DE69937909T2 - Taktsynchrone Speicheranordnung mit Hochgeschwindigkeitszyklus - Google Patents

Taktsynchrone Speicheranordnung mit Hochgeschwindigkeitszyklus Download PDF

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Description

  • Die vorliegende Erfindung betrifft ein Speichersystem, das einen Halbleiterspeicher verwendet zum Konfigurieren eines SDRAM (Synchron-DRAN), welches bei einer hohen Geschwindigkeit zu betreiben ist, und insbesondere einen Taktzyklus-synchronen Hochgeschwindigkeitsspeicher.
  • Diese Anmeldung basiert auf der japanischen Patentanmeldung Nr. 10-124367 , angemeldet am 7. Mai 1998, der japanischen Patentanmeldung Nr. 10-203454 , angemeldet am 17. Juli 1998, und dem US-Patent 5,973,991 , auf die für weitere Details als Bezugsquelle hingewiesen wird.
  • SDRAM hat Bänke, die beispielsweise eine Vielzahl von Speicherzellen-Arrays (nachstehend als Zellen-Array bezeichnet) umfassen. Eine Leseverstärkerzone in jeder Bank wird durch zueinander benachbarte Zellen-Arrays geteilt. Eine Konfiguration eines solchen Leseverstärkerbereichs darf einen durch denselben belegten Bereich reduzieren. Auch kann eine Eingabe-/Ausgabedatenleitung durch jedes Zellen-Array geteilt werden. Daten werden zu einem Puffer übertragen zur Ausgabe von Datenbursts über solche geteilten Datenleitungen.
  • Wenn auf Daten in einem beliebigen Zellen-Array zugegriffen wird, werden alle Zellen-Arrays in der Bank, die das Zellen-Array, auf das zugegriffen wird, einschließt, alle auf einmal gesteuert. Das heißt, eine Wortleitung (WL) in einem beliebigen Zellen-Array (auf das zuzugreifen ist) wird aktiviert, um auf einen aktiven Pegel zu kommen, und Daten jeder Speicherzelle, die zu dieser WL gehört, werden temporär durch den jeweiligen Leseverstärker gespeichert.
  • Daraufhin werden beliebige Daten über eine Eingabe-/Ausgabe-Datenleitung ausgelesen. Daten der jeweiligen zu der oben erwähnten Wortleitung WL gehörenden Speicherzelle werden neu gespeichert. Nachdem die WL auf einen inaktiven Pegel gesetzt wird, werden eine Bitleitung und der Leseverstärker egalisiert (ausgeglichen). Dann kann ein beliebiges Zellen-Array in der Bank der nächsten Aktivierung unterzogen werden.
  • 14 ist ein Zeitdiagramm zum Zeigen eines Beispiels von Datenzugriffsdesign gemäß dem oben beschriebenen Stand der Technik. Ein /RAS-Signal (Zeilenadressimpulssignal bzw. Row Address Strobe Signal) (das vorangestellte "/" wird durch einen horizontalen Balken in den Zeichnungen gekrönt) verleiht einer Wortleitung eines ausgewählten Zellen-Arrays einen Aktivpegel während "L" (Niederpegel). Als ein Ergebnis wird es möglich, auf Daten in jeder Speicherzelle, die zu dem ausgewählten WL gehört, zuzugreifen, d. h., die Seitendaten.
  • Ein Adressenwert (Add) zu der Zeit wenn das /RAS-Signal auf "L" abfällt, kennzeichnet ein Zellen-Array und eine auszuwählende Wortleitung (WL) (wie durch (R) gekennzeichnet). Daraufhin wird jedes Mal, wenn das /CAS-Signal (Spaltenadressimpulssignal bzw. Column Address Strobe Signal) (das vorangestellte "/" wird in Zeichnungen durch einen horizontalen Balken gekrönt) abfällt, eine Seitenadresse bestimmt (wie durch (C1) bis (C4)). Demgemäß werden Daten von einem Leseverstärker in einer der Seitenadresse entsprechenden Spalte ausgegeben.
  • Für den internen Betrieb werden während einer Periode bzw. Zeitdauer, in der /RAS auf "L" (Niederpegel) gesetzt wird, Daten in der jeweiligen, zu der Wortleitung WL in dem aktivierten Zellen-Array gehörenden Speicherzelle in dem Zustand des Lesens, des Verstärktseins (gespeicherte Bedingung) und des Wiederherstellungszustandes (S & R) beibehalten. EQL ist ein egalisierender Betrieb von einer Bitleitung und einem Leseverstärker. EQL funktioniert, nachdem /RAS zu "H" (Hochpegel) wird und die Wortleitung WL einen inaktiven Pegel erhält.
  • Ein solcher Datenzugriffsbetrieb ermöglicht einen Hochgeschwindigkeitszugriff auf Daten in einer Speicherzelle, die zu einer ausgewählten Wortleitung WL gehört. Jedoch kann ein solcher Hochgeschwindigkeitszugriff, wie er oben erwähnt worden ist, nicht beibehalten werden, wenn die Auswahl der WL sich regelmäßig ändert. Dies ist, weil der Zugriff auf eine Spalte nicht durchgeführt werden kann bis die Auswahl einer neuen Wortleitung möglich wird.
  • Bezüglich des Zugriffs auf Daten in Zellen-Arrays in derselben Bank sollte einer Zeit vom Abschluss des Auswählens einer Wortleitung WL1 bis es möglich ist, eine andere Wortleitung WL2 auszuwählen, Beachtung geschenkt werden.
  • Das Auswählen der Wortleitung WL2 wird verhindert bis EQL des Internbetriebs der 14 abgeschlossen ist unabhängig von der Speicherzelle, zu der die WL2 gehört. Hier bedeutet EQL eine Egalisierung der Bitleitung und des Leseverstärkers in Bezug auf den vorangehenden Datenzugriff auf die Wortleitung WL1. Demnach erfordert es immer eine feste lange Zeit, von einer abweichenden Wortleitung in derselben Bank zuzugreifen.
  • Im Allgemeinen, wie wohlbekannt ist, lesen DRAMs Daten durch Verwenden eines Verhältnisses einer Zellenkapazität und einer Bitleitungskapazität zueinander. Deshalb sollte beachtet werde, dass ein Speicher konfiguriert wird zum Sicherstellen von einer Zellenkapazität für das Lesen von Zellendaten und zum Bereitstellen einer Hochgeschwindigkeitsleseoperation. Es ist vorzuziehen, die Anzahl der zu einer mit einem Leseverstärker verbundenen Bitleitung gehörenden Zellen so klein wie möglich zu wählen. Und es ist auch vorzuziehen, die Anzahl von mit einer Wortleitung verbundenen Zellen zu reduzieren, um die RC-Verzögerungszeit, die als eine Anstiegszeit und eine Abfall-Zeit einer Wortleitung erfordert wird, zu reduzieren.
  • Mit anderen Worten, im Hinblick auf die funktionelle Verbesserung eines Speichers kann eine Größe eines eine Vielzahl von Speicherzellen umfassenden Zellen-Arrays nicht so groß gemacht werden. Deshalb wird vorgezogen, einen Speicher in einer Anzahl von Speicherzellen aufzuteilen.
  • In einem Speicherentwurf werden Leseverstärker durch benachbarte Zellen-Arrays geteilt. Demnach wird der Bereich, der durch den Leseverstärker belegt wird, halb so groß wie in dem Fall, in dem sie nicht geteilt werden. Ein solcher geteilter Leseverstärker ermöglicht jedoch nur einem der benachbarten Zellen-Arrays, diesen bei einem Einzelzugriff zu verwenden.
  • In den letzten Jahren ist eine UMA (Unified Memory Architecture bzw. vereinheitlichte Speicherarchitektur) verwendet worden, bei der viele Ausrüstungen auf Daten eines einzelnen Speichers zugegriffen wird. Durch Verwenden einer UMA ist der Zugriff auf Wortleitungen regelmäßig geändert worden. Als ein Ergebnis trat häufig eine unnötige Wartezeit während Datenübermittlung auf. Deshalb braucht ein solches konventionelles System eine Verbesserung in Bezug auf die effiziente Nutzung der Speicherdaten.
  • In US-A-5,469,388 ist eine Zeilenredundanzschaltung offenbart, die geeignet ist für hochdichte Halbleiterspeichervorrichtung. eine Halbleiterspeichervorrichtung hat mehrere Speicherzellen-Arrays, von denen jedes ein normales Zellen-Array und ein Ersatz-Zellen-Array hat. Sicherungsschaltkreise sind programmierbar, um eine Ersatz-Zellen-Array-Wortleitung als Ersatz für eine defekte Wortleitung in irgendeinem normalen Zellen-Array einzusetzen.
  • Im Hinblick auf vorangehend beschriebene Überlegungen ist die vorliegende Erfindung erlangt worden. Es ist demnach ein Ziel der Erfindung, einen taktsynchronen Hochgeschwindigkeitszyklusspeicher und ein Speichersystem bereitzustellen, die eine wirksame Datenübermittlung ermöglichen, welche einen Wortleitungszugriffszyklus schneller realisiert als die in der konventionellen Technik.
  • Gemäß der vorliegenden Erfindung wird ein Speichersystem bereitgestellt, wie es im Anspruch 1 festgelegt ist.
  • Die Erfindung kann vollständiger aus der folgenden detaillierten Beschreibung verstanden werden, wenn betrachtet im Zusammenhang mit den beiliegenden Zeichnungen, in denen zeigt:
  • 1A ein Konzeptdiagramm des Speichersystems gemäß der vorliegenden Erfindung; 1B ein Schaltungsblockdiagramm eines Hauptteils des SDRAMs gemäß der Erfindung; und 1C ein Schaltungsdiagramm in Entsprechung zu dem durch den Kasten 123 aus unterbrochenen Linien in 1B dargestellten Bereich;
  • 2 ein Zeitdiagramm einer Datenleseoperation des in 1A und 1B gezeigten SDRAMs der Erfindung;
  • 3 ein Zeitdiagramm einer Datenschreiboperation des in 1A und 1B gezeigten SDRAMs der Erfindung;
  • 4A und 4B Diagramme, die die Adresskonfigurationen von in einem 32M-Bitzellenblock enthaltenen Zellen-Arrays darlegen, welches Basiselemente der Speicherstruktur der Erfindung sind;
  • 5 ein Schaltungsblockdiagramm eines Beispiels von Zellen-Array-Steuerschaltung und Wortleitungsdecodern, die in 1A gezeigt sind;
  • 6A und 6B Schaltungsdiagramme, die jeweils ein Beispiel eines Array-Auswahldecoders zeigen, der in 5 gezeigt ist;
  • 7A, 7B und 7C Schaltungsdiagramme, die jeweils eine Schaltungsstruktur eines Beispiels einer in 5 gezeigten Spaltenschaltauswahlsteuerung zeigen;
  • 8A bis 8D Schaltungsdiagramme einer Schaltkreisstruktur eines in 5 gezeigten Wortleitungsdecoders;
  • 9 Schwingungsformdiagramme, die eine Schaltungsoperation der Zellen-Array-Steuerschaltung und des Wortleitungsdecoders zeigen, die in 5 gezeigt sind;
  • 10 ein Entwurfsblockdiagramm eines einen aus 32M-Bitbasisblöcken bestehenden 512M-Bitspeicher bildenden Zellen-Arrays in Übereinstimmung mit der Erfindung;
  • 11 ein Konzeptdiagramm einer Rolle von 25 Bit zum Identifizieren einer Adresse in dem 512M-Bitspeicher;
  • 12A bis 12F Konzeptdiagramme, die jeweils logische Zellen-Arrays zeigen, die gemäß eines defekten Zustands in der Speicherzelle in Bezug auf Adressenkonfiguration festgelegt werden;
  • 13A bis 13F Konzeptdiagramme, die das Zuweisen von Zeilenadressen in Entsprechung zu 12A bis 12F jeweils zeigen; und
  • 14 ein Zeitdiagramm zum Zeigen eines Beispiels eines Datenzugriffsdesigns in Übereinstimmung mit einer konventionellen Technik.
  • 1A ist ein Konzeptdiagramm eines Speichersystems gemäß der vorliegenden Erfindung, 1B ist ein Schaltungsblockdiagramm eines Hauptteils eines SDRAMs gemäß Erfindung, und 1C ist ein Schaltungsdiagramm in Entsprechung zu dem durch eine Box aus einer unterbrochenen Linie 124 in 1B definierten Bereichs, wobei es zwei Zellen-Arrays gibt und einen durch jene beiden Zellen-Arrays geteilten Leseverstärker.
