WO1992010752A1 - Verfahren zur analyse einer gasprobe, analyseanordnung, verwendungen davon und testanlage mit der genannten anordnung - Google Patents

Verfahren zur analyse einer gasprobe, analyseanordnung, verwendungen davon und testanlage mit der genannten anordnung Download PDF

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WO1992010752A1
WO1992010752A1 PCT/CH1991/000244 CH9100244W WO9210752A1 WO 1992010752 A1 WO1992010752 A1 WO 1992010752A1 CH 9100244 W CH9100244 W CH 9100244W WO 9210752 A1 WO9210752 A1 WO 9210752A1
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semiconductor
analysis
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Ulrich Matter
René NUENLIST
Heinz Burtscher
Michael Mukrowsky
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Lehmann, Martin
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    • G01N2033/0081—Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00 testing material properties on manufactured objects containers; packages; bottles

Definitions

  • the present invention relates to a method according to the preamble of claim 1, an analysis arrangement according to that of claim 12 and a test facility with such an arrangement according to claim 22 and a use thereof according to claim 23.
  • Semiconductor gas sensors are known, such as those manufactured and sold by Figaro Engineering, Osaka / Japan. Such semiconductor gas sensors can be introduced extremely simply and, owing to their small volume, directly into containers with gas samples or along a flow path for gas samples from the containers, at any location, for analyzing the gas samples. The reliability aspect can be taken into account even more by providing several such semiconductor gas sensors.
  • This problem relates to the use of semiconductor gas sensors in terms of process speed opposed and is resolved when proceeding according to the wording of claim 1.
  • the analysis signal can be determined on the input side shortly after a change in gas concentration and / or substance, from the derivative mentioned.
  • a carrier gas is preferably used and, in the sense of what has been said about claim 6, according to claim 7, the carrier gas is used as the flushing gas.
  • the output signals are checked on the provided semiconductor sensor sets to determine whether they exceed a predetermined value, if so, the assigned set is not at least for the immediately following analysis used.
  • One of the further semiconductor sensor sets which is ready for measurement is then used.
  • the time derivative of the semiconductor sensor output signals is checked to determine whether it exceeds the specified value, so that here too there is no need to wait until the semiconductor sensor output signal has settled to the output signal level corresponding to the gas sample portion.
  • the following gas samples are preferably supplied to different semiconductor sensor sets, for example in order to rinse the one that has just been used, more than one is preferably used in the cases mentioned here Measurement cycle omitted until the oversaturated sentence in the sense mentioned becomes effective again, which can be determined by monitoring its output signal, according to claim 9, while the subsequent measurement cycles are carried out unimpaired on other sentences.
  • a test system according to the invention with an analysis arrangement according to the invention is specified in claim 22, in which a conveying device is provided for plastic bottles occurring in a stream as containers to and from the analysis arrangement and with which each bottle is tested in a rapid rhythm can, in contrast to spot checks, which, particularly in connection with the reuse of food containers, are not applicable for safety reasons.
  • FIG. 1 shows a signal flow / function block diagram of an analysis station according to the invention, which operates according to the method of the invention, with semiconductor sensors, in particular semiconductor gas sensors,
  • FIG. 3 schematically, the block diagram of a preferred gas sampling unit at the analysis station according to the invention.
  • the present invention relates to the problem, in particular in the case of empty containers, of examining the contamination state on the basis of gas samples.
  • plastic bottles that are incurred to be recycled there is great uncertainty as to how they were used after their emptying from their original filling, such as mineral water, fruit juices, etc.
  • bottles of this type are often used in an inappropriate manner, for example in households, e.g. for storing soapy water, pesticides, motor oil, acids, petrol, petrol etc.
  • the invention can also be used in all its aspects on containers that have already been filled.
  • the analysis technique of interest in the present context is that using semiconductor sensors, e.g. for IR absorption measurements on gas, IR semiconductor sensors or, and in particular, by means of semiconductor gas sensors which directly detect gas components on the gas sample.
  • semiconductor sensors suitable for IR absorption measurements are e.g. sold by Kohl Sensors Inc., 70W Barham Avenue, U.S.-Santa Rosa.
  • Semiconductor gas sensors that are of particular interest here are e.g. distributed by Figaro Engineering, Osaka / Japan.
