael P. | Thermal processing system for imprint lithography |
US20050156353A1 (en) * | 2004-01-15 | 2005-07-21 | Watts Michael P. | Method to improve the flow rate of imprinting material |
US7462292B2 (en) * | 2004-01-27 | 2008-12-09 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Silicon carbide imprint stamp |
US7060625B2 (en) * | 2004-01-27 | 2006-06-13 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Imprint stamp |
AU2005220150A1 (en) * | 2004-02-13 | 2005-09-15 | The University Of North Carolina At Chapel Hill | Functional materials and novel methods for the fabrication of microfluidic devices |
WO2007021762A2 (en) | 2005-08-09 | 2007-02-22 | The University Of North Carolina At Chapel Hill | Methods and materials for fabricating microfluidic devices |
US7019835B2 (en) * | 2004-02-19 | 2006-03-28 | Molecular Imprints, Inc. | Method and system to measure characteristics of a film disposed on a substrate |
US8076386B2 (en) * | 2004-02-23 | 2011-12-13 | Molecular Imprints, Inc. | Materials for imprint lithography |
US7906180B2 (en) * | 2004-02-27 | 2011-03-15 | Molecular Imprints, Inc. | Composition for an etching mask comprising a silicon-containing material |
US20050189676A1 (en) * | 2004-02-27 | 2005-09-01 | Molecular Imprints, Inc. | Full-wafer or large area imprinting with multiple separated sub-fields for high throughput lithography |
US7730834B2 (en) * | 2004-03-04 | 2010-06-08 | Asml Netherlands B.V. | Printing apparatus and device manufacturing method |
JP4481698B2 (ja) * | 2004-03-29 | 2010-06-16 | キヤノン株式会社 | 加工装置 |
JP4393244B2 (ja) * | 2004-03-29 | 2010-01-06 | キヤノン株式会社 | インプリント装置 |
DE102004028851B4 (de) * | 2004-03-31 | 2006-04-13 | Infineon Technologies Ag | Verfahren und Vorrichtung zum Vermessen eines Oberflächenprofils einer Probe |
US20050230882A1 (en) * | 2004-04-19 | 2005-10-20 | Molecular Imprints, Inc. | Method of forming a deep-featured template employed in imprint lithography |
US8235302B2 (en) * | 2004-04-20 | 2012-08-07 | Nanolnk, Inc. | Identification features |
CN102004393B (zh) * | 2004-04-27 | 2013-05-01 | 伊利诺伊大学评议会 | 用于软光刻法的复合构图设备 |
US20080055581A1 (en) * | 2004-04-27 | 2008-03-06 | Rogers John A | Devices and methods for pattern generation by ink lithography |
US7140861B2 (en) * | 2004-04-27 | 2006-11-28 | Molecular Imprints, Inc. | Compliant hard template for UV imprinting |
EP1594001B1 (de) * | 2004-05-07 | 2015-12-30 | Obducat AB | Gerät und Verfahren für die Imprint-Lithographie |
US20050253307A1 (en) * | 2004-05-11 | 2005-11-17 | Molecualr Imprints, Inc. | Method of patterning a conductive layer on a substrate |
WO2005119802A2 (en) * | 2004-05-28 | 2005-12-15 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Adaptive shape substrate support system and method |
US20050276919A1 (en) * | 2004-06-01 | 2005-12-15 | Molecular Imprints, Inc. | Method for dispensing a fluid on a substrate |
US20050275311A1 (en) * | 2004-06-01 | 2005-12-15 | Molecular Imprints, Inc. | Compliant device for nano-scale manufacturing |
KR101193918B1 (ko) * | 2004-06-03 | 2012-10-29 | 몰레큘러 임프린츠 인코퍼레이티드 | 나노-스케일 제조공정을 위한 유체 배분방법과 필요에 따른액적 배분방법 |
US20050270516A1 (en) * | 2004-06-03 | 2005-12-08 | Molecular Imprints, Inc. | System for magnification and distortion correction during nano-scale manufacturing |
US20050272599A1 (en) * | 2004-06-04 | 2005-12-08 | Kenneth Kramer | Mold release layer |
US7943491B2 (en) * | 2004-06-04 | 2011-05-17 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Pattern transfer printing by kinetic control of adhesion to an elastomeric stamp |
EP2650906A3 (de) | 2004-06-04 | 2015-02-18 | The Board of Trustees of the University of Illinois | Verfahren und Einrichtungen zum Herstellen und Zusammenbauen von druckbaren Halbleiterelementen |
US7799699B2 (en) * | 2004-06-04 | 2010-09-21 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Printable semiconductor structures and related methods of making and assembling |
US7521292B2 (en) | 2004-06-04 | 2009-04-21 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Stretchable form of single crystal silicon for high performance electronics on rubber substrates |
US20050277066A1 (en) * | 2004-06-10 | 2005-12-15 | Le Ngoc V | Selective etch process for step and flash imprint lithography |
US20070228593A1 (en) * | 2006-04-03 | 2007-10-04 | Molecular Imprints, Inc. | Residual Layer Thickness Measurement and Correction |
JP2006013400A (ja) * | 2004-06-29 | 2006-01-12 | Canon Inc | 2つの対象物間の相対的位置ずれ検出方法及び装置 |
US7785526B2 (en) * | 2004-07-20 | 2010-08-31 | Molecular Imprints, Inc. | Imprint alignment method, system, and template |
US20060017876A1 (en) * | 2004-07-23 | 2006-01-26 | Molecular Imprints, Inc. | Displays and method for fabricating displays |
US8088293B2 (en) * | 2004-07-29 | 2012-01-03 | Micron Technology, Inc. | Methods of forming reticles configured for imprint lithography |
US7309225B2 (en) * | 2004-08-13 | 2007-12-18 | Molecular Imprints, Inc. | Moat system for an imprint lithography template |
US7105452B2 (en) * | 2004-08-13 | 2006-09-12 | Molecular Imprints, Inc. | Method of planarizing a semiconductor substrate with an etching chemistry |
US7282550B2 (en) * | 2004-08-16 | 2007-10-16 | Molecular Imprints, Inc. | Composition to provide a layer with uniform etch characteristics |
US7939131B2 (en) * | 2004-08-16 | 2011-05-10 | Molecular Imprints, Inc. | Method to provide a layer with uniform etch characteristics |
US7641468B2 (en) * | 2004-09-01 | 2010-01-05 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Imprint lithography apparatus and method employing an effective pressure |
US20070164476A1 (en) * | 2004-09-01 | 2007-07-19 | Wei Wu | Contact lithography apparatus and method employing substrate deformation |
US7241395B2 (en) * | 2004-09-21 | 2007-07-10 | Molecular Imprints, Inc. | Reverse tone patterning on surfaces having planarity perturbations |
US7041604B2 (en) * | 2004-09-21 | 2006-05-09 | Molecular Imprints, Inc. | Method of patterning surfaces while providing greater control of recess anisotropy |
US7205244B2 (en) * | 2004-09-21 | 2007-04-17 | Molecular Imprints | Patterning substrates employing multi-film layers defining etch-differential interfaces |
US7252777B2 (en) * | 2004-09-21 | 2007-08-07 | Molecular Imprints, Inc. | Method of forming an in-situ recessed structure |
JP2008513229A (ja) * | 2004-09-21 | 2008-05-01 | モレキュラー・インプリンツ・インコーポレーテッド | インサイチュ嵌込み構造物形成方法 |
US7547504B2 (en) * | 2004-09-21 | 2009-06-16 | Molecular Imprints, Inc. | Pattern reversal employing thick residual layers |
US20060062922A1 (en) * | 2004-09-23 | 2006-03-23 | Molecular Imprints, Inc. | Polymerization technique to attenuate oxygen inhibition of solidification of liquids and composition therefor |
US7244386B2 (en) * | 2004-09-27 | 2007-07-17 | Molecular Imprints, Inc. | Method of compensating for a volumetric shrinkage of a material disposed upon a substrate to form a substantially planar structure therefrom |
EP1807734B1 (de) * | 2004-10-08 | 2011-11-09 | Dow Corning Corporation | Phasenänderungszusammensetzungen verwendende lithografieprozesse |
US20060081557A1 (en) * | 2004-10-18 | 2006-04-20 | Molecular Imprints, Inc. | Low-k dielectric functional imprinting materials |
US7163888B2 (en) * | 2004-11-22 | 2007-01-16 | Motorola, Inc. | Direct imprinting of etch barriers using step and flash imprint lithography |
WO2006059580A1 (ja) | 2004-11-30 | 2006-06-08 | Asahi Glass Company, Limited | モールド、および転写微細パターンを有する基材の製造方法 |
US7630067B2 (en) | 2004-11-30 | 2009-12-08 | Molecular Imprints, Inc. | Interferometric analysis method for the manufacture of nano-scale devices |
US20070231421A1 (en) * | 2006-04-03 | 2007-10-04 | Molecular Imprints, Inc. | Enhanced Multi Channel Alignment |
US7292326B2 (en) * | 2004-11-30 | 2007-11-06 | Molecular Imprints, Inc. | Interferometric analysis for the manufacture of nano-scale devices |
KR20070086766A (ko) * | 2004-12-01 | 2007-08-27 | 몰레큘러 임프린츠 인코퍼레이티드 | 임프린트 리소그래피 공정용 열관리를 위한 노출 방법 |
