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Die
vorliegende Erfindung betrifft einen kapazitiven Abstandssensor
insbesondere einen Sensor für geringe
Abstände
(Mikrometer bis Millimeterbereich).
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Sensoren
für geringe
Abstände
werden unter anderem verwendet als Druck-, Näherungs-, Genauigkeits-, Spannungs-
und Beschleunigungssensoren z. B. in integrierten Mikrofonen und
zum Erfassen von Fingerabdrücken.
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Insbesondere
für die
Erfassung von Fingerabdrücken
(worauf hierin lediglich beispielhaft als eine bevorzugte Anwendung
der vorliegenden Erfindung Bezug genommen wird) umfassen herkömmliche
Sensoren vielfältige
Arten der Erfassung wie z. B. optische, piezoelektrische, variable
leitfähige,
thermische, Ultraschall- und kapazitive Erfassung, von denen die
vielversprechendsten in Bezug auf die Präzision, Größe, Produktion und Kosten kapazitive
Sensoren sind.
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Kapazitive
Sensoren basieren auf dem Prinzip, dass der Kapazitätswert zwischen
zwei Kondensatorplatten umgekehrt proportional zum Abstand zwischen
ihnen ist, so dass es bei Verwendung des kontaktierenden Hautgewebes
als eine Kondensatorplatte des Kapazitätssensors und durch Bestimmen
des Kapazitätswerts
möglich
ist, die Erhebungen und die Gräben
des Fingerabdrucks zu lokalisieren. Dies ist das Prinzip, das in
der Patentschrift
US 5,325,442 von
Knapp verwendet wird, das sich auf einen Sensor mit einer Feldanordnung
von Elementarzellen bezieht, die jeweils eine Messelektrode und
eine elektronische Schalteinrichtung aufweisen. Die Elektrode ist
mit einem dielektrischen Material beschichtet, die beispielsweise
ein Passivierungsoxid oder eine Polymerverbindung aufweist, auf
die der Finger aufgelegt wird, wobei die Epidermis das dielektrische
Material berührt.
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Wenn
eine Zelle ausgewählt
wird, wird eine vorbestimmte Änderung
eines Potentials an die Elektrode angelegt, um an den Anschlüssen eine
entsprechende Ladungsänderung
zu induzieren. Das Auftreten der Ladungsänderung hängt von dem Kapazitätswert,
der der Elektrode zugeordnet ist, ab und wird durch Verstärkerelemente,
die mit dem Ausgang der Vorrichtung verbunden sind, ausgelesen.
Um den Wirkungsgrad zu verbessern, legt die obige Patentschrift
ein Oberflächengitter
nahe, das mit einem Referenzpotential verbunden ist, um das Hautgewebe
in geeigneter Weise mit einer Vorspannung zu versehen.
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In
dem oben beschrieben bekannten kapazitiven Sensor variiert der Kapazitätswert zwischen
den Kondensatorplatten eines Kondensators jeweils umgekehrt proportional
zum Abstand zwischen den Kondensatorplatten, wodurch sich das Problem
stellt, die resultierenden Daten zu normalisieren. Insbesondere,
wenn der gemessene Kapazitätswert
sehr klein ist, treten bei Vorliegen eines geringen Signalrauschverhältnisses ernsthafte
Schwierigkeiten auf, die Ladung zu detektieren und die verschiedenen
Zwischenladungsniveaus, die den verschiedenen Grautönen des
zu erzeugenden Bildes entsprechen, aufzulösen.
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Das
US-Patent 4,766,389 betrifft eine Anordnung eines Berührungssensorsystems,
das bei der Bestimmung einer Objektform, Kontur, Ausrichtung und
des Schlupfes verwendet wird. Feldanordnungen aus mehreren Elementen
werden sowohl für
das kollektive als auch das separate Erfassen von Kapazitätseigenschaften
ausgelegt, wodurch eine Vielzahl von berührungslosen und kontaktbasierten
Messungen, die vorgenommen werden sollen, möglich ist.
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Die
europäische
Patentanmeldung
EP 0790479 betrifft
einen kapazitiven Abstandssensor. Der Sensor weist einen ersten
Anker auf, der einem zweiten Anker gegenüberliegt, dessen Abstand gemessen
werden soll. Die Sensoranordnung umfasst eine Anzahl von Sensorzellen
in einer Feldanordnung, wobei jede Sensorzelle einen invertierenden
Verstärker
aufweist.
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Das
US-Patent 5,325,442 betrifft eine Fingerabdruck-Detektionseinrichtung und Erkennungssystem mit
einer Zeilen-/Spaltenanordnung
von Sensorelementen. Die Sensorzellen sind aktiv durch einen Treiberschaltkreis
aktivierbar. Jedes Sensorelement enthält eine Sensorelektrode, die
durch isolierendes Material bedeckt ist und die so gestaltet ist,
um einen Finger aufzunehmen. Kapazitätswerte, die durch den Finger
bewirkt werden, werden gemessen, indem ein Potenzial an die Messelektroden
angelegt wird und die Ladungseigenschaften gemessen werden.
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Die
vorliegende Erfindung betrifft einen kapazitiven Abstandssensor
zum Messen von kleinen Abständen
zwischen der Sensoreinrichtung und einem Objekt. Der Abstandssensor
umfasst eine erste und eine zweite Kondensatorplatte zum Bilden
eines ersten bzw. zweiten Kapazitätswertes zwischen den Kondensatorplatten
und dem Objekt, wenn diese neben dem Objekt angeordnet werden. Eine
weitere dritte Kapazität
kann auch zwischen den zwei Kondensatorplatten vorhanden sein. Die
erste und zweite Kondensatorplatte sind in einem geometrischen Muster
angeordnet, bei dem mehrere Flächen
der ersten Kondensatorplatte benachbart zu mehreren Flächen der
zweiten Kondensatorplatte angeordnet sind, und diesen gegenüberliegen.
Der Abstandssensor umfasst auch einen Verstärker mit einem Eingang, der
mit einer der Kondensatorplatten verbunden ist und einem Ausgang,
der mit einer weiteren der Kondensatorplatten verbunden ist, um
einen Gegenkopplungszweig zu bilden, der die erste und zweite Kapazität umfasst.
Die Sensoreinrichtung kann auch ein Erdungselement aufweisen, das
die erste and zweite Kondensatorplatte umgibt, um einen Entladungspfad
für elektrostatische
Entladung, die durch das Objekt verursacht wird, zur Verfügung zu
stellen.