  • a problem with the use of such semiconductor components is that their step response is slow. If, as with the flow of contaminated gas as a gas sample, a contamination pulse or a gas fraction pulse is generated on the input side of such a sensor, the semiconductor sensor output signal tends towards a corresponding maximum value relatively slowly, and accordingly accordingly slowly to fall off again.
  • the output signals of sets 60a, 60b or 60c shown therein are each with at least one semiconductor sensor HL in such a way that, depending on the contamination that occurs, they strive for the maximum value A, which takes a relatively long ax.
  • Measured variable A as shown in FIG. 1, is evaluated.
  • A corresponds to the resistance curve.
  • two or more such sensors or sets of such sensors are used for subsequent gas sample analyzes. This is said controls by a control unit, for example with a cyclic register 62 via control inputs G 'at flow changeover switches 59. It is preferably monitored, as with comparator units 64, whether the output signal of one of the sensors or sets has an impermissibly high value, and this one The sensor or sensor set is then switched off from the cycle for a predetermined time Z ⁇ .
  • sets 60a, b ... with at least one semiconductor sensor each are provided, which are used sequentially for subsequent gas samples G. If the output signal of a semiconductor sensor deflects above a threshold value specified on comparator units 64 or its time derivative, the corresponding sensor or sensor set is put out of operation for a predetermined number of subsequent sample gas measuring cycles.
  • FIG. 2a shows qualitatively over the time axis _: a purge gas flow S, hatched, and, dash-dotted lines, the resulting profile of the output signal A at a semiconductor gas sensor. It can be seen from this that only after a decay time has elapsed can the test gas supply G be used to start a new measurement cycle on the semiconductor gas sensor under consideration. However, the aim should be to hang measuring cycles on rinsing cycles and vice versa for reasons of time economy.
  • test gas flow G and purge gas flow S with flow control elements as shown schematically in FIG.
  • the test gas flow is preferably generated by the flow of a carrier gas, in which gas from the container which is subjected to the test is added.
  • the same gas is then preferably used as the purge gas as the carrier gas, for example and preferably for both dry, cleaned air. If different gases are used for purging and as carrier gas, it has been shown that the influence of the different gas types can be compensated within wide limits by changing the flow ratio of test gas G and purging gas S.
  • purging cycles S, a measuring cycle G with uncontacted gas, and therefore carrier gas, then a measuring cycle G with contaminated gas are schematically shown for the same carrier and purging gases.
  • the adjustment is carried out while observing the semiconductor output signals in such a way that in the subsequent cycles of purge gas / carrier gas or uncontaminated test gas, essentially no output signal or, if appropriate, an essentially time-constant output signal appears at the semiconductor gas sensors, which is made possible in the sense mentioned above to test and rinse in a row.
  • a carrier gas is used, for example, as shown in FIG. 3, by connecting a carrier gas tank 70 to the container 71, shown on a conveying device 72, as via a sealing connection 74.
  • a pump 76 becomes Carrier gas with container content gas is fed to the measuring device, as shown at 78.
  • the water jet pumping principle can also be used with the carrier gas as the pump gas.

Abstract

Zur Analyse rasch hintereinander anfallender Gasproben (G) wird diese dem Halbleitersensor (60a, b, c) zugeführt. Das Analyseverfahren wird dadurch beschleunigt, dass die Ausgangssignale der Halbleitersensoren in der Zeit (61) differenziert werden, und dass nacheinander anfallende Gasproben sequentiell (59) dem Halbleitersensor (60a bis 60c) zugeführt werden. In Zyklusphasen, in welchen den jeweiligen Halbleitersensoren (60a bis 60c) keine Gasprobe zugeführt wird, werden Zuleitungen und Gehäuse gasgespült (S), wobei durch Abstimmung des Spülgases und/oder durch Abstimmung der Strömungsverhältnisse zwischen Spülgas und Gasprobe im Halbleiterbereich die Auswirkung des Spülvorganges auf das Halbleiterausgangssignal (A) minimalisiert wird.

Description

Verfahren zur Analyse einer Gasprobe, Analyseanord¬ nung. Verwendungen davon und Testanläge mit der ge¬ nannten Anordnung
Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren nach dem Oberbegriff von Anspruch 1, eine Analyseanordnung nach demjenigen von Anspruch 12 sowie eine Testanlage mit einer solchen Anordnung nach Anspruch 22 und eine Verwendung davon nach Anspruch 23.