WO2006060757A2 (en) * | 2004-12-01 | 2006-06-08 | Molecular Imprints, Inc. | Eliminating printability of sub-resolution defects in imprint lithography |
US7811505B2 (en) | 2004-12-07 | 2010-10-12 | Molecular Imprints, Inc. | Method for fast filling of templates for imprint lithography using on template dispense |
CN100468814C (zh) * | 2004-12-15 | 2009-03-11 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 有机发光显示器 |
US7125495B2 (en) * | 2004-12-20 | 2006-10-24 | Palo Alto Research Center, Inc. | Large area electronic device with high and low resolution patterned film features |
US7676088B2 (en) * | 2004-12-23 | 2010-03-09 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography |
US7490547B2 (en) * | 2004-12-30 | 2009-02-17 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography |
US7686970B2 (en) | 2004-12-30 | 2010-03-30 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography |
US20060144274A1 (en) * | 2004-12-30 | 2006-07-06 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography |
US20060145398A1 (en) * | 2004-12-30 | 2006-07-06 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Release layer comprising diamond-like carbon (DLC) or doped DLC with tunable composition for imprint lithography templates and contact masks |
US20060144814A1 (en) * | 2004-12-30 | 2006-07-06 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography |
US7354698B2 (en) * | 2005-01-07 | 2008-04-08 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography |
US20070299176A1 (en) * | 2005-01-28 | 2007-12-27 | Markley Thomas J | Photodefinable low dielectric constant material and method for making and using same |
US20060177535A1 (en) * | 2005-02-04 | 2006-08-10 | Molecular Imprints, Inc. | Imprint lithography template to facilitate control of liquid movement |
US7636999B2 (en) * | 2005-01-31 | 2009-12-29 | Molecular Imprints, Inc. | Method of retaining a substrate to a wafer chuck |
US7635263B2 (en) * | 2005-01-31 | 2009-12-22 | Molecular Imprints, Inc. | Chucking system comprising an array of fluid chambers |
EP1853967A4 (de) * | 2005-02-03 | 2009-11-11 | Univ North Carolina | Polymermaterial mit niedriger oberflächenenergie zur verwendung in flüssigkristallanzeigen |
US7922474B2 (en) * | 2005-02-17 | 2011-04-12 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography |
US8097400B2 (en) * | 2005-02-22 | 2012-01-17 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Method for forming an electronic device |
JP2006245072A (ja) * | 2005-02-28 | 2006-09-14 | Canon Inc | パターン転写用モールドおよび転写装置 |
US7277619B2 (en) * | 2005-03-04 | 2007-10-02 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Nano-imprinted photonic crystal waveguide |
US7523701B2 (en) * | 2005-03-07 | 2009-04-28 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography method and apparatus |
EP1700680A1 (de) * | 2005-03-09 | 2006-09-13 | EPFL Ecole Polytechnique Fédérale de Lausanne | Die Entformung erleichternde Formwerkzeuge aus Fluorpolymer zur Reproduktion von Nano- und Mikromustern |
US7611348B2 (en) * | 2005-04-19 | 2009-11-03 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography |
US7762186B2 (en) * | 2005-04-19 | 2010-07-27 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography |
JP5286784B2 (ja) * | 2005-04-21 | 2013-09-11 | 旭硝子株式会社 | 光硬化性組成物、微細パターン形成体およびその製造方法 |
KR101352360B1 (ko) | 2005-04-27 | 2014-01-15 | 오브듀캇 아베 | 물체에 패턴을 전사하기 위한 수단 |
JP4742665B2 (ja) * | 2005-04-28 | 2011-08-10 | 旭硝子株式会社 | エッチング処理された処理基板の製造方法 |
JP4736522B2 (ja) * | 2005-04-28 | 2011-07-27 | 旭硝子株式会社 | エッチング処理された処理基板の製造方法 |
US7767129B2 (en) * | 2005-05-11 | 2010-08-03 | Micron Technology, Inc. | Imprint templates for imprint lithography, and methods of patterning a plurality of substrates |
US20070228608A1 (en) * | 2006-04-03 | 2007-10-04 | Molecular Imprints, Inc. | Preserving Filled Features when Vacuum Wiping |
US7442029B2 (en) * | 2005-05-16 | 2008-10-28 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography |
US20060266916A1 (en) * | 2005-05-25 | 2006-11-30 | Molecular Imprints, Inc. | Imprint lithography template having a coating to reflect and/or absorb actinic energy |
US20060267231A1 (en) * | 2005-05-27 | 2006-11-30 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography |
US7708924B2 (en) * | 2005-07-21 | 2010-05-04 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography |
US7692771B2 (en) * | 2005-05-27 | 2010-04-06 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography |
US7418902B2 (en) * | 2005-05-31 | 2008-09-02 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography including alignment |
JP3958344B2 (ja) * | 2005-06-07 | 2007-08-15 | キヤノン株式会社 | インプリント装置、インプリント方法及びチップの製造方法 |
KR101117987B1 (ko) * | 2005-06-07 | 2012-03-06 | 엘지디스플레이 주식회사 | 평판표시소자의 제조장치 및 방법 |
US7927089B2 (en) * | 2005-06-08 | 2011-04-19 | Canon Kabushiki Kaisha | Mold, apparatus including mold, pattern transfer apparatus, and pattern forming method |
EP1731962B1 (de) * | 2005-06-10 | 2008-12-31 | Obducat AB | Kopieren eines Musters mit Hilfe eines Zwischenstempels |
US7854873B2 (en) * | 2005-06-10 | 2010-12-21 | Obducat Ab | Imprint stamp comprising cyclic olefin copolymer |
US7377764B2 (en) * | 2005-06-13 | 2008-05-27 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography |
DE102005045331A1 (de) * | 2005-06-16 | 2006-12-28 | Süss MicroTec AG | Entfernen von dünnen strukturierten Polymerschichten durch atmosphärisches Plasma |
US20060284156A1 (en) * | 2005-06-16 | 2006-12-21 | Thomas Happ | Phase change memory cell defined by imprint lithography |
US7256131B2 (en) * | 2005-07-19 | 2007-08-14 | Molecular Imprints, Inc. | Method of controlling the critical dimension of structures formed on a substrate |
US8808808B2 (en) | 2005-07-22 | 2014-08-19 | Molecular Imprints, Inc. | Method for imprint lithography utilizing an adhesion primer layer |
US7759407B2 (en) * | 2005-07-22 | 2010-07-20 | Molecular Imprints, Inc. | Composition for adhering materials together |
US8846195B2 (en) * | 2005-07-22 | 2014-09-30 | Canon Nanotechnologies, Inc. | Ultra-thin polymeric adhesion layer |
US8557351B2 (en) * | 2005-07-22 | 2013-10-15 | Molecular Imprints, Inc. | Method for adhering materials together |
US20070023976A1 (en) * | 2005-07-26 | 2007-02-01 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography |
WO2007133235A2 (en) * | 2005-08-08 | 2007-11-22 | Liquidia Technologies, Inc. | Micro and nano-structure metrology |
US7766640B2 (en) * | 2005-08-12 | 2010-08-03 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Contact lithography apparatus, system and method |
US20070064384A1 (en) * | 2005-08-25 | 2007-03-22 | Molecular Imprints, Inc. | Method to transfer a template transfer body between a motion stage and a docking plate |
US20070074635A1 (en) * | 2005-08-25 | 2007-04-05 | Molecular Imprints, Inc. | System to couple a body and a docking plate |
US7665981B2 (en) * | 2005-08-25 | 2010-02-23 | Molecular Imprints, Inc. | System to transfer a template transfer body between a motion stage and a docking plate |
KR100758699B1 (ko) * | 2005-08-29 | 2007-09-14 | 재단법인서울대학교산학협력재단 | 고종횡비 나노구조물 형성방법 및 이를 이용한 미세패턴형성방법 |
US7488771B2 (en) * | 2005-09-02 | 2009-02-10 | International Business Machines Corporation | Stabilization of vinyl ether materials |
US7419611B2 (en) * | 2005-09-02 | 2008-09-02 | International Business Machines Corporation | Processes and materials for step and flash imprint lithography |
JP4330168B2 (ja) | 2005-09-06 | 2009-09-16 | キヤノン株式会社 | モールド、インプリント方法、及びチップの製造方法 |
US7670534B2 (en) | 2005-09-21 | 2010-03-02 | Molecular Imprints, Inc. | Method to control an atmosphere between a body and a substrate |
US7259102B2 (en) * | 2005-09-30 | 2007-08-21 | Molecular Imprints, Inc. | Etching technique to planarize a multi-layer structure |
WO2008060266A2 (en) * | 2005-10-03 | 2008-05-22 | Massachusetts Institute Of Technology | Nanotemplate arbitrary-imprint lithography |
US8142703B2 (en) * | 2005-10-05 | 2012-03-27 | Molecular Imprints, Inc. | Imprint lithography method |
JP4533358B2 (ja) * | 2005-10-18 | 2010-09-01 | キヤノン株式会社 | インプリント方法、インプリント装置およびチップの製造方法 |