  • In 1A wird der Betrieb des Speicherabschnitts zum Speichern vorbestimmter Daten und Ähnlichem durch vorbestimmte Signale gesteuert, die von einem Speichersteuerabschnitt (beispielsweise einer CPU) ausgegeben werden. Die vorbestimmten Signale schließen ein Taktsignal (CLK) zum Steuern einer Operation des jeweiligen internen Schaltkreises in einem Speicherabschnitt ein, ein Takt-Latch-Zulässigkeitssignal bzw. Clock-Latch-Enable (/CLE), d. h., ein Steuersignal zum Bestimmen, ob oder nicht ein Befehl (hier in synonymer Weise auch Anweisung genannt) in dem Speicherabschnitt bei einer Anstiegszeit des Taktes CLK angenommen werden soll oder nicht, ein Adresssignal (beispielsweise eine Zeilenadresse, eine Spaltenadresse und eine Array-Adresse) zum Auswählen einer beliebigen Speicherzelle in dem Speicherabschnitt, und ein Signal (repräsentiert als befehlsbezogenes Signal), das erforderlich ist für einen Befehl (z. B. Lesebefehl oder Schreibbefehl Write) oder Ähnliches zum Spezifizieren des Betriebs des Speicherabschnitts.
  • In dem oben beschriebenen Speichersystem werden Signale wie z. B. das Taktsignal, das Adresssignal und das Befehlssystemsignal von dem Speichersteuerabschnitt zu dem Speicherabschnitt übermittelt. In dem Fall des erfolgreichen Schreibbetriebs wird beispielsweise eine vorbestimmte Speicherzelle in dem Speicherabschnitt in Übereinstimmung mit den Zeilensystemadressen und Spaltensystemadressen ausgewählt, dann werden Daten in die ausgewählte Speicherzelle eingeschrieben. Danach wird die Bitleitung voraufgeladen und egalisiert (wie nachstehend detailliert beschrieben). Danach übermittelt in einem Fall, dass eine Neuschreibeoperation durchgeführt wird, der Speichersteuerabschnitt nach einem vorbestimmten Zeitintervall Signale wie ein Adressensignal und ein Befehlssignal synchron mit einem Taktsignal zu dem Speicherabschnitt, und in dem Speicherabschnitt wird eine Schreiboperation in ähnlicher Weise wie die vorangehende oben beschriebene Operation ausgeführt.
  • Das Intervall zwischen oben erwähnten Befehlen (als Befehlsintervall bezeichnet) bezieht sich konventionell auf Befehlsintervalle zwischen einer Vielzahl von Zellen-Arrays mit dem gemeinsamen Datenübertragungssystem, nämlich aufeinander folgende Zugriffsoperationen (z. B. aufeinander folgende Schreiboperationen) in derselben Bank, und hat immer eine konstante und lange Periodenzeit und ist festgelegt worden. Die Zeitperiode ist in Übereinstimmung mit dem Zeitintervall bestimmt worden, mit dem Daten aufeinander folgend in Speicherzellen in demselben Zellen-Array geschrieben werden. Dies ist Dasselbe wie bei aufeinander folgenden Datenleseoperationen.
  • Das Speichersystem gemäß der vorliegenden Erfindung kann jedoch ein Befehlsintervall in Übereinstimmung mit den Arten aufeinander folgender Zugriffe (d. h., einem Fall des Auswählens einer Speicherzelle in demselben Zellen-Array nachfolgend auf den vorangehenden Zugriff, einem Fall des Auswählens einer Speicherzelle in einem benachbarten Zellen-Array nachfolgend auf den vorangehenden Zugriff oder einem Fall des Auswählens einer Speicherzelle in einem fernen Zellen-Array nachfolgend auf den vorangehenden Zugriff) ändern.
  • Spezieller beurteilt der Speichersteuerabschnitt gemäß der Erfindung die Arten aufeinander folgender Zugriffe durch Ändern von Adresssignalen, die aufeinander folgend in den Speicherabschnitt eingegeben werden. Hierdurch kann der Speichersteuerabschnitt das Befehlsintervall, welches konventionell festgelegt worden ist, ändern und demnach den Speicherabschnitt effizienter steuern.
  • Um einen solchen Hochgeschwindigkeitszugriffszyklus eines Speichers zu erzielen, ist es für jedes Zellen-Array wichtig, das Zellen-Array in Bezug auf Zugriff zu steuern. Dies erfordert eine Verbesserung im Leseverstärker und einen speziellen Entwurf in Bezug auf den Zugriff. Diese Punkte werden nachstehend beschrieben.
  • 1B und 1C sind Schaltungsblockdiagramme zum Zeigen eines Hauptteils eines SDRAM gemäß der Erfindung. Eine Schaltung in 1C zeigt ein Lesesystem für ein Bitleitungspaar (BL, BBL) und eine Bestätigung von Datenübertragung von Zellen-Arrays. Auch zeigt 1B einen Block eines Zellen-Array-Steuerschaltkreises (CNTRLi) und zeigt auch einen Block eines Wortleitungsdecoders (DECi), der im Zusammenhang mit dem Zellen-Array-Steuerschaltkreis CNTRLi gesteuert wird.
  • Ein Synchrontaktsignal CLK und ein Zeitabstimmungs- bzw. Timing-Signal /CLE zum Annehmen eines Befehls werden in einen Empfänger 52 des Takts über einen Taktpuffer 51 eingegeben. Der Empfänger 52 gibt ein Synchronsteuersignal zum Durchführen einer Synchronsteuerung des Eingebens von Adressen (d. h., ein Zeilensignal, ein Arraysignal oder ein Spaltensignal) ein, und eine betriebsmäßige Steuerung eines Befehlsdecoders 53 und einer Steuersignalgeneratorschaltung 54. In dem Befehlsdecoder 53 wird auch ein Steuersignal wie z. B. /CS (Chip Select- bzw. Chip-Auswahl-Signal) eingegeben. Die Steuersignalgeneratorschaltung 54 steuert den Speicherbetrieb synchron mit dem Taktsignal CLK durch ein Signal von einem Befehlsdecoder 53.
  • Es sind eine Vielzahl von Speicherzellen-Arrays (die nachstehend als Zellen-Arrays bezeichnet werden) angeordnet. Ein Leseverstärkerschaltungsabschnitt S/A wird durch zwei benachbarte Zellen-Arrays (beispielsweise ARY1 und ARY2) geteilt.
  • Eine Speicherzelle MC in einem Zellen-Array umfasst einen Transistor Q zur Übertragung und einen Kondensator C zum Speichern von Daten. Für ein typisches Beispiel wird eine Speicherzelle MC mit einer Bitleitung BL1 in dem Zellen-Array ARY1 gezeigt. Die Speicherzelle MC entspricht beispielsweise einer beliebigen mit einer Spalte (z. B. einer Bitleitung) verbundenen Adresse, die zu einer Wortleitung WL gehört, welche eine beliebige Zeile (Zeilenleitung) in dem Zellen-Array ARY1 ist.
  • Es wird bestimmt, welches Bitleitungspaar von zwei benachbarten Zellen-Arrays ARY1 und ARY2 durch Steuern eines Array-Schaltsignals ASW1, ASW2 mit dem Leseverstärkerschaltkreis S/A zu verbinden ist.
  • N-Kanal-MOSFET 31, 32 haben jeweilige gemeinsam durch ein Array-Schaltsignal ASW1 gesteuerte Gates. Der MOSFET 31 hat einen leitfähigen Pfad mit einer Bitleitung BL1 an einem Ende verbunden und mit einem Leseverstärker BSAL an dem anderen Ende.
  • N-Kanal-MOSFETs 33, 34 haben jeweilige gemeinsam durch ein Array-Schaltsignal ASW2 gesteuerte Gates. Der MOSFET 33 hat einen leitfähigen Pfad oder Kanal mit einer Bitleitung BBL2 an einem Ende und mit einer Leseleitung BSAL am anderen Ende verbunden.
  • Der Leseverstärkerschaltungsabschnitt S/A schließt P Kanal MOSFETs 101, 102 ein, deren Source-Anschlüsse ein Steuersignal SAP zugeführt erhalten. MOSFETs 101, 102 haben jeweiligen Drain-Anschlüsse, die mit den Leseleitungen SAL, BSAL jeweils verbunden sind. Der MOSFET 102 hat einen Gate-Anschluss mit der Leseleitung SAL verbunden und der MOSFET 101 hat einen Gate-Anschluss mit der Leseleitung BSAL verbunden.
  • Ferner schließt der Leseverstärkerschaltungsabschnitt S/A N-Kanal-MOSFETs 103, 104 ein, deren Source-Anschlüsse mit Steuersignalen BSAP versorgt werden. MOSFETs 103, 104 haben jeweilige Drain-Anschlüsse, die mit den Leseleitungen SAL bzw. BSAL verbunden sind. Der MOSFET 104 hat einen Gate-Anschluss mit der Leseleitung SAL verbunden und der MOSFET 103 hat einen Gate-Anschluss mit der Leseleitung BSAL verbunden.
  • In einem zugelassenen Zustand (enable) wird das Steuersignal SAP auf eine Hochpotentialquelle des Leseverstärkerschaltungsabschnitts festgelegt während das Steuersignal BSAN auf eine Niederpotentialquelle (Massepotential) des Leseverstärkerschaltungsabschnitts festgelegt wird. Auch in einem gesperrten Zustand (disable) werden die Steuersignale SAP, BSAN auf ein Zwischenpotential festgelegt, das nicht höher ist als die jeweiligen Spannungspegel der MOSFETs 101 bis 104.
  • Ein DQ-Gateschaltungsabschnitt 9, der eine Eingabe-/Ausgabe-Leitung (I/O) konfiguriert, schließt eine lokale DQ-Leitung ein und eine überlagerte DQ-Leitung, die sich parallel zu der Bitleitung erstreckt. Die lokale DQ-Leitung umfasst ein LDQ und eine Komplemantärleitung BLDQ, und die überlagerte DQ-Leitung umfasst ein ODQ und eine Komplementärleitung BLDQ.
  • Die lokale DQ-Leitung LDQ ist elektrisch mit der Leseleitung SAL über den leitfähigen Pfad des N-Kanal-MOSFET 91 verbunden. Die lokale DQ-Leitung BLDQ ist elektrisch mit dem Leseverstärker BSAL über den leitfähigen Pfad des N-Kanal-MOSFET 92 verbunden. MOSFETs 91, 92 haben jeweilige Gate-Anschlüsse, an die die Zeilenauswahlleitung CSL verbunden ist.
  • Die darüberliegende DQ-Leitung ODQ ist elektrisch zu der lokalen DQ-Leitung LDQ über den leitfähigen Pfad des N-Kanal-MOSFET 92 verbunden. Die darüberliegende DQ-Leitung BODQ ist elektrisch mit einer lokalen DQ-Leitung BLDQ über den leitfähigen Pfad eines N-Kanal-MOSFETs 94 verbunden. Der MOSFET 93 bzw. 94 hat jeweils einen Gate-Anschluss, an den die Array-Auswahlleitung ASL verbunden ist.
  • Eine Entzerrungs- bzw. Ausgleichsschaltung, die ein elektrisches Potential zwischen einem Paar von Bitleitungen (Bitleitungspaar) egalisiert, wird aufgeteilt in eine Entzerrerschaltung 10 des Leseverstärkerschaltungsabschnitts S/A, eine Entzerrerschaltung 11 des Zellen-Arrays ARY1 und eine Entzerrerschaltung 12 des Zellen-Arrays ARY2.
  • Die Entzerrerschaltung 10 schließt einen N-Kanal-MOSFET 105 ein, der durch ein S/AEQL-Signal Gate-gesteuert wird. Der MOSFET 105 hat eine Struktur, in der ein Source-Anschluss und eine Drain-Anschluss zwischen den Leseleitungen SAL und BSAL in dem Leseverstärkerschaltungsabschnitt S/A verbunden sind.
  • Die Entzerrerschaltung 10 schließt P-Kanal-MOSFETs 111 bis 113 ein, die Gate-gesteuert werden durch ein C/AEQL1-Signal. Der MOSFET 111 hat einen leitfähigen Pfad, der zwischen den Leseleitungen SAL und BSAL verbunden ist. Der MOSFET 112 führt ein Bitleitungs-Voraufladungspotential VBL zu der Leseleitung SAL über seinen leitfähigen Pfad. Der MOSFET 113 führt ein Bitleitungs-Voraufladungspotential VBL zu der Leseleitung BSAL über seinen leitenden Pfad.