Es sind Halbleitergassensoren bekannt, wie beispiels¬ weise von der Firma Figaro Engineering, Osaka/Japan, hergestellt und vertrieben. Derartige Halbleitergas¬ sensoren können ausserordentlich einfach und, auf¬ grund ihres kleinen Volumens, auch direkt in Behält¬ nisse mit Gasproben eingeführt werden oder entlang eines Strömungspfades für Gasproben aus den Behält¬ nissen, an beliebigem Ort, zur Analyse der Gasproben. Dem Aspekt der Zuverlässigkeit kann durch Vorsehen mehrerer derartiger Halbleitergassensoren noch ver¬ mehrt Rechnung getragen werden.
Nun weisen Halbleitersensoren, und dabei insbesondere Halbleitergassensoren, relativ lange Schrittantwort¬ zeiten auf, d.h. wenn ihnen eingangsseitig ein Gasän¬ derungssprung auferlegt wird, ändert sich ihr Aus- gangssignal ähnlich demjenigen eines Tiefpasses und läuft relativ langsam dem entsprechenden Endwert asymptotisch entgegen.
Dieses Problem steht dem Einsatz von Halbleitergas¬ sensoren unter dem Aspekt der Verfahrensschnelligkeit entgegen und wird bei Vorgehen nach dem Wortlaut von Anspruch 1 behoben.
Da als Ausgangssignal bei derartigen Halbleitergas- sensoren üblicherweise der Ausgangswiderstand vari¬ iert, wird mithin die zeitliche Aenderung ihres Aus¬ gangswiderstandes ausgewertet.
Da die zeitliche Ableitung der Halbleitergassensor- AusgangsSignale mit dem Maximalwert des Ausgangssi¬ gnals korreliert, welchem es zustrebt, kann bereits kurz nach Auftreten einer Gaskonzentrations- und/oder -Stoffänderung eingangsseitig, aus der erwähnten Ab¬ leitung, das Analysesignal ermittelt werden.
Aus dem Vorerwähnten geht nun u.a. hervor, dass, wenn ein Halbleitergassensor eine Gaskomponente erfasst hat, die sein AusgangsSignal gegen einen neuen End¬ wert zutreibt, dieser Gassensor, wegen seines "Ge¬ dächtnisses" nurmehr mit dem Resultat vorgängig er- fasster Messungen verfälscht, eine weitere Gasprobe analysieren wird. Dies würde bedingen, dass ein vor¬ gesehener Gassensor den Verfahrenszyklus wiederum drastisch verlangsamt, weil abgewartet werden uss, bis der Einfluss einer vorangehenden Gasanalyse abge¬ klungen ist.
Dies wird bei Vorgehen nach dem Wortlaut von Anspruch 2 dadurch behoben, dass mindestens zwei Sätze je mit mindestens einem Halbleitersensor vorgesehen werden und sich folgende Gasproben abwechselnd je einem der Sensorsätze zugeführt werden, womit den einzelnen Sätzen Zeit eingeräumt wird, damit sich ihre Aus- gangssignale wieder auf einen Basiswert rückeinstel¬ len können, ohne dass dabei der Verfahrenszyklus ver¬ längert würde.
Um dabei Zuleitungen und den Halbleitersensor selbst zu reinigen, wird, dem Wortlaut von Anspruch 4 fol¬ gend, vorgeschlagen, ihn, und damit auch die Zulei¬ tungen, nach Messung, gaszuspülen. Dabei ergibt sich bei einer derartigen Gasspülung, aufgrund der Art des Spülgases und/oder seiner Strömung entlang dem Sen¬ sor, am Sensor ein ähnliches Verhalten, wie es sich einstellt bei der vorerwähnten Erfassung eines be¬ stimmten Gasanteils in der Probe. Damit würde ein solcher Gassensor durch den Spülvorgang wieder für einige Zeit für Probenmessungen unbrauchbar.
Nun wird, gemäss dem Wortlaut von Anspruch 6, vorge¬ schlagen, die Spülgasart und/oder die SpülgasStrömung derart auf die Strömung eines Trägergases für die Gasprobe abzustimmen, dass, beim Wechsel von Spülbe¬ trieb zu Messbetrieb oder umgekehrt, durch diesen Wechsel am Ausgang des Halbleitersensors eine nur mi¬ nimale Signaländerung, wenn überhaupt, in Erscheinung tritt. Damit "erlebt" der Sensor einen Wechsel von Messzyklus zu Spülzyklus bzw. umgekehrt nicht.
