EP0514532A1 - Verfahren zur analyse einer gasprobe, analyseanordnung, verwendungen davon und testanlage mit der genannten anordnung - Google Patents

Verfahren zur analyse einer gasprobe, analyseanordnung, verwendungen davon und testanlage mit der genannten anordnung

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EP0514532A1
EP0514532A1 EP92902518A EP92902518A EP0514532A1 EP 0514532 A1 EP0514532 A1 EP 0514532A1 EP 92902518 A EP92902518 A EP 92902518A EP 92902518 A EP92902518 A EP 92902518A EP 0514532 A1 EP0514532 A1 EP 0514532A1
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    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
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Description

Verfahren zur Analyse einer Gasprobe, Analyseanord¬ nung. Verwendungen davon und Testanläge mit der ge¬ nannten Anordnung
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren nach dem Oberbegriff von Anspruch 1, eine Analyseanordnung nach demjenigen von Anspruch 12 sowie eine Testanlage mit einer solchen Anordnung nach Anspruch 22 und eine Verwendung davon nach Anspruch 23.
Es sind Halbleitergassensoren bekannt, wie beispiels¬ weise von der Firma Figaro Engineering, Osaka/Japan, hergestellt und vertrieben. Derartige Halbleitergas¬ sensoren können ausserordentlich einfach und, auf¬ grund ihres kleinen Volumens, auch direkt in Behält¬ nisse mit Gasproben eingeführt werden oder entlang eines Strömungspfades für Gasproben aus den Behält¬ nissen, an beliebigem Ort, zur Analyse der Gasproben. Dem Aspekt der Zuverlässigkeit kann durch Vorsehen mehrerer derartiger Halbleitergassensoren noch ver¬ mehrt Rechnung getragen werden.
Nun weisen Halbleitersensoren, und dabei insbesondere Halbleitergassensoren, relativ lange Schrittantwort¬ zeiten auf, d.h. wenn ihnen eingangsseitig ein Gasän¬ derungssprung auferlegt wird, ändert sich ihr Aus- gangssignal ähnlich demjenigen eines Tiefpasses und läuft relativ langsam dem entsprechenden Endwert asymptotisch entgegen.
Dieses Problem steht dem Einsatz von Halbleitergas¬ sensoren unter dem Aspekt der Verfahrensschnelligkeit entgegen und wird bei Vorgehen nach dem Wortlaut von Anspruch 1 behoben.
Da als Ausgangssignal bei derartigen Halbleitergas- sensoren üblicherweise der Ausgangswiderstand vari¬ iert, wird mithin die zeitliche Aenderung ihres Aus¬ gangswiderstandes ausgewertet.
Da die zeitliche Ableitung der Halbleitergassensor- AusgangsSignale mit dem Maximalwert des Ausgangssi¬ gnals korreliert, welchem es zustrebt, kann bereits kurz nach Auftreten einer Gaskonzentrations- und/oder -Stoffänderung eingangsseitig, aus der erwähnten Ab¬ leitung, das Analysesignal ermittelt werden.
Aus dem Vorerwähnten geht nun u.a. hervor, dass, wenn ein Halbleitergassensor eine Gaskomponente erfasst hat, die sein AusgangsSignal gegen einen neuen End¬ wert zutreibt, dieser Gassensor, wegen seines "Ge¬ dächtnisses" nurmehr mit dem Resultat vorgängig er- fasster Messungen verfälscht, eine weitere Gasprobe analysieren wird. Dies würde bedingen, dass ein vor¬ gesehener Gassensor den Verfahrenszyklus wiederum drastisch verlangsamt, weil abgewartet werden uss, bis der Einfluss einer vorangehenden Gasanalyse abge¬ klungen ist.
Dies wird bei Vorgehen nach dem Wortlaut von Anspruch 2 dadurch behoben, dass mindestens zwei Sätze je mit mindestens einem Halbleitersensor vorgesehen werden und sich folgende Gasproben abwechselnd je einem der Sensorsätze zugeführt werden, womit den einzelnen Sätzen Zeit eingeräumt wird, damit sich ihre Aus- gangssignale wieder auf einen Basiswert rückeinstel¬ len können, ohne dass dabei der Verfahrenszyklus ver¬ längert würde.
