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Patentes

Número de publicaciónUSD514006 S1
Tipo de publicaciónConcesión
Número de solicitud29/174,931
Fecha de publicación31 Ene 2006
Fecha de presentación27 Ene 2003
Fecha de prioridad27 Ene 2003
Número de publicación174931, 29174931, US D514006 S1, US D514006S1, US-S1-D514006, USD514006 S1, USD514006S1
InventoresJohn Christopher Davis, Simon G. Kaar, Elizabeth A. Maloney, Mary McEvoy, Paul Steven Montgomery, Victoria Slaker
Cesionario originalJohn Christopher Davis, Kaar Simon G, Maloney Elizabeth A, Mcevoy Mary, Paul Steven Montgomery, Victoria Slaker
Enlaces externos: USPTO, Cesión de USPTO, Espacenet
Analyte test meter
US D514006 S1
Imágenes(5)
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Reclamaciones
  1. We claim the ornamental design for an analyte test meter, as shown and described.
Descripción

FIG. 1 is a perspective view of the analyte test meter, as seen from the top, rear and left sides;

FIG. 2 is a top plan view thereof;

FIG. 3 is a bottom plan view thereof;

FIG. 4 is a left side elevational view thereof;

FIG. 5 is a right side elevational view thereof;

FIG. 6 is a front elevational view thereof; and,

FIG. 7 is a rear elevational view thereof.

Clasificaciones
Clasificación de EE.UU.D10/81