US8011915B2 (en) | 2005-11-04 | 2011-09-06 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography |
US7677877B2 (en) * | 2005-11-04 | 2010-03-16 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography |
US7878791B2 (en) * | 2005-11-04 | 2011-02-01 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography |
US7906058B2 (en) * | 2005-12-01 | 2011-03-15 | Molecular Imprints, Inc. | Bifurcated contact printing technique |
US7803308B2 (en) * | 2005-12-01 | 2010-09-28 | Molecular Imprints, Inc. | Technique for separating a mold from solidified imprinting material |
US7422981B2 (en) * | 2005-12-07 | 2008-09-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Method for manufacturing semiconductor device by using dual damascene process and method for manufacturing article having communicating hole |
MY144847A (en) * | 2005-12-08 | 2011-11-30 | Molecular Imprints Inc | Method and system for double-sided patterning of substrates |
US7670530B2 (en) * | 2006-01-20 | 2010-03-02 | Molecular Imprints, Inc. | Patterning substrates employing multiple chucks |
JP4827513B2 (ja) * | 2005-12-09 | 2011-11-30 | キヤノン株式会社 | 加工方法 |
ATE549294T1 (de) | 2005-12-09 | 2012-03-15 | Obducat Ab | Vorrichtung und verfahren zum transfer von mustern mit zwischenstempel |
US20070138699A1 (en) * | 2005-12-21 | 2007-06-21 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography |
US7517211B2 (en) * | 2005-12-21 | 2009-04-14 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography |
TWI432904B (zh) * | 2006-01-25 | 2014-04-01 | Dow Corning | 用於微影技術之環氧樹脂調配物 |
EP1991723A2 (de) | 2006-03-03 | 2008-11-19 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Verfahren zur herstellung räumlich ausgerichteter nanoröhrchen und nanoröhrchenanordnungen |
US8001924B2 (en) | 2006-03-31 | 2011-08-23 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography |
US8142850B2 (en) | 2006-04-03 | 2012-03-27 | Molecular Imprints, Inc. | Patterning a plurality of fields on a substrate to compensate for differing evaporation times |
US7802978B2 (en) | 2006-04-03 | 2010-09-28 | Molecular Imprints, Inc. | Imprinting of partial fields at the edge of the wafer |
JP5306989B2 (ja) * | 2006-04-03 | 2013-10-02 | モレキュラー・インプリンツ・インコーポレーテッド | 複数のフィールド及びアライメント・マークを有する基板を同時にパターニングする方法 |
US8850980B2 (en) | 2006-04-03 | 2014-10-07 | Canon Nanotechnologies, Inc. | Tessellated patterns in imprint lithography |
US8012395B2 (en) * | 2006-04-18 | 2011-09-06 | Molecular Imprints, Inc. | Template having alignment marks formed of contrast material |
US7547398B2 (en) * | 2006-04-18 | 2009-06-16 | Molecular Imprints, Inc. | Self-aligned process for fabricating imprint templates containing variously etched features |
WO2007124007A2 (en) * | 2006-04-21 | 2007-11-01 | Molecular Imprints, Inc. | Method for detecting a particle in a nanoimprint lithography system |
KR20070105040A (ko) * | 2006-04-25 | 2007-10-30 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 레지스트 조성물, 이를 이용한 레지스트 패턴 형성방법 및이를 이용하여 제조된 어레이 기판 |
US20080113283A1 (en) * | 2006-04-28 | 2008-05-15 | Polyset Company, Inc. | Siloxane epoxy polymers for redistribution layer applications |
US8215946B2 (en) | 2006-05-18 | 2012-07-10 | Molecular Imprints, Inc. | Imprint lithography system and method |
JP2007329276A (ja) * | 2006-06-07 | 2007-12-20 | Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd | ナノインプリントリソグラフィによるレジストパターンの形成方法 |
US20070298176A1 (en) | 2006-06-26 | 2007-12-27 | Dipietro Richard Anthony | Aromatic vinyl ether based reverse-tone step and flash imprint lithography |
US8318253B2 (en) * | 2006-06-30 | 2012-11-27 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography |
US8015939B2 (en) | 2006-06-30 | 2011-09-13 | Asml Netherlands B.V. | Imprintable medium dispenser |
WO2008011051A1 (en) * | 2006-07-17 | 2008-01-24 | Liquidia Technologies, Inc. | Nanoparticle fabrication methods, systems, and materials |
CN100400555C (zh) * | 2006-08-25 | 2008-07-09 | 南京大学 | 紫外光固化复合物材料及应用 |
US7946837B2 (en) * | 2006-10-06 | 2011-05-24 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography |
US7830498B2 (en) * | 2006-10-10 | 2010-11-09 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Hydraulic-facilitated contact lithography apparatus, system and method |
US7618752B2 (en) * | 2006-10-12 | 2009-11-17 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Deformation-based contact lithography systems, apparatus and methods |
US7768628B2 (en) * | 2006-10-12 | 2010-08-03 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Contact lithography apparatus and method |
US20080102380A1 (en) * | 2006-10-30 | 2008-05-01 | Mangat Pawitter S | High density lithographic process |
US20080110557A1 (en) * | 2006-11-15 | 2008-05-15 | Molecular Imprints, Inc. | Methods and Compositions for Providing Preferential Adhesion and Release of Adjacent Surfaces |
KR101308441B1 (ko) * | 2006-11-29 | 2013-09-16 | 엘지디스플레이 주식회사 | 박막 패턴의 제조장치 및 이를 이용한 박막 패턴의제조방법 |
KR101370969B1 (ko) * | 2006-11-30 | 2014-03-10 | 엘지디스플레이 주식회사 | 광경화성의 유기 물질 |
US20080131705A1 (en) * | 2006-12-01 | 2008-06-05 | International Business Machines Corporation | Method and system for nanostructure placement using imprint lithography |
CN101755237B (zh) * | 2006-12-05 | 2014-04-09 | 纳诺泰拉公司 | 使表面形成图案的方法 |
KR101610885B1 (ko) | 2007-01-17 | 2016-04-08 | 더 보오드 오브 트러스티스 오브 더 유니버시티 오브 일리노이즈 | 프린팅기반 어셈블리에 의해 제조되는 광학 시스템 |
US20100151031A1 (en) * | 2007-03-23 | 2010-06-17 | Desimone Joseph M | Discrete size and shape specific organic nanoparticles designed to elicit an immune response |
EP2610008A1 (de) * | 2007-03-28 | 2013-07-03 | BioNano Genomics, Inc. | Verfahren zur makromolekularen Analyse mittels Nanokanalanordnungen |
US20080264672A1 (en) * | 2007-04-26 | 2008-10-30 | Air Products And Chemicals, Inc. | Photoimprintable Low Dielectric Constant Material and Method for Making and Using Same |
US7641467B2 (en) * | 2007-05-02 | 2010-01-05 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography |
JP2009001002A (ja) | 2007-05-24 | 2009-01-08 | Univ Waseda | モールド、その製造方法および転写微細パターンを有する基材の製造方法 |
US8142702B2 (en) * | 2007-06-18 | 2012-03-27 | Molecular Imprints, Inc. | Solvent-assisted layer formation for imprint lithography |
US20090014917A1 (en) * | 2007-07-10 | 2009-01-15 | Molecular Imprints, Inc. | Drop Pattern Generation for Imprint Lithography |
JP2009034926A (ja) * | 2007-08-02 | 2009-02-19 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 樹脂パターン形成方法 |
JP5473266B2 (ja) * | 2007-08-03 | 2014-04-16 | キヤノン株式会社 | インプリント方法および基板の加工方法、基板の加工方法による半導体デバイスの製造方法 |
US20090038636A1 (en) * | 2007-08-09 | 2009-02-12 | Asml Netherlands B.V. | Cleaning method |
US7854877B2 (en) | 2007-08-14 | 2010-12-21 | Asml Netherlands B.V. | Lithography meandering order |
US8144309B2 (en) | 2007-09-05 | 2012-03-27 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography |
NL1036034A1 (nl) * | 2007-10-11 | 2009-04-15 | Asml Netherlands Bv | Imprint lithography. |
US8119052B2 (en) * | 2007-11-02 | 2012-02-21 | Molecular Imprints, Inc. | Drop pattern generation for imprint lithography |
US7906274B2 (en) * | 2007-11-21 | 2011-03-15 | Molecular Imprints, Inc. | Method of creating a template employing a lift-off process |
SG185929A1 (en) * | 2007-11-21 | 2012-12-28 | Molecular Imprints Inc | Porous template and imprinting stack for nano-imprint lithography |
US7986493B2 (en) * | 2007-11-28 | 2011-07-26 | Seagate Technology Llc | Discrete track magnetic media with domain wall pinning sites |
US8945444B2 (en) * | 2007-12-04 | 2015-02-03 | Canon Nanotechnologies, Inc. | High throughput imprint based on contact line motion tracking control |
CN101889101B (zh) * | 2007-12-06 | 2014-09-24 | 因特瓦克公司 | 用于基板的双面溅射蚀刻的系统和方法 |
JP4909913B2 (ja) * | 2008-01-10 | 2012-04-04 | 株式会社東芝 | インプリントマスクの製造方法および半導体装置の製造方法 |
JP5433152B2 (ja) * | 2008-01-18 | 2014-03-05 | 東京応化工業株式会社 | 室温インプリント用膜形成組成物、並びに構造体の製造方法及び構造体 |
US9323143B2 (en) * | 2008-02-05 | 2016-04-26 | Canon Nanotechnologies, Inc. | Controlling template surface composition in nano-imprint lithography |