Um dabei Zuleitungen und den Halbleitersensor selbst zu reinigen, wird, dem Wortlaut von Anspruch 4 fol¬ gend, vorgeschlagen, ihn, und damit auch die Zulei¬ tungen, nach Messung, gaszuspülen. Dabei ergibt sich bei einer derartigen Gasspülung, aufgrund der Art des Spülgases und/oder seiner Strömung entlang dem Sen¬ sor, am Sensor ein ähnliches Verhalten, wie es sich einstellt bei der vorerwähnten Erfassung eines be¬ stimmten Gasanteils in der Probe. Damit würde ein solcher Gassensor durch den Spülvorgang wieder für einige Zeit für Probenmessungen unbrauchbar.
Nun wird, gemäss dem Wortlaut von Anspruch 6, vorge¬ schlagen, die Spülgasart und/oder die SpülgasStrömung derart auf die Strömung eines Trägergases für die Gasprobe abzustimmen, dass, beim Wechsel von Spülbe¬ trieb zu Messbetrieb oder umgekehrt, durch diesen Wechsel am Ausgang des Halbleitersensors eine nur mi¬ nimale Signaländerung, wenn überhaupt, in Erscheinung tritt. Damit "erlebt" der Sensor einen Wechsel von Messzyklus zu Spülzyklus bzw. umgekehrt nicht.
Dem Wortlaut von Anspruch 5 folgend, wird bevorzug¬ terweise ein Trägergas eingesetzt und, im Sinne des zu Anspruch 6 Gesagten, nach Anspruch 7, als Spülgas das Trägergas eingesetzt.
Bei den vorerwähnten Halbleitersensoren, insbesondere Halbleitergassensoren, deren "Gedächtnis"-Verhalten erläutert wurde, ergibt sich insbesondere auch dann ein Problem, wenn einer oder mehrere der vorgesehenen Halbleitersensoren einen hohen Gaspegel detektiert, der sein AusgangsSignal hochtreibt, womit ein solcher Sensor dann auch entsprechend lange Zeit benötigt, um auf seinen Ausgangswert rückzuschwingen. Damit wäre ein solcher Halbleitersensor für nachfolgende Unter¬ suchungen wiederum nicht bereit, und der Messzyklus würde entsprechend verlängert, bis der erwähnte Halb¬ leitersensor seine Messbereitschaft wieder erreicht hat.
Um dies zu verhindern, werden, dem Wortlaut von An¬ spruch 8 folgend, an den vorgesehenen Halbleitersen¬ sorsätzen die Ausgangssignale daraufhin überprüft, ob sie einen vorgegebenen Wert überschreiten, falls ja, wird der zugeordnete Satz mindestens für die unmit¬ telbar folgende Analyse nicht eingesetzt. Es wird dann einer der weiteren Halbleitersensorsätze einge¬ setzt, der messbereit ist.
Es wird die zeitliche Ableitung der Halbleitersensor- Ausgangssignale darauf geprüft, ob sie den vorgegebe¬ nen Wert übersteigt, damit auch hier nicht bis zum Einpendeln des Halbleitersensor-Ausgangssignals auf den dem Gasprobenanteil entsprechenden Ausgangssi- gnalpegel gewartet werden muss.
Da ohnehin vorzugsweise sich folgende Gasproben se¬ quentiell unterschiedlichen Halbleitersensorsätzen zugeführt werden, so beispielsweise, um zwischenzeit¬ lich den eben benützten zu spülen, wird in den hier angesprochenen Fällen bevorzugterweise mehr als ein Messzyklus ausgelassen, bis der im genannten Sinne übersättigte Satz wieder messwirksam wird, was durch¬ aus durch Ueberwachung seines Ausgangssignals festge¬ stellt werden kann, nach Anspruch 9, während die nachfolgenden Messzyklen unbeeinträchtigt auf anderen Sätzen durchgeführt werden.
