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Die
vorliegende Erfindung betrifft eine dielektrische Porzellanzusammensetzung,
die besonders ausgezeichnete Eigenschaften im Millimeterwellenbereich
aufweist, einen dielektrischen Resonator, bei dem die Zusammensetzung
verwendet wird, und ein Verfahren für die Herstellung der Zusammensetzung
und des Resonators, mit dem die Eigenschaften (relative Dielektrizitätskonstante εr und Temperaturkoeffizient τf) beeinflusst
werden können.
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Beschreibung des Standes der
Technik
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Auch
wenn verschiedene Dielektrika als Dielektrika für hohe Frequenzen bekannt sind,
sind Dielektrika auf der Basis von Magnesiumtitanat als eine der
Materialien mit einem verhältnismäßig hohen
Qf-Wert bekannt. Gemäß dem „Ceramics
Engineering Handbook",
herausgegeben von der Japan Ceramics Society und veröffentlicht
von Gihodo, Vol. 1, S. 1885, 30. Mai 1993, weist MgTiO3,
das ein Dielektrikum auf der Basis von Magnesiumtitanat ist, eine
relative Dielektrizitätskonstante εr von 17,
einen Qf-Wert von 110.000 GHz und eine Temperaturabhängigkeit
der Resonanzfrequenz (Temperaturkoeffizient τf) von –45 ppm/K auf.
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Außerdem wurden
auch Verbesserungen bei Materialien auf der Basis von Magnesiumtitanat
vorgeschlagen. Beispielsweise offenbart JP-B SHO 61-14605 ein Dielektrikum,
das durch Sintern eines Materials erhalten wird, das Titandioxid
und mehr als 1 Mol und nicht mehr als 1,3 Mol Magnesiumoxid je Mol
Titandioxid aufweist. Als Eigenschaften des Dielektrikums nach dem
Stand der Technik ist offenbart, dass die relative Dielektrizitätskonstante εr = 17,3
und die Leerlaufgüte
Qu = 12000 (Qf-Wert 120.000 GHz), wenn MgO:TiO2 = 1,2:1.
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JP-A
2002-193662 offenbart ein dielektrisches Porzellan, das eine erste
Kristallphase aus zumindest einer Spezies umfasst, die aus MgTiO3, CaTiO3, Mg2SiO4 und BaTi4O9 besteht, eine
zweite Kristallphase aus zumindest einer Spezies, die aus Mg2TiO4, Mg2B2O5 und
Li2TiSiO5 besteht
sowie Si-, B- und Li-Oxide, mit dem Ziel der Verwirklichung eines
dielektrischen Porzellans mit einem hohen Gütefaktor, das sich, wenn es
zusammen mit einem leitenden Material gebrannt wird, weder verbiegt
noch verzieht.
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Obwohl
die Technologie im Bereich der Datenkommunikation kürzlich deutlich
weiterentwickelt wurde, neigen die Eigenschaften, die für Dielektrika
erforderlich sind, die für
dielektrische Resonatoren oder andere derartige Vorrichtungen verwendet
werden, einschließlich
des zuvor erwähnten
Qf-Werts, dazu, sich aufgrund der Anwendungen, Frequenzbereiche
und Ähnlichem
zu unterscheiden.
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In
Anbetracht der Verwendung insbesondere als Resonatormaterial ist
es vom Standpunkt der einfachen Ausgestaltung erforderlich, Dielektrika
zu entwickeln, die als eine der Eigenschaften von Dielektrika für den Submillimeter-
und Millimeterwellenbereich eine einigermaßen niedrige relative Dielektrizitätskonstante εr aufweisen.
Da die Größe einer
Resonanzerscheinung direkt proportional zu ε–1/2 ist,
wenn die Dielektrizitätskonstante
als ε definiert
ist, muss die Abmessung eines Resonators bei steigender Frequenz äußerst klein sein,
wenn ein Material mit einer hohen relativen Dielektrizitätskonstante
verwendet wird. Um die Ausgestaltung eines Resonators zu erleichtern,
ist es erforderlich, ein Dielektrikum zu entwickeln, das eine entsprechende
relative Dielektrizitätskonstante εr aufweist,
wobei die gesamte Größe und Herstellbarkeit
berücksichtigt wird.
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Wird
das Dielektrikum für
einen Resonator verwendet, wird im Allgemeinen angemerkt, dass es
wünschenswert
ist, dass der Temperaturkoeffizient τf möglichst niedrig ist. Angesichts
des Temperaturkoeffizienten der umgebenden Teile und weiterer dieser
angrenzenden Teile wird des Weiteren bevorzugt, dass der Temperaturkoeffizient
in gewissem Maße
auf einen optionalen Wert eingestellt wird.
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Aus
diesen Gesichtspunkten wird bei Technologien nach dem Stand der
Technik wie die, die beispielsweise in JP-B SHO 61-14605 und JP-A
2002-193662 offenbart sind, hauptsächlich auf eine Verbesserung
des Qf-Werts und des Gütefaktors
geachtet, wobei die relative Dielektrizitätskonstante εr und der
Temperaturkoeffizient τf
nur wenig beachtet werden.
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Bei
den auf dem Markt erhältlichen
Materialien, die eine niedrige relative Dielektrizitätskonstante εr und einen
niedrigen Temperaturkoeffizienten τf aufweisen, beträgt ersterer
etwa 12,6 und letzterer etwa –10 ppm/K.