US8361371B2 (en) * | 2008-02-08 | 2013-01-29 | Molecular Imprints, Inc. | Extrusion reduction in imprint lithography |
US20090212012A1 (en) | 2008-02-27 | 2009-08-27 | Molecular Imprints, Inc. | Critical dimension control during template formation |
JP5743553B2 (ja) | 2008-03-05 | 2015-07-01 | ザ ボード オブ トラスティーズ オブ ザ ユニヴァーシティー オブ イリノイ | 伸張可能及び折畳み可能な電子デバイス |
US8187515B2 (en) * | 2008-04-01 | 2012-05-29 | Molecular Imprints, Inc. | Large area roll-to-roll imprint lithography |
US8470701B2 (en) * | 2008-04-03 | 2013-06-25 | Advanced Diamond Technologies, Inc. | Printable, flexible and stretchable diamond for thermal management |
WO2009128946A1 (en) * | 2008-04-18 | 2009-10-22 | Massachusetts Institute Of Technology | Wedge imprint patterning of irregular surface |
US8946683B2 (en) * | 2008-06-16 | 2015-02-03 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Medium scale carbon nanotube thin film integrated circuits on flexible plastic substrates |
US8043085B2 (en) | 2008-08-19 | 2011-10-25 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography |
NL2003347A (en) * | 2008-09-11 | 2010-03-16 | Asml Netherlands Bv | Imprint lithography. |
US20100072671A1 (en) * | 2008-09-25 | 2010-03-25 | Molecular Imprints, Inc. | Nano-imprint lithography template fabrication and treatment |
US8470188B2 (en) * | 2008-10-02 | 2013-06-25 | Molecular Imprints, Inc. | Nano-imprint lithography templates |
US8097926B2 (en) * | 2008-10-07 | 2012-01-17 | Mc10, Inc. | Systems, methods, and devices having stretchable integrated circuitry for sensing and delivering therapy |
US8389862B2 (en) | 2008-10-07 | 2013-03-05 | Mc10, Inc. | Extremely stretchable electronics |
US8886334B2 (en) * | 2008-10-07 | 2014-11-11 | Mc10, Inc. | Systems, methods, and devices using stretchable or flexible electronics for medical applications |
US8372726B2 (en) * | 2008-10-07 | 2013-02-12 | Mc10, Inc. | Methods and applications of non-planar imaging arrays |
EP2349440B1 (de) * | 2008-10-07 | 2019-08-21 | Mc10, Inc. | Katheterballon mit dehnbarer integrierter schaltung und sensoranordnung |
NL2003380A (en) * | 2008-10-17 | 2010-04-20 | Asml Netherlands Bv | Imprint lithography apparatus and method. |
US8415010B2 (en) * | 2008-10-20 | 2013-04-09 | Molecular Imprints, Inc. | Nano-imprint lithography stack with enhanced adhesion between silicon-containing and non-silicon containing layers |
US8512797B2 (en) * | 2008-10-21 | 2013-08-20 | Molecular Imprints, Inc. | Drop pattern generation with edge weighting |
US8586126B2 (en) | 2008-10-21 | 2013-11-19 | Molecular Imprints, Inc. | Robust optimization to generate drop patterns in imprint lithography which are tolerant of variations in drop volume and drop placement |
US20100104852A1 (en) * | 2008-10-23 | 2010-04-29 | Molecular Imprints, Inc. | Fabrication of High-Throughput Nano-Imprint Lithography Templates |
US8877073B2 (en) * | 2008-10-27 | 2014-11-04 | Canon Nanotechnologies, Inc. | Imprint lithography template |
US8361546B2 (en) * | 2008-10-30 | 2013-01-29 | Molecular Imprints, Inc. | Facilitating adhesion between substrate and patterned layer |
US20100112220A1 (en) * | 2008-11-03 | 2010-05-06 | Molecular Imprints, Inc. | Dispense system set-up and characterization |
CN101477304B (zh) | 2008-11-04 | 2011-08-17 | 南京大学 | 在复杂形状表面复制高分辨率纳米结构的压印方法 |
US20100109195A1 (en) | 2008-11-05 | 2010-05-06 | Molecular Imprints, Inc. | Release agent partition control in imprint lithography |
WO2010063504A2 (en) * | 2008-12-04 | 2010-06-10 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography apparatus and method |
JP5692992B2 (ja) * | 2008-12-19 | 2015-04-01 | キヤノン株式会社 | 構造体の製造方法及びインクジェットヘッドの製造方法 |
EP2199855B1 (de) * | 2008-12-19 | 2016-07-20 | Obducat | Verfahren und Prozesse zur Modifizierung von Polymermaterialoberflächeninteraktionen |
EP2199854B1 (de) * | 2008-12-19 | 2015-12-16 | Obducat AB | Hybridpolymerform für nanoimprintverfahren und verfahren zu seiner herstellung |
NL2003871A (en) * | 2009-02-04 | 2010-08-05 | Asml Netherlands Bv | Imprint lithography. |
NL2003875A (en) | 2009-02-04 | 2010-08-05 | Asml Netherlands Bv | Imprint lithography method and apparatus. |
JP5301648B2 (ja) | 2009-02-27 | 2013-09-25 | 三井化学株式会社 | 転写体およびその製造方法 |
NL2004265A (en) | 2009-04-01 | 2010-10-04 | Asml Netherlands Bv | Imprint lithography apparatus and method. |
NL2004266A (en) | 2009-04-27 | 2010-10-28 | Asml Netherlands Bv | An actuator. |
TWI592996B (zh) | 2009-05-12 | 2017-07-21 | 美國伊利諾大學理事會 | 用於可變形及半透明顯示器之超薄微刻度無機發光二極體之印刷總成 |
NL2004409A (en) * | 2009-05-19 | 2010-11-22 | Asml Netherlands Bv | Imprint lithography apparatus. |
JP5574802B2 (ja) * | 2009-06-03 | 2014-08-20 | キヤノン株式会社 | 構造体の製造方法 |
JP5060517B2 (ja) * | 2009-06-24 | 2012-10-31 | 東京エレクトロン株式会社 | インプリントシステム |
NL2004680A (en) * | 2009-07-06 | 2011-01-10 | Asml Netherlands Bv | Imprint lithography apparatus. |
NL2004681A (en) * | 2009-07-06 | 2011-01-10 | Asml Netherlands Bv | Imprint lithography apparatus. |
NL2004735A (en) * | 2009-07-06 | 2011-01-10 | Asml Netherlands Bv | Imprint lithography apparatus and method. |
NL2004932A (en) * | 2009-07-27 | 2011-01-31 | Asml Netherlands Bv | Imprint lithography template. |
NL2004685A (en) * | 2009-07-27 | 2011-01-31 | Asml Netherlands Bv | Imprint lithography apparatus and method. |
NL2004945A (en) * | 2009-08-14 | 2011-02-15 | Asml Netherlands Bv | Imprint lithography apparatus and method. |
NL2004949A (en) * | 2009-08-21 | 2011-02-22 | Asml Netherlands Bv | Inspection method and apparatus. |
KR101470710B1 (ko) | 2009-08-26 | 2014-12-08 | 미쓰이 가가쿠 가부시키가이샤 | 불소 함유 환상 올레핀 폴리머 조성물, 이 조성물로부터 수득된 전사체 및 그의 제조방법 |
US8499810B2 (en) * | 2009-08-27 | 2013-08-06 | Transfer Devices Inc. | Molecular transfer lithography apparatus and method for transferring patterned materials to a substrate |
JP5515516B2 (ja) * | 2009-08-27 | 2014-06-11 | 大日本印刷株式会社 | ナノインプリント方法、パターン形成体、及びナノインプリント装置 |
NL2005007A (en) * | 2009-08-28 | 2011-03-01 | Asml Netherlands Bv | Imprint lithography method and apparatus. |
JP5443103B2 (ja) * | 2009-09-10 | 2014-03-19 | 株式会社東芝 | パターン形成方法 |
NL2005254A (en) * | 2009-09-22 | 2011-03-23 | Asml Netherlands Bv | Imprint lithography method and apparatus. |
NL2005259A (en) * | 2009-09-29 | 2011-03-30 | Asml Netherlands Bv | Imprint lithography. |
NL2005263A (en) * | 2009-09-29 | 2011-03-30 | Asml Netherlands Bv | Imprint lithography. |
US20110218756A1 (en) * | 2009-10-01 | 2011-09-08 | Mc10, Inc. | Methods and apparatus for conformal sensing of force and/or acceleration at a person's head |
WO2011041727A1 (en) | 2009-10-01 | 2011-04-07 | Mc10, Inc. | Protective cases with integrated electronics |
NL2005265A (en) * | 2009-10-07 | 2011-04-11 | Asml Netherlands Bv | Imprint lithography apparatus and method. |
US20110084417A1 (en) * | 2009-10-08 | 2011-04-14 | Molecular Imprints, Inc. | Large area linear array nanoimprinting |
NL2005266A (en) * | 2009-10-28 | 2011-05-02 | Asml Netherlands Bv | Imprint lithography. |
NL2005430A (en) | 2009-11-24 | 2011-05-25 | Asml Netherlands Bv | Alignment and imprint lithography. |
WO2011066450A2 (en) * | 2009-11-24 | 2011-06-03 | Molecular Imprints, Inc. | Adhesion layers in nanoimprint lithography |
WO2011064021A1 (en) | 2009-11-30 | 2011-06-03 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography apparatus and method |
NL2005436A (en) * | 2009-11-30 | 2011-05-31 | Asml Netherlands Bv | Inspection method and apparatus. |
TWI458126B (zh) * | 2009-12-10 | 2014-10-21 | Nat Inst Chung Shan Science & Technology | 以奈米壓印形成發光元件之薄膜結構的製造方法 |
US10441185B2 (en) | 2009-12-16 | 2019-10-15 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Flexible and stretchable electronic systems for epidermal electronics |
WO2011084450A1 (en) | 2009-12-16 | 2011-07-14 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Electrophysiology in-vivo using conformal electronics |
US9936574B2 (en) | 2009-12-16 | 2018-04-03 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Waterproof stretchable optoelectronics |
NL2005434A (en) | 2009-12-18 | 2011-06-21 | Asml Netherlands Bv | Imprint lithography. |