Dem Wortlaut von Anspruch 5 folgend, wird bevorzug¬ terweise ein Trägergas eingesetzt und, im Sinne des zu Anspruch 6 Gesagten, nach Anspruch 7, als Spülgas das Trägergas eingesetzt.
Bei den vorerwähnten Halbleitersensoren, insbesondere Halbleitergassensoren, deren "Gedächtnis"-Verhalten erläutert wurde, ergibt sich insbesondere auch dann ein Problem, wenn einer oder mehrere der vorgesehenen Halbleitersensoren einen hohen Gaspegel detektiert, der sein AusgangsSignal hochtreibt, womit ein solcher Sensor dann auch entsprechend lange Zeit benötigt, um auf seinen Ausgangswert rückzuschwingen. Damit wäre ein solcher Halbleitersensor für nachfolgende Unter¬ suchungen wiederum nicht bereit, und der Messzyklus würde entsprechend verlängert, bis der erwähnte Halb¬ leitersensor seine Messbereitschaft wieder erreicht hat.
Um dies zu verhindern, werden, dem Wortlaut von An¬ spruch 8 folgend, an den vorgesehenen Halbleitersen¬ sorsätzen die Ausgangssignale daraufhin überprüft, ob sie einen vorgegebenen Wert überschreiten, falls ja, wird der zugeordnete Satz mindestens für die unmit¬ telbar folgende Analyse nicht eingesetzt. Es wird dann einer der weiteren Halbleitersensorsätze einge¬ setzt, der messbereit ist.
Es wird die zeitliche Ableitung der Halbleitersensor- Ausgangssignale darauf geprüft, ob sie den vorgegebe¬ nen Wert übersteigt, damit auch hier nicht bis zum Einpendeln des Halbleitersensor-Ausgangssignals auf den dem Gasprobenanteil entsprechenden Ausgangssi- gnalpegel gewartet werden muss.
Da ohnehin vorzugsweise sich folgende Gasproben se¬ quentiell unterschiedlichen Halbleitersensorsätzen zugeführt werden, so beispielsweise, um zwischenzeit¬ lich den eben benützten zu spülen, wird in den hier angesprochenen Fällen bevorzugterweise mehr als ein Messzyklus ausgelassen, bis der im genannten Sinne übersättigte Satz wieder messwirksam wird, was durch¬ aus durch Ueberwachung seines Ausgangssignals festge¬ stellt werden kann, nach Anspruch 9, während die nachfolgenden Messzyklen unbeeinträchtigt auf anderen Sätzen durchgeführt werden.
Eine erfindungsgemässe Analyseanordnung ist in den Ansprüchen 12 bis 21 spezifiziert.
Eine erfindungsgemässe Testanlage mit einer erfin- dungsgemässen Analyseanordnung ist in Anspruch 22 spezifiziert, bei der eine Fördereinrichtung vorgese¬ hen ist für in einem Strom anfallende Kunststofffla¬ schen als Behältnisse zu und von der Analyseanordnung und mit welcher in raschem Rhythmus jede Flasche ge¬ testet werden kann, im Unterschied zu Stichprobenprü¬ fungen, die, insbesondere im Zusammenhang mit der Wiederverwendung von Lebensmittelbehältnissen, aus Sicherheitsgründen nicht applikabel sind.
Die Erfindung wird anschliessend beispielsweise an¬ hand von Figuren erläutert.
Es zeigen:
Fig. 1 ein Signalfluss-/Funktionsblock-Diagramm ei¬ ner nach dem erfindungsge ässen Verfahren arbeitenden, erfindungsgemässen Analysesta¬ tion mit Halbleitersensoren, insbesondere Halbleitergassensoren,
Fig. 2a das qualitative Antwortverhalten eines Halb- leitergassensors auf Spülgas-/Testgas-Zy- klen,
Fig. 2b das abgeglichene Verhalten des Halbleiter¬ gassensors,
Fig. 3 schematisch, das Blockdiagramm einer bevor¬ zugten Gasprobenentnahme-Einheit an der er¬ findungsgemässen Analysestation.