Diese Werte sind nicht unbedingt ausreichend.
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Die
vorliegende Erfindung wurde angesichts des Stands der Technik vorgeschlagen.
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Es
ist eine Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine dielektrische
Porzellanzusammensetzung und einen dielektrischen Resonator bereitzustellen,
bei dem diese Zusammensetzung verwendet wird, bei der die relative
Dielektrizitätskonstante εr auf einen
verhältnismäßig kleinen
Wert eingestellt werden kann, und es wird die einfache Ausgestaltung
beispielsweise von Submillimiterwellen-Resonatoren und Millimeterwellen-Resonatoren
ermöglicht.
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Es
ist eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine dielektrische
Porzellanzusammensetzung und einen dielektrischen Resonator bereitzustellen,
bei dem die Zusammensetzung verwendet wird, bei der der Temperaturkoeffizient τf so gestaltet
werden kann, dass er möglichst
klein ist und gemäß der Umstände und Ähnlichem
etwas angepasst werden kann.
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Es
ist eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung, eine dielektrische
Porzellanzusammensetzung und einen dielektrischen Resonator bereitzustellen,
bei dem die Zusammensetzung verwendet wird, bei der die relative
Dielektrizitätskonstante εr in gewissem
Maße auf
einen kleinen Wert eingestellt wurde und der Temperaturkoeffizient τf in der
Nähe von
null eingestellt wurde.
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Es
ist eine weitere Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Verfahren
zum optionalen Einstellen der Eigenschaften (relative Dielektrizitätskonstante εr und Temperaturkoeffizient τf) einer
dielektrischen Porzellanzusammensetzung bereitzustellen.
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Die
Erfinder der vorliegenden Erfindung haben ihre Untersuchungen über einen
langen Zeitraum eifrig fortgesetzt, um die zuvor erwähnten Aufgaben
zu lösen.
Im Ergebnis haben sie festgestellt, dass durch die Zugabe von Mg2SiO4 zu MgTiO3 die relative Dielektrizitätskonstante εr entsprechend
dem Gehalt von Mg2SiO4 frei
angepasst werden kann, wobei sich der Temperaturkoeffizient τf wenig verändert, und
auch im Submillimeterwellen- oder Millimeterwellenbereich optimal
eingestellt werden kann und dass durch die Zugabe von CaTiO3 zu MgTiO3 der Temperaturkoeffizient τf gemäß dem CaTiO3-Gehalt optional in der Nähe von null
eingestellt werden kann, wobei sich die relative Dielektrizitätskonstante εr nicht sehr
stark verändert.
Die vorliegende Erfindung wurde auf der Grundlage dieser Ergebnisse
vervollkommnet.
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Gemäß einem
Aspekt der vorliegenden Erfindung ist eine dielektrische Porzellanzusammensetzung bereitgestellt,
die aus MgTiO3, Mg2SiO4 und CaTiO3 besteht,
wobei die Zusammensetzung a + b + c = 1, 0 < b < 1
und 0 < c ≤ 0,15 erfüllt, wobei
a ein Molverhältnis
von MgTiO3 bezeichnet, b ein Molverhältnis von
Mg2SiO4 bezeichnet
und c ein Molverhältnis
von CaTiO3 bezeichnet.
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Gemäß einem
weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung ist eine dielektrische
Porzellanzusammensetzung, die MgTiO3 und
Mg2SiO4 umfasst,
dadurch gekennzeichnet, dass die Zusammensetzung a + b = 1 und 0 < b < 1 erfüllt, wobei
a ein Molverhältnis
von MgTiO3 bezeichnet und b ein Molverhältnis von
Mg2SiO4 bezeichnet;
eine dielektrische Porzellanzusammensetzung, die MgTiO3 und
CaTiO3 umfasst, ist dadurch gekennzeichnet,
dass die Zusammensetzung a + c = 1 und 0 < c ≤ 0,15
erfüllt,
wobei a ein Molverhältnis
von MgTiO3 bezeichnet und c ein Molverhältnis von
CaTiO3 bezeichnet; oder eine dielektrische
Porzellanzusammensetzung, die MgTiO3, Mg2SiO4 und CaTiO3 umfasst, ist dadurch gekennzeichnet, dass
die Zusammensetzung a + b + c = 1, 0 < b < 1
und 0 < c ≤ 0,15 erfüllt, wobei
a ein Molverhältnis
von MgTiO3 bezeichnet, b ein Molverhältnis von
Mg2SiO4 bezeichnet
und c ein Molverhältnis
von CaTiO3 bezeichnet.
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Bei
den dielektrischen Porzellanzusammensetzungen können die relative Dielektrizitätskonstante εr und der
Temperaturkoeffizient τf
bei optionalen Werten im Bereich von 6,8 bis 18 beziehungsweise
im Bereich von –55
bis +55 ppm/K erhalten werden. Es kann zum Beispiel eine dielektrische
Porzellanzusammensetzung mit einer relativen Dielektrizitätskonstante εr in der
Nähe von
10 und einem Temperaturkoeffizienten τf in der Nähe von null verwirklicht werden.
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Die
dielektrische Porzellanzusammensetzung kann als Dielektrikum für dielektrische
Resonatoren wie Submillimeterwellen-Resonatoren und Millimeterwellen-Resonatoren
verwendet werden. Deshalb wird bei dem dielektrischen Resonator
der vorliegenden Erfindung die dielektrische Porzellanzusammensetzung
als Resonatormaterial verwendet.