NL2005735A (en) * | 2009-12-23 | 2011-06-27 | Asml Netherlands Bv | Imprint lithographic apparatus and imprint lithographic method. |
JP5033867B2 (ja) * | 2009-12-28 | 2012-09-26 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ | 微細構造体、微細構造体の製造方法、及び微細構造体製造用の重合性樹脂組成物 |
JP5532939B2 (ja) * | 2010-01-14 | 2014-06-25 | 大日本印刷株式会社 | 光インプリント用のモールドおよびこれを用いた光インプリント方法 |
US8616873B2 (en) * | 2010-01-26 | 2013-12-31 | Molecular Imprints, Inc. | Micro-conformal templates for nanoimprint lithography |
TW201144091A (en) * | 2010-01-29 | 2011-12-16 | Molecular Imprints Inc | Ultra-compliant nanoimprint lithography templates |
JP2011165950A (ja) * | 2010-02-10 | 2011-08-25 | Toshiba Corp | パターン検証方法、パターン生成方法、デバイス製造方法、パターン検証プログラム及びパターン検証装置 |
NL2005865A (en) * | 2010-02-16 | 2011-08-17 | Asml Netherlands Bv | Imprint lithography. |
NL2005975A (en) | 2010-03-03 | 2011-09-06 | Asml Netherlands Bv | Imprint lithography. |
KR101724273B1 (ko) | 2010-03-17 | 2017-04-07 | 더 보드 오브 트러스티즈 오브 더 유니버시티 오브 일리노이 | 생체흡수성 기판 상 이식가능한 바이오의료 장치 |
NL2005992A (en) * | 2010-03-22 | 2011-09-23 | Asml Netherlands Bv | Imprint lithography. |
NL2006004A (en) * | 2010-03-25 | 2011-09-27 | Asml Netherlands Bv | Imprint lithography. |
JP5408014B2 (ja) * | 2010-04-14 | 2014-02-05 | 大日本印刷株式会社 | 接触角の測定方法およびこれを用いたナノインプリント方法 |
NL2006454A (en) | 2010-05-03 | 2011-11-07 | Asml Netherlands Bv | Imprint lithography method and apparatus. |
KR101675843B1 (ko) | 2010-05-04 | 2016-11-30 | 엘지디스플레이 주식회사 | 평판 표시 소자 및 그 제조 방법 |
NL2006747A (en) | 2010-07-26 | 2012-01-30 | Asml Netherlands Bv | Imprint lithography alignment method and apparatus. |
JP2013538447A (ja) | 2010-08-05 | 2013-10-10 | エーエスエムエル ネザーランズ ビー.ブイ. | インプリントリソグラフィ |
US9310700B2 (en) | 2010-08-13 | 2016-04-12 | Asml Netherlands B.V. | Lithography method and apparatus |
NL2007128A (en) | 2010-08-16 | 2012-02-20 | Asml Netherlands Bv | Imprint lithography inspection method and apparatus. |
US9372399B2 (en) | 2010-08-26 | 2016-06-21 | Asml Netherlands B.V. | Imprint lithography method and imprintable medium |
JP5760412B2 (ja) * | 2010-12-08 | 2015-08-12 | 大日本印刷株式会社 | インプリント方法およびインプリント装置 |
US8450131B2 (en) | 2011-01-11 | 2013-05-28 | Nanohmics, Inc. | Imprinted semiconductor multiplex detection array |
US9442285B2 (en) | 2011-01-14 | 2016-09-13 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Optical component array having adjustable curvature |
WO2012158709A1 (en) | 2011-05-16 | 2012-11-22 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Thermally managed led arrays assembled by printing |
JP2014523633A (ja) | 2011-05-27 | 2014-09-11 | エムシー10 インコーポレイテッド | 電子的、光学的、且つ/又は機械的装置及びシステム並びにこれらの装置及びシステムを製造する方法 |
US8934965B2 (en) | 2011-06-03 | 2015-01-13 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Conformable actively multiplexed high-density surface electrode array for brain interfacing |
CN102508408B (zh) * | 2011-10-27 | 2014-09-10 | 无锡英普林纳米科技有限公司 | 一种双固化型纳米压印传递层材料 |
EP2786644B1 (de) | 2011-12-01 | 2019-04-10 | The Board of Trustees of the University of Illionis | Transiente vorrichtungen für programmierbare transformationen |
JP2015521303A (ja) | 2012-03-30 | 2015-07-27 | ザ ボード オブ トラスティーズ オブ ザ ユニヴァーシ | 表面への形状適合可能な付属物装着可能電子デバイス |
TW201411692A (zh) * | 2012-04-23 | 2014-03-16 | Nanocrystal Asia Inc | 以壓印方式製造選擇性成長遮罩之方法 |
US9171794B2 (en) | 2012-10-09 | 2015-10-27 | Mc10, Inc. | Embedding thin chips in polymer |
CN104884487B (zh) | 2012-12-28 | 2018-01-05 | 东洋合成工业株式会社 | 树脂组合物、树脂模具、光压印方法、以及集成电路与光学元件的制造方法 |
WO2014136731A1 (ja) | 2013-03-04 | 2014-09-12 | 東洋合成工業株式会社 | 組成物、樹脂モールド、光インプリント方法、光学素子の製造方法、及び電子素子の製造方法 |
JP5744260B2 (ja) * | 2014-02-21 | 2015-07-08 | 東洋合成工業株式会社 | 光硬化性組成物、モールド、樹脂、光学素子の製造方法及び半導体集積回路の製造方法 |
WO2016054092A1 (en) | 2014-09-29 | 2016-04-07 | Magic Leap, Inc. | Architectures and methods for outputting different wavelength light out of waveguides |
US10653006B2 (en) | 2014-12-30 | 2020-05-12 | 3M Innovative Properties Company | Electrical conductors |
KR102634148B1 (ko) | 2015-03-16 | 2024-02-05 | 매직 립, 인코포레이티드 | 건강 질환 진단과 치료를 위한 방법 및 시스템 |
JP6011671B2 (ja) * | 2015-04-02 | 2016-10-19 | 大日本印刷株式会社 | インプリント用基板およびインプリント方法 |
KR101907337B1 (ko) | 2015-04-29 | 2018-10-11 | 쓰리엠 이노베이티브 프로퍼티즈 캄파니 | 팽윤성 필름 형성 조성물 및 그것을 사용한 나노임프린트 리소그래피의 방법 |
CN107851208B (zh) | 2015-06-01 | 2021-09-10 | 伊利诺伊大学评议会 | 具有无线供电和近场通信能力的小型化电子系统 |
EP3304130B1 (de) | 2015-06-01 | 2021-10-06 | The Board of Trustees of the University of Illinois | Alternativer ansatz zur uv-erfassung |
EP4249965A3 (de) | 2015-06-15 | 2023-12-27 | Magic Leap, Inc. | Anzeigesystem mit optischen elementen zur einkopplung von multiplexing-lichtströmen |
US20170066208A1 (en) | 2015-09-08 | 2017-03-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Substrate pretreatment for reducing fill time in nanoimprint lithography |
US10488753B2 (en) | 2015-09-08 | 2019-11-26 | Canon Kabushiki Kaisha | Substrate pretreatment and etch uniformity in nanoimprint lithography |
US10925543B2 (en) | 2015-11-11 | 2021-02-23 | The Board Of Trustees Of The University Of Illinois | Bioresorbable silicon electronics for transient implants |
US10134588B2 (en) | 2016-03-31 | 2018-11-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Imprint resist and substrate pretreatment for reducing fill time in nanoimprint lithography |
US10620539B2 (en) | 2016-03-31 | 2020-04-14 | Canon Kabushiki Kaisha | Curing substrate pretreatment compositions in nanoimprint lithography |
US10095106B2 (en) * | 2016-03-31 | 2018-10-09 | Canon Kabushiki Kaisha | Removing substrate pretreatment compositions in nanoimprint lithography |
JP6923552B2 (ja) | 2016-04-08 | 2021-08-18 | マジック リープ, インコーポレイテッドMagic Leap,Inc. | 可変焦点レンズ要素を用いた拡張現実システムおよび方法 |
US9904058B2 (en) | 2016-05-12 | 2018-02-27 | Magic Leap, Inc. | Distributed light manipulation over imaging waveguide |
US10509313B2 (en) | 2016-06-28 | 2019-12-17 | Canon Kabushiki Kaisha | Imprint resist with fluorinated photoinitiator and substrate pretreatment for reducing fill time in nanoimprint lithography |
CN109478014B (zh) | 2016-07-14 | 2023-04-04 | 莫福托尼克斯控股有限公司 | 用于使用柔性压模压印不连续基板的设备 |
CN106542494B (zh) * | 2016-09-26 | 2017-12-26 | 西北工业大学 | 一种用于制备多层不等高微纳结构的方法 |
CN115639642A (zh) | 2016-11-18 | 2023-01-24 | 奇跃公司 | 使用交叉光栅的波导光复用器 |
AU2017363081B2 (en) | 2016-11-18 | 2022-01-13 | Magic Leap, Inc. | Multilayer liquid crystal diffractive gratings for redirecting light of wide incident angle ranges |
US11067860B2 (en) | 2016-11-18 | 2021-07-20 | Magic Leap, Inc. | Liquid crystal diffractive devices with nano-scale pattern and methods of manufacturing the same |
IL303676B1 (en) | 2016-11-18 | 2024-02-01 | Magic Leap Inc | Liquid crystal refraction lattices vary spatially |
WO2018106963A1 (en) | 2016-12-08 | 2018-06-14 | Magic Leap, Inc. | Diffractive devices based on cholesteric liquid crystal |
KR102550742B1 (ko) | 2016-12-14 | 2023-06-30 | 매직 립, 인코포레이티드 | 표면 정렬 패턴들의 소프트-임프린트 복제를 이용한 액정들의 패터닝 |
US10371896B2 (en) | 2016-12-22 | 2019-08-06 | Magic Leap, Inc. | Color separation in planar waveguides using dichroic filters |
CA3051239C (en) | 2017-01-23 | 2023-12-19 | Magic Leap, Inc. | Eyepiece for virtual, augmented, or mixed reality systems |
KR102601052B1 (ko) | 2017-02-23 | 2023-11-09 | 매직 립, 인코포레이티드 | 가변 파워 반사기를 갖는 디스플레이 시스템 |
US10317793B2 (en) | 2017-03-03 | 2019-06-11 | Canon Kabushiki Kaisha | Substrate pretreatment compositions for nanoimprint lithography |
KR20230130770A (ko) | 2017-03-21 | 2023-09-12 | 매직 립, 인코포레이티드 | 회절 광학 엘리먼트들을 이용한 눈-이미징 장치 |
EP4296753A2 (de) | 2017-09-21 | 2023-12-27 | Magic Leap, Inc. | Anzeige der erweiterten realität mit wellenleiter zur erfassung von bildern des auges und/oder der umgebung |
US10684407B2 (en) * | 2017-10-30 | 2020-06-16 | Facebook Technologies, Llc | Reactivity enhancement in ion beam etcher |
US10852547B2 (en) | 2017-12-15 | 2020-12-01 | Magic Leap, Inc. | Eyepieces for augmented reality display system |
EP3743769B1 (de) | 2018-01-26 | 2023-11-15 | Morphotonics Holding B.V. | Verfahren und ausrüstung zur strukturierung diskreter substrate |