Eine erfindungsgemässe Analyseanordnung ist in den Ansprüchen 12 bis 21 spezifiziert.
Eine erfindungsgemässe Testanlage mit einer erfin- dungsgemässen Analyseanordnung ist in Anspruch 22 spezifiziert, bei der eine Fördereinrichtung vorgese¬ hen ist für in einem Strom anfallende Kunststofffla¬ schen als Behältnisse zu und von der Analyseanordnung und mit welcher in raschem Rhythmus jede Flasche ge¬ testet werden kann, im Unterschied zu Stichprobenprü¬ fungen, die, insbesondere im Zusammenhang mit der Wiederverwendung von Lebensmittelbehältnissen, aus Sicherheitsgründen nicht applikabel sind.
Die Erfindung wird anschliessend beispielsweise an¬ hand von Figuren erläutert.
Es zeigen:
Fig. 1 ein Signalfluss-/Funktionsblock-Diagramm ei¬ ner nach dem erfindungsge ässen Verfahren arbeitenden, erfindungsgemässen Analysesta¬ tion mit Halbleitersensoren, insbesondere Halbleitergassensoren,
Fig. 2a das qualitative Antwortverhalten eines Halb- leitergassensors auf Spülgas-/Testgas-Zy- klen,
Fig. 2b das abgeglichene Verhalten des Halbleiter¬ gassensors,
Fig. 3 schematisch, das Blockdiagramm einer bevor¬ zugten Gasprobenentnahme-Einheit an der er¬ findungsgemässen Analysestation.
Die vorliegende Erfindung betrifft das Problem, ins¬ besondere bei leeren Behältnissen, den Kontamina¬ tionszustand anhand von Gasproben zu untersuchen. Beispielsweise bei Kunststoffflaschen, die anfallen, um wieder verwertet zu werden, besteht eine grosse Unsicherheit darüber, wie sie nach ihrer Entleerung von ihrer Originalfüllung, wie von Mineralwasser, Fruchtsäften etc., verwendet worden sind. Bekanntlich werden derartige Flaschen, beispielsweise in Haushal¬ tungen, oft artfremd eingesetzt, z.B. zum Lagern von Seifenwasser, Pflanzenschutzmitteln, Motorenöl, Säu¬ ren, Sprit, Benzin etc. Wurden solche Stoffe in den Behältnissen gelagert, die einer Wiederverwertung durch eine Neu-Originalabfüllung .zugeführt werden, so ist bei gewissen Kontaminationsstoffkategorien mit einer Geschmacksbeeinträchtigung des neu eingefüllten Originalfüllgutes zu rechnen, oder es ist ein solches Behältnis für eine Neuabfüllung nicht mehr verwertbar aus Gründen der Unverträglichkeit der Kontamination bis hin zu gesundheitlicher Schädlichkeit-
Deshalb uss ermittelt werden, ob und welche Restkon¬ taminationen in den Behältnissen vorhanden sind, um entsprechend eine Selektion vornehmen zu können zwi¬ schen Behältnissen, die für eine neuerliche Original¬ abfüllung nicht mehr verwertbar sind, solchen, die z.B. erst einer Spezialreinigung zuzuführen sind, und solchen, die bedenkenlos neu gefüllt werden können.
Da auch in gewissen Fällen das Füllgut eines Behält¬ nisses kontaminiert sein kann und dann das darüber- liegende Gas kontaminiert wird, kann die Erfindung unter all ihren Aspekten auch an bereits gefüllten Behältnissen eingesetzt werden.
Die im vorliegenden Zusammenhang interessierende Ana¬ lysetechnik ist die mittels Halbleitersensoren, z.B. für IR-Absorptionsmessungen am Gas, IR-Halbleitersen- soren oder aber, und insbesondere, mittels Halblei¬ tergassensoren, die direkt Gaskomponenten an der Gas¬ probe detektieren. Für IR-Absorptionsmessungen geeig¬ nete Halbleitersensoren werden z.B. von der Firma Kohl Sensors Inc., 70W Barham Avenue, US-Santa Rosa, vertrieben. Halbleitergassensoren, die hier insbeson¬ dere interessieren, werden z.B. von der Firma Figaro Engineering, Osaka/Japan, vertrieben.