  • Die Entzerrerschaltung 12 schließt P-Kanal-MOSFETs 121 bis 123 ein, die durch ein C/AEQL2-Signal Gate-gesteuert werden. Der MOSFET 121 hat einen leitfähigen Pfad, der zwischen den Leseleitungen SAL und BSAL verbunden ist. Der MOSFET 122 führt ein Bitleitungs-Voraufladungspotential VBL zu der Leseleitung SAL über seinen leitfähigen Pfad. Der MOSFET 123 führt ein Bitleitungs-Voraufladungspotential VBL zu der Leseleitung BSAL über seinen leitfähigen Pfad.
  • Die Egalisierung der Bitleitung und der Leseleitung vor dem Lesebetrieb kann individuell und unabhängig durch Steuern von Array-Schaltsignalen ASW1, ASW2 und Egalisierungssignalen C/AEQL1, C/AEQL2 und S/AEQL vorgenommen werden.
  • Die Leseleitungen SAL, BSAL schließen die Egalisierung rascher ab als die Bitleitungen BL, BBL, weil die vorangehenden eine kleinere Kapazität haben als die letzteren. Nach der Lese- und Neuspeicheroperation des Zellen-Arrays ARY1 können beispielsweise die Leseleitungen früher egalisiert werden als die Bitleitungen, die für die Lese- und Neuspeicheroperation des nachfolgenden Zellen-Arrays ARY2 verwendet werden können.
  • Es sind Zellen-Array-Steuerschaltkreise CNTRLi vorgesehen, die ein unabhängiges Lese-Steuern für jedes Zellen-Array ermöglichen. Die Zellen-Array-Steuerschaltung CNTRLi gibt Array-Steuersignale einschließlich einer Zeilenadresse, einer Array-Adresse, einer Spaltenadresse und ein einen eingegebenen Befehl angebendes Aktivierungssignal (ACT) ein und führt eine Steuerung zum Aktivieren der Wortleitung des Leseverstärkers (BSAN, SAP), ein Steuern der Egalisierung der verschiedenen teile (typischerweise von EQL), und zeilenbezogenes Steuern (CSL, ASL, ASW) durch.
  • Eine solche Anordnung dahingehend, dass die Lesesteuerung unabhängig für jedes Zellen-Array ausgeführt wird, sieht eine Konfiguration vor, bei der jedes Zellen-Array als eine Bank gesteuert wird. Dies ermöglicht ein Verbessern eines Entwurfs des Wortleitungszugriffes in jenen eines Zugriffszyklus höherer Hochgeschwindigkeit.
  • Gemäß der Erfindung ist es, wenn der Zugriff auf eine Speicherzelle, die zu einer Wortleitung WL1 gehört, umgeschaltet wird zu dem Zugriff auf eine andere Speicherzelle, die zu einer anderen Wortleitung WL2 gehört, wichtig, einen Positionszusammenhang zwischen den Wortleitungen WL1 und W2 zu beurteilen. Eine solche Beurteilung ermöglicht ein Minimieren des Zugriffszyklus der Wortleitung.
  • Wenn der Zugriff auf die Wortleitung WL1 in einem Zellen-Array umgeschaltet wird zu dem Zugriff auf eine andere Wortleitung WL2, wird der mögliche Zusammenhang zwischen WL1 und WL2 durch eine der folgenden Positionen angegeben:
    • (1) WL2 ist in demselben Zellen-Array wie WL1 (Dasselbe bzw. Same: S);
    • (2) WL2 ist in einem Zellen-Array, das benachbart ist zu dem WL1 einschließenden Zellen-Array und teilt denselben Verstärker (Nachbar bzw. Neighbor: N); und
    • (3) WL2 ist in einem von dem Zellen-Array, das WL1 einschließt, weit entfernten Zellen-Array und teilt nicht denselben Verstärker (Weit weg bzw. Far: F).
  • Die Lesesteuervorgänge werden unabhängig für jedes Zellen-Array ausgeführt. Daher kann der Wortleitungszugriff an irgendeiner der obigen drei Positionen ausgeführt werden, selbst wenn noch nicht alle die Datenleitung teilenden Zellen-Arrays egalisiert sind. Es wird jedoch eine gewisse Regel erforderlich sein zum Bestimmen eines Zeitintervalls (Intervall Wac) zwischen Zugriffsanweisungen einer Wortleitung WL1 und einer Wortleitung WL2.
  • In dem Fall des obigen Same (1), nämlich, wenn die Wortleitung in demselben Zellen-Array ausgewählt wird, wird beispielsweise die Bitleitung in dem Zellen-Array ARY1 gelesen und die Datenneuspeicherung wird ausgeführt. Daraufhin werden Steuerungen der Signale wie ein Antriebssignal des Leseverstärkers SAP, BSAN, ein Voraufladen und Egalisieren der Leseleitung SAL, BSAL (S/AEQL-Signalsteuerung) und ein Aufladen und Egalisieren der Bitleitung BL1, BBL1 (VBL, C/AEQL1-Signalsteuerung) abgeschlossen, dann ein Auswählen der Wortleitung für die nachfolgende Leseoperation zulassend.
  • In diesem Fall schließt ein Intervall Wac, das ein Zeitintervall zwischen Zugriffsanweisungen einer Wortleitung WL1 und einer Wortleitung WL2 repräsentiert, ein Zeitverstreichen von dem Abschließen des Voraufladens und Egalisierens von SAP, BSAN, SAL, BSAL, BL1 und BBL1 bis zum Auswählen der Wortleitung ein. Wenn dieses Wac 30 ns ist, wird es gleich drei Zyklen werden, wenn der Taktzyklus 10 ns ist.
  • In dem Fall des obigen Neighbor (2), nämlich wenn die Wortleitung des benachbarten Zellen-Arrays ausgewählt wird, wird beispielsweise die Bitleitung in dem Zellen-Array ARY1 gelesen und die Datenneuspeicherung wird ausgeführt. Dann wird es nur, wenn Steuerungen von Signalen wie einem Antriebssignal des Leseverstärkers SAP, BSAN und einer Voraufladung der Leseleitung SAL, BSAL (S/AEQL-Signalsteuerung) abgeschlossen sind, möglich, die Wortleitung für die nachfolgende Leseoperation in dem benachbarten Zellen-Array ARY2 auszuwählen.
  • In diesem Fall schließt das Intervall Wac, das ein Zeitintervall zwischen Zugriffsanweisung der Wortleitung WL1 und der Wortleitung WL2 repräsentiert, ein Verstreichen von Zeit vom Abschließen des Voraufladens und Egalisierens von SAP, BSAN, SAL und BSAL bis zum Auswählen der Wortleitung hin ein. Wenn dieses Intervall Wac 20 ist, wird es gleich zwei Zyklen werden, wenn der Taktzyklus 10 ns ist.
  • In dem Fall des obigen Far (3), nämlich wenn die Wortleitung in der Ferne eines Zellen-Arrays ausgewählt wird, ist es möglich, die Wortleitung für die nachfolgende Leseoperation in dem fernen Zellen-Array, das nicht benachbart ist zu dem Zellen-Array ARY1 (beispielsweise ARY3) auszuwählen wann auch immer es möglich wird, irgendeine Zugriffsanweisung zu empfangen (wie z. B. eine Lese- und Schreibanweisung). Wenn dieses Intervall Wac 10 ns ist, wird es gleich einem Zyklus, wenn der Taktzyklus 10 ns ist.
  • Zur Vereinfachung der Beschreibung werden die Voraufladeoperation des Leseverstärker-Antriebssignals SAP, BSAN zum Egalisieren der beschriebenen Leseleitungen (SAL, BSAL) und Vorauflade- und Egalisierungsoperationen der Bitleitungen (BL, BBL) wenn nicht anderweitig angegeben, als Egalisierungsoperation der Bitleitung beschrieben.
  • Wenn ein solches Intervall Wac eines Wortleitungszugriffs in seiner Spezifikation definiert ist, kann ein Zugriff auf den internen Betrieb bewirkt werden ohne einen Widerspruch zu veranlassen. In diesem Fall wird jedoch die Adresseneingabe ohne Adressenmultiplexverfahren vorgenommen, bei dem das Eingabetiming der Zeilenadresse von dem der Spaltenadresse abweicht.
  • Dies bedeutet, dass es wichtig wird, diese physikalische Zahl von Adresseneingangssignalen koinzidierend mit der von Zeilen und Spalten anzuordnen, und dass Zeilen und Spalten simultan zu derselben Zykluszeit adressiert werden. Dies lässt das Sichern einer Zeit für eine gegebene Adressanweisung zu.
  • Daher macht eine solche Anordnung es unnötig, auf Adressanweisungen für Spalten zu warten, die von dem Adress-Multiplexverfahren abweichen. Unmittelbar nachdem die Lesedaten des Leseverstärkers für den Betrieb verfügbar sind, wird eine Datenübertragung zum Neuspeichern von Daten bei Zellen gestartet. Wenn das Neuspeichern abgeschlossen ist, wird die Wortleitung deaktiviert und der Betrieb des Voraufladens und Egalisierens wird gestartet.
  • Wie oben beschrieben, liegen die ersten Merkmale der vorliegenden Erfindung darin, dass eine Systemzeilenadresse und Spaltenadresse simultan zugeführt werden. Das zweite Merkmal liegt darin, dass der Zugriff der Wortleitung WL2 nachfolgend auf die Wortleitung WL1 in derselben Bank durch Bestätigen, wo WL2 positioniert ist, beurteilt werden kann; in demselben Zellen-Array (Same) in einem angrenzenden Zellen-Array (Neighbor) oder in einem fernen Zellen-Array. Drittens wird ansprechend auf diese Beurteilung die Zahl der Taktzyklen (nämlich die Zahl der Taktzyklen einer Zugriffsanweisung, die in die nächste Zugriffsanweisungseingabe eingegeben wird) in solcher Weise definiert, dass der folgende Zusammenhang für den Taktzyklus erfüllt ist: "in demselben Zellen-Array ≥ zwischen benachbarten Zellen-Arrays ≥ zwischen fernen Zellen-Arrays". Fälle des Festlegens des Timings und der Internoperation, die unter dieser Regel festgelegt werden, werden nachstehend angegeben:
  • 2 ist ein Zeitdiagramm zum Zeigen einer Leseoperation einer SDRAM mit einer in 1B und 1C gezeigten Konfiguration in Übereinstimmung mit der vorliegenden Erfindung. CLK ist ein Synchrontaktsignal und hat in diesem Beispiel einen Taktzyklus von 10 ns. Alle Operationen des Speichers sind synchron mit diesem Takt CLK.
  • /CLE (clock latch enable bzw. Taktzwischenspeichern möglich) ist ein Timing-Signal, durch welches eine Anweisung bei einem Anstieg von CLK eingeholt wird, wenn vor dem Anstieg von CLK "L" (Niedrigpegel) vorliegt. Zum Zwecke der Spezifizierung einer Zykluszeit, bei der ein Befehl synchron mit dem Takt CLK genommen wird, ist es wichtig, einen gewissen Pegel in einer Zeitperiode beizubehalten vor mindestens einer Hälfte des Zyklus.
  • /CS (chip select bzw. Chip-Auswahl) ist ein Anweisungssignal, welches "L" wird, wenn ein Speicher-Chip ausgewählt wird und eine Anweisung für den ausgewählten Chip gültig ist.
  • Add ist ein Adress-Anweisungssignal, welches das Kombinieren von Zeilen- und Spaltenadressen für die führende Adresse von Burst-Daten markiert.
  • Aa gibt an, dass eine Zeile a eines Zellen-Arrays A markiert bzw. designiert ist.
  • Ab gibt an, dass eine Zeile b eines Zellen-Arrays A designiert ist.
  • A + c gibt an, dass eine Zeile c eines Zellen-Arrays, das zu einem Zellen-Array A benachbart ist, designiert worden ist.
  • Bd gibt an, dass eine Zeile d eines Zellen-Arrays B designiert worden ist.
  • Ce gibt an, dass eine Zeile e eines Zellen-Arrays C designiert worden ist.
  • Ce# gibt an, dass eine neue Spalte # für eine Zeile e eines Zellen-Arrays C designiert worden ist.
  • Ce$ gibt an, dass eine neue Spalte $ für eine Zeile e eines Zellen-Arrays C designiert worden ist.