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Gemäß eines
Aspekts der Erfindung wird eine integrierte Sensoreinrichtung zur
Verfügung
gestellt, um einen Abstand zwischen der Sensoreinrichtung und einem
Objekt zu detektieren, wobei die Sensoreinrichtung eine erste Kondensatorplatte
zum Bilden einer ersten Kapazität
zwischen der ersten Kondensatorplatte und dem Objekt, wenn sie neben
dem Objekt angeordnet ist, und eine zweite Kondensatorplatte zum
Bilden einer zweiten Kapazität
zwischen der zweiten Kondensatorplatte und dem Objekt, wenn sie
neben dem Objekt angeordnet ist, umfasst, wobei ein Verstärker einen
Eingang und einen Ausgang aufweist, wobei der Eingang mit entweder
der ersten oder zweiten Kondensatorplatte verbunden ist, und der
Ausgang mit der entsprechend anderen der ersten und zweiten Kondensatorplatte
verbunden ist, um einen Gegenkopplungszweig zu bilden, der die erste
und zweite Kapazität
umfasst, wobei eine Ausgangsspannung an dem Verstärkerausgang
bereitgestellt wird, die proportional zu einer Entfernung zwischen
der ersten Kondensatorplatte und dem Objekt ist, wobei die Sensoreinrichtung
dadurch gekennzeichnet ist, dass die erste und zweite Kondensatorplatte
im wesentlichen in einer ebenen Anordnung zueinander angeordnet
sind, wobei mehrere Flächen
der ersten Kondensatorplatte benachbart zu mehreren Flächen der
zweiten Kondensatorplatte angeordnet sind und diesen gegenüberliegen.
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Fingerabdruck-
und andere biometrischen Sensoren, die gemäß der vorliegenden Erfindung
aufgebaut werden, werden zum Verhindern von unautorisierter Verwendung
von Mobiltelefonen, Laptopcomputern, Kraftfahrzeugen, Auszahlungsautomaten,
Kredit/Bankkartenlesern, POS-Terminals und Smartcards verwendet.
Sie sind auch nützlich
beim Authentifizieren von elektronischen Finanztransaktionen, persönlichen E-Mails,
der Zugangscodierung von Gebäuden,
usw.. Die biometrische Identifikation, wie beispielsweise die persönliche Identifikation
und einer alternativen Authentifikation, die durch Vorsehen eines
Sensors durchgeführt
werden kann, wie durch in der vorliegenden Erfindung angegeben,
umfasst die Hand- oder Fingerform, Gesichtsform und Gesichtsmerkmale.
Zusätzlich
könnte
die Sensoreinrichtung der vorliegenden Erfindung für eine nicht
biometrische Erfassung verwendet werden, wie beispielsweise für die Detektion
der Handschrift, einer Schalterbetätigung und für alle anderen
Vorrichtungen, die eine Empfindlichkeit bezüglich der Annäherung eines
Objekts erfordern.
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Einige
Ausführungsformen
der vorliegenden Erfindung werden nun beispielhaft mit Bezug auf
die beigefügten
Zeichnungen erläutert,
in denen:
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1 eine Sensoreinrichtung
zum Erfassen von persönlichen
Merkmalen, wie Fingerabdrücke,
zeigt, die Ausführungsformen
der vorliegenden Erfindung umfassen kann;
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2 ein Detail einer Zelle
einer Sensoreinrichtung, die in 1 gezeigt
ist, darstellt;
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3 ein elektrisches Äquivalent
der Zelle, die in 2 gezeigt
ist, darstellt;
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4 eine Darstellung, die
einen Finger zeigt, der zwischen zwei nebeneinander liegenden Zellen
der Sensoreinrichtung, die in 1 gezeigt
ist, darstellt;
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5 ein Blockdiagramm der
Sensoreinrichtung, die in 1 gezeigt
ist, zeigt;
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6 ein Schaltkreisdiagramm
einer Ausführungsform
der Zelle, die in 2 gezeigt
ist, darstellt;
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7 ein Bild eines Fingerabdrucks
zeigt, das durch die Sensoreinrichtung aus 1 erfasst wurde;
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8 eine Draufsicht auf eine
erste Ausführungsform
der Zelle, die in 2 gezeigt
ist, darstellt;
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9 eine Draufsicht auf eine
zweite Ausführungsform
der Zelle, die in 2 gezeigt
wird, darstellt;
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10 eine Draufsicht auf eine
dritte Ausführungsform
der Zellen, die in 2 gezeigt
sind, darstellt;
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11 eine Draufsicht auf eine
vierte Ausführungsform
der Zellen, die in 2 gezeigt
sind, darstellt;
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12 eine Draufsicht auf eine
fünfte
Ausführungsform
der Zellen die in 2 gezeigt
sind, darstellt; und
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13 eine Draufsicht auf eine
Feldanordnung von Sensorzellen einer Sensoreinrichtung gemäß der vorliegenden
Erfindung zeigt.
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1 zeigt eine Sensoreinrichtung 1 gemäß der vorliegenden
Erfindung, die vorzugsweise in einem integrierten Chip vorgesehen
ist, um einen Abstand zwischen der Sensoreinrichtung und einem Objekt
zu messen. Der Ausdruck „Objekt", wie er in dieser
Beschreibung verwendet wird, wird gemäß seiner breitesten Bedeutung
verwendet und kann feste, flüssige,
gasförmige
und plasmabasierte Dinge umfassen. Die Sensoreinrichtung 1 umfasst
eine Anzahl von Zellen 2, die als Feldanordnung 3 angeordnet
sind, und jeweils ein Sensorelement bilden. Die Einfachheit der
einzelnen Zellen 2 ermöglicht
der Sensoreinrichtung 1, in integrierter Form in einem
einzigen Halbleiterchip eingesetzt zu werden.
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Die
Sensoreinrichtung 1 umfasst weiterhin eine horizontale
Auslesestufe 5 und eine vertikale Auslesestufe 6,
um zu einer bestimmten Zeit eine der Zellen 2 gemäß einem
vorbestimmten Abtastmuster zu aktivieren. Vorzugsweise aktivieren
die Stufen 5,6 die Ausgänge der Zellen 2 nacheinander,
um die Zellen auszulesen, und weisen Schieberegister auf. Alternativ
könnten
andere Zellenausleseeinrichtungen verwendet werden, wie z. B. einen
Dekodierer mit wahlfreiem Zugriff, der adressierte Zellen ausliest
anstatt die Zellen 2 nacheinander auszulesen.