Bei Einsatz derartiger Halbleiterbauelemente besteht ein Problem darin, dass ihre Schrittantwort langsam ist. Wird, wie beim Vorbeiströmen kontaminierten Ga¬ ses als Gasprobe, an einem solchen Sensor eingangs- seitig ein Kontaminationsimpuls bzw. ein Gasanteilim¬ puls erzeugt, so strebt das Halbleitersensor-Aus¬ gangssignal relativ träge einem entsprechenden Maxi¬ malwert zu, um darnach entsprechend langsam wieder abzufallen. Diese Probleme können auch bei anderen Messtechniken auftreten, beispielsweise bei der IR-Absorptionsmes¬ sung mit Halbleiter-IR-Sensoren, womit die nachfol¬ genden Erläuterungen auch diesbezüglich Gültigkeit haben.
Wie aus Fig. 1 ersichtlich, sind die Ausgangssignale von darin dargestellten Sätzen 60a, 60b bzw. 60c je mit mindestens einem Halbleitersensor HL derart, dass sie je nach anfallender Kontamination, entsprechend, dem Maximalwert A zustreben, was relativ lange ax dauert.
Um nun die Messzykluszeit zu verkürzen, wird ausge¬ nützt, dass die Steigung des AusgangsSignals zunimmt, wenn der angelaufene Maximalausgangssignalwert A max höher wird. Deshalb wird nicht das Sensorausgangssi¬ gnal direkt, sondern dessen zeitliche Ableitung als
Messgrösse A , wie in Fig. 1 dargestellt ist, ausge- m wertet.
Da bei Halbleitersensoren die Variable ihr Widerstand ist, entspricht A dem Widerstandsverlauf.
Wie weiter ersichtlich, ist die Zeitspanne, welche das Ausgangssignal derartiger Sensoren benötigt, um wieder seinen Ausgangswert einzunehmen, desto länger, je höher der angelaufene Maximalwert A ist. Um max nun, davon unabhängig, die Messzykluszeit trotzdem drastisch verkürzen zu können, werden, ge äss Fig. 1, zwei oder mehr derartige Sensoren bzw. Sätze derarti¬ ger Sensoren, beispielsweise zyklisch, für sich fol¬ gende Gasprobenanalysen eingesetzt. Dies wird ange- steuert durch eine Steuereinheit, z.B. mit einem zyk¬ lischen Register 62 über Steuereingänge G' an Strö¬ mungsumschaltern 59. Bevorzugterweise wird überwacht, wie mit Komparatoreinheiten 64, ob das Ausgangssignal eines der Sensoren bzw. Satzes einen unzulässig hohen Wert einnimmt, und dieser eine Sensor bzw. Sensorsatz wird dann für eine vorbestimmte Zeit Z~ aus dem Zyklus ausgeschaltet.
Mithin sind Sätze 60a, b ... mit mindestens je einem Halbleitersensor vorgesehen, welche sequentiell für sich folgende Gasproben G verwendet werden. Schlägt das Ausgangssignal eines Halbleitersensors über einen an Komparatoreinheiten 64 vorgegebenen Schwellwert aus bzw. dessen zeitliche Ableitung, so wird der ent¬ sprechende Sensor bzw. Sensorsatz für eine vorgegebe¬ ne Anzahl nachfolgender Probegas esszyklen ausser Be¬ trieb gesetzt.
Wie gestrichelt dargestellt, ist es dabei ohne weite¬ res möglich, die Ausgangssignalwerte A, wie mit einem weiteren Komparator 65, zu überwachen und, wie für den Satz 60c als Beispiel dargestellt, die Zeitdauer, während welcher ein Halbleitergassensorsatz ausser Betrieb gesetzt bleiben soll, nach Massgabe des mo¬ mentanen Ausgangssignalwertes zu bestimmen. M.a.W. wird ein derartiger Sensorsatz erst wieder messwirk¬ sam in Betrieb genommen, wenn sein Ausgangssignalwert den an der Schwellwerteinheit 65 festgelegten Schwellwert wieder unterschreitet.