  • Cf gibt an, dass eine Zeile f eines Zellen-Arrays C designiert worden ist.
  • /WE ist ein Anweisungssignal zum Angeben, ob die gegebene Zugriffsoperation eine Leseoperation oder eine Schreiboperation ist. Da in dieser Figur die Zugriffsoperation die Leseoperation ist, sind alle Anweisungen "H" (Hochpegel).
  • /SW (suspendierte (vorübergehend ausgesetzte) Wortleitung bzw. suspended ward line) ist ein Anweisungssignal, das angibt, dass eine Wortleitung nicht unmittelbar nach der Datenübertragung deaktiviert wird und aktiv behalten wird bis die nächste Anweisung kommt. /SW gibt das Aufrechterhalten eines aktivierten Zustands der Wortleitung unter der Bedingung von "L" an.
  • DM/BS (Datenmasken- oder Burst-Stopp bzw. data mask or burst stopp) ist ein Timing-Signal in Bezug auf Datenein-/ausgabe. In einer Leseoperation, wenn "H" eingeholt wird, erhält eine Burst-Ausgabe eine hohe Impedanz von der Datenausgabe nach einem Zyklus, wie mit dem Pfeil 21 angegeben.
  • rCLK ist ein Rück-Taktsignal, mit dem Datenausgaben von einer Speicherzelle synchron sind. rCLK ist ein Verzögerungssignal von einem synchronen Takt CLK, der allgemein in dem Speichersystem zirkuliert und dann neu eingegeben wird von außen (Rücktaktsystem).
  • In dem Rücktaktsystem ist die rCLK-Phase in Bezug auf CLK verzögert, aber hier ist sie in derselben Phase dargestellt. Der Datenübertragungstyp ist ein sogenanntes DDR-System (Doppeldatenratensystem), in welchem zwei Daten in einem Zyklus übertragen werden.
  • In diesem Zeitdiagramm kennzeichnet D Eingangsdaten in einen Speicher synchron mit dem Takt CLK, und Q kennzeichnet Ausgangsdaten von einem Speicher synchron mit dem Takt rCLK. Diese Anordnung ist jedoch hier nur aus Gründen der Vereinfachung und Erläuterung vorgenommen und tatsächlich können D und Q auf derselben Datenleitung unter Verwendung desselben Datenbusses vorliegen.
  • Ein Zusammenhang zwischen dem Anweisungszyklus und der Ausgabe der Burst-Daten ist ein 2,5-Zyklus, wie durch einen Pfeil 22 gezeigt. Dies bedeutet, dass die Zahl von Taktzyklen von der Anweisungseingabe bis zur Datenausgabe, d. h., die Latenz, 2,5 ist.
  • In dem in 2 gezeigten internen Betrieb ist WLact eine Anstiegszeitdauer für eine Wortleitung in dem Zellen-Array. Nachdem eine beliebige Wortleitung in Entsprechung zu einer Eingabeadresse angestiegen ist, wird eine Leseoperation unmittelbar durchgeführt, es hierdurch ermöglichend, Daten aus den Zellen-Array zu lesen.
  • Wenn eine Burst-Länge von Daten (4 Bit in diesem Beispiel) von dem Zellen-Array zu einem Puffer übertragen wird, werden das Neuspeichern von Zellendaten und das Egalisieren von Bitleitungen simultan gestartet (die Wortleitung ist zu der Zeit der Egalisierung herabgestiegen). Diese Operationen werden mit RST & EQL gezeigt.
  • 2 ist ein Zeitdiagramm zum Zeigen einer Betriebsablaufsfolge; erst wird aufeinander folgend zweimal auf ein Zellen-Array A zugegriffen, und dann auf das Nachbar-Array +A, und auf das Zellen-Array A und die fernen Zellen-Arrays B, C wird zugegriffen, und dann wird ein weiterer Seitenzugriff in dem Zellen-Array und ein abweichender Wortleitungszugriff in demselben Zellen-Array C bewirkt.
  • Same: In dem Zellen-Array von S (selbes Zellen-Array) wird eine Abfolge von Betriebsabläufen von WL und RST & EQL niemals einander überlappen. Das Intervall BAC zwischen Anweisungen ist 3 Zyklen, wie oben beschrieben.
  • Neighbor: In dem Zellen-Array von N (Nachbarzellen-Arrays), können die letzte Hälfte von RST & EQL und WL im Betrieb überlappen. Das Intervall WAC zwischen Anweisungen ist zwei Zyklen, wie oben beschrieben.
  • Far: In dem Zellen-Array von F (ferne Zellen-Arrays) überlappt selbst die erste Hälfte von RST & EQL im Betrieb WL, da der WL-Betrieb gestartet werden kann, wenn auf die Zugriffsanweisung zugegriffen werden kann. Das Intervall WAC zwischen Anweisung ist wie oben beschrieben ein Zyklus.
  • 3 ist ein Zeitdiagramm zum Zeigen einer Datenschreiboperation eines SDRAM mit einer Konfiguration der 1B und 1C in Übereinstimmung mit der Erfindung. In einer Weise ähnlich der 2 zeigt es eine Abfolge von Operationen; zuerst wird zweimal aufeinander folgend auf das Zellen-Array A zugegriffen, und dann auf das Nachbar-Array +A, und auf das Zellen-Array A und die fernen Zellen-Arrays B, C wird zugegriffen, und ferner wird ein Seitenzuggriff in den Zellen-Arrays und ein abweichender Wortleitungszugriff in demselben Zellen-Array C bewirkt.
  • 3 weicht von 2 nur dahingehend ab, dass ein Timing des Ansteigens der Wortleitungsauswahl verzögert ist, wie in dem internen Betrieb gezeigt. Für diese Schreiboperation wird es möglich, Daten zu jedem Leseverstärker zu übertragen und dann die Daten in jede Speicherzelle zu schreiben nur nachdem Burst-Daten in den Puffer aufgenommen worden sind.
  • Die Latenz der Schreiboperation ist bei 2,5 festgelegt, was dieselbe ist für die Leseoperation. Die Schreiboperation wird drei Zyklen verzögert verglichen mit der Leseoperation gestartet, so dass ein solcher interner Betrieb startet, nachdem ein zwei Bit-Umfang an Burst-Daten empfangen worden ist.
  • In der Schreiboperation wird, wenn "H" eingeholt wird, das DM/BS-Signal (data mask or burst stop signal) Burst-Daten einen Zyklus später maskieren und demnach das Schreiben der Daten in die entsprechende Adresse verhindern, wie mit einem Pfeil 21 angegeben.
  • Da 3 die Schreiboperation zeigt, wird das /WE-Signal von dem in 2 umgekehrt. Daten werden zu dem Datenbus synchron mit dem Takt CLK wie durch D angegeben, übertragen.
  • Ein Beispiel, bei dem ein Speicher mit dem obigen Entwurf gesteuert wird, wird nachstehend erläutert.
  • 4A und 4B sind Diagramme zum Zeigen einer Konfiguration von in einem 32 M-Bit-Zellenblock enthaltenen Zellen-Arrays mit einem Grundelement einer Speicherstruktur der Erfindung. Dieser Zellen-Arrayblock umfasst 32 Einheiten von 1M-Bit-Zellen-Arrays (MAC1 bis 32). 1M Bit-Zellen-Array schließen 521 Wortleitungen (512WL) und 2k Spalten (2048 Spalten) ein.
  • Ein Paar von DQ-Leitungen pro 16 Spalten wird gemeinsam von den jeweiligen Zellen-Arrays geleitet. Dies bedeutet insgesamt 128 DQ-Paare sind zur Datenübertragung in jedem Zellen-Arrayblock vorgesehen. In dem Fall von 16 Bit I/O- Konfiguration sind 8 DQ-Paare pro Ein-/Ausgabeeinheit bzw. I/O-Einheit vorgesehen. Mit dieser Anordnung von DQ-Leitungsblöcken werden zu übertragende Daten zu Burst-Daten von 8 Bit maximal.
  • In dieser Struktur, unter Bezugnahme auf 1B und 1C, sind für eine überlagerte DQ-Leitung (ODQ) 16 Spaltenauswahlleitung (CSL) in jeweiligen Zellen-Arrays vorgesehen, die als Datenübertragungsschalter für das Übertragen von Daten von jedem der 16 Leseverstärker zur lokalen DQ-Leitung (LDQ) dienen. Array-Auswahlleitung (ASL) wird zu einem Übertragungsschalter zum Verbinden einer lokalen DQ-Leitung LDQ des ausgewählten Zellen-Arrays mit einer überlagerten DQ-Leitung ODQ, die gemeinsam für alle Zellen-Arrays benutzt wird.
  • In 4A und 4B kann die Adresse zum Auswählen von Zellen-Arrays MCA 1 bis 32 mit 5 Bit von Array-Adressen A16 bis A20 angegeben werden. 4A zeigt ein Klassifizierungsverfahren (I), und 4B zeigt ein Klassifizierungsverfahren (II).
  • Nun wird das Klassifizierungsverfahren (I) erläutert. Bits A16 und A17 niedriger Ordnung werden nachstehend jeweils als N, N-sup. bezeichnet. Eine Änderung des Bits in N (A16) und N-sup. (A17) in der nachfolgenden Zugriffsanweisung beobachtend, wird es möglich, Same (dasselbe Zellen-Array), Neighbor (benachbarte Zellen-Arrays) und Far (ferne Zellen-Arrays) voneinander zu unterscheiden.
  • Für Same wird nämlich selbst eine Bitänderung in den Array-Adressen (A16, ..., A20) nicht gesehen.
  • Für Far, bei unverändertem N (hier A16) kann sich etwas ändern, selbst wenn die von N abweichenden Array-Adressen ein Bit sind (beispielsweise im Zusammenhang mit zwischen MCA2 und MCA4). Wenn N sich ändert aber weder N noch N-sup., d. h. weder A16 noch A17 sich von 1 nach 0 oder umgekehrt ändern, ändert sich eine Bitordnung, die von N und N-sup. verschieden ist (beispielsweise im Zusammenhang zwischen MCA2 und MCA5).
  • Für Neighbor kann irgendeine Adressänderung, die von jenen oben beschriebenen abweicht, gesehen werden. Es ändert sich nämlich nur N (hier A16) (beispielsweise im Zusammenhang zwischen MCA1 und MCA2). Alternativ ändern sich nur N und N-sup., d. h. A16 und A17, gleichzeitig (beispielsweise im Zusammenhang zwischen MCA2 und MCA3). Andernfalls ändern sich sowohl N als auch N-sup. von 1 nach 0 oder umgekehrt (beispielsweise im Zusammenhang zwischen MCA4 und MCA5).
  • Nun wird das Klassifizierungsverfahren (II) erläutert. Dieses Klassifizierungsverfahren verwendet einen so genannten Gray-Code, einen Binärcode, bei dem sequentielle Zahlen durch Binärausdrücke repräsentiert werden, von denen jede sich von dem vorangehenden Ausdruck nur an einer Stelle unterscheidet. Wenn sich zwischen A16 und A20 nur ein Bit ändert, kann es als Neighbor beurteilt werden wegen der obigen Art des Gray-Codes, dass es nur eine Stelle gibt (oder ein Bit), das sich zwischen benachbarten zwei Ausdrücken unterscheidet. Mehr als zwei Bits Änderung bzw. keine Bit-Änderung werden jeweils als Far bzw. Same beurteilt.
  • Hauptteile der Zellen-Array-Steuerschaltung (CNTRLi und des Wortleitungsdecoders DECi in 1B werden nachstehend beschrieben.
  • 5 ist ein Schaltungsdiagramm zum Zeigen eines Beispiels einer Zellen-Array-Steuerschaltung CNTRLi und eines Wortleitungsdecoders DECi in 1B. In dem Fall des Zellen-Arrays einer 32M-Bit-Zellenblockstruktur in 4A und 4B sind 32 Einheiten dieser Zellen-Array-Steuerschaltung (CNTRLi und Wortleitungsdecoder DECi vorgesehen. (i = 1 bis 32).
  • Ein Array-Auswahldecoder 201 gibt eine Aktivierungssignal ACT, das eine Array-Adresse und eine Anweisungseingabe angibt, ein und gibt ein Komplementärsignal von einem MATCHI-, /MATCHI- und BNKi-Signal aus.