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Die
Sensoreinrichtung 1 umfasst auch eine Versorgungs- und
Logikstufe 7, die die Komponenten der Einrichtung mit Spannung
versorgen (einschließlich
der Zellen 2), die notwendigen Bezugsspannungen zuführt und
die Abfolge der vorgesehenen Schritte steuert (wie nachfolgend ausführlich beschrieben
wird). Insbesondere zeigt 1,
dass die Versorgungs- und Logikstufe 7 eine Spannungsquelle 12 zum
Erzeugen einer Änderung
der Bezugsspannung ΔVR umfasst. Ein Puffer 8 ist mit
den Ausgängen
aller Zellen 2 verbunden und liefert am Ausgang 10 der
Sensoranordnung 3 die an den Ausgängen der Zellen 2 vorhandenen
Signale, die durch die Auslesestufe 5, 6 aktiviert
wurden, nacheinander.
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Wie
in 2 gezeigt, umfasst
jede Zelle 2 einen invertierenden Verstärker 13 mit der Verstärkung A und
mit geringer Leistungsaufnahme, der einen Eingang 16 mit
einer Eingangsspannung Vi und einen Ausgang 17 mit
einer Ausgangsspannung Vo, der ebenfalls
den Ausgang der Zelle 2 definiert, bereitstellt. Jede Zelle 2 umfasst
auch eine erste und zweite Kondensatorplatte 23, 24 gleicher
Fläche,
die jeweils so ausgerichtet ist, dass sie der Hautoberfläche 18 des
zu detektierenden Fingers entgegengerichtet ist. Vorzugsweise sind die
erste und zweite Kondensatorplatte 23, 24 koplanar
zueinander. Zusätzlich
umfasst die erste Kondensatorplatte 23 eine Fläche 35,
die einer Fläche 36 der
zweiten Kondensatorplatte 24 entgegengerichtet ist, und die
Flächen 35, 36 sind
voneinander durch eine erste Passivierungsschicht 90, wie
es ausführlicher
mit Bezug auf die 8–12 beschrieben wird, getrennt.
Ein Rücksetzschalter 19 ist
zwischen dem Eingang 16 und Ausgang 17 des invertierenden
Verstärkers 13 angeschlossen.
Eine Eingangskapazität 20 ist
zwischen einem Eingang 21 der Zelle 2 und dem
Eingang 16 des invertierenden Verstärkers 13 angeschlossen.
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Insbesondere
sind die erste bzw. zweite Kondensatorplatte 23, 24 jeweils
mit dem Ausgang 17 und dem Eingang 16 des invertierenden
Verstärkers 13 verbunden,
so dass ein Ladungsintegrator realisiert wird. Die erste und zweite
Kondensatorplatte 23 und 24 sind mit einer dielektrischen
Isolierungsschicht 25 bedeckt, die die Fläche der
integrierten Sensoreinrichtung 1 bedeckt, einschließlich der
gesamten Feldanordnung 3 der Zellen 2. Im Betrieb
bildet daher die Hautoberfläche 18 eine
dritte Kondensatorplatte, die der ersten und zweiten Kondensatorplatte 23, 24 gegenüberliegt
und mit ihnen ein Paar von in Serie geschalteten Kapazitäten bildet,
die zwischen dem Eingang 16 und dem Ausgang 17 des
invertierenden Verstärkers 13 rückgekoppelt
sind. Demgemäß ist ein
Kontaktgitter nicht erforderlich, um die Hautoberfläche mit
einer konstanten Spannung vorzuspannen. Zusätzlich wird eine am Randbereich
befindliche, dritte Kapazität
zwischen der ersten und zweiten Kondensatorplatte 23, 24 gebildet.
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Der
Schalter 19 ist ein gesteuerter Schalter, der mit Hilfe
von einer bekannten Technologie (z. B. als MOS-Schalter) gebildet
ist und ein Steuersignal R von der Versorgungs- und Logikstufe 7 empfängt. Der
Eingang 21 der Zelle 2 ist ebenfalls mit der Versorgungs-
und Logikstufe 7 verbunden, um ein Spannungssignal ΔVR, wie nachfolgend beschrieben, zu empfangen.
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Um
Fingerabdrücke
zu erfassen, wird die Hautoberfläche 18 auf
die Oberfläche
der integrierten Sensoreinrichtung 1 an der Feldanordnung 3 angeordnet,
um die Kapazitäten,
die die Rückkopplungsschleifen
der Verstärker 13 aller
Zellen 2 bilden, zu vervollständigen. Zu Beginn der Messung
sind die Schalter 19 aller Zellen geschlossen und das Spannungsniveau
von jedem der Eingänge 21 ist
konstant, so dass die Eingangsspannung Vi aller
Zellen 2 auf das gleiche Potential wie die Ausgangsspannung
Vo zwischen dem Versorgungspotential und
dem Massepotential bei hoher Verstärkung oder hoher logischer
Schwellenspannung VT des invertierenden
Verstärkers 13 gebracht
wird.
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Nachfolgend öffnet die
Versorgungs- und Logikstufe 7 alle Schalter 19 gleichzeitig
und versorgt alle Eingänge 21 mit
einem Spannungsschritt ΔVR, so dass eine Ladungsänderung ΔQ = CI × ΔVR (wobei Ci dem Kapazitätswert der
Eingangskapazität 20 entspricht)
an den Eingängen
jeder Eingangskapazität 20 induziert wird,
um, wie nachfolgend beschrieben wird, ein Auslesen des lokalen Abstandes „d" zwischen der ersten
und zweiten Kondensatorplatte 23, 24 und der Hautoberfläche 18,
die ihnen gegenüberliegt,
zu ermöglichen.
Der zentrale Abstand „d" variiert entsprechend,
ob der Punkt der gemessen werden soll, einem Graben, einer Erhebung
oder einem Punkt dazwischen entspricht.
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Die
Auslesestufen 5, 6 aktivieren dann nacheinander
das Auslesen der Zellen 2, so dass das Spannungssignal
an dem Ausgang 10 des Puffers 8 an ein System
zum Darstellen des Abstandes in bekannter Weise mit Hilfe von Gaustufen
bereitgestellt wird und so eine dreidimensionale Darstellung der
Hautoberfläche
zur Verfügung
stellt.
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Die
Art, mit der der lokale Abstand „d" zwischen der ersten und zweiten Kondensatorplatte 23, 24 jeder Zelle 2 und
der dritten Kondensatorplatte, die durch die Hautoberfläche 18 gebildet
wird, detektiert wird, wird nun mit Bezug auf das elektrische Ersatzschaubild
in 3 beschrieben.