Ein weiteres Problem, mit Halbleitergassensoren oder gegebenenfalls auch eingesetzten Strahlungshalblei- tersensoren, wie für die Infrarot-Absorptionsmessung, besteht darin, dass einerseits Zuführleitungen für das Probegas G und Gehäuseanordnungen, worin die Sen¬ soren angeordnet sind, zu spülen sind, um den Ein- fluss einer vorangehenden Messung auf eine nachfol¬ gende zu minimalisieren, dass aber anderseits derar¬ tige Halbleitersensoren auf eine SpülgasStrömung s mit einem trägen AusgangsSignal reagieren, der Art, wie sie bei A in Fig. 1 dargestellt sind. Dies würde m.a.W. bedeuten, dass, wenn derartige Halbleitersen¬ soren gespült werden, insbesondere gasgespült werden, dabei bevorzugterweise mit gereinigter Luft, sie nach einem solchen Spülzyklus ebenso lange ausser Betrieb gesetzt bleiben müssen wie nach einem Messzyklus, d.h. es müsste die Anzahl vorgesehener Halbleitersen¬ sorsätze 60 gemäss Fig. 1 zum Erhalt gleicher Durch¬ sätze verdoppelt werden.
In Fig. 2a ist qualitativ über der Zeitachse _: eine SpülgasStrömung S dargestellt, schraffiert, und, strichpunktiert, der resultierende Verlauf des Aus¬ gangssignals A an einem Halbleitergassensor. Daraus ist ersichtlich, dass erst nach Verstreichen einer Ausklingzeit, mit der TestgasZuführung G ein neuerli¬ cher Messzyklus am betrachteten Halbleitergassensor gestartet werden kann. Anzustreben wäre aber, aus zeitökonomischen Gründen, Messzyklen an Spülzyklen, und umgekehrt, zu hängen.
Gemäss Fig. 2b im Zusammenhang mit Fig. 1 wird dies nun erfindungsgemäss dadurch möglich, dass Testgas¬ strömung G und Spülgasströmung S mit Strömungsstell- organen, wie schematisch in Fig. 1 bei V und V dar-
G S gestellt, so aufeinander abgestimmt werden, dass der Halbleitergassensor eine im wesentlichen kontinuier¬ lich konstante Strömung erlebt. Dabei wird bevorzug¬ terweise die Testgasströmung durch die Strömung eines Trägergases erzeugt, worin Gas aus dem Behältnis, das der Prüfung unterworfen ist, beigemengt ist. Als Spülgas wird dann bevorzugterweise das gleiche Gas eingesetzt wie als Trägergas, beispielsweise und vor¬ zugsweise für beide trockene, gereinigte Luft. Werden ungleiche Gase zum Spülen und als Trägergas einge¬ setzt, so hat es sich gezeigt, dass durch Veränderung des Strömungsverhältnisses von Testgas G und Spülgas S der Einfluss der unterschiedlichen Gasarten in wei¬ ten Grenzen kompensiert werden kann.
In Fig. 2b sind für gleiche Träger- und Spülgase Spülzyklen S, ein Messzyklus G mit unkonta iniertem Gas, mithin Trägergas, dann ein Messzyklus G mit kon¬ taminiertem Gas schematisch dargestellt. Der Abgleich wird unter Beobachtung der Halbleiter-Ausgangssignale so vorgenommen, dass bei den sich folgenden Zyklen Spülgas/Trägergas, bzw. unkontaminiertes Testgas, im wesentlichen kein Ausgangssignal oder gegebenenfalls ein im wesentlichen zeitkonstantes AusgangsSignal an den Halbleitergassensoren erscheint, womit ermöglicht ist, im obgenannten Sinne hintereinander zu testen und zu spülen.