  • Eine Wortleitungssteuerung 202 und eine Lesesteuerung 203 werden durch ein BNKi-Signal gesteuert. Die Wortleitungssteuerung 202 gibt ein Steuersignal/RDPR, RDACT für den Wortleitungsdecoder DECi aus. Die Lesesteuerung 203 gibt ein Steuersignal CENBi für eine Spaltenumschalt-Auswahlsteuerung 205 aus, Steuersignale BSAN, SAP für die Leseverstärkerschaltung S/A und jeweilige Steuersignale EQL (die S/AEQL, C/AEQL1, C/AEQL2 repräsentieren) für jeweilige Entzerrerschaltungen 10, 11, 12.
  • Die Spaltenumschaltauswahlsteuerschaltung 205 erzeugt Signale CSL, ASL und ASW unter Verwendung einer Spaltenadresse, CENBi und Komplementärsignale von MATCHI, /MATCHI.
  • Der Wortleitungsdecoder DECi steuert die Auswahl der Wortleitungen unter Verwendung von Zeilenadress- und Steuersignalen /RDPRC, RDACT.
  • Eine solche Zellen-Array-Steuerschaltung CNTRLi und ein solcher Wortleitungsdecoder DECi werden zum automatischen Abschließen aufeinander folgender Operationen mit einer gewissen Verzögerung von einer Anweisung (command) gesteuert. Die aufeinander folgenden Operationen schließen hier ein: Adresse empfangen, Wortleitung auswählen, Wortleitung deaktivieren, und spaltenbezogene Abschnitte egalisieren bzw. ausgleichen. Sicherlich werden während der Dauer, in der eine Wortleitung ausgewählt ist, das Übertragen von durch den Leseverstärker verstärkten Daten und das Neuspeichern von Daten in Zellen bewirkt.
  • Bevorzugte Ausführungsformen der vorliegenden Erfindung für die Hauptschaltungskonfiguration einer Zellen-Array-Steuerschaltung CNTRLi und eines Wortleitungsdecoder DECi, die in dem Schaltungsblock angeordnet sind, werden nachstehend beschrieben.
  • 6A ist ein Schaltungsdiagramm zum Zeigen eines Array-Auswahldecoders 201 in der Zellen-Array-Steuerschaltung CNTRLi. Ein NAND-Gatter 301a gibt ein aus Bits A16 bis A20 bestehende Array-Adresse repräsentierendes Signal ein, wie in 4A und 4B gezeigt. Das Verbinden zwischen dem NAND-Gatter 201a und der Signal repräsentierenden Adresse A16 bia A20 wird zur Vereinfachung der Erläuterung mit der Verbindung G1 bezeichnet. Wie in 6B gezeigt, sind 32 Verbindungswege bei jeweiligen Komplementärzeilen von Adresse A16 bis A20 vorgesehen.
  • Jene 32 Verbindungswege sind den entsprechenden Zellen-Array-Steuerschaltungen CNTRL 1 bis 32, die in den in 4A und 4B gezeigten Zellen-Arrays NCA1 bis MCA32 angeordnet sind, vorgesehen. (Hier ist eine Verbindung basierend auf dem Sortierverfahren (i) der 4 gezeigt).
  • In 6A ist die Ausgangsgröße des NAND-Gatters 301a /MATCHI. Die Ausgangsgröße des nachfolgenden Invertierers 302a ist MATCHI. Das MATCHI-Signal und das ACT-Signal, die einen Anweisungs- bzw. Befehls-enthaltenden Zyklus angeben, werden in ein NAND-Gatter 305a eingegeben. Die Ausgangsgröße des NAND-Gatters 305a wird in ein NAND-Gatter 306a eingegeben, wo sie in den Setzeingang eines Flip-Flops eingegeben wird. Die Ausgangsgröße des NAND-Gatters 306a ist BNKi.
  • Das BNKi-Signal wird über ein Verzögerungselement 307 zu einem PRCi-Signal. DAS PRCi-Signal wird in das NAND-Gatter 304a über den Invertierer 303a eingegeben, wo es in den Rücksetzeingang des Flip-Flops eingegeben wird.
  • Ein solcher Array-Auswahldecoder 201, der synchron ist mit dem ACT-Signal (Impulsssignal) wird auf ein Ansteigen des BNKi-Signals in Entsprechung zu einem solchen Zellen-Array, bei dem das MATCHI-Signal "H" (Hochpegel) ist, zu "H", und wird "L" (Niederpegel) auf ein Abfallen des BNKi-Signals mit einer gewissen Verzögerungszeit.
  • Daher beginnt der Zustand, dass sowohl das ACT- als auch das MATCHI-Signal "H" sind, das ACT-Signal abzufallen, um den Ausgang des NAND-Gatters 305a zu "H" zu machen. Daraufhin wird die Ausgangsgröße des Flip-Flops bei "H" beibehalten bis eine Änderung des BNKi-Signals von "L" zu "H" zu einer Änderung des PRCi-Signals, wobei eine solche Änderung durch das Verzögerungselement 307 verzögert wird, eventuell die Ausgangsgröße des Invertierers 303a von "H" zu "L" ändert. Wenn die Ausgangsgröße des Invertierers 303a "L" wird, werden beide Ausgangsgrößen des Flip-Flops bei dem NAND-Gatter 306a "H", hierdurch das BNKi-Signal von "H" zu "L" ändernd.
  • 7A bis 7C sind Schaltungsdiagramme und zeigen jeweils eine in einer Spaltenumschaltauswahlsteuerung 205 in der Zellen-Array-Steuerschaltung CNTRLi eingeschlossene Schaltungsstruktur, in der ein Signal der Spaltenauswahlleitung CSL erzeugt wird.
  • In 4A und 4B sind 16 Spaltenauswahlleitungen (CSL) vorgesehen, die als Datenübertragungsumschaltung zur Übertragung von Daten von jedem der 16 Leseverstärker zu einer lokalen DQ-Leitung LDQ dienen. Daher ermöglicht dies das Zuordnen von 4 Bit Adressdaten für jede der Spaltenadressen. Jene Adressen werden hier mit A3 bis a6 gekennzeichnet.
  • Nun wird die Schaltung in 7A erläutert. Ein NAND-Gatter 501 gibt irgendein Spaltenadresssignal A3 bis A6 ein. Es sind verzögerten Elemente 502 vor dem Eingang des NAND-Gatters 501 vorgesehen. Die Ausgangsgröße des NAND-Gatters 501a wird zu einem Signal YA (0; 15) über den Invertierer 503.
  • (0; 15) bedeutet, dass es 16 YA Signale für jede Einheit zu erzeugen gibt. Genauer gibt es 16 (die Anzahl der möglichen Kombinationen von vier Bit A3 bis A6) Einheiten, die für jeweilige Speicherzellen-Arrays vorgesehen sind, von denen jede die Struktur hat wie sie in 7A gezeigt ist.
  • Die Verbindung zwischen Signalen A3 bis A6, die eine Adresse repräsentieren, und dem NAND-Gatter 501, wird durch das Verbindungszeichen G3 angegeben ähnlich wie bei dem Verbindungszeichen G1 in 6A. Das bedeutet, dass es 16 Verbindungskombinationen von Komplementärleitungen der Signale A3 bis A6 gibt, die eine Adresse repräsentieren, für jede der 16 Einheiten mit der Struktur der 7A.
  • Nun wird die in 7B gezeigte Schaltung erläutert. Das NOR-Gatter (Nicht-ODER-Gatter) 505 gibt das /MATCHI-Signal und das /CENBi-Signal (das Umkehrsignal von CENBi) ein. Das NOR-Gatter 506 gibt das MATCHI-Signal und das /CENBi-Signal ein. Die Ausgangsgrößen des NOR-Gatters 505 repräsentieren eine der Eingangsgrößen des NOR-Gatters 507. Die Ausgangsgröße der NOR-Gatters 506 repräsentiert eine der Eingangsgrößen des NOR-Gatters 508.
  • Die Ausgangsgröße des NOR-Gatters 508 repräsentiert eine der Eingangsgrößen des NOR-Gatters 507. Die Ausgangsgröße des NOR-Gatters 507 repräsentiert eine der Eingangsgrößen des NOR-Gatters 508. Zudem gibt das NOR-Gatter 508 das /CENBi-Signal ein. Die Ausgangsgröße des NOR-Gatters repräsentiert das SWONi-Signal.
  • Das CENBi-Signal ist ein Signal von der Lesesteuerung 203, die in der Schaltung der 5 angeordnet ist. Die Ausführungsform der Lesesteuerung 503 ist in dieser Beschreibung nicht gezeigt. Das CENBi-Signal ist ein Spaltenzulässigkeitssignal, das auf das Empfangen des BNKi-Signals zu erzeugen ist.
  • Das heißt, in der Schaltung der 7B wird das SWONi-Signal auf "H" festgelegt, wenn das CENBi-Signal bei "H" ist (/CENBi ist "L"). Wenn das CENBi-Signal bei "L" ist (/CENBi ist "H"), ist SWONi-Signal konform mit dem MATCHI-Signal.
  • Nun wird die in 7C gezeigten Schaltung erläutert werden. Das OR-Gatter (ODER-Gatter) 511-1 gibt das Signal SWONi und das Signal SWONi-1 ein. Das Signal SWONi-1 ist ein Signal, das für ein zu einem das Signal SWONi-verwendenden anderen Zellen-Array benachbartes Zellen-Array verwendet wird. Das heißt, das Signal SWONi-1 wird innerhalb der Zellen-Array-Steuerschaltung CNTRLi-1 erzeugt.
  • Das NAND-Gatter (NICHT-UND-Gatter) 512-1 gibt eine Ausgangsgröße des OR-Gatters 511-1 und ein Signal YA (0; 7) ein. Die Ausgangsgröße des NAND-Gatters 512-1 erzeugt ein Signal CSL (0; 7) über einen Invertierer 513-1.
  • (0; 7) bedeutet, dass es 8 CSL-Signale gibt, die in Entsprechung zu 8 YA-Signalen (0; 7) zu erzeugen sind. Genauer, es werden 8 Schaltungseinheiten vorgesehen, die jeweils 511-1, 512-1 und 513-1 umfassen.
  • Das OR-Gatter 511-2 gibt ein Signal SWONi und ein Signal SWONi+1 ein. Hier bedeutet das Signal SWONi+1 ein Signal, das verwendet wird für eine auf der anderen Seite zu dem das Signal SWONi verwendenden Zellen-Array benachbarten Zellen-Array. Das heißt, das Signal SWONi+1 wird innerhalb der Zellen-Array-Steuerschaltung CNTRL+1 erzeugt.
  • Das NAND-Gatter 512-2 gibt die Ausgangsgröße des OR-Gatters 511-2 und das Signal YA (8; 15) ein. Die Ausgangsgröße des NAND-Gatters 512-2 erzeugt ein Signal CSL (8; 15) über einen Invertierer 513-2.
  • (8; 15) bedeutet, dass es 8 CSL-Signal zu erzeugen gibt in Entsprechung zu 8 YA-Signalen (8; 15). Insbesondere werden 8 Schaltungseinheiten vorgesehen, die jeweils 511-2, 512-2 und 513-2 umfassen.
  • 8A bis 8D sind Schaltungsdiagramme zum Zeigen eines Wortleitungsdekoders DECi. Wie in 4A und 4B gezeigt, umfasst jedes der Zellen-Arrays 512 Wortleitungen (512 WL). Demnach ermöglicht dies ein Zuweisen von neuen Bitadressdaten für jede der Wortleitungen in einem Zellen-Array. Jene Adressen werden hier mit A7 bis A15 bezeichnet.
  • Nun wird die in 8A gezeigte Schaltung erläutert. Der Knoten 40 wird auf ein hohes Potential (Vboot) durch das Leiten des P-Kanal-MOSFETs 401 im Voraus voraufgeladen. Während des Bereitstellens von Massepotentialpegel durch ein Leitendmachen des N-Kanal-MOSFET 405 gibt der Knoten 40 Signale von irgendwelchen Adressen A7 bis A9 ein, um einen NAND-Logik vorzunehmen.
  • Dieses Gate-Steuersignal /RDPRC, RDACT des MOSFET 401, 405 werden von der Wortleitungssteuerung 202, die in 5 gezeigt ist, zugeführt. Ausführungsformen der Wortleitungssteuerung 202 werden in dieser Beschreibung nicht erläutert. Das Signal /RDPRC ist ein Voraufladesignal synchron mit beispielsweise dem BNKi-Signal. Das Signal RDACT ist ein Steuersignal zum Bereitstellen eines gegebenen Massesignals während einer Decodierdauer.