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3 zeigt eine Eingangsersatzkapazität 30 und
eine Ausgangsersatzkapazität 31 des
invertierenden Verstärkers 13 und
die Ladungsflussrichtung (angegeben durch die Pfeile), die den Spannungsänderungen
in den Kondensatorplatten entspricht. 3 zeigt
auch eine erste Rückkopplungskapazität 33,
die durch die erste Kondensatorplatte 23 und die Hautoberfläche 18 gebildet
ist, eine zweite Rückkopplungskapazität 34,
die durch die zweite Kondensatorplatte 24 und die Hautoberfläche 18 gebildet
ist, und eine dritte Rückkopplungskapazität 37,
die zwischen der ersten und zweiten Kondensatorplatte 23, 24 gebildet
ist.
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Angenommen,
dass Cl der Eingangsersatzkapazität 30 des
invertierenden Verstärkers 13 entspricht; Cr der Gesamtkapazität der Rückkopplungskapazitäten 33, 34 und 37 entspricht;
A der Verstärkung
des invertierenden Verstärkers 13 entspricht; ΔQ der in
der Eingangsersatzkapazität 30 induzierten
Ladungsänderung um
den Spannungsschritt ΔVR ist, entspricht; ΔQi der
Ladungsänderung,
die in der Eingangsersatzkapazität 30 als
Ergebnis des Schritt ΔVR gespeichert ist, entspricht; ΔQr der Ladungsänderung in dem Rückkopplungszweig,
der durch die Serienschaltung der Rückkopplungskapazitäten 33, 34 gebildet
ist, entspricht; ΔVi dem Spannungsschritt an dem Eingang 16 des
invertierenden Verstärkers 13 entspricht; ΔVo der entsprechenden Spannungsänderung
an dem Ausgang 17 entspricht (= –AΔVi);
S der Größe der Oberseite
jeder Kondensatorplatte 23, 24 der Kapazitäten 33, 34 (der
Seite, die der Hautoberfläche
18 am nächsten
ist) entspricht; e0 der Dielektrizitäts-Konstanten
entspricht (in der Fingerabdruckanwendung ist der durchschnittliche
Abstand zwischen der Hautoberfläche 18 und
der isolierenden Schicht 25 – typischerweise 60 μm in den
Gräben – größer als
die Dicke der Schicht 25 – typischerweise 2 μm); und „d" dem lokalen Abstand
zwischen den Kondensatorplatten 23, 24 und der
Hautoberfläche 18 entspricht
(ungefähr
der gleiche für
beide Kondensatorplatten 23, 24 im Hinblick auf
die sehr kleine Größe der Zellen 2 – typischerweise
ungefähr
45 μm);
dann ist die gesamte Rückkopplungskapazität Cr durch
die nachfolgende Gleichung bestimmt:
-
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Weiterhin
gilt:
-
-
So
dass:
-
-
Durch
Einsetzen von (1) in (2) ergibt sich:
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Angenommen
A >> 1 wird (3) zu
-
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Folglich
ist aufgrund der Gegenkopplung, die durch die kapazitive Kopplung
des Ausgangs 17 und des Eingangs 16 des invertierenden
Verstärkers 13 über das
Hautgewebe bewirkt wird, die Änderung
der Ausgangsspannung als Ergebnis des Ladungsschritts direkt proportional
zum Abstand zwischen den Kondensatorplatten 23, 24 und
der Hautoberfläche 18 und
weiterhin abhängig
von der dreidimensionalen Struktur der Haut. Für eine festgelegte Schrittgröße des Eingangsspannungsschritts ΔVi bewegt sich die Ausgangsspannung des Inverters 30 zwischen
zwei Extremwerten abhängig
von dem Rückkopplungs-Kapazitätswert:
(i) das obere Sättigungsniveau,
wenn keine Rückkopplungs-Kapazität vorhanden
ist; (ii) der Wert nahe an der logischen Schwellspannung, wenn die
Rückkopplungs-Kapazität groß ist.
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Bei
geeigneten Verstärkungsniveaus
(z. B. 1000–2000)
ist es möglich,
Unterschiede des Kapazitätswertes
von ungefähr
10 fF zu detektieren und somit Mikrometerabstände zu detektieren. Die Ausgangssignale der
Einrichtung gemäß der Erfindung
sind daher derart, dass sie, wenn sie in Graustufen umgewandelt
werden, eine hochzuverlässige
Darstellung der dreidimensionalen Struktur der Hautoberfläche zur
Verfügung
stellen.
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Der
Betrieb der Sensoreinrichtung 1 kann weiter mit Bezug auf 4 erläutert werden, die eine Darstellung
der Hautoberfläche 18 ist,
die auf einer ersten und zweiten zueinander benachbarten Zelle 2A, 2B der Sensoreinrichtung
angeordnet ist. Es sollte selbstverständlich sein, dass die vorliegende
Erfindung auf Daumen, Handflächen
und auf andere Kontaktoberflächen,
von denen eine Abbildung erwünscht
ist, Anwendung findet. Jede der benachbarten Zellen 2A, 2B ist
im Wesentlichen identisch zu der Zelle 2, die in 2–3 gezeigt
ist, und somit werden zusätzliche
ausführliche
Beschreibungen der Elemente der Zellen 2A, 2B aus Gründen der
Einfachheit weggelassen. Die Schalter 19A und 19B stellen
Rücksetzschalter
dar, wie ausführlicher
an anderer Stelle hierin beschrieben wird. Die Elemente der benachbarten
Zellen 2A, 2B sind mit Bezugszeichen versehen,
die den Bezugszeichen der 2 und 3 entsprechen, wobei entsprechend
ein „A" und ein „B" den Zellen 2A bzw. 2B hinzugefügt sind.
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Die
Hautoberfläche 18,
die in 4 gezeigt ist,
weist eine Erhebung 36, die bei der ersten Zelle 2A liegt,
und eine Vertiefung 38 auf, die bei der zweiten Zelle 2B liegt.
Als Ergebnis erzeugen die erste und zweite Zelle 2A und 2B jeweils
verschiedene kapazitive Kopplungsantworten in der Sensoreinrichtung 1.
Demgemäß erfasst
die erste Zelle 2A einen kleineren Abstand d1, der die
Erhebung 36 angibt, als die zweite Zelle 2B, die einen
größeren Abstand
d2 misst, der die Vertiefung 38 angibt. Der Abstand d2,
der durch die zweite Zelle 2B gemessen wird, ist das Mittel
eines Abstandes d2a zwischen der ersten Kondensatorplatte 23B und
dem Abschnitt der Hautoberfläche 18,
der sich direkt oberhalb der ersten Kondensatorplatte 23B befindet,
und eines Abstandes d2b zwischen der zweiten Kondensatorplatte 24B und
dem Abschnitt der Hautoberfläche 18,
der sich direkt oberhalb der zweiten Kondensatorplatte 24B befindet.