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Wie
zuvor beschrieben wurde, kann durch die Zugabe von Mg2SiO4 zu MgTiO3 die relative
Dielektrizitätskonstante εr entsprechend
dem Gehalt von Mg2SiO4 frei
angepasst werden, und durch die Zugabe von CaTiO3 zu
MgTiO3 kann der Temperaturkoeffizient τf entsprechend
dem Gehalt von CaTiO3 optional in der Nähe von null
eingestellt werden. Angesichts dessen können durch die Einstellung
des Gehalts dieser Bestandteile die Eigenschaften einer herzustellenden
dielektrischen Porzellanzusammensetzung abgestimmt werden.
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Gemäß einem
weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung ist ein Herstellungsverfahren
für die
dielektrische Porzellanzusammensetzung bereitgestellt, mit dem die
Eigenschaften der Zusammenset zung beeinflusst werden können. Insbesondere
wird der Gehalt von Mg2SiO4 und
CaTiO3 jeweils in festgelegten Bereichen
angepasst, um die relative Dielektrizitätskonstante εr und den
Temperaturkoeffizient τf
einzustellen.
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Die
vorstehenden und weitere Aufgaben, kennzeichnende Merkmale und Vorteile
der vorliegenden Erfindung werden für den Fachmann anhand der nachfolgenden
Beschreibung unter Bezug auf die zugehörigen Zeichnungen ersichtlich.
Es zeigen:
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1 ein
Ablaufdiagramm, in dem ein Beispiel für ein Herstellungsverfahren
für eine
dielektrische Porzellanzusammensetzung gemäß der vorliegenden Erfindung
dargestellt ist,
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2 ein
Röntgendiffraktogramm
von 0,6 MgTiO3 – 0,4 Mg2SiO4,
-
3 ein
Kennlinienfeld, in dem das Verhältnis
zwischen dem Mg2SiO4-Gehalt
und der relativen Dielektrizitätskonstante εr in einem
MgTiO3-Mg2SiO4-System dargestellt ist,
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4 ein
Kennlinienfeld, in dem das Verhältnis
zwischen dem Mg2SiO4-Gehalt
und dem Temperaturkoeffizienten τf
im MgTiO3-Mg2SiO4-System dargestellt ist,
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5 ein
Kennlinienfeld, in dem das Verhältnis
zwischen der Brenntemperatur und der relativen Dichte im MgTiO3-Mg2SiO4-System dargestellt
ist,
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6 ein
Röntgendiffraktogramm
von 0,91 MgTiO3 – 0,09 CaTiO3,
-
7 ein
Kennlinienfeld, in dem das Verhältnis
zwischen dem CaTiO3-Gehalt und der relativen
Dielektrizitätskonstante εr in einem MgTiO3-CaTiO3-System dargestellt
ist,
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8 ein
Kennlinienfeld, in dem das Verhältnis
zwischen dem CaTiO3-Gehalt und dem Temperaturkoeffizienten τf im MgTiO3-CaTiO3-System dargestellt
ist,
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9 ein
Kennlinienfeld, in dem das Verhältnis
zwischen der Brenntemperatur und der relativen Dichte im MgTiO3-CaTiO3-System dargestellt
ist,
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10 ein
Röntgendiffraktogramm
von 0,2275 MgTiO3 – 0,6825 Mg2SiO4 – 0,09
CaTiO3,
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11 ein
Kennlinienfeld, in dem die Ergebnisse für die relative Dielektrizitätskonstante εr dargestellt sind,
die in einem MgTiO3-Mg2SiO4-CaTiO3-System bestimmt
wurden, wobei 0,05 mol CaTiO3 festgelegt
und die Substitutionsmenge an Mg2SiO4 verändert
wurde,
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12 ein
Kennlinienfeld, in dem die Ergebnisse für den Temperaturkoeffizienten τf dargestellt
sind, die im MgTiO3-Mg2SiO4-CaTiO3-System bestimmt wurden, wobei 0,05 mol
CaTiO3 festgelegt und die Substitutionsmenge
an Mg2SiO4 verändert wurde,
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13 ein
Kennlinienfeld, in dem die Ergebnisse für die relative Dichte dargestellt
sind, die im MgTiO3-Mg2SiO4-CaTiO3-System bestimmt
wurden, wobei 0,05 mol CaTiO3 festgelegt
und die Substitutionsmenge an Mg2SiO4 verändert
wurde,
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14 ein
Kennlinienfeld, in dem die Ergebnisse für die relative Dielektrizitätskonstante εr dargestellt sind,
die im MgTiO3-Mg2SiO4-CaTiO3-System bestimmt wurden, wobei MgTiO3:Mg2SiO4 auf
1:3 festgelegt und die Substitutionsmenge an CaTiO3 verändert wurde,
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15 ein
Kennlinienfeld, in dem die Ergebnisse für den Temperaturkoeffizienten τf dargestellt
sind, die im MgTiO3-Mg2SiO4-CaTiO3-System bestimmt wurden, wobei MgTiO3:Mg2SiO4 auf
1:3 festgelegt und die Substitutionsmenge an CaTiO3 verändert wurde,
und
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16 ein
Kennlinienfeld, in dem die Ergebnisse für die relative Dichte dargestellt
sind, die im MgTiO3-Mg2SiO4-CaTiO3-Sytem bestimmt
wurden, wobei MgTiO3:Mg2SiO4 auf 1:3 festgelegt und die Substitutionsmenge
an CaTiO3 verändert wurde.