JP7233174B2 (ja) * | 2018-05-17 | 2023-03-06 | キヤノン株式会社 | インプリント装置、物品製造方法、平坦化層形成装置、情報処理装置、及び、決定方法 |
EP3815475A4 (de) | 2018-06-28 | 2022-03-30 | 3M Innovative Properties Company | Verfahren zur herstellung von metallmustern auf einem flexiblen substrat |
US11137536B2 (en) | 2018-07-26 | 2021-10-05 | Facebook Technologies, Llc | Bragg-like gratings on high refractive index material |
KR20210104020A (ko) | 2018-10-12 | 2021-08-24 | 모포토닉스 홀딩 비.브이. | 조절할 수 있는 높은 치수 안정성을 갖는 가요성 스탬프 |
EP3884337A4 (de) | 2018-11-20 | 2022-08-17 | Magic Leap, Inc. | Okulare für erweiterte realitätsanzeigesysteme |
CN114286962A (zh) | 2019-06-20 | 2022-04-05 | 奇跃公司 | 用于增强现实显示系统的目镜 |
US11226446B2 (en) | 2020-05-06 | 2022-01-18 | Facebook Technologies, Llc | Hydrogen/nitrogen doping and chemically assisted etching of high refractive index gratings |
JP2023535573A (ja) | 2020-07-31 | 2023-08-18 | モーフォトニクス ホールディング ベスローテン フェノーツハップ | テクスチャを複製するための装置およびプロセス |
WO2023084082A1 (en) | 2021-11-15 | 2023-05-19 | Morphotonics Holding B.V. | Multi-textured stamp |
Family Cites Families (146)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3810874A (en) * | 1969-03-10 | 1974-05-14 | Minnesota Mining & Mfg | Polymers prepared from poly(perfluoro-alkylene oxide) compounds |
US3807027A (en) | 1972-03-31 | 1974-04-30 | Johns Manville | Method of forming the bell end of a bell and spigot joint |
US3807029A (en) | 1972-09-05 | 1974-04-30 | Bendix Corp | Method of making a flexural pivot |
US3811665A (en) | 1972-09-05 | 1974-05-21 | Bendix Corp | Flexural pivot with diaphragm means |
US4062600A (en) | 1976-04-05 | 1977-12-13 | Litton Systems, Inc. | Dual-gimbal gyroscope flexure suspension |
US4098001A (en) | 1976-10-13 | 1978-07-04 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Remote center compliance system |
DE2800476A1 (de) | 1977-01-07 | 1978-07-13 | Instruments Sa | Verfahren zur duplizierung einer optischen flaeche sowie so hergestelltes beugungsgitter |
US4155169A (en) | 1978-03-16 | 1979-05-22 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Compliant assembly system device |
JPS6053675B2 (ja) | 1978-09-20 | 1985-11-27 | 富士写真フイルム株式会社 | スピンコ−テイング方法 |
US4202107A (en) | 1978-10-23 | 1980-05-13 | Watson Paul C | Remote axis admittance system |
US4337579A (en) | 1980-04-16 | 1982-07-06 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Deformable remote center compliance device |
US4355469A (en) | 1980-11-28 | 1982-10-26 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Folded remote center compliance device |
US4414750A (en) | 1981-10-19 | 1983-11-15 | The Charles Stark Draper Laboratory, Inc. | Single stage remote center compliance device |
US4617238A (en) * | 1982-04-01 | 1986-10-14 | General Electric Company | Vinyloxy-functional organopolysiloxane compositions |
JPS5972727A (ja) | 1982-10-19 | 1984-04-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 位置合わせ用テ−ブル |
US4451507A (en) | 1982-10-29 | 1984-05-29 | Rca Corporation | Automatic liquid dispensing apparatus for spinning surface of uniform thickness |
US4512848A (en) * | 1984-02-06 | 1985-04-23 | Exxon Research And Engineering Co. | Procedure for fabrication of microstructures over large areas using physical replication |
US4614667A (en) * | 1984-05-21 | 1986-09-30 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Composite low surface energy liner of perfluoropolyether |
US4694703A (en) | 1984-06-28 | 1987-09-22 | Lear Siegler, Inc. | Circumferentially oriented flexure suspension |
JPS61238809A (ja) * | 1985-04-16 | 1986-10-24 | Ube Ind Ltd | 感光性ポリイミドの樹脂液組成物 |
NL8600809A (nl) | 1986-03-28 | 1987-10-16 | Philips Nv | Methode om een matrijs te voorzien van een loslaag. |
US4929083A (en) | 1986-06-19 | 1990-05-29 | Xerox Corporation | Focus and overlay characterization and optimization for photolithographic exposure |
EP0255303B1 (de) * | 1986-07-25 | 1989-10-11 | Oki Electric Industry Company, Limited | Negatives Resistmaterial, Methode zu seiner Herstellung und Methode zu seiner Verwendung |
FR2604553A1 (fr) * | 1986-09-29 | 1988-04-01 | Rhone Poulenc Chimie | Substrat polymere rigide pour disque optique et les disques optiques obtenus a partir dudit substrat |
JPS63162132A (ja) | 1986-12-26 | 1988-07-05 | Nippon Thompson Co Ltd | Xyテ−ブル |
US4931351A (en) * | 1987-01-12 | 1990-06-05 | Eastman Kodak Company | Bilayer lithographic process |
US4731155A (en) | 1987-04-15 | 1988-03-15 | General Electric Company | Process for forming a lithographic mask |
US5028366A (en) * | 1988-01-12 | 1991-07-02 | Air Products And Chemicals, Inc. | Water based mold release compositions for making molded polyurethane foam |
JPH01196749A (ja) | 1988-01-30 | 1989-08-08 | Hoya Corp | 光情報記録媒体用基板の製造方法 |
US5439766A (en) * | 1988-12-30 | 1995-08-08 | International Business Machines Corporation | Composition for photo imaging |
US5110514A (en) * | 1989-05-01 | 1992-05-05 | Soane Technologies, Inc. | Controlled casting of a shrinkable material |
JPH0354569A (ja) * | 1989-07-24 | 1991-03-08 | Dainippon Printing Co Ltd | レジストパターンの形成方法 |
US5139925A (en) * | 1989-10-18 | 1992-08-18 | Massachusetts Institute Of Technology | Surface barrier silylation of novolak film without photoactive additive patterned with 193 nm excimer laser |
JP2586692B2 (ja) * | 1990-05-24 | 1997-03-05 | 松下電器産業株式会社 | パターン形成材料およびパターン形成方法 |
DE4029912A1 (de) * | 1990-09-21 | 1992-03-26 | Philips Patentverwaltung | Verfahren zur bildung mindestens eines grabens in einer substratschicht |
US5126006A (en) | 1990-10-30 | 1992-06-30 | International Business Machines Corp. | Plural level chip masking |
US5072126A (en) | 1990-10-31 | 1991-12-10 | International Business Machines Corporation | Promixity alignment using polarized illumination and double conjugate projection lens |
JPH04239684A (ja) * | 1991-01-24 | 1992-08-27 | G T C:Kk | 微細パターン形成方法 |
US5206983A (en) * | 1991-06-24 | 1993-05-04 | Wisconsin Alumni Research Foundation | Method of manufacturing micromechanical devices |
US5242711A (en) * | 1991-08-16 | 1993-09-07 | Rockwell International Corp. | Nucleation control of diamond films by microlithographic patterning |
JPH0553289A (ja) | 1991-08-22 | 1993-03-05 | Nec Corp | 位相シフトレチクルの製造方法 |
US5317386A (en) | 1991-09-06 | 1994-05-31 | Eastman Kodak Company | Optical monitor for measuring a gap between two rollers |
JPH0580530A (ja) * | 1991-09-24 | 1993-04-02 | Hitachi Ltd | 薄膜パターン製造方法 |
JPH05109618A (ja) * | 1991-10-18 | 1993-04-30 | Ricoh Co Ltd | グラフオエピタキシー用基板の製法 |
US5331020A (en) * | 1991-11-14 | 1994-07-19 | Dow Corning Limited | Organosilicon compounds and compositions containing them |
US5204739A (en) | 1992-02-07 | 1993-04-20 | Karl Suss America, Inc. | Proximity mask alignment using a stored video image |
US5545367A (en) * | 1992-04-15 | 1996-08-13 | Soane Technologies, Inc. | Rapid prototype three dimensional stereolithography |
EP0568478A1 (de) | 1992-04-29 | 1993-11-03 | International Business Machines Corporation | Dunkelfeld-Ausrichtsystem unter Verwendung von einem konfokalen räumlichen Filter |
US5601641A (en) * | 1992-07-21 | 1997-02-11 | Tse Industries, Inc. | Mold release composition with polybutadiene and method of coating a mold core |
DE69405451T2 (de) * | 1993-03-16 | 1998-03-12 | Koninkl Philips Electronics Nv | Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung eines strukturierten Reliefbildes aus vernetztem Photoresist auf einer flachen Substratoberfläche |
US5348616A (en) | 1993-05-03 | 1994-09-20 | Motorola, Inc. | Method for patterning a mold |
US5861467A (en) * | 1993-05-18 | 1999-01-19 | Dow Corning Corporation | Radiation curable siloxane compositions containing vinyl ether functionality and methods for their preparation |
US5594042A (en) * | 1993-05-18 | 1997-01-14 | Dow Corning Corporation | Radiation curable compositions containing vinyl ether functional polyorganosiloxanes |
JP2837063B2 (ja) * | 1993-06-04 | 1998-12-14 | シャープ株式会社 | レジストパターンの形成方法 |