Hinsichtlich eines vereinfachten Modells realisiert diese Struktur
einen Aufbau mit drei Kapazitäten,
der die Differenz zwischen einem Kontaktelement, einer Erhebung,
und einem Nicht-Kontaktelement,
einer Vertiefung, misst.
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Ein
Blockdiagramm der Sensoreinrichtung 1 gemäß einer
Ausführungsform
der Erfindung ist in 5 gezeigt.
Die Sensoreinrichtung 1 umfasst die Sensorfeldanordnung 3,
die über
einen Digital-/Analogwandler (D/A) mit einer I2C-Schnittstelle und
einer Steuereinrichtung 42 und einem Vorspannungsgenerator 44 verbunden
ist. Aus Gründen
der Einfachheit sind die horizontale und vertikale Ausleseeinrichtung 5, 6 und
der Ausgangspuffer 8 nicht in 5 gezeigt, sind jedoch Teil der Sensoreinrichtung 1,
wie sie in 5 gezeigt
ist. Die Sensoreinrichtung 1 umfasst auch einen Oszillator 46 und
einen Zeitsteuerungsgenerator 48, der mit der Sensorfeldanordnung 3 verbunden
ist. Der D/A-Wandler 40, die I2C-Schnittstelle
und die Steuereinrichtung 42, der Vorspannungsgenerator 44,
der Oszillator 46 und der Zeitsteuerungsgenerator 48 bilden
gemeinsam die oben beschriebene Funktionalität der Versorgungs- und Logikeinheit 7.
Die I2C-Schnittstelle und die Steuereinrichtung 42 liefern
ein bidirektionales Kommunikationsprotokoll, das es der Sendeeinrichtung 1 ermöglicht,
mit einem Controller zu kommunizieren, wie z. B. einem herkömmlichen
Computer. Der D/A-Wandler 40 wandelt
digitale Steuersignale von der I2C-Schnittstelle und
der Steuereinrichtung 42 in analoge Signale, die an die
Sensoranordnung 3 gesendet werden, um das Abtasten der
Zellen 2 durch die horizontale und die vertikale Ausleseeinrichtung 5, 6 zu
steuern. Der D/A-Wandler 40 stellt auch analoge Vorspannungen
zur Verfügung,
wie z. B. den Spannungsschritt Vr. Der Zeitsteuerungsgenerator 48 erhält ein einfaches
Taktsignal von dem Oszillator 46 und erzeugt Zeitsteuerungssignale,
die an die Sensoranordnung 3, gesteuert durch die I2C-Schnittstelle und Steuereinrichtung 42,
angelegt werden.
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Um
zu ermöglichen,
dass die Abstandsmessungen (dargestellt durch Spannungen) an den
mit der Sensoreinrichtung 1 verbundenen Computer ausgegeben
werden, umfasst die Sensoreinrichtung einen Analog-Digital-Wandler 50 (A/D),
der zwischen dem Ausgang 10 der Sensoranordnung 3 und
dem Computer angeschlossen ist. Der A/D-Wandler 50 ist
auch mit dem Vorspannungsgenerator 44 und dem Zeitsteuerungsgenerator 48 verbunden,
um dem A/D-Wandler 50 zu ermöglichen, die gemessenen analogen
Spannungen, die von der Sensoranordnung 3 ausgegeben werden,
in digitale Signale, die durch den Computer als Abstandsmessungen
erkannt werden, umzuwandeln. Die Sensoranordnung 3 ist
weiterhin direkt mit dem Computer über eine Synchronisationsleitung 52 verbunden,
die den Computer mit Synchronisationssignalen versorgt, die dem
Computer helfen, die digitalen Abstandsmessungen, die von dem A/D-Wandler 50 empfangen
wurden, korrekt zu interpretieren.
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Ein
ausführliches
Schaltbild einer Ausführungsform
der Zelle 2 der 2 ist
in 6 dargestellt. Die Zelle 2 umfasst
einen ersten und einen zweiten Transistor M1, M2 vom N-Kanal-Typ und einen dritten
und vierten Transistor M3, M4 vom P-Kanal-Typ, die gemeinsam in Reihe geschaltet
sind, um einen invertierenden Verstärker 13 in Kaskodenschaltung
mit einer hohen Verstärkung
zu bilden. Eine erste horizontale Ausleseleitung (hor1) und eine
erste vertikale Ausleseleitung (vert1) sind zwischen der horizontalen
bzw. vertikalen Ausleseeinrichtung 5, 6 und dem
zweiten Transistor M1 bzw. dritten Transistor M3 verbunden, um sicher
zu stellen, dass nur eine Zelle gleichzeitig versorgt wird, wodurch
die Leistungsaufnahme der nicht adressierten Zellen beschränkt wird.
Ein Gate-Anschluß des
ersten Transistors M1 ist über
die Eingangskapazität 20 der
Zelle 2 mit dem Zelleneingang 21, ΔVr, verbunden, wie oben beschrieben wurde.
Wenn der Spannungsschritt ΔVr an den Eingangsknoten 21 angelegt
wird, kann eine Ladungsmenge dQ = CiΔVr von dem Verstärkereingang 16 abfließen, wie
zuvor beschrieben wurde. Dieser Betriebsmodus ist nützlich,
da durch Ändern
der Größe von ΔVr der Sensor verschiedene Bereiche von gemessenen
Kapazitätswerten
abdecken kann. Der Gate-Anschluß des
vierten Transistors M4 ist mit einer festgelegten Vorspannung Vp verbunden.
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Der
Ausgang 17 des invertierenden Verstärkers 13 ist mit Hilfe
einer Sourcefolgerstufe (fünfter
Transistor M5) in eine vertikale Ausgangsleitung 54 mit
Hilfe eines sechsten Transistors M6 gepuffert. Ein siebter Transistor
M7 verbindet die vertikale Ausgangsleitung 54 mit dem Ausgangspuffer 8 der
Sensoreinrichtung 1. Der Gate-Anschluß des sechsten Transistors
M6 ist über
eine zweite horizontale Ausleseleitung (hor2) mit der horizontalen
Ausleseeinrichtung 5 verbunden, und der Gate-Anschluß des siebten
Transistors M7 ist über
eine zweite vertikale Ausleseleitung (vert2) mit der vertikalen
Ausleseeinrichtung 6 verbunden, wodurch sichergestellt
ist, dass nur eine Zelle gleichzeitig mit dem Ausgangspuffer 8 in
Verbindung steht. Dies reduziert die Ausgangskapazität der Folgerstufe 46 erheblich,
da nur eine vertikale Ausgangsleitung gleichzeitig mit dem Ausgangspuffer 8 verbunden
ist.