Die Verwendung eines Trägergases erfolgt beispiels¬ weise, wie in Fig. 3 dargestellt, indem ein Träger¬ gastank 70 mit dem Behältnis 71, auf einer Förderein¬ richtung 72 dargestellt, verbunden wird, wie über ei¬ nen Dichtanschluss 74. Mittels einer Pumpe 76 wird Trägergas mit Behältnisinhaltsgas der Messeinrich¬ tung, wie bei 78 dargestellt, zugeführt. Selbstver¬ ständlich kann auch das Wasserstrahl-Pumpprinzip aus¬ genützt werden mit dem Trägergas als Pumpgas.
Verwendung des Trägergases als Spülgas ergibt sich beispielsweise in höchst einfacher Art und Weise da¬ durch, dass ein steuerbares Umschaltventil V vorge-
GS sehen wird, mittels welchem in Spülphasen das Behält¬ nis überbrückt wird.

Claims

Patentansprüche:
1. Verfahren zur Analyse mindestens einer Gasprobe mit einer Analyseanordnung, die mindestens einen Halbleitersensor umfasst, dadurch gekennzeichnet, dass das Ausgangssignal des Sensors in der Zeit dif¬ ferenziert wird und seine zeitliche Ableitung als Analyseausgangssignal weiter verwertet wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1 zur Analyse rasch hin¬ tereinander anfallender Gasproben, dadurch gekenn¬ zeichnet, dass mindestens zwei Sätze je mit minde¬ stens einem der Sensoren vorgesehen werden und sich aufeinander folgende Gasproben sequentiell je mit ei¬ nem der Sätze analysiert werden.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass mehr als zwei Sätze vorgesehen sind.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, da¬ durch gekennzeichnet, dass, nach einer Gasprobenzu¬ führung an einen Sensor, der Sensor und die zugeord¬ neten Probenzuleitungen mit einem Gas gespült werden.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, da¬ durch gekennzeichnet, dass die Gasprobe mittels eines Trägergases dem Sensor zugeführt wird.
6. Verfahren nach den Ansprüchen 4 und 5, dadurch ge¬ kennzeichnet, dass das Trägergas sowie das Spülgas und/oder die Strömungen von Trägergas und Spülgas im Bereich des Sensors so aufeinander abgestimmt werden, dass, durch den Uebergang von Trägergas- zu Spülgas- beaufschlagung, ausgangsseitig des Sensors mindestens im wesentlichen keine Signaländerung auftritt.
7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass als Spülgas das Trägergas eingesetzt wird.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 3 bis 7, da¬ durch gekennzeichnet, dass die Analyseausgangssignale der Sätze daraufhin geprüft werden, ob sie einen vor¬ gebbaren Grenzwert überschreiten, falls- ja, der ent¬ sprechende Satz für eine gegebene, allenfalls vom Mass der Ueberschreitung abhängige Zeitspanne still¬ gesetzt wird.
9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass die AusgangsSignale der Sätze vorzugsweise vor Differenzierung daraufhin geprüft werden, ob und wann sie einen vorgebbaren Grenzwert wieder unterschrei¬ ten, und darnach der entsprechende Satz für die Ana¬ lyse freigegeben wird.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 9, da¬ durch gekennzeichnet, dass der Halbleitersensor ein Halbleitergassensor ist, der direkt auf Gaskomponen¬ ten und ihre Konzentration in der Gasprobe anspricht.
11. Verfahren nach .Anspruch 5, dadurch gekennzeich¬ net, dass als Trägergas Luft gewählt wird.
12. Analyseanordnung für Gasproben mit mindestens ei¬ nem Halbleitersensor für mindestens eine das Gas mit¬ qualifizierende Grosse, dadurch gekennzeichnet, dass der Ausgang des Sensors einer Differentiationseinheit (61) zugeführt ist, deren Ausgang (A ) einer Aus¬ werteeinheit zugeführt ist.
13. Anordnung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeich¬ net, dass mindestens zwei Sätze (60a, b) mit je min¬ destens einem der Sensoren vorgesehen sind und Zulei¬ tungen (G) für Gasproben je zu den Sätzen mit einer steuerbaren Strömungsschaltanordnung (59) , mittels welcher die Gasproben selektiv den Sätzen zuführbar sind, weiter mit einer Takteinheit (62) , die die Strömungsschaltorgane (59) so ansteuert, dass die Sätze abwechselnd mit hintereinander anfallenden Gas¬ proben beaufschlagt werden.