US5512131A (en) | 1993-10-04 | 1996-04-30 | President And Fellows Of Harvard College | Formation of microstamped patterns on surfaces and derivative articles |
US5776748A (en) | 1993-10-04 | 1998-07-07 | President And Fellows Of Harvard College | Method of formation of microstamped patterns on plates for adhesion of cells and other biological materials, devices and uses therefor |
US5900160A (en) | 1993-10-04 | 1999-05-04 | President And Fellows Of Harvard College | Methods of etching articles via microcontact printing |
US6776094B1 (en) * | 1993-10-04 | 2004-08-17 | President & Fellows Of Harvard College | Kit For Microcontact Printing |
US6180239B1 (en) | 1993-10-04 | 2001-01-30 | President And Fellows Of Harvard College | Microcontact printing on surfaces and derivative articles |
NL9401260A (nl) | 1993-11-12 | 1995-06-01 | Cornelis Johannes Maria Van Ri | Membraan voor microfiltratie, ultrafiltratie, gasscheiding en katalyse, werkwijze ter vervaardiging van een dergelijk membraan, mal ter vervaardiging van een dergelijk membraan, alsmede diverse scheidingssystemen omvattende een dergelijk membraan. |
US5528118A (en) | 1994-04-01 | 1996-06-18 | Nikon Precision, Inc. | Guideless stage with isolated reaction stage |
US5542978A (en) * | 1994-06-10 | 1996-08-06 | Johnson & Johnson Vision Products, Inc. | Apparatus for applying a surfactant to mold surfaces |
US5425964A (en) | 1994-07-22 | 1995-06-20 | Rockwell International Corporation | Deposition of multiple layer thin films using a broadband spectral monitor |
US5515167A (en) | 1994-09-13 | 1996-05-07 | Hughes Aircraft Company | Transparent optical chuck incorporating optical monitoring |
DE19509452A1 (de) | 1995-03-22 | 1996-09-26 | Inst Mikrotechnik Mainz Gmbh | Werkzeug mit Entformvorrichtung zur Abformung mikrostrukturierter Bauteile |
US5820769A (en) * | 1995-05-24 | 1998-10-13 | Regents Of The University Of Minnesota | Method for making magnetic storage having discrete elements with quantized magnetic moments |
JP3624476B2 (ja) | 1995-07-17 | 2005-03-02 | セイコーエプソン株式会社 | 半導体レーザ装置の製造方法 |
WO1997007429A1 (en) * | 1995-08-18 | 1997-02-27 | President And Fellows Of Harvard College | Self-assembled monolayer directed patterning of surfaces |
US5566584A (en) | 1995-08-31 | 1996-10-22 | Beta Squared, Inc. | Flexure support for a fixture positioning device |
US5545570A (en) | 1995-09-29 | 1996-08-13 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company | Method of inspecting first layer overlay shift in global alignment process |
US6468642B1 (en) * | 1995-10-03 | 2002-10-22 | N.V. Bekaert S.A. | Fluorine-doped diamond-like coatings |
US7758794B2 (en) * | 2001-10-29 | 2010-07-20 | Princeton University | Method of making an article comprising nanoscale patterns with reduced edge roughness |
US5772905A (en) * | 1995-11-15 | 1998-06-30 | Regents Of The University Of Minnesota | Nanoimprint lithography |
US6482742B1 (en) * | 2000-07-18 | 2002-11-19 | Stephen Y. Chou | Fluid pressure imprint lithography |
US6518189B1 (en) * | 1995-11-15 | 2003-02-11 | Regents Of The University Of Minnesota | Method and apparatus for high density nanostructures |
US6309580B1 (en) * | 1995-11-15 | 2001-10-30 | Regents Of The University Of Minnesota | Release surfaces, particularly for use in nanoimprint lithography |
US20040137734A1 (en) * | 1995-11-15 | 2004-07-15 | Princeton University | Compositions and processes for nanoimprinting |
US20040036201A1 (en) * | 2000-07-18 | 2004-02-26 | Princeton University | Methods and apparatus of field-induced pressure imprint lithography |
JP2842362B2 (ja) | 1996-02-29 | 1999-01-06 | 日本電気株式会社 | 重ね合わせ測定方法 |
US5725788A (en) * | 1996-03-04 | 1998-03-10 | Motorola | Apparatus and method for patterning a surface |
US5669303A (en) * | 1996-03-04 | 1997-09-23 | Motorola | Apparatus and method for stamping a surface |
US6355198B1 (en) * | 1996-03-15 | 2002-03-12 | President And Fellows Of Harvard College | Method of forming articles including waveguides via capillary micromolding and microtransfer molding |
JP3832891B2 (ja) | 1996-03-28 | 2006-10-11 | 日本トムソン株式会社 | リニア電磁アクチュエータを用いたxyテーブル |
US5942443A (en) * | 1996-06-28 | 1999-08-24 | Caliper Technologies Corporation | High throughput screening assay systems in microscale fluidic devices |
US5802914A (en) | 1996-05-30 | 1998-09-08 | Eastman Kodak Company | Alignment mechanism using flexures |
US5888650A (en) * | 1996-06-03 | 1999-03-30 | Minnesota Mining And Manufacturing Company | Temperature-responsive adhesive article |
US5779799A (en) | 1996-06-21 | 1998-07-14 | Micron Technology, Inc. | Substrate coating apparatus |
US6074827A (en) * | 1996-07-30 | 2000-06-13 | Aclara Biosciences, Inc. | Microfluidic method for nucleic acid purification and processing |
US6039897A (en) | 1996-08-28 | 2000-03-21 | University Of Washington | Multiple patterned structures on a single substrate fabricated by elastomeric micro-molding techniques |
JPH1096808A (ja) * | 1996-09-24 | 1998-04-14 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 微細パタン形成法 |
US6204343B1 (en) * | 1996-12-11 | 2001-03-20 | 3M Innovative Properties Company | Room temperature curable resin |
US5895263A (en) * | 1996-12-19 | 1999-04-20 | International Business Machines Corporation | Process for manufacture of integrated circuit device |
US6133396A (en) * | 1997-01-10 | 2000-10-17 | The Regents Of The University Of Michigan | Highly processable hyperbranched polymer precursors to controlled chemical and phase purity fully dense SiC |
US6143412A (en) | 1997-02-10 | 2000-11-07 | President And Fellows Of Harvard College | Fabrication of carbon microstructures |
DE19710420C2 (de) | 1997-03-13 | 2001-07-12 | Helmut Fischer Gmbh & Co | Verfahren und Vorrichtung zum Messen der Dicken dünner Schichten mittels Röntgenfluoreszenz |
US5948470A (en) | 1997-04-28 | 1999-09-07 | Harrison; Christopher | Method of nanoscale patterning and products made thereby |
US6304364B1 (en) * | 1997-06-11 | 2001-10-16 | President & Fellows Of Harvard College | Elastomeric light valves |
JPH1115156A (ja) * | 1997-06-24 | 1999-01-22 | Hitachi Chem Co Ltd | 感光性樹脂組成物及び半導体素子の製造法 |
US5912049A (en) | 1997-08-12 | 1999-06-15 | Micron Technology, Inc. | Process liquid dispense method and apparatus |
US6132632A (en) * | 1997-09-11 | 2000-10-17 | International Business Machines Corporation | Method and apparatus for achieving etch rate uniformity in a reactive ion etcher |
US5965237A (en) * | 1997-10-20 | 1999-10-12 | Novartis Ag | Microstructure device |
US5877861A (en) | 1997-11-14 | 1999-03-02 | International Business Machines Corporation | Method for overlay control system |
US5991022A (en) | 1997-12-09 | 1999-11-23 | N&K Technology, Inc. | Reflectance spectrophotometric apparatus with toroidal mirrors |
US6117708A (en) * | 1998-02-05 | 2000-09-12 | Micron Technology, Inc. | Use of residual organic compounds to facilitate gate break on a carrier substrate for a semiconductor device |
TW352421B (en) | 1998-04-27 | 1999-02-11 | United Microelectronics Corp | Method and process of phase shifting mask |
US6713238B1 (en) * | 1998-10-09 | 2004-03-30 | Stephen Y. Chou | Microscale patterning and articles formed thereby |
US6218316B1 (en) * | 1998-10-22 | 2001-04-17 | Micron Technology, Inc. | Planarization of non-planar surfaces in device fabrication |
US6204922B1 (en) | 1998-12-11 | 2001-03-20 | Filmetrics, Inc. | Rapid and accurate thin film measurement of individual layers in a multi-layered or patterned sample |
US6168845B1 (en) | 1999-01-19 | 2001-01-02 | International Business Machines Corporation | Patterned magnetic media and method of making the same using selective oxidation |
US6274294B1 (en) * | 1999-02-03 | 2001-08-14 | Electroformed Stents, Inc. | Cylindrical photolithography exposure process and apparatus |
US6334960B1 (en) * | 1999-03-11 | 2002-01-01 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Step and flash imprint lithography |
WO2000076738A1 (en) * | 1999-06-11 | 2000-12-21 | Bausch & Lomb Incorporated | Lens molds with protective coatings for production of contact lenses and other ophthalmic products |