Die vorliegende Erfindung betrifft das Problem, ins¬ besondere bei leeren Behältnissen, den Kontamina¬ tionszustand anhand von Gasproben zu untersuchen. Beispielsweise bei Kunststoffflaschen, die anfallen, um wieder verwertet zu werden, besteht eine grosse Unsicherheit darüber, wie sie nach ihrer Entleerung von ihrer Originalfüllung, wie von Mineralwasser, Fruchtsäften etc., verwendet worden sind. Bekanntlich werden derartige Flaschen, beispielsweise in Haushal¬ tungen, oft artfremd eingesetzt, z.B. zum Lagern von Seifenwasser, Pflanzenschutzmitteln, Motorenöl, Säu¬ ren, Sprit, Benzin etc. Wurden solche Stoffe in den Behältnissen gelagert, die einer Wiederverwertung durch eine Neu-Originalabfüllung .zugeführt werden, so ist bei gewissen Kontaminationsstoffkategorien mit einer Geschmacksbeeinträchtigung des neu eingefüllten Originalfüllgutes zu rechnen, oder es ist ein solches Behältnis für eine Neuabfüllung nicht mehr verwertbar aus Gründen der Unverträglichkeit der Kontamination bis hin zu gesundheitlicher Schädlichkeit-
Deshalb uss ermittelt werden, ob und welche Restkon¬ taminationen in den Behältnissen vorhanden sind, um entsprechend eine Selektion vornehmen zu können zwi¬ schen Behältnissen, die für eine neuerliche Original¬ abfüllung nicht mehr verwertbar sind, solchen, die z.B. erst einer Spezialreinigung zuzuführen sind, und solchen, die bedenkenlos neu gefüllt werden können.
Da auch in gewissen Fällen das Füllgut eines Behält¬ nisses kontaminiert sein kann und dann das darüber- liegende Gas kontaminiert wird, kann die Erfindung unter all ihren Aspekten auch an bereits gefüllten Behältnissen eingesetzt werden.
Die im vorliegenden Zusammenhang interessierende Ana¬ lysetechnik ist die mittels Halbleitersensoren, z.B. für IR-Absorptionsmessungen am Gas, IR-Halbleitersen- soren oder aber, und insbesondere, mittels Halblei¬ tergassensoren, die direkt Gaskomponenten an der Gas¬ probe detektieren. Für IR-Absorptionsmessungen geeig¬ nete Halbleitersensoren werden z.B. von der Firma Kohl Sensors Inc., 70W Barham Avenue, US-Santa Rosa, vertrieben. Halbleitergassensoren, die hier insbeson¬ dere interessieren, werden z.B. von der Firma Figaro Engineering, Osaka/Japan, vertrieben.
Bei Einsatz derartiger Halbleiterbauelemente besteht ein Problem darin, dass ihre Schrittantwort langsam ist. Wird, wie beim Vorbeiströmen kontaminierten Ga¬ ses als Gasprobe, an einem solchen Sensor eingangs- seitig ein Kontaminationsimpuls bzw. ein Gasanteilim¬ puls erzeugt, so strebt das Halbleitersensor-Aus¬ gangssignal relativ träge einem entsprechenden Maxi¬ malwert zu, um darnach entsprechend langsam wieder abzufallen. Diese Probleme können auch bei anderen Messtechniken auftreten, beispielsweise bei der IR-Absorptionsmes¬ sung mit Halbleiter-IR-Sensoren, womit die nachfol¬ genden Erläuterungen auch diesbezüglich Gültigkeit haben.
Wie aus Fig. 1 ersichtlich, sind die Ausgangssignale von darin dargestellten Sätzen 60a, 60b bzw. 60c je mit mindestens einem Halbleitersensor HL derart, dass sie je nach anfallender Kontamination, entsprechend, dem Maximalwert A zustreben, was relativ lange ax dauert.
Um nun die Messzykluszeit zu verkürzen, wird ausge¬ nützt, dass die Steigung des AusgangsSignals zunimmt, wenn der angelaufene Maximalausgangssignalwert A max höher wird. Deshalb wird nicht das Sensorausgangssi¬ gnal direkt, sondern dessen zeitliche Ableitung als
Messgrösse A , wie in Fig. 1 dargestellt ist, ausge- m wertet.
Da bei Halbleitersensoren die Variable ihr Widerstand ist, entspricht A dem Widerstandsverlauf.
Wie weiter ersichtlich, ist die Zeitspanne, welche das Ausgangssignal derartiger Sensoren benötigt, um wieder seinen Ausgangswert einzunehmen, desto länger, je höher der angelaufene Maximalwert A ist. Um max nun, davon unabhängig, die Messzykluszeit trotzdem drastisch verkürzen zu können, werden, ge äss Fig. 1, zwei oder mehr derartige