  • Wenn die N-Kanal-MOSFETs 402 bis 404 die Adresssignale A7 bis A9 bei den jeweiligen Gates in Serie eingeben, wird infolge hiervon der Potentialpegel des Knotens 40 zu Massepotential "L", wenn alle eingeschaltet sind, oder er wird zum Hochpegel "H" von Vboot, wenn mindestens einer ausgeschaltet ist.
  • Der Pegel des Knotens 40 wird in der Latch-Schaltung gehalten. Die Latch-Ausgangsgröße wird zu dem Signal WLD (0; 7) über zwei Invertierer IV1, IV2 und wird zu dem Signal /WLDR (0; 7) über den Invertierer IV1.
  • (0; 7) bedeutet, dass es acht Signale gibt, die jeweils aus WLD, /WLD bestehen. Spezieller, es gibt 8 Einheiten mit der in 8A gezeigten Struktur, d. h., die Anzahl an Kombinationen von Bits A7 bis A9, die eine Adresse repräsentieren.
  • Die Verbindung zwischen den jeweiligen Gate-Anschlüssen der MOSFETs 402 bis 404 und den Adressen A7 bis A9 werden zum Zwecke der Einfachheit der Erläuterung mit Verbindungszeichen G3 gekennzeichnet, die ähnlich den Verbindungszeichen G1 in 6A sind. Dies bedeutet, dass 8 Verbindungskombinationen von Komplementärleitungen von Adressen A7 bis A9 für jede der 8 Einheiten vorgesehen sind.
  • In einer Schaltung der 8B werden die verbleibenden Wortleitungsadressen A10 bis A15 verwendet. Ein NAND-Gatter 406a fasst die NAND-Logik in Mustern von Adressen A10 und A11 zusammen. Die Ausgangsgröße des NAND-Gatters 406a wird PXA (0; 3) über einen Invertierer IVa.
  • Ein NAND-Gatter 406b fasst die NAND-Logik in Mustern der Adressen A12 und A13 zusammen. Die Ausgangsgröße des NAND-Gatters 406b wird PBX (0; 3) über einen Invertierer IVb.
  • Das NAND-Gatter 406c fasst die NAND-Logik in Mustern von Adressen A14 und A15 zusammen. Die Ausgangsgröße des NAND-Gatters 406a wird PXC (0; 3) über den Invertierer IVc.
  • (0; 3) bedeutet, dass es vier Signale für jedes von PXA, PXB, PXC zu erzeugen gibt. Insbesondere gibt es vier Einheiten, von denen jede die in 8B gezeigte Struktur hat, d. h., in Entsprechung zu der Anzahl von Kombinationen von die Adresse repräsentierenden Bits.
  • Eine Verbindung zwischen dem NAND-Gatter 406a und den Adressen A10 bis A11 wird mit dem Verbindungszeichen G4 angegeben, welches ähnlich dem Verbindungszeichen G1 in 6A zum Zwecke der Vereinfachung der Erläuterung ist. Dies bedeutet, dass Verbindungskombinationen von Komplementärleitungen der Adressen A10, A11 für jeweilige vier Einheiten vorgesehen sind, von denen jede ein NAND-Gatter 406a und den Invertierer IVa umfasst.
  • Ferner werden die Verbindungszeichen G5 für das NAND-Gatter 406b und Adressen A12 bis A13, und das Verbindungszeichen G6 für das NAND-Gatter 406c und Adressen A14 bis A15 in ähnlicher Weise zu dem von G4 aufgebaut.
  • Nun wird die in 8C gezeigte Schaltung erläutert. Der Knoten 41 wird bei einem hohen Potentialpegel (Vboot) durch Leitenlassen des P-Kanal-MOSFET 407 im Voraus aufgeladen. Während des Vorsehens von Massepotentialpegel durch Leitenlassen des N-Kanal-MOSFET 411 hat der Knoten 41 eine NAND-Logik in jeweiligen Signalmustern von PXA (0; 3), PXB (0; 3), PXC (0; 3) zusammengefasst.
  • Das Gate-Steuersignal /RDPRC, RDACT des MOSFET 407, 411 ist ähnlich jenem in 8A erläuterten. Das Signal /RDPRC ist ein Voraufladesignal synchron mit beispielsweise dem BNLi-Signal. Das Signal RDACT ist ein Steuersignal zum Bereitstellen eines Massepotentials während einer Periode des Decodierens in Bezug auf Adressen A7 bis A9.
  • Wenn die N-Kanal-MOSFETs 408 bis 411 durch Gate-Steuerungen jeweiliger Signale PXA (0; 3), PXB (0; 3), PXC (0; 3) in Serie abgestimmt werden, wird der Knoten 41 bei Massepotential "L" festgelegt und wenn es mindestens ein Abschalten gibt, wird er zum Hochpegel "H" von Vboot.
  • Der Pegel des Knoten 41 wird in der Latch-Schaltung gehalten. Die Latch-Ausgangsgröße wird über den Invertierer IV3 zu dem Signal /DRC (0; 63). (0; 63) bedeutet, dass es 64 Signale von /DRC gibt. Insbesondere gibt es 64 Struktureinheiten in 8C, d. h., die Anzahl an Kombinationen von Signalen PXA (0; 3), PXB (0; 3), PXC (0; 3).
  • Nun wird die in 8D gezeigte Schaltung erläutert. Ein P-Kanal-MOSFET 413 wird an seinem Source-Anschluss mit dem Pegel des Signals WLDR (0; 7) gespeist. Ein N-Kanal-MOSFET 414 wird an seinem Source-Anschluss mit dem Massepotential versorgt.
  • Die MOSFET 413, 414 sind Gate-gesteuert durch das Signal /RDC (0; 63). Es ist ein leitender Pfad des N-Kanal-MOSFET 415 vorgesehen, der zwischen dem Verbindungsknoten 43 der Drain-Anschlüsse des MOSFET 413 und 414 und einem Massepotential verbindet. der MOSFET 415 hat einen Gate-Anschluss, an den der Pegel des Signals /WLDR (0; 7) zugeführt wird.
  • Der Pegel des Verbindungsknotens 43 wird zu dem Wortleitungsantriebssignal (0; 511). (0; 511) bedeutet, dass es 512 Wortleitungsantriebssignale in Entsprechung zu der Anzahl der Wortleitungen gibt. Insbesondere gibt es 512 Einheiten, von denen jede die in 8D gezeigte Struktur hat, d. h., die Anzahl an Kombinationen von Signalen /RDC (0; 63), WLDR (0; 3) (/WLDR (0; 3) wird unilateral bestimmt).
  • 9 ist ein Schwingungsformdiagramm zum Zeigen von Schaltungsbetriebsabläufen der Zellen-Array-Steuerschaltung CNTRLi und des Wortleitungsdekoders DECi. Hauptinternsignale, die in der Schaltungsstruktur in 6A bis 8D gezeigt werden, werden auch gezeigt. Die Anweisung wird synchron zu dem Takt CLK zugeführt und ACT-Signale werden ausgegeben, und die Schaltung arbeitet in Übereinstimmung mit der Adresse Ai (d. h. hier, Zeilenadresse, Array-Adresse, Spaltenadresse).
  • Obwohl die Signale von der Lesesteuerung 203 nicht detailliert beschrieben werden, werde wie oben erwähnt BSAN, SAP gezeigt, welches Aktivierungssignale für den Leseverstärker sind. Obwohl die jeweiligen Steuersignale EQL hier nicht gezeigt werden, werden jedoch S/AEQL, C/AEQL1, C/AEQL2 beispielsweise mit demselben Timing aktiv. Zumindest der Aktivierungszustand von S/AEQL wird früher enden als jener von C/AEQL1 und C/AEQL2, und wird für den nachfolgenden Zugriff verwendet vor dem Verbunden sein mit der vorbestimmten Bitleitung.
  • Zudem ist die Zellen-Array-Steuerschaltung CNTRLj die, welche nicht benachbart ist, sondern weit entfernt ist von der Zellen-Array-Steuerschaltung CNTRLi. CNTRLj arbeitet folgend auf eine Schwingungsform ähnlich der von CNTRLi, die später kommt als die zweite Anweisung.
  • 10 ist ein Layout-Blockdiagramm des einen 512M-Bit-Speicher bildenden Zellen-Arrays, welcher 32M Bit Basisblöcke wie oben beschrieben umfasst. Der Speicher wird durch Anordnen von 16 Blöcken von Zellen-Arrays, wie in 10 gezeigt, angeordnet, wobei jeder Block aus einem 32M-Bit-Zellen-Array besteht, das in 4A und 4B gezeigt wird. Eine 4-Bit-Adresse ist erforderlich zum Ausersehen eines der Blöcke.
  • 11 zeigt eine Rolle von 25 Bits, die eine Adresse von 512M Bit bilden. Wie in 4A und 4B erläutert, ist jede Wortleitung mit 2k (2048) Spalten über jeweilige Speicherzellen verbunden. Jene Spalten bilden eine Seite äquivalent zu 16 Bit Ein/Ausgabe bzw. I/O. Das heißt, alle 8DQ Paare von 128DQ-Paaren (Paare von lokalen DQ Leitungen) bilden eine Ein/Ausgabeeinheit bzw. I/O.
  • Eine Spaltenadresse wird aus A0 bis A6 zusammengesetzt, d. h., aus insgesamt 7 Bit. Unter den 7 Bit repräsentieren 3 Bits A0 bis A2 eine Burst-Adresse. Da 8DQ-Paare eine I/O bilden, wird ein 8 Bit Burst maximal erhalten. Die verbleibenden Bits A3 bis A6 bilden eine Seitenadresse.
  • Nun wird die Zeilenadresse erläutert. Da das Zellen-Array sich in dieser Ausführungsform der Erfindung aus 512 Wortleitungen zusammensetzt, werden A7 bis A15, insgesamt 9 Bit, Adressenwortleitungen in demselben Zellen-Array Same zugewiesen.
  • Die Array-Adresse wird nun erläutert. Insgesamt 5 Bits A16 bis A20 werden zugewiesen zum Diskriminieren von Zellen-Arrays in dem 32M-Bit-Zellen-Arrayblock. Unter jenen sind A15 und A17 wichtige Bits zum Unterscheiden von Same (denselben Zellen-Arrays) Neighbor (benachbarten Zellen-Arrays) und Far (entfernten Zellen-Arrays). Der Adressenzusammenhang ist bereits unter Bezugnahme auf 4A und 4B erläutert worden.
  • Die verbleibenden Bits A18 und A20 sind jene, die sich auf Far beziehen. Auch sind insgesamt 4 Bits A21 bis A24 eine Blockadresse, um einen der 32M-Bitblöcke des Blöcke bildenden 512M-Bit-Speichers zu richten.
  • Durch Verwenden eines Gray-Codes für A16 bis A20 wird die Tatsache, ob oder nicht eine Änderung in einem der von den Blockadressenbits abweichenden Bits unter den Zeilenadressenbits auftritt, verwendet zum Beurteilen von Neighbor.
  • Soweit sind alle Überlegungen unter der Annahme entwickelt worden, dass eine Adresse auf einer physikalischen Minimaleinheit eines einen 32M-Bit-Zellen-Arrayblock bildenden Zellen-Arrays basieren sollte, d. h., einem physikalischen Zellen-Array von 1M-Bit.
  • Jedoch kann ein logisches Zellen-Array in einem 32M-Zellen-Arrayblock abhängig davon, wie ein Wortleitungsadressblock festgelegt ist in seiner Größe größer werden als das physikalische Zellen-Array. Dies wird die Freiheit des Speichers erhöhen.
  • Ein Fall, in dem Redundanz im Zellen-Array bereitgestellt wird, wird unter Bezugnahme auf Zellen-Arrays der 4A, 4B oder 10 erläutert. Zusätzlich zu 512 Wortleitungen ist jedes Zellen-Array mit mehr als einer Ersatz-Wortleitung versehen zum Ersetzen einer defekten Wortleitung, die als defekt betrachtet wird (nachstehend als defekte Wortleitung bezeichnet).
  • Angenommen, dass eine solche defekte Wortleitung durch eine Ersatz-Wortleitung ersetzt wird. Wenn die Benutzer solcher Ersatzleitungen auf jene beschränkt ist, die physikalisch in demselben Zellen-Array angeordnet sind, zu dem die defekte Wortleitung gehört, ist der ersetzbare Flächenbereich von Wortleitungen konsistent mit der physikalischen Struktur dahingehend, dass ein 32M-Bit-Block 32 Einheiten von Zellen-Arrays hat, wie oben beschrieben.