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Die
dielektrische Porzellanzusammensetzung, der dielektrische Resonator,
bei dem die Zusammensetzung verwendet wird, und das Herstellungsverfahren
für die
Zusammensetzung gemäß der vorliegenden Erfindung
werden nachfolgend ausführlich
beschrieben.
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Die
dielektrische Porzellanzusammensetzung der vorliegenden Erfindung
umfasst Magnesiumtitanat MgTiO3, zu dem
entweder Mg2SiO4 oder
CaTiO3 oder beide zugegeben werden.
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Obwohl
MgTiO3 über
ausgezeichnete Eigenschaften verfügt, zu denen ein hoher Qf-Wert
gehört,
besitzt er eine etwas hohe relative Dielektrizitätskonstante εr von etwa
18,2 und einen großen
Temperaturkoeffizienten τf
von –57
ppm/K. Angesichts dessen wird bei der vorliegenden Erfindung zu
MgTiO3 zur Verbesserung der relativen Dielektrizitätskonstante εr Mg2SiO4 und zur Verbesserung
des Temperaturkoeffizienten τf
CaTiO3 zugegeben.
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Wenn
Mg2SiO4 zu MgTiO3 zugegeben wird, sinkt die relative Dielektrizitätskonstante εr im Wesentlichen
proportional zum Mg2SiO4-Gehalt, wohingegen
sich der Temperaturkoeffizient τf
wenig verän dert.
Andererseits verlagert sich der Temperaturkoeffizient τf bei Zugabe
von CaTiO3 zu MgTiO3 allmählich von
Minus zu Plus, während
die relative Dielektrizitätskonstante εr geringfügig ansteigt.
Aus diesen Gründen
können
die relative Dielektrizitätskonstante εr und der
Temperaturkoeffizient τf
je nach Mg2SiO4-
und CaTiO3-Gehalt unabhängig beeinflusst werden.
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Aus
diesen Gesichtspunkten wird Mg2SiO4 oder CaTiO3 zu
MgTiO3 zugegeben. Es wird bevorzugt, dass
der Mg2SiO4-Gehalt
a + b = 1 und 0 < b < 1 erfüllen sollte,
wobei a das Molverhältnis
von MgTiO3 bezeichnet und b das Molverhältnis von
Mg2SiO4 bezeichnet.
Wird der Mg2SiO4-Gehalt
optional beeinflusst, damit diese Bedingungen erfüllt werden,
kann die relative Dielektrizitätskonstante εr frei auf
einen Wert geregelt werden, der geringer als der von MgTiO3 ist, z.B. im Bereich von 6,8 bis 18. Wenn
die relative Dielektrizitätskonstante εr jedoch
auf einen Wert eingestellt werden soll, der für die Verwendung im Submillimeter-
und Millimeterwellenbereich geeignet ist, z.B. einen Wert von nicht über 12,
ist b bevorzugter als 0,5 ≤ b < 1 definiert.
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Im
Fall der Zugabe von CaTiO3 zu MgTiO3 wird bevorzugt, dass dessen Gehalt a +
c = 1 und 0 < c ≤ 0,15 erfüllt, wobei
a ein Molverhältnis
von MgTiO3 bezeichnet und c ein Molverhältnis von
CaTiO3 bezeichnet. Wird der CaTiO3-Gehalt optional beeinflusst, damit diese
Bedingungen erfüllt
werden, kann der Temperaturkoeffizient τf frei auf einen Wert im Bereich
von –55
bis +55 ppm/K geregelt werden. Um den Temperaturkoeffizient τf so zu beeinflussen,
dass er möglichst
nahe an null liegt, d.h. um 30 ppm/K, ist c jedoch bevorzugter als 0,03 ≤ c ≤ 0,08 definiert.
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Wenn
sowohl Mg2SiO4 als
auch CaTiO3 zu MgTiO3 zugegeben
wer den, kann deren Gehalt auf jeweils geeignete Mengen eingestellt
werden, damit a + b + c = 1, damit 0 < b < 1
und damit 0 < c ≤ 0,15 erfüllt werden, wobei
a ein Molverhältnis
von MgTiO3 bezeichnet, b ein Molverhältnis von
Mg2SiO4 bezeichnet
und c ein Molverhältnis
von CaTiO3 bezeichnet.
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Um
die relative Dielektrizitätskonstante εr so zu beeinflussen,
dass sie einen Wert annimmt, der für die Verwendung im Submillimeter- und Millimeterwellenbereich
geeignet ist, z.B. einen Wert von nicht über 12, und den Temperaturkoeffizienten τf so, dass
er möglichst
nahe an null liegt, kann der Mg2SiO4- und CaTiO3-Gehalt wie
zuvor erwähnt
eingestellt werden. Obwohl sich ihre jeweiligen Optimalwerte leicht
von den definierten Werten unterscheiden, sind die Bereiche bevorzugter
0,5 ≤ b < 1 beziehungsweise
0,05 ≤ c ≤ 0,09.
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Es
ist anzumerken, dass, da anhand der Röntgenbeugung erkenntlich ist,
dass die jeweiligen Bestandteile der dielektrischen Porzellanzusammensetzung
in Form von MgTiO3, Mg2SiO4 beziehungsweise CaTiO3 vorliegen
und dass die Matrix daraus eine Kristallphase ist, in der die drei
Bestandteile zusammen vorliegen, die Zusammensetzung mit ihren Molverhältnissen
angegeben werden muss.