US6344105B1 (en) * | 1999-06-30 | 2002-02-05 | Lam Research Corporation | Techniques for improving etch rate uniformity |
US6190929B1 (en) * | 1999-07-23 | 2001-02-20 | Micron Technology, Inc. | Methods of forming semiconductor devices and methods of forming field emission displays |
AU7361200A (en) * | 1999-09-10 | 2001-04-10 | Nano-Tex, Llc | Water-repellent and soil-resistant finish for textiles |
US6517995B1 (en) * | 1999-09-14 | 2003-02-11 | Massachusetts Institute Of Technology | Fabrication of finely featured devices by liquid embossing |
US6873087B1 (en) | 1999-10-29 | 2005-03-29 | Board Of Regents, The University Of Texas System | High precision orientation alignment and gap control stages for imprint lithography processes |
US6355994B1 (en) | 1999-11-05 | 2002-03-12 | Multibeam Systems, Inc. | Precision stage |
US6091485A (en) | 1999-12-15 | 2000-07-18 | N & K Technology, Inc. | Method and apparatus for optically determining physical parameters of underlayers |
CA2395760A1 (en) * | 1999-12-23 | 2001-06-28 | University Of Massachusetts | Methods and apparatus for forming submicron patterns on films |
US6774183B1 (en) * | 2000-04-27 | 2004-08-10 | Bostik, Inc. | Copolyesters having improved retained adhesion |
US7635262B2 (en) * | 2000-07-18 | 2009-12-22 | Princeton University | Lithographic apparatus for fluid pressure imprint lithography |
US7211214B2 (en) * | 2000-07-18 | 2007-05-01 | Princeton University | Laser assisted direct imprint lithography |
JP2004523906A (ja) * | 2000-10-12 | 2004-08-05 | ボード・オブ・リージエンツ,ザ・ユニバーシテイ・オブ・テキサス・システム | 室温かつ低圧マイクロおよびナノ転写リソグラフィのためのテンプレート |
US6503914B1 (en) * | 2000-10-23 | 2003-01-07 | Board Of Regents, The University Of Texas System | Thienopyrimidine-based inhibitors of the Src family |
US6387787B1 (en) * | 2001-03-02 | 2002-05-14 | Motorola, Inc. | Lithographic template and method of formation and use |
US6517977B2 (en) * | 2001-03-28 | 2003-02-11 | Motorola, Inc. | Lithographic template and method of formation and use |
US6541356B2 (en) * | 2001-05-21 | 2003-04-01 | International Business Machines Corporation | Ultimate SIMOX |
US6737489B2 (en) * | 2001-05-21 | 2004-05-18 | 3M Innovative Properties Company | Polymers containing perfluorovinyl ethers and applications for such polymers |
US6736857B2 (en) * | 2001-05-25 | 2004-05-18 | 3M Innovative Properties Company | Method for imparting soil and stain resistance to carpet |
CA2454570C (en) * | 2001-07-25 | 2016-12-20 | The Trustees Of Princeton University | Nanochannel arrays and their preparation and use for high throughput macromolecular analysis |
US6721529B2 (en) * | 2001-09-21 | 2004-04-13 | Nexpress Solutions Llc | Release agent donor member having fluorocarbon thermoplastic random copolymer overcoat |
US6790905B2 (en) * | 2001-10-09 | 2004-09-14 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Highly repellent carpet protectants |
US20030080472A1 (en) * | 2001-10-29 | 2003-05-01 | Chou Stephen Y. | Lithographic method with bonded release layer for molding small patterns |
US6900881B2 (en) * | 2002-07-11 | 2005-05-31 | Molecular Imprints, Inc. | Step and repeat imprint lithography systems |
US7077992B2 (en) * | 2002-07-11 | 2006-07-18 | Molecular Imprints, Inc. | Step and repeat imprint lithography processes |
US6908861B2 (en) * | 2002-07-11 | 2005-06-21 | Molecular Imprints, Inc. | Method for imprint lithography using an electric field |
US6932934B2 (en) * | 2002-07-11 | 2005-08-23 | Molecular Imprints, Inc. | Formation of discontinuous films during an imprint lithography process |
US7070405B2 (en) * | 2002-08-01 | 2006-07-04 | Molecular Imprints, Inc. | Alignment systems for imprint lithography |
US7027156B2 (en) * | 2002-08-01 | 2006-04-11 | Molecular Imprints, Inc. | Scatterometry alignment for imprint lithography |
US6916584B2 (en) * | 2002-08-01 | 2005-07-12 | Molecular Imprints, Inc. | Alignment methods for imprint lithography |
US6936194B2 (en) * | 2002-09-05 | 2005-08-30 | Molecular Imprints, Inc. | Functional patterning material for imprint lithography processes |
US20040065252A1 (en) * | 2002-10-04 | 2004-04-08 | Sreenivasan Sidlgata V. | Method of forming a layer on a substrate to facilitate fabrication of metrology standards |
US7750059B2 (en) * | 2002-12-04 | 2010-07-06 | Hewlett-Packard Development Company, L.P. | Polymer solution for nanoimprint lithography to reduce imprint temperature and pressure |
US7452574B2 (en) * | 2003-02-27 | 2008-11-18 | Molecular Imprints, Inc. | Method to reduce adhesion between a polymerizable layer and a substrate employing a fluorine-containing layer |
EP1606834B1 (de) * | 2003-03-27 | 2013-06-05 | Korea Institute Of Machinery & Materials | Uv-nanoimprint-lithografieverfahren unter verwendung eines elementweisen prägestempels |
-
1999
- 1999-03-11 US US09/266,663 patent/US6334960B1/en not_active Expired - Lifetime
-
2000
- 2000-03-03 EP EP00913745A patent/EP1228401B1/de not_active Expired - Lifetime
- 2000-03-03 WO PCT/US2000/005751 patent/WO2000054107A1/en active IP Right Grant
- 2000-03-03 AT AT00913745T patent/ATE301846T1/de not_active IP Right Cessation
- 2000-03-03 JP JP2000604271A patent/JP2002539604A/ja active Pending
- 2000-03-03 DE DE60021909T patent/DE60021909T2/de not_active Expired - Lifetime
-
2001
- 2001-07-19 US US09/908,765 patent/US6719915B2/en not_active Expired - Lifetime
-
2005
- 2005-02-22 US US11/062,420 patent/US20050236739A1/en not_active Abandoned
-
2012
- 2012-02-01 US US13/364,101 patent/US20120133078A1/en not_active Abandoned
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EP1228401A1 (de) | 2002-08-07 |
ATE301846T1 (de) | 2005-08-15 |
DE60021909D1 (en) | 2005-09-15 |
US20010040145A1 (en) | 2001-11-15 |
US6334960B1 (en) | 2002-01-01 |
US6719915B2 (en) | 2004-04-13 |
WO2000054107A9 (en) | 2002-05-02 |
EP1228401B1 (de) | 2005-08-10 |
WO2000054107A1 (en) | 2000-09-14 |
JP2002539604A (ja) | 2002-11-19 |
US20050236739A1 (en) | 2005-10-27 |
US20120133078A1 (en) | 2012-05-31 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE60021909T2 (de) | Prägeform-lithographie | |
DE3625340C2 (de) | ||
KR101202653B1 (ko) | 정합 영역과 몰드의 패턴 간의 밀착성 감소 방법 | |
EP0570609B1 (de) | Verfahren zum Erzeugen einer mehrstufigen Struktur in einem Substrat | |
EP3230795B1 (de) | Prägelack sowie verfahren zum prägen | |
DE60310460T2 (de) | Verfahren und deren Maske zur Musterherstellung in einer Polymerschicht | |
DE2610014C2 (de) | ||
AT516559B1 (de) | Poly- bzw. Präpolymerzusammensetzung bzw. Prägelack, umfassend eine derartige Zusammensetzung sowie Verwendung derselben | |
US20130266727A1 (en) | Methods for providing patterned orientation templates for self-assemblable polymers for use in device lithography | |
EP0395917A2 (de) | Photostrukturierungsverfahren | |
WO2005021156A2 (en) | Capillary imprinting technique | |
DE10297731T5 (de) | Umkehrprägetechnik | |
DE10197137B4 (de) | Verfahren zur Herstellung von Mikrostrukturen | |
DE69834686T2 (de) | Metallisierung in Halbleitervorrichtungen | |
DE10219122B4 (de) | Verfahren zur Herstellung von Hartmasken | |
KR102160791B1 (ko) | 블록 공중합체 및 이를 사용한 패턴 형성 방법 | |
DE1797255A1 (de) | Verfahren zum Verhindern des Schaeumens bei der Herstellung von Photoresistmustern | |
EP0278996A1 (de) | Verfahren zur Verbesserung der Haftung von Photoresistmaterialien | |
DE4232821C2 (de) | Verfahren zur Herstellung eines feinstrukturierten Halbleiterbauelements | |
DE4410505A1 (de) | Verfahren zum Herstellen eines Reliefbildes im Submikrometerbereich | |
EP1244938A1 (de) | Verfahren zur herstellung von im nanometerbereich oberflächendekorierten substraten | |
EP0394740B1 (de) | Trockenentwickelbares Resistsystem | |
DE102008051159B4 (de) | Herstellung von Kreuzstrukturen von Nanostrukturen | |
DE60306682T2 (de) | Eine haftschicht umfassende mikrostruktur und verfahren zur herstellung einer solchen mikrostruktur | |
DE2425379A1 (de) | Molybdaen-aetzmittel |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8364 | No opposition during term of opposition |