  • In diesem Fall ist jedoch das Ersetzen defekter Wortleitungen auf ein kleines physikalisches Zellen-Array beschränkt. Als ein Ergebnis kann kein Austausch durch einen Ersatz vorgenommen werden, wenn eine Anzahl von Defekten intensiv in einem Zellen-Array auftritt, was die Redundanz weniger effizient macht.
  • Andererseits, wenn ein freies Ersetzen defekter Wortleitungen durch eine Ersatz-Wortleitung zwischen benachbarten Zellen-Arrays gegenseitig vorgenommen werden kann, wird die Freiheit beim Ersetzen defekter Wortleitungen auf das Doppelte des vorangehenden Falls erhöht, hierdurch die Redundanz effizienter machend.
  • Wenn eine defekte Wortleitung in irgendeinem der Zellen-Arrays in einem 32M-Bit-Block ersetzbar ist durch eine der Ersatz-Wortleitungen in irgendeinem von allen Zellen-Arrays kann die maximale Effizienz der Redundanz erzielt werden. Gemäß diesem System kann ein Speichersystem realisiert werden durch selektives Bestimmen eines Zellen-Arraybereichs, in dem Ersatz-Wortleitungen ersetzbar sind abhängig von den Bedingungen des Auftretens defekter Wortleitungen.
  • Es ist demnach möglich, eine Speichervorrichtung bereitzustellen, die eine Zugriffszeit zwischen unterschiedlichen Wortleitungen mit hoher Benutzungsrate von Redundanz durch Anwenden der vorliegenden Erfindung bereitzustellen mit einem Speichersystemkonzept, das den Zellen-Arraybereich (nachstehend als logischer Zellenbereich bezeichnet), in dem Ersatz-Wortleitungen ersetzt werden können, variierbar ist in der Größe durch Adresseneinstellung abhängig von der Verwendungsrate der Redundanz.
  • Mit dieser Anordnung wird die Anzahl an in einem Block eingeschlossenen logischen Zellen-Arrays maximal (was gleich der Anzahl der physikalischen Zellen-Arrays in dem Block ist), wenn keine defekten Wortleitungen gefunden werden. Wenn es irgendwelche defekten Wortleitungen gibt, wird die Anzahl der in einem Block eingeschlossenen logischen Zellen-Arrays abhängig von der Anzahl defekter Wortleitungen reduziert. Dies ermöglicht das Beibehalten der angemessenen Qualität der Speichervorrichtung.
  • 12A bis 12F sind Diagramme, die jeweils logische Zellen-Arrays zeigen, die abhängig von dem Defekt der Speicherzellen gebildet werden.
  • 12A zeigt einen Fall, in dem das Ersetzen defekter Wortleitungen innerhalb eines physikalischen Zellen-Arrays stattfindet, in dem die defekten Wortleitungen eingeschlossen sind. Ein logisches Zellen-Array wird aus einem physikalischen Zellen-Array zusammengesetzt. Diese Anordnung ist dieselbe wie die der 11.
  • 12B zeigt einen Fall, in dem das Ersetzen defekter Wortleitungen frei zwischen zwei benachbarten physikalischen Zellen-Arrays stattfindet, d. h., indem ein logisches Zellen-Array aus zwei benachbarten physikalischen Zellen-Arrays gebildet wird. Wenn angenommen wird, dass eine Wortleitungsadresse basierend auf dem physikalischen Zellen-Array festgelegt wird, wie in 12A gezeigt, ist es unmöglich zu bestimmen, zu welchem Zellen-Array die als Ersatz genommene Ersatz-Wortleitung gehört, wenn die Adresse herangezogen wird. In diesem Kontext ist es demnach notwendig, ein Abbilden einer logischen Adresse derart vorzunehmen, dass jedes benachbarte Paar physikalischer Zellen-Arrays, das in den Zeichnungen graphisch durch diagonale Linien unterschieden wird, einem logischen Zellen-Array entspricht.
  • 12C zeigt einen Fall, in dem das Ersetzen defekter Wortleitungs-Arrays frei zwischen vier benachbarten physikalischen Zellen-Arrays stattfindet, d. h., in dem ein logisches Zellen-Array aus vier benachbarten physikalischen Zellen-Arrays gebildet wird. Wenn angenommen wird, dass eine Wortleitungsadresse basierend auf dem physikalischen Zellen-Array festgelegt wird, wie in 12A gezeigt, ist es unmöglich, nur durch eine Adresse zu bestimmen, zu welchem der vier miteinander kombinierten Zellen-Arrays eine Ersatz-Wortleitung gehören sollte. Es ist demnach notwendig, ein Abbilden von einer logischen Adresse derart vorzunehmen, dass jedes der vier physikalischen Zellen-Arrays, die in den Zeichnungen durch diagonale Linien graphisch unterschieden werden, einem logischen Zellen-Array entspricht.
  • 12D zeigt einen Fall, in dem das Ersetzen defekter Wortleitungen frei zwischen acht benachbarten physikalischen Zellen-Arrays stattfindet, d. h., in dem ein logisches Zellen-Array aus acht benachbarten physikalischen Zellen-Arrays gebildet wird. Wenn angenommen wird, dass eine Wortleitungsadresse basierend auf dem physikalischen Zellen-Array festgelegt wird, wie in 12A gezeigt, ist es unmöglich, nur durch eine Adresse zu bestimmen, zu welchem der acht miteinander kombinierten Zellen-Arrays eine Ersatz-Wortleitung gehören sollte. Es ist demnach notwendig, ein Abbilden der logischen Adresse derart vorzunehmen, dass jedes der acht physikalischen Zellen-Arrays, die in den Zeichnungen graphisch durch diagonale Linien unterschieden werden, einem logischen Zellen-Array entspricht.
  • 12E zeigt einen Fall, in dem das Ersetzen defekter Wortleitungs-Arrays frei zwischen sechzehn benachbarten physikalischen Zellen-Arrays stattfindet, d. h., in dem ein logisches Zellen-Array aus sechzehn benachbarten physikalischen Zellen-Arrays gebildet wird. Wenn angenommen wird, dass eine Wortleitungsadresse basierend auf dem physikalischen Zellen-Array festgelegt wird, wie in 12A gezeigt, ist es unmöglich, nur durch eine Adresse zu bestimmen, zu welchem der sechzehn miteinander kombinierten Zellen-Arrays eine Ersatz-Wortleitung gehören sollte. Es ist daher notwendig, eine Abbildung der logischen Adresse derart vorzunehmen, dass jedes der sechzehn physikalischen Zellen-Arrays, die in den Zeichnungen graphisch durch diagonale Linien unterschieden werden, einem logischen Zellen-Array entspricht.
  • 12F zeigt einen Fall, in dem das Ersetzen defekter Wortleitungen frei zwischen allen physikalischen Zellen-Arrays in einem gesamten 32M-Bit-Block stattfindet. Wenn vorausgesetzt wird, dass eine Wortleitungsadresse basierend auf dem physikalischen Zellen-Array festgelegt wird, wie in 12A gezeigt, ist es unmöglich, nur durch eine Adresse zu bestimmen, zu welchem der Zellen-Arrays eine Ersatz-Wortleitung gehören sollte. Es ist demnach notwendig, eine Abbildung einer logischen Adresse derart vorzunehmen, dass die physikalischen Zellen-Arrays des gesamten Blocks dem logischen Zellen-Array entsprechen.
  • 13A bis 13F sind Konzeptdiagramme zum Zeigen einer Zuweisung von Zeilenadressen. Die Konfigurationen in 13A bis 13F entsprechen jeweils jenen in 12A bis 12F. Zur bequemeren Erläuterung sind die Spaltenadressen hier weggelassen.
  • Jede Adresse wird basierend auf dem in 12A bis 12F gezeigten physikalischen Zellen-Array festgelegt. Um einen Hochgeschwindigkeitszyklus zu erreichen, können Unterscheidungsbits von Same (demselben Zellen-Array), Neighbor (benachbarter Zellen-Arrays) und Far (entfernter Zellen-Arrays) ebenfalls wenn notwendig entsprechend vorgesehen werden.
  • Es sollte bemerkt werden, dass die Anzahl physikalischer Zellen-Arrays, die ein logisches Zellen-Array bilden, in Übereinstimmung mit einem Übergang von 12A bis 12F zunimmt. Als Wirkung hiervon nimmt beim Übergang von 13A bis 13F die Anzahlen der Bits von Wortleitungsadressen in Same zu und demnach verschiebt sich die Bit-Ordnung von N und N-sup. aufwärts. In 13F verschwindet ein Konzept von benachbarten Zellen-Arrays.
  • Wie oben erwähnt, suggeriert die Adressenzuweisung, wie die Zellen-Array-Konfiguration mit den Speicherbetriebsabläufen konform sein sollte. Ansprechend auf solche Adressenzuweisung modifiziert der nicht gezeigte Speichersteuerabschnitt einen Bit-Bereich von Array-Adressen, welcher das Unterscheiden von Same, Neighbor und Far ermöglicht, in Bezug auf Zellen-Arrays, auf die zugegriffen werden sollte. Im Fall des Verwendens des Gray-Code wird Neighbor gefunden, wenn eine Array-Adresse unter Ausschluss der Blockadresse bei nur einem Bit geändert wird.
  • Mit der obigen Anordnung wird wenn eine Wortleitung defekt ist, die Wortleitung, zu der eine gleichzeitig gelesene Zelle in einem Zellen-Array gehört, durch eine Ersatz-Wortleitung ersetzt. Dadurch dass das die Ersatz-Wortleitung einschließende Zellen-Array als neues Zellen-Array dient, ist es möglich, dasselbe Zellen-Array, das benachbarte Zellen-Array und das ferne Zellen-Array zu unterscheiden. Dies bedeutet, dass der Speicher basierend auf der Entscheidung des Befehlszyklus in Übereinstimmung mit der vorliegenden Erfindung betrieben werden kann, selbst wenn die Redundanz gegebenenfalls verwendet wird oder nicht.
  • Gemäß der vorliegenden Erfindung ist es wie oben beschrieben möglich, die Anzahl der Zyklen zwischen beliebigen Adresszuweisungen zu minimieren. Das System ermöglicht, dass der Speichersteuerabschnitt (wie z. B. eine CPU) basierend auf einer Änderung einer gewissen Adresse bestimmen kann, wo er zugreifen sollte (d. h., ein gegenseitiger Positionszusammenhang von Zellen-Arrays, ob es innerhalb desselben Zellen-Arrays ist, in dem benachbarten Zellen-Array oder in dem fernen Zellen-Array) und es wird demnach möglich, das Timing des Eingebens von Zugriffsanweisungen mit der essentiell minimalen Zykluszeit zu bestimmen. Als ein Ergebnis kann die Effizienz der Datenübertragung stark verbessert werden.
  • Gemäß der vorliegenden Erfindung wird der Positionszusammenhang von Zellen-Arrays, auf die zuzugreifen ist, von einer Änderung der Adresse beurteilt, welche die Zahl der Zyklen zwischen Anweisungen auf das essentielle Minimum reduziert. Es ist demnach möglich, einen taktsynchronen Hochgeschwindigkeitszyklusspeicher und ein Speichersystem mit einer wesentlich verbesserten Effizienz der Datenübertragung bereitzustellen.

Claims (7)

  1. Ein Speichersystem, umfassend: – eine Speichersteuerung (CPU) und – eine Halbleiterspeichervorrichtung, umfassend eine Vielzahl von physikalischen Zellen-Arrays (ARY1, ARY2), wobei jedes von diesen durch eine physikalische Struktur von Speicherzellen (MC) und mit mindestens einer Ersatzwortleitung definiert ist, zum Bilden einer Vielzahl von logischen Zellen-Arrays, von denen jedes aus der gleichen Anzahl von physikalischen Zellen-Arrays zusammengesetzt ist, in denen eine oder mehrere in einem logischen Zellen-Array enthaltene defekte Wortleitungen vorbereitet sind, durch in dem gleichen logischen Zellen-Array enthaltene Ersatzwortleitungen ersetzt zu werden, wobei, wenn ein Adresszugriffsbefehl zugeführt wird, die Speichersteuerung (CPU) bestimmt, zu welchem logische Zellen-Array der Vielzahl logischer Zellen-Arrays die adressierte Zelle gehört, wobei die Speichersteuerung (CPU) jedes der logischen Zellen-Arrays als unabhängige Zugriffseinheit behandelt, dadurch gekennzeichnet, dass die Speichersteuerung (CPU) ausgebildet ist, um, wenn auf erste und zweite logische Arrays der Vielzahl der logischen Zellen-Arrays durch einen ersten Zugriffsbefehl und einen nachfolgenden zweiten Zugriffsbefehl nacheinander zugegriffen wird, die Anzahl der Taktzyklen zwischen dem ersten Zugriffsbefehl und dem nachfolgenden zweiten Zugriffsbefehl zu reduzieren, wenn gemäß dem ersten und zweiten Zugriffsbefehl erhaltene erste und zweite Adressen in abweichenden logischen Zellen-Arrays enthalten sind, verglichen mit einem Fall, in dem die erste und zweite Adressen in den gleichen logischen Zellen-Arrays enthalten sind.