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Anhand
des Vorstehenden kann durch die Beeinflussung des Verhältnisses
der jeweiligen Bestandteile eine dielektrische Porzellanzusammensetzung
mit einer relativen Dielektrizitätskonstante εr von 10,86,
einem Temperaturkoeffizienten τf
von –2,7
ppm/K und einem Qf-Wert von 74.000 GHz verwirklicht werden.
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Das
Herstellungsverfahren für
die dielektrische Porzellanzusammensetzung gemäß der vorliegenden Erfindung
wird hier nachfolgend beschrieben. Das Ablaufdiagramm dafür, das die
vorliegende Erfindung übernommen
hat, ist in 1 dargestellt.
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Bei
dem Herstellungsverfahren der vorliegenden Erfindung werden beispielsweise
MgO, TiO2, CaCO3 und
SiO2 als Ausgangsstoffe verwendet. Obwohl
die jeweiligen Bestandteile in Übereinstimmung
mit ihren jeweils erwünschten
Eigenschaften vermischt werden, da die hergestellte Zusammensetzung,
wie sie ist, im Wesentlichen durch die Zusammensetzung der dielektrischen
Porzellanzusammensetzung widergespiegelt wird, werden die Ausgangsstoffbestandteile
so vermischt, dass die hergestellte Zusammensetzung und die Zusammensetzung
der dielektrischen Porzellanzusammensetzung das Verhältnis 1:1
aufweisen können.
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Das
Verfahren zur Herstellung der dielektrischen Porzellanzusammensetzung
wird beschrieben. Die Ausgangsstoffe MgO, TiO2,
CaCO3 und SiO2 werden
in einem Mischvorgang 1 vermischt, damit ein Gemisch erhalten
wird. Das Gemisch wird einem Trockenvorgang 2 und einem
Formvorgang 3 unterzogen und in einem Brennvorgang 4 vorgebrannt.
Das Vorbrennen erfolgt, damit die Reaktion der Ausgangsstoffe bis
zu einem gewissen Punkt weiterläuft
und findet im Allgemeinen bei einer Temperatur statt, die etwas
geringer als die ist, die beim Sintern verwendet wird.
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Das
vorgebrannte Produkt wird in einem Zerkleinerungsvorgang 5 zerkleinert
und anschließend
in einem Trockenvorgang 6 getrocknet. Das getrocknete Produkt
wird in einem Granuliervorgang 7 granuliert. Beim Granuliervorgang
wird ein Bindemittel mit dem getrockneten Produkt vermischt. Obwohl
jedes optionale Bindemittel verwendet werden kann, kann beispielsweise
vorteilhaft Polyvinylalkohol oder Ähnliches verwendet werden.
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Das
granulierte Produkt wird in einem Formvorgang 8 in eine
ge wünschte
Form gebracht und in einem Sintervorgang 9 gesintert. Die
Sintertemperatur, die beim Sintervorgang verwendet wird, wird beispielsweise im
Bereich von 1250°C
bis 1500°C
eingestellt. Die optimale Sintertemperatur wird je nach den Ausgangsstoffen
für die
dielektrische Porzellanzusammensetzung etwas verändert. Wenn eine dielektrische
Porzellanzusammensetzung hergestellt wird, die MgTiO3 und
Mg2SiO4 umfasst,
wird eine Sintertemperatur von nicht unter 1300°C bevorzugt. Beträgt die Sintertemperatur
in diesem Fall weniger als 1300°C,
wird der Qf-Wert vermindert und wird auch die relative Dichte vermindert.
Im Fall einer dielektrischen Porzellanzusammensetzung, die MgTiO3 und CaTiO3 umfasst,
wird es bevorzugt, eine Sintertemperatur von nicht unter 1250°C zu verwenden. Beträgt sie weniger
als 1250°C,
werden ähnlich
wie im zuvor erwähnten
Fall sowohl der Qf-Wert als auch die relative Dichte vermindert.
Wenn eine dielektrische Porzellanzusammensetzung hergestellt werden
soll, die MgTiO3, Mg2SiO4 und CaTiO3 umfasst,
wird eine Sintertemperatur von nicht unter 1300°C bevorzugt. Durch Einstellung
der Sintertemperatur innerhalb des zuvor erwähnten Bereichs können der
Qf-Wert beziehungsweise die relative Dichte auf einem hohen Niveau
gehalten werden.
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Bei
dem Herstellungsverfahren werden MgO, TiO2,
CaCO3 und SiO2 als
Ausgangsstoffe verwendet. Dies ist jedoch keinesfalls einschränkend. Beispielsweise
können
MgTiO3, Mg2SiO4 und CaTiO3 vorher
mit ihren festgelegten Verhältnissen
hergestellt und im Herstellungsverfahren eingesetzt werden.
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Die
dielektrische Porzellanzusammensetzung kann im Frequenzband der
Submillimeter- und Millimeterwellen verwendet werden, z.B. 30 bis
300 GHz. Die Frequenzbereiche umfassen den eines Radars für Personenkraftwagen
(unter Verwendung der Frequenz 77 GHz: 38,5 GHz multipliziert mit
2).