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Der
Rücksetzschalter 19 ist
zwischen dem Eingang 16 und dem Ausgang 17 des
invertierenden Verstärkers 13,
wie es oben beschrieben ist, angeschlossen. Der Rücksetzschalter 19 ist
gestaltet, um die Ladungsinjektion in den Eingang 18 von
der Sättigung
des invertierenden Verstärkers 13 abzuhalten.
Wenn der Übergang
beim Ausschalten des Rücksetzschalters 19 langsam
genug erfolgt, verglichen mit dem invertierten Verstärkungs-Bandbreiteprodukt
des invertierenden Verstärker 13,
wird ein Großteil
der Kanalladung des Rücksetzschalters
in den Ausgangsknoten injiziert. Der Rücksetzschalter 19 umfasst
einen achten und einen neunten Transistor M8, M9, die mit ihren
Drain-Anschlüssen
miteinander und mit dem Eingang 16 sowie mit ihren Sorceanschlüssen miteinander
und mit dem Ausgang 17 verbunden sind. Die Größe des achten
Transistors M8 ist klein, um die absolute Menge der injizierten
Ladung zu reduzieren. Das reduzieren der Abmessungen des achten
Transistors M8 verschlechtert die Stabilität des invertierenden Verstärkers 13,
da es die Schleifenverstärkungsbandbreite
reduziert. Bei diesem Aufbau ist der neunte Transistor M9 stärker als
der achte Transistor M8 und wird bei einer Phase aktiviert, die
von der am achten Transistor M8 anliegenden Phase verschieden ist.
Während
der Rücksetzphase
werden beide Transistoren M8, M9 eingestellt, so dass sie den Widerstand
der Rückkopplungsschleife
reduzieren, so dass man ein Überschwingen
am Ausgang erhält. Während der
Ladungsintegration ist der neunte Transistor M9 zunächst geöffnet, so
dass seine Kanalladung von dem achten Transistor M8 aufgenommen
wird. Schließlich
wird der achte Transistor M8 durch einen flachere Gate-Flanke geöffnet, um
eine geringe Ladungsinjektion an dem Eingang zu gewährleisten.
Es ist selbstverständlich,
dass der neunte Transistor M9 optional ist, weil sich die Ladungsinjektion
weniger auswirkt, wenn die Plattenkapazitäten größer sind.
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In
der bevorzugten Ausführungsform
ist der Chip in einem 0,7 μm
CMOS Digitalprozess hergestellt. Die Zellenfläche beträgt 50 × 50 μ, was zu einer Auflösung von
508 dpi führt.
Ein Abtastbild 56, das für ein 200 × 200 Fenster erzeugt wird,
ist in 7 gezeigt, das
deutlich Graustufen darstellt. Das Bild verschwindet, wenn der Finger
entfernt wird.
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Die
Empfindlichkeit der einzelnen Sensorzellen 2 und somit
der gesamten Sensoreinrichtung 1 kann gesteuert und erhöht werden,
indem die erste und zweite Kondensatorplatte 23, 24 in
einer oder mehreren planaren Anordnungen angeordnet sind. Eine erste
Anordnung der Kondensatorplatten 23, 24 ist in 8 gezeigt.
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Die
erste Kondensatorplatte 23 ist C-förmig und weist zwei Enden 60, 62 auf,
die eine Lücke 64 zwischen
ihnen definieren. Die erste Kondensatorplatte 23 umfasst
ein längliches
erstes, zweites und drittes Segment 66, 68, 70,
die drei Seiten der C-Form
definieren und ein kürzeres
viertes und fünftes
Segment 73, 74, die das erste und zweite Ende 60, 62 auf
einer vierten Seite der C-Form abschließen. Die fünf Segmente 66–74 der
ersten Kondensatorplatte 23 definieren gemeinsam einen
inneren Bereich 76, innerhalb dem ein rechtwinkliger innerer
Abschnitt 78 der zweiten Kondensatorplatte 24 angeordnet
ist. Die zweite Kondensatorplatte 24 umfasst auch einen
länglichen
rechtwinkligen äußeren Abschnitt 80 außerhalb
der ersten Kondensatorplatte und einen Verbindungsabschnitt 82,
der den inneren Abschnitt 78 mit dem äußeren Abschnitt 80 verbindet.
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Die
erste Kondensatorplatte 23 umfasst mehrere Flächen, die
zu der zweiten Kondensatorplatte 24 benachbart sind und
die entsprechenden Flächen
der zweiten Kondensatorplatte 24 gegenüberliegen, wodurch es möglich ist,
dass sich Randkapazitäten
zwischen den Kondensatorplatten bilden. Insbesondere weist die erste
Kondensatorplatte 23 eine erste und eine zweite Fläche 83, 84 auf,
die der ersten und der zweiten Fläche 85, 86 der
zweiten Kondensatorplatte 24 gegenüberliegen. Zusätzlich umfassen
die erste bzw. die zweite Kondensatorplatte 23, 24 die
oberen Flächen 87, 88,
die dem Objekt, das erfasst werden soll, gegenüberliegen, und es ermöglichen,
dass sich eine erste und zweite direkte Kapazität zwischen dem Objekt und der ersten
bzw. zweiten Kondensatorplatte entwickeln.
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Ein
Massering 89, der mit Masse verbunden ist, um einen Entladungspfad
für eine
elektrostatische Entladung, die durch das zu vermessende Objekt
verursacht wird, zur Verfügung
zu stellen, umgibt die Sensorzelle 2 vollständig. Z.
B., wenn die Sensorzelle 2 verwendet wird, um einen Fingerabdruck
zu detektieren, kann der Finger eine elektrostatische Entladung
erzeugen, wenn er sich der Sensorzelle nähert, wodurch eine fehlerhafte
Abstandsmessung verursachen würde,
wenn das Entladen durch eine der Kondensatorplatten 23, 24 zugelassen
wäre. Wie
die Kondensatorplatten 23, 24 ist der Massering 89 eine
strukturierte Metallschicht, die gemäß wohlbekannten Techniken als
Teil eines integrierten Schaltkreises, der die Elemente, die in 2 dargestellt sind, umfasst,
abgeschieden werden kann.