  2. Ein Speichersystem nach Anspruch 1, wobei jedes der physikalischen Zellen-Arrays eine Zellen-Array-Steuerung (CNTRLi) aufweist zum Steuern einer Ersetzung einer defekten Wortleitung mit einer Ersatzwortleitung.
  3. Ein Speichersystem nach Anspruch 1, wobei die logischen Zellen-Arrays durch logische Adressen definiert werden, die jeweils aus der gleichen Anzahl von Adress-Bits zusammengestellt sind.
  4. Ein Speichersystem nach Anspruch 1, ferner eine Adresssetzeinrichtung umfassend zum Variieren der Größe von logischen Zellen-Arrays abhängig von einer Verwendungsrate der Redundanz mit Bezug auf die ersetzte Anzahl von Ersatzwortleitungen.
  5. Ein Speichersystem nach Anspruch 1, wobei ein Adressformat, das aus einer Vielzahl von Bits (A0–A24) zusammengestellt ist zum Zugreifen auf die physikalischen Zellen-Arrays (ARY1, ARY2) gemäß einer Positionsbeziehung zwischen den Zellen-Arrays bestimmt wird.
  6. Ein Speichersystem nach Anspruch 5, wobei die Vielzahl der Bits mindestens ein Wortleitungsidentifizierungs-Bit enthält zum Spezifizieren jeder von den Wortleitungen in dem gleichen physikalischen Zellen-Array.
  7. Ein Speichersystem nach Anspruch 6, wobei eine Anzahl L + N von Wortleitungsidentifizierungs-Bits verwendet werden, wenn N > 1 gilt, wobei 2L eine Anzahl von in jedem der physikalischen Zellen-Arrays enthaltenen Wortleitungen ist, und 2N eine Anzahl von physikalischen Zellen-Arrays ist, die ein logisches Zellen-Array darstellen.
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Families Citing this family (40)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000137983A (ja) 1998-08-26 2000-05-16 Toshiba Corp 半導体記憶装置
JP4034923B2 (ja) * 1999-05-07 2008-01-16 富士通株式会社 半導体記憶装置の動作制御方法および半導体記憶装置
JP4083944B2 (ja) 1999-12-13 2008-04-30 東芝マイクロエレクトロニクス株式会社 半導体記憶装置
KR100699810B1 (ko) * 2000-08-05 2007-03-27 삼성전자주식회사 버스 효율을 향상시키는 반도체 메모리장치 및 메모리시스템
US6452869B1 (en) * 2001-02-26 2002-09-17 Advanced Micro Devices, Inc. Address broadcasting to a paged memory device to eliminate access latency penalty
US6549479B2 (en) 2001-06-29 2003-04-15 Micron Technology, Inc. Memory device and method having reduced-power self-refresh mode
US7170802B2 (en) * 2003-12-31 2007-01-30 Sandisk Corporation Flexible and area efficient column redundancy for non-volatile memories
US6985388B2 (en) * 2001-09-17 2006-01-10 Sandisk Corporation Dynamic column block selection
US6459648B1 (en) * 2001-10-13 2002-10-01 Josh N. Hogan Fault-tolerant address logic for solid state memory
US7076674B2 (en) * 2001-12-19 2006-07-11 Hewlett-Packard Development Company L.P. Portable computer having dual clock mode
JP4310100B2 (ja) * 2002-11-29 2009-08-05 Okiセミコンダクタ株式会社 フィールドメモリ
JP3967693B2 (ja) * 2003-05-23 2007-08-29 株式会社東芝 半導体メモリ
KR100525460B1 (ko) * 2003-05-23 2005-10-31 (주)실리콘세븐 2개의 메모리 블락 사이에 3개의 센스앰프를 가지며,인출과 기입 동작 구간이 분리되는 리프레쉬 동작을수행하는 에스램 호환 메모리 및 그 구동방법
US6928013B2 (en) * 2003-08-12 2005-08-09 Elite Semiconductor Memory Technology Inc. Timing control method for operating synchronous memory
US7379330B2 (en) * 2005-11-08 2008-05-27 Sandisk Corporation Retargetable memory cell redundancy methods
DE102008007004B4 (de) * 2008-01-31 2010-09-23 Advanced Micro Devices, Inc., Sunnyvale Integrierte Schaltung mit einem Speicher mit mehreren Speicherzellen mit synchronem Aufbau, die mit Taktausblendeeinheiten verbunden sind, sowie Verfahren zum Entwerfen einer solchen Schaltung
US8027195B2 (en) 2009-06-05 2011-09-27 SanDisk Technologies, Inc. Folding data stored in binary format into multi-state format within non-volatile memory devices
US8102705B2 (en) 2009-06-05 2012-01-24 Sandisk Technologies Inc. Structure and method for shuffling data within non-volatile memory devices
US7974124B2 (en) 2009-06-24 2011-07-05 Sandisk Corporation Pointer based column selection techniques in non-volatile memories
US20110002169A1 (en) 2009-07-06 2011-01-06 Yan Li Bad Column Management with Bit Information in Non-Volatile Memory Systems
US8468294B2 (en) 2009-12-18 2013-06-18 Sandisk Technologies Inc. Non-volatile memory with multi-gear control using on-chip folding of data
US8725935B2 (en) 2009-12-18 2014-05-13 Sandisk Technologies Inc. Balanced performance for on-chip folding of non-volatile memories
US8144512B2 (en) 2009-12-18 2012-03-27 Sandisk Technologies Inc. Data transfer flows for on-chip folding
JP4947395B2 (ja) * 2010-01-07 2012-06-06 横河電機株式会社 半導体試験装置
US9342446B2 (en) 2011-03-29 2016-05-17 SanDisk Technologies, Inc. Non-volatile memory system allowing reverse eviction of data updates to non-volatile binary cache
US8842473B2 (en) 2012-03-15 2014-09-23 Sandisk Technologies Inc. Techniques for accessing column selecting shift register with skipped entries in non-volatile memories
US8681548B2 (en) 2012-05-03 2014-03-25 Sandisk Technologies Inc. Column redundancy circuitry for non-volatile memory
US8897080B2 (en) 2012-09-28 2014-11-25 Sandisk Technologies Inc. Variable rate serial to parallel shift register
US9490035B2 (en) 2012-09-28 2016-11-08 SanDisk Technologies, Inc. Centralized variable rate serializer and deserializer for bad column management
US9076506B2 (en) 2012-09-28 2015-07-07 Sandisk Technologies Inc. Variable rate parallel to serial shift register
US9934872B2 (en) 2014-10-30 2018-04-03 Sandisk Technologies Llc Erase stress and delta erase loop count methods for various fail modes in non-volatile memory
CN104637522B (zh) * 2014-12-26 2017-09-05 北京时代民芯科技有限公司 一种脉宽自适应的可配置存储器ip结构
US9224502B1 (en) 2015-01-14 2015-12-29 Sandisk Technologies Inc. Techniques for detection and treating memory hole to local interconnect marginality defects
US10032524B2 (en) 2015-02-09 2018-07-24 Sandisk Technologies Llc Techniques for determining local interconnect defects
US9564219B2 (en) 2015-04-08 2017-02-07 Sandisk Technologies Llc Current based detection and recording of memory hole-interconnect spacing defects
US9269446B1 (en) 2015-04-08 2016-02-23 Sandisk Technologies Inc. Methods to improve programming of slow cells
US10373665B2 (en) 2016-03-10 2019-08-06 Micron Technology, Inc. Parallel access techniques within memory sections through section independence
TWI751048B (zh) * 2021-03-04 2021-12-21 旺宏電子股份有限公司 記憶體裝置及其操作方法
US11482282B2 (en) 2021-03-04 2022-10-25 Macronix International Co., Ltd. Memory device and operation method thereof
CN117189649B (zh) * 2023-11-08 2024-01-05 永联科技(常熟)有限公司 一种风机矩阵控制方法及相关设备

Family Cites Families (29)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4450559A (en) * 1981-12-24 1984-05-22 International Business Machines Corporation Memory system with selective assignment of spare locations
US4924375A (en) 1987-10-23 1990-05-08 Chips And Technologies, Inc. Page interleaved memory access
JPH0212541A (ja) 1988-04-29 1990-01-17 Internatl Business Mach Corp <Ibm> コンピユーテイング・システム及びその動作方法
US5126973A (en) * 1990-02-14 1992-06-30 Texas Instruments Incorporated Redundancy scheme for eliminating defects in a memory device
JPH05189996A (ja) * 1991-09-05 1993-07-30 Hitachi Ltd 半導体記憶装置
JP2501993B2 (ja) * 1992-02-24 1996-05-29 株式会社東芝 半導体記憶装置
JP2740097B2 (ja) 1992-03-19 1998-04-15 株式会社東芝 クロック同期型半導体記憶装置およびそのアクセス方法
US5594704A (en) 1992-04-27 1997-01-14 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Synchronous semiconductor memory device
KR950015041B1 (ko) * 1992-11-23 1995-12-21 삼성전자주식회사 로우리던던시회로를 가지는 고집적 반도체 메모리 장치
US5373470A (en) 1993-03-26 1994-12-13 United Memories, Inc. Method and circuit for configuring I/O devices
JP3099931B2 (ja) 1993-09-29 2000-10-16 株式会社東芝 半導体装置
JP3319105B2 (ja) 1993-12-15 2002-08-26 富士通株式会社 同期型メモリ
EP1037149A3 (de) * 1994-03-22 2003-10-15 Hyperchip Inc. Direkte Zellenersetzung für fehlertolerante Architektur mit gänzlich integrierten Systemen und mit Mitteln zur direkten Kommunikation mit dem Systembediener
US6408402B1 (en) * 1994-03-22 2002-06-18 Hyperchip Inc. Efficient direct replacement cell fault tolerant architecture
JPH07334999A (ja) * 1994-06-07 1995-12-22 Hitachi Ltd 不揮発性半導体記憶装置及びデータプロセッサ
US5654932A (en) 1995-10-04 1997-08-05 Cirrus Logic, Inc. Memory devices with selectable access type and methods using the same
TW348266B (en) 1996-03-11 1998-12-21 Toshiba Co Ltd Semiconductor memory device
JPH09288888A (ja) 1996-04-22 1997-11-04 Mitsubishi Electric Corp 半導体記憶装置
JPH1050092A (ja) * 1996-08-06 1998-02-20 Nippon Steel Corp 半導体記憶装置の欠陥救済回路
US5774471A (en) * 1996-12-17 1998-06-30 Integrated Silicon Solution Inc. Multiple location repair word line redundancy circuit
JPH10334694A (ja) * 1997-05-30 1998-12-18 Toshiba Corp 半導体記憶装置
JPH11306751A (ja) 1998-04-22 1999-11-05 Toshiba Corp 半導体記憶装置
JP4226686B2 (ja) 1998-05-07 2009-02-18 株式会社東芝 半導体メモリシステム及び半導体メモリのアクセス制御方法及び半導体メモリ
JP2000137983A (ja) * 1998-08-26 2000-05-16 Toshiba Corp 半導体記憶装置
US6219286B1 (en) * 1999-06-04 2001-04-17 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Semiconductor memory having reduced time for writing defective information
JP2001006387A (ja) * 1999-06-18 2001-01-12 Mitsubishi Electric Corp テスト回路を備える半導体装置および半導体装置の試験装置
US6304989B1 (en) * 1999-07-21 2001-10-16 Credence Systems Corporation Built-in spare row and column replacement analysis system for embedded memories
JP4216415B2 (ja) * 1999-08-31 2009-01-28 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置
US6452869B1 (en) * 2001-02-26 2002-09-17 Advanced Micro Devices, Inc. Address broadcasting to a paged memory device to eliminate access latency penalty

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