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Die
dielektrische Porzellanzusammensetzung der vorliegenden Erfindung
kann deshalb als Material für
Resonatoren eingesetzt werden, die im Submillimeter- und Millimeterwellenbereich
verwendet werden, und als Trägermaterial
für MIC-Dielektrika
sowie für
dielektrische Wellenleiter, dielektrische Antennen, die Impedanzanpassung
verschiedener Arten von Millimeterwellen-Schaltungen und anderen
derartigen elektronischen Bauteilen. Sie kann zweckmäßig für dielektrische
Resonatoren verwendet werden.
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Die
vorliegende Erfindung wird anhand konkreter Versuchsergebnisse beschrieben.
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Es
wurden Proben einer dielektrischen Porzellanzusammensetzung gemäß dem folgenden
Verfahren hergestellt.
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MgO,
TiO2, CaCO3 und
SiO2 wurden gewogen, sodass diese Ausgangsstoffe
ein festgelegtes Mischverhältnis
aufwiesen und wurden dann mit einer Kugelmühle 16 Stunden lang vermischt.
Das erhaltene Gemisch wurde 24 Stunden lang bei 120°C getrocknet
und anschließend
bei einem Formgebungsdruck von 200 kgf/cm2 als
Scheibe mit einem Durchmesser von 60 mm geformt.
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Die
Scheibe wurde bei 1100°C
2 Stunden lang vorgebrannt, anschließend 16 Stunden lang unter
Verwendung der Kugelmühle
zerkleinert und 24 Stunden lang bei 120°C getrocknet. Das getrocknete
Produkt wurde unter Zugabe von 1 Gew.-% Polyvinylalkohol granuliert
und bei einem Formgebungsdruck von 2000 kgf/cm2 zu
einer Scheibe mit 12 mm Durchmesser geformt.
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Das
geformte Produkt wurde schließlich
hauptgebrannt, um Proben der dielektrischen Porzellanzusammensetzung
zu erhalten.
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Gemäß dem Verfahren
zur Herstellung der Proben der dielektrischen Porzellanzusammensetzung wurden
MgTiO3 und Mg2SiO4, die als Ausgangsstoffe verwendet wurden,
derart vermischt, dass b im Bereich von 0 bis 1 vorliegt, sofern
a + b = 1, wenn das Molverhältnis
von MgTiO3 als a definiert wurde und das
Molverhältnis
von Mg2SiO4 als
b definiert wurde. Das Gemisch wurde bei einer Temperatur von 1250°C bis 1500°C gesintert,
um verschiedene Proben zu erhalten.
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Unter
Verwendung eines Röntgendiffraktometers
wurde eine Probe mit 0,6 MgTiO3 – 0,4 Mg2SiO4 gemessen, wobei
a = 0,6 und b = 0,4. Die Messergebnisse sind in 2 dargestellt.
Anhand des Röntgendiffraktogramms
kann beobachtet werden, dass Spitzen vorhanden sind, die auf MgTiO3 beziehungsweise Mg2SiO4 zurückzuführen sind,
woraus sich erkennen lässt,
dass die Probe ein Mischkristall aus MgTiO3 und
Mg2SiO4 umfasst.
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Die
relative Dielektrizitätskonstante εr und der
Temperaturkoeffizient τf
jeder Probe wurden gemäß dem „Method
of Testing Dielectric Characteristics of Fine Ceramics for Microwaves" der japanischen
Industrienormen (JIS R 1627) bestimmt. Die Messergebnisse für die relative
Dielektrizitätskonstante εr sind in
3 und
nachfolgend in Tabelle 1 dargestellt und die Messergebnisse für den Temperaturkoeffizienten τf sind in
4 und
nachfolgend in Tabelle 2 dargestellt. Tabelle
1
Tabelle
2
Molverhältnis b
von Mg2SiO4 | Temperaturkoeffizient τf bei 1450°C (ppm/K) |
0,0 | –57,6 |
0,1 | –52,1 |
0,2 | –58,0 |
0,4 | –60,3 |
0,5 | –62,1 |
0,6 | –62,8 |
0,8 | –63,1 |
0,9 | –64,0 |
1,0 | –65,3 |
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Wie
anhand von 3 und der vorstehenden Tabelle
1 ersichtlich ist, ist festzustellen, dass die relative Dielektrizitätskonstante εr bei steigendem
Mg2SiO4-Gehalt allmählich proportional
abnimmt. Wie in 4 und der vorstehenden Tabelle
2 dargestellt ist, ist festzustellen, dass sich der Temperaturkoeffizient τf wenig verändert, selbst
wenn sich der Mg2SiO4-Gehalt
verändert.
Dies bedeutet, dass durch die Beeinflussung des Mg2SiO4-Gehalts die relative Dielektrizitätskonstante εr beeinflusst
werden kann, ohne dass das andere Merkmal (Temperaturkoeffizient τf) beeinflusst
wird. Insbesondere wenn das Molverhältnis b von Mg2SiO4 so eingestellt wird, dass es 0,5 oder mehr
beträgt,
kann eine relative Dielektrizitätskonstante εr von 12
oder weniger verwirklicht werden.
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Es
wurde auch die relative Dichte jeder hergestellten Probe bestimmt.
Die Messergebnisse sind in 5 und der
nachfolgenden Tabelle 3 dargestellt. Wie anhand von 5 und
Tabelle 3 ersichtlich ist, verändert
sich die relative Dichte, obwohl sie bei 1300°C einen leichten Rückgang zeigt,
bei einer Temperatur von über
1300°C wenig.
Die gewünschte
relative Dichte konnte nicht erreicht werden, wenn die Brenntemperatur 1200°C oder weniger
betrug (nicht dargestellt). Deshalb kann, wenn Mg2SiO4 zur Beeinflussung der relativen Dielektrizitätskonstante εr verwendet
wird, gesagt werden, dass die Brenntemperatur vorzugsweise auf 1300°C oder darüber eingestellt
wird.
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Gemäß dem Verfahren
zur Herstellung der Proben der dielektrischen Porzellanzusammensetzung wurden
MgTiO3 und CaTiO3,
die als Ausgangsstoffe verwendet wurden, derart vermischt, dass
c im Bereich von 0 bis 0,09 vorliegt, sofern a + c = 1, wenn das
Molverhältnis
von MgTiO3 als a definiert wurde und das Molverhältnis von
CaTiO3 als c definiert wurde. Das Gemisch
wurde bei einer Temperatur von 1300°C hauptgebrannt, um verschiedene
Proben zu erhalten.
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In 6 sind
die Messergebnisse einer Probe mit 0,91 MgTiO3 – 0,09 CaTiO3 dargestellt, wobei a = 0,91 und c = 0,09,
die unter Verwendung eines Röntgendiffraktometers
gemessen wurden. Anhand des Röntgendiffraktogramms
kann beobachtet werden, dass Spitzen vorhanden sind, die auf MgTiO3 beziehungsweise CaTiO3 zurückzuführen sind,
woraus sich erkennen lässt,
dass die Probe ein Mischkristall aus MgTiO3 und CaTiO3 umfasst.
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Die
relative Dielektrizitätskonstante εr und der
Temperaturkoeffizient τf
jeder Probe wurden gemäß dem „Method
of Testing Die lectric Characteristics of Fine Ceramics for Microwaves" der japanischen
Industrienormen (JIS R 1627) bestimmt. Die Messergebnisse für die relative
Dielektrizitätskonstante εr sind in
7 und
nachfolgend in Tabelle 4 dargestellt und die Messergebnisse für den Temperaturkoeffizienten τf sind in
8 und
nachfolgend in Tabel le 5 dargestellt. Tabelle
4
Tabelle
5
Molverhältnis c
von CaTiO3 | Temperaturkoeffizient τf bei 1300°C (ppm/K) |
0,00 | –57,6 |
0,05 | –8,6 |
0,07 | 18,7 |
0,09 | 48,3 |
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Wie
anhand von 8 und der vorstehenden Tabelle
5 ersichtlich ist, ist festzustellen, dass sich der Temperaturkoeffizient τf bei steigendem
CaTiO3-Gehalt allmählich proportional verändert. Wenn
das Molverhältnis
c von CaTiO3 um 0,06 liegt, wird der Temperaturkoeffizient τf im Wesentlichen
null und verlagert sich ins Minus, wenn das Verhältnis kleiner als 0,06 ist
und ins Plus, wenn das Verhältnis
größer als
0,06 ist. Wie in 7 und der vorstehenden Tabelle
4 dargestellt ist, verändert
sich andererseits die relative Dielektrizitätskonstante εr nicht so
sehr, selbst wenn sich der CaTiO3-Gehalt
verändert.
Dies bedeutet, dass durch die Beeinflussung des CaTiO3-Gehalts der Temperaturkoeffizient τf unabhängig beeinflusst
werden kann. Insbesondere wenn das Molverhältnis c von CaTiO3 so
eingestellt wird, dass es im Bereich von 0,03 bis 0,08 liegt, kann der
Temperaturkoeffizient τf
im Bereich von ±30
ppm/K geregelt werden.
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Es
wurde auch die relative Dichte jeder hergestellten Probe bestimmt.
Die Messergebnisse sind in 9 und der
nachfolgenden Tabelle 6 dargestellt. Wie anhand von 9 und
Tabelle 6 ersichtlich ist, weist die relative Dichte ein Niveau
auf, bei dem keine Probleme verursacht werden, wenn die Temperatur
1250°C oder
mehr beträgt.
Deshalb kann, wenn CaTiO3 zur Beeinflussung
des Temperaturkoeffizienten τf
verwendet wird, gesagt werden, dass die Brenntemperatur vorzugsweise
auf 1250°C
oder darüber
eingestellt wird.
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Gemäß dem Verfahren
zur Herstellung der Proben der dielektrischen Porzellanzusammensetzung wurden
Proben hergestellt, die jeweils MgTiO3,
Mg2SiO4 und CaTiO3 umfassten.
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10 zeigt
die Messergebnisse einer Probe mit 0,2275 MgTiO3 – 0,6825
Mg2SiO4 – 0,09 CaTiO3, wobei a = 0,2275, b = 0,6825 und c = 0,09,
die unter Verwendung eines Röntgendiffraktometers
gemessen wurden. Anhand des Röntgendiffraktogramms
kann beobachtet werden, dass Spitzen vorhanden sind, die auf MgTiO3, Mg2SiO4 beziehungsweise CaTiO3 zurückzuführen sind,
woraus sich erkennen lässt,
dass die Probe ein Mischkristall aus MgTiO3,
Mg2SiO4 und CaTiO3 umfasst.
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In
einem MgTiO
3-Mg
2SiO
4-CaTiO
3-System wurden
verschiedene Proben hergestellt, wobei 0,05 mol CaTiO
3 festgelegt
wurden (c = 0,05) und wobei die Substitutionsmenge an Mg
2SiO
4 verändert wurde.
Die Messergebnisse für
die relative Dielektrizitätskonstante εr in diesem
Fall sind in
11 und nachfolgend in Tabelle 7
dargestellt, die Messergebnisse für den Temperaturkoeffizienten τf sind in
12 und
nachfolgend in Tabelle 8 dargestellt und die ermittelte relative
Dichte in
13 und nachfolgend in Tabelle
9. Tabelle
7
Tabelle
8
Molverhältnis b
von Mg2SiO4 | Temperaturkoeffizient τf bei 1300°C (ppm/K) |
0,0000 | –8,6 |
0,2375 | –21,1 |
0,4750 | –30,5 |
0,7125 | –40,6 |
0,9500 | –44,7 |
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Im
MgTiO
3-Mg
2SiO
4-CaTiO
3-System wurden
verschiedene Proben hergestellt, wobei MgTiO
3:Mg
2SiO
4 auf 1:3 festgelegt
und wobei die Substitutionsmenge an CaTiO
3 verändert wurde.
Die Messergebnis se für
die relative Dielektrizitätskonstante εr in diesem
Fall sind in
14 und nachfolgend in Tabelle
10 dargestellt, die Messergebnisse für den Temperaturkoeffizienten τf sind in
15 und
nachfolgend in Tabelle 11 dargestellt und die ermittelte relative
Dichte in
16 und nachfolgend in Tabelle
12. Tabelle
10
Tabelle
11
Molverhältnis c
von CaTiO3 | Temperaturkoeffizient τf bei 1350°C (ppm/K) |
0,00 | –62,0 |
0,05 | –40,6 |
0,07 | –27,3 |
0,09 | –2,9 |
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Wie
aus diesen Figuren und Tabellen ersichtlich ist, ist es auch im
Dreikomponentensystem möglich, die
relative Dielektrizitätskonstante εr durch Abstimmung
des Mg2SiO4-Gehalts
zu beeinflussen und den Temperaturkoeffizienten τf durch Abstimmung des CaTiO3-Gehalts
zu beeinflussen. Bei der Zusammensetzung 0,2275 MgTiO3 – 0,6825
Mg2SiO4 – 0,09 CaTiO3, die mit dem Ziel hergestellt wurde, dass
die relative Dielektrizitätskonstante εr = 10 und
dass der Temperaturkoeffizient τf
= 0, wurde festgestellt, dass die relative Dielektrizitätskonstante εr = 10,86
und dass der Temperaturkoeffizient τf = –2,7 ppm/K.
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Zudem
wurde unter Berücksichtigung
der relativen Dichte jeder hergestellten Probe anhand von 13 und 16 und
Tabelle 9 und 12 festgestellt, dass gute Ergebnisse erzielt werden
konnten, wenn die Brenntemperatur 1300°C oder mehr betrug.
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Wie
aus der vorstehenden Beschreibung ersichtlich ist, können gemäß der vorliegenden
Erfindung die relative Dielektrizitätskonstante εr und der
Temperaturkoeffizient τf
beeinflusst werden, damit eine dielektrische Porzellanzusammensetzung
mit einer relativen Dielektrizitätskonstante εr bereitgestellt
werden kann, die für den
Submillimeter- und Millimeterwellenbereich geeignet ist, und mit
einem Temperaturkoeffizienten τf,
der so beeinflusst werden kann, dass er bei einem Wert in der Nähe von 0
liegt.
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Unter
Verwendung der dielektrischen Porzellanzusammensetzung als Dielektrikum
kann ebenfalls gemäß der vorliegenden
Erfindung ein dielektrischer Resonator bereitgestellt werden, der
im Submillimeter- und Millimeterwellenbereich eingesetzt werden
kann. Da die dielektrische Porzellanzusammensetzung eine entsprechende
relative Dielektrizitätskonstante εr besitzt,
können
bei dem dielektrischen Resonator die Maßtoleranzen vermindert werden,
um bei der Herstellung die Ausgestaltung eines dielektrischen Resonators
zu vereinfachen. Darüber
hinaus kann der Temperaturkoeffizient auch gemäß dem Temperaturkoeffizienten
der umgebenden Teile und Ähnlichem
geregelt werden.
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Zusammenfassung
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(in Verbindung mit 1)
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Die
vorliegende Erfindung betrifft eine dielektrische Porzellanzusammensetzung,
die besonders ausgezeichnete Eigenschaften im Millimeterwellenbereich
aufweist, einen dielektrischen Resonator, bei dem die Zusammensetzung
verwendet wird, und ein Verfahren für die Herstellung der Zusammensetzung
und des Resonators, mit dem die Eigenschaften (relative Dielektrizitätskonstante εr und Temperaturkoeffizient τf) beeinflusst
werden können.
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Die
erfindungsgemäße dielektrische
Porzellanzusammensetzung zeichnet sich dadurch aus, dass sie aus
MgTiO3, Mg2SiO4 und CaTiO3, besteht
wobei die Zusammensetzung a + b + c = 1, 0 < b < 1
und 0 < c ≤ 0,15 erfüllt, wobei
a ein Molverhältnis
von MgTiO3 bezeichnet, b ein Molverhältnis von
Mg2SiO4 bezeichnet
und c ein Molverhältnis
von CaTiO3 bezeichnet.