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Der
Massering 89 ist elektrisch und physikalisch von den Kondensatorplatten 23, 24 durch
eine erste Passivierungsschicht 90 getrennt, die auch die
erste Kondensatorplatte 23 von der zweiten Kondensatorplatte 24 physikalisch
trennt und elektrisch voneinander isoliert. Die erste Passivierungsschicht 90 kann
aus vielen bekannten dielektrischen Materialien zusammengesetzt
sein, wie beispielsweise phosphordotiertes Glas (PSG), Siliziumdioxid,
Siliziumnitrit und Siliziumoxinitrit. Eine zweite Passivierungsschicht
(nicht in 8 gezeigt)
wird auf den Kondensatorplatten 23, 24, dem Massering 89 und
der ersten Passivierungsschicht 90 abgeschieden und dient
als dielektrische Isolierungsschicht 25, die in den 2 und 4 gezeigt ist. Der durchschnittliche
Abstand zwischen der ersten und zweiten Kondensatorplatte 23, 24 in
der Ausführungsform,
die in 8 gezeigt ist,
liegt im Allgemeinen zwischen 0,5 und 4 μm, was etwa der typischen Dicke
der Isolierungsschicht 25 entspricht.
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Die
gesamte Rückkopplungskapazität, die von
dem Inverterverstärker 13 wahrgenommen
wird (2), ist aus einer
ersten direkten Kapazität
zwischen der ersten Kondensatorplatte 23 und dem Objekt
einer zweiten direkten Kapazität
zwischen der zweiten Kondensatorplatte 24 und dem Objekt
und einer Randkapazität
zwischen der ersten Kondensatorplatte 23 und der zweiten
Kondensatorplatte 24 zusammengesetzt. Die erste und zweite
direkte Kapazität
variieren gemäß den entsprechenden
Flächen
der Oberseiten der ersten und zweiten Kondensatorplatte 23, 24,
wie es in der Gleichung (1) beschrieben wird. Das Vergrößern der Flächen der
Kondensatorplatten 23, 24 erhöht die Gesamtkapazität, wodurch
die Sensoreinrichtung eine größere Empfindlichkeit
und einen größeren Dynamikbereich
bekommt. Die Randkapazität ändert sich
gemäß den Umfangswerten
für die
erste und zweite Kondensatorplatte 23, 24 d. h.
gemäß einer
Gesamtlänge
der Umfänge
der Kondensatorplatten. Die Breiten der Oberseiten der Kondensatorplatten 23, 24 sind
im Allgemeinen um eine Größenordnung
größer als
die Tiefe der Seiten der Kondensatorplatten und somit tragen die
direkten Kapazitäten
im Allgemeinen mehr zu der Gesamtkapazität bei als die Randkapazität.
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Aufgrund
kürzlich
vorgenommener Experimente scheint es, dass Objekte neben der Sensoreinrichtung 1 sowohl
die direkten Kapazitäten
zwischen den Kondensatorplatten 23, 24 und dem
Objekt als auch die Randkapazität
zwischen den Kondensatorplatten beeinflusst. Daher wird bei einem
Erhöhen
des Gesamtumfangs der Kapazitätenanordnung
bei der Annahme, dass sich die Gesamtfläche nicht ändert, die Sensorzelle veranlasst,
den Abstand zwischen der Sensorzelle und dem Objekt mit einer größeren Auflösung auf
Grund der Randkapazität
zu detektieren. Dies kann erklären,
warum es scheint, dass Anordnungen mit einem höheren Umfang bei Objekten,
die kleiner sind als eine einzelne Sensorzelle 2, wie z.
B. Moleküle,
empfindlicher sind.
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Eine
zweite Ausführungsform
der Sensorzelle 2 ist in 9 gezeigt.
In der Ausführungsform
der 9 weist die erste
Kondensatorplatte 23 mehrere Finger 91 auf, die
abwechselnd zwischen Finger 92 der zweiten Kondensatorplatte 24 eingreifen.
Ein erster Verbindungsabschnitt 93 verbindet die Finger 91 der
ersten Kondensatorplatte miteinander und ein zweiter Verbindungsabschnitt 94 verbindet
die Finger 92 der zweiten Kondensatorplatte miteinander.
Wie in 8 gezeigt ist,
ist die erste Kondensatorplatte 23 von der zweiten Kondensatorplatte 24 und
von dem Massering 89 durch die erste Passivierungsschicht 90 getrennt.
Zusätzlich weist
die erste Kondensatorplatte 23 mehrere Flächen auf,
die den entsprechenden Flächen
der ersten Kondensatorplatte 23 gegenüberliegen. Wie man sieht, ist
der Gesamtumfang für
die Kondensatorplatten 23, 24 in der Anordnung
der 9 größer als
der Gesamtumfang der Kondensatorplatten 23, 24 in
der Anordnung der 8.
Als Ergebnis wird die ineinander greifende Anordnung der 9 eine größere Randkapazität aufweisen
als die Anordnung der 8.
Zusätzlich
weist die ineinander greifende Anordnung der 9 eine größere Empfindlichkeit bei kleineren
Objekten auf, wie beispielsweise Wasserdampf, als die Anordnung
der 8. Jedoch ist die
Anordnung der 8 im Allgemeinen
widerstandsfähiger
und kostet weniger als die ineinander greifende Anordnung der 9 aufgrund der komplizierten
Natur der ineinander greifenden Anordnung.
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Eine
dritte Ausführungsform
der Sensorzelle 2 ist in 10 gezeigt.
Die erste Kondensatorplatte 23 umfasst zwei rechteckige
Abschnitte 96, 98, die diagonal gegenüberliegend
in einem ersten und zweiten Abschnitt der Sensorzelle 2 angeordnet
sind und durch einen Verbindungsabschnitt 100 verbunden
sind. Auf ähnliche
Weise umfasst die zweite Kondensatorplatte 24 auch zwei
rechteckige Abschnitte 102, 104, die diagonal gegenüberliegend
in einem dritten und vierten Abschnitt der Sensorzelle angeordnet
sind und durch einen zweiten Verbindungsabschnitt 106 verbunden
sind. Um das Kurzschließen
der Kondensatorplatten 23, 24 zu vermeiden, ist
einer der Verbindungsabschnitte 100, 106 in einer
niedrigeren Metalllage angeordnet als der andere Verbindungsabschnitt,
wobei eine Passivierungsschicht (nicht gezeigt) die zwei Verbindungsabschnitte voneinander
elektrisch isoliert. Gemäß den 8–9 ist
die erste Kondensatorplatte 23 von der zweiten Kondensatorplatte 24 und
von dem Massering 89 durch die erste Passivierungsschicht 90 getrennt.
Bei einer möglichen
Anordnung, die in 10 gezeigt
ist, weist jede Kondensatorplatte 23, 24 ungefähr 441 μm2 bei einer Gesamtkondensatorfläche von
882 μm2 auf.
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Eine
vierte Ausführungsform
der Sensorzelle 2 ist in 11 gezeigt.
Die erste Kondensatorplatte 23 umfasst fünf Finger 108,
die nach außen
von einem zentralen Abschnitt 110 abstehen. Die erste Kondensatorplatte 23 ist
koplanar zu der zweiten Kondensatorplatte 24 ausgebildet
und von dieser vollständig
umgeben. Die zweite Kondensatorplatte 24 umfasst auch fünf Finger 108,
die in die fünf
Finger 108 der ersten Kondensatorplatte 23 eingreifen.
Und wieder ist die erste Kondensatorplatte 23 von der zweiten
Kondensatorplatte 24 und von dem Massering 89 durch
die erste Passivierungsschicht 90 getrennt. Es ist selbstverständlich,
dass die Anordnungen, die in den 10 und 11 gezeigt sind, kleinere
Gesamtumfänge
aufweisen und der Gesamtumfang der ineinander greifenden Anordnung
der 9 wäre wahrscheinlich
weniger empfindlich gegenüber Objekten,
die kleiner sind als die Sensorzelle 2, wie Wasserdampf
und Moleküle.
Die Anordnungen der 10 und 11 sind einfacher herzustellen,
als die Anordnung der 9 und
sind widerstandsfähiger
und kostengünstiger.
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Eine
fünfte
Ausführungsform
der Sensorzelle 2 ist in 12 gezeigt.
In der Sensorzelle 2 der 12 sind
die erste und zweite Kondensatorplatte 23, 24 spiralförmig angeordnet.
Wie bei den anderen Anordnungen ist die erste Kondensatorplatte 23 von
der zweiten Kondensatorplatte 24 und von dem Massering 89 durch die
erste Passivierungsschicht 90 getrennt. Die spiralförmige Anordnung
der 12 weist einen größeren Gesamtumfang
auf jedoch eine geringere Gesamtfläche als die Kapazitätsanordnung
der 10 und 11. Als Folge ist die spiralförmige Anordnung
der 12 wahrscheinlich
empfindlicher auf sehr kleine Objekte, wie Wasserdampf, wahrscheinlich
aber weniger empfindlich gegenüber
großen
Objekten, wie Finger, aufgrund ihrer geringeren Gesamtfläche, die
zu einer geringeren Gesamtkapazität führt.
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Eine
Draufsicht auf die Feldanordnung 3 der Sensorzelle 2 der
Sensoreinrichtung 1 ist in 13 gezeigt.
In der Ausführungsform
der 13 ist jede der
Sensorzellen 2 quadratisch, obwohl abhängig von der Anwendung andere
rechteckige und andere Formen verwendet werden können. Die Größe jeder
Sensorzelle 25 liegt im Bereich zwischen ungefähr 25 × 25 μm bis ungefähr 100 × 100 μm. Bei einer
Ausgestaltung weist jede Sensorzelle 50 × 50 μm auf, was einer Auflösung von
508 Bildpunkten pro Inch (dpi) entspricht.
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Bei
der Ausführungsform
der 13 werden die Masseringe 89 von
benachbarten Sensorzellen 2 geteilt, um ein Erdungsgitter 112 zu
bilden. Das Erdungsgitter 112 umfasst Erdungsabschnitte 114 zwischen
jeder Zelle und ihrer direkt benachbarten Zellen. Ein solches Erdungsgitter
stellt sicher, dass von dem zu vermessenden Objekt erzeugte ESD
durch das Erdungsgitter direkt zur Masse entladen wird anstatt durch
die Kondensatorplatten 23, 24. Jede der Sensorzellen 2 der
Feldanordnung 3 kann die gleiche Anordnung der Kondensatorplatten 23, 24 aufweisen
oder mehrere Kondensatoranordnungen könnten abhängig von der Anwendung verwendet
werden. Jede Sensorzelle 2 kann eine der Kapazitätsanordnungen
der 8–12 enthalten oder zahlreiche
andere Kapazitätsanordnungen,
wie fraktale Anordnungen oder zahlreiche andere Formen.
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Die
oben beschriebenen Sensorzellen 2 werden vorzugsweise mit
Hilfe herkömmlicher
Verfahren zur Herstellung von integrierten Schaltkreisen aus Silizium
hergestellt. Insbesondere können
alle Elemente der Sensoreinrichtung 1, die in den 1–6 gezeigt
sind, auf einem einzelnen Chip integriert werden. Alternativ können ein
oder mehrere der Elemente wie z. B. der Oszillator 46 getrennt
hergestellt werden und mit den integrierten Elementen der Sensoreinrichtung 1 verbunden
werden.
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Die
Sensoreinrichtungen der 1–6 und 8–13 weisen zumindest die folgenden
Vorteile auf. Insbesondere bietet die beschriebene Sensoreinrichtung
einen hohen Grad an Genauigkeit, ohne das Ausgangssignal aufwändig verarbeiten
zu müssen.
Weiterhin kann die Sensoreinrichtung in einfacher Weise hergestellt und
mit Hilfe aktueller Mikroelektroniktechnologie integriert werden
und ist hochzuverlässig,
kompakt und kostengünstig
herzustellen.
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Die
Sensoreinrichtung gemäß der Erfindung
kann auch vorteilhafterweise in anderen Anwendungen verwendet werden,
die eine genaue Detektion von kleinen Abständen erfordern.
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Weiterhin
kann durch den einfachen Aufbau jeder Zelle eine große Anzahl
von Zellen in einer Feldanordnungsstruktur untergebracht werden,
um zweidimensionale physikalische Größen zu detektieren.
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Es
ist klar, dass Modifikationen an der beschriebenen und dargestellten
Einrichtung vorgenommen werden können,
ohne jedoch von dem Bereich der vorliegenden Erfindung abzuweichen.
Insbesondere, wenn Herstellungstechniken verfügbar sind, die die Bildung
von elastischen Strukturen (Mikrosystemtechniken) erlauben, kann
die Elektrode, deren Abstand gemessen werden soll, direkt mit dem
Eingang oder Ausgang des invertierenden Verstärkers 13 verbunden
sein, um eine der Kondensatorplatten 23, 24 wegzulassen.
Weiterhin können
alle Komponenten durch technische Äquivalente ersetzt werden.
Obwohl z. B. ein Inverter wie z. B. der invertierende Verstärker 13 momentan
aus Gründen
des Aufbaus und des Layout bevorzugt ist, kann der Verstärker 13 durch
jeden invertierenden oder differenzierenden Verstärker (z.
B. ein Operationsverstärker)
in einer ladungsverstärkenden
Anordnung eingesetzt werden, um die Geschwindigkeit des Ausgangssignals
zu erhöhen.