14. Anordnung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeich¬ net, dass mehr als zwei sequentiell beaufschlagbare Sätze (60a, b, c) vorgesehen sind.
15. Anordnung nach einem der Ansprüche 13 oder 14, dadurch gekennzeichnet, dass Zuleitungen für ein Spülgas (S) über steuerbare Umschaltorgane (59) mit den Zuleitungen für Gasproben (G) verbunden sind und dass die Takteinheit (62) nach Ansteuerung (G1) eines Strömungsschaltorganes zur Verbindung eines Satzes mit der Zuleitung für eine Gasprobe (G) diesen Satz über das zugeordnete Umschaltorgan (59) mit der Zu¬ leitung für Spülgas (S) verbindet (S').
16. Anordnung nach einem der Ansprüche 12 bis 15, da¬ durch gekennzeichnet, dass eine Trägergasquelle (70) vorgesehen ist, die mit einem Behältnis (71) für die Gasprobe und mit den Zuleitungen für die Gasprobe (G) verbunden ist.
17. Anordnung nach einem der Ansprüche 15 oder 16, dadurch gekennzeichnet, dass Strömungsstellorgane
(V , V ) in den Zuleitungen für die Gasprobe (G) und-
G S oder für das Spülgas (S) vorgesehen sind, um das
Strömungsverhältnis von Gas aus diesen Zuleitungen an einem jeweiligen Satz einzustellen.
18. Anordnung nach einem der Ansprüche 16 oder 17, dadurch gekennzeichnet, dass die Zuleitungen für das Spülgas (s) mit einer Spülgasquelle (70) verbunden sind, die dasselbe Gas wie die Trägergasquelle (70) abgibt.
19. Anordnung nach einem der Ansprüche 14 bis 18, da¬ durch gekennzeichnet, dass die Ausgänge der Differen¬ tiationseinheiten (61) der Sätze (60) auf eine schwellwertsensitive Einheit (64) geführt sind, deren Ausgang auf die Takteinheit (62) wirkt und über diese und die Strömungsschaltorgane (59) die Gasprobenzu¬ leitung zu einem Satz für eine vorgebbare Zeitspanne sperrt, falls der mindestens eine Ausgang der Diffe¬ rentiationseinheit (61) dieses Satzes den Schwellwert (64) überschreitet.
20. Anordnung nach Anspruch 19, dadurch gekennzeich¬ net, dass die Ausgänge der Sätze auf eine weitere schwellwertsensitive Einheit (65) geführt sind, wel¬ che über die Takteinheit (62) sowie die Strömungs¬ schaltorgane (59) die Gasprobenzuleitung zu einem ge¬ sperrten Satz wieder freigibt, nachdem der Ausgang dieses Satzes unter den Schwellwert der weiteren schwellwertsensitiven Einheit abgefallen ist.
21. Anordnung nach einem der Ansprüche 12 bis 20, da¬ durch gekennzeichnet, dass der Halbleitersensor ein Halbleitergassensor ist, welcher direkt auf Gaskompo¬ nenten und ihre Konzentration anspricht.
22. Testanlage mit einer Analyseanordnung nach einem der Ansprüche 12 bis 21 und einer Fördereinrichtung für in einem Strom anfallende Kunststoffflaschen, de¬ ren Innengas als Gasprobe zu analysieren ist.
23. Verwendung des Verfahrens nach einem der Ansprü¬ che 1 bis 11 bzw. der Anordnung nach einem der An¬ sprüche 12 bis 21 für die Analyse von Gasproben aus rasch hintereinander anfallenden Behältnissen.
24. Verwendung nach Anspruch 23 für die Analyse von Gasproben aus rasch hintereinander anfallenden Kunst¬ stoffflaschen vor ihrer Abfüllung mit einem Getränk.
EP92902518A 1990-12-06 1991-12-04 Verfahren zur analyse einer gasprobe, analyseanordnung, verwendungen davon und testanlage mit der genannten anordnung Ceased EP0514532A1 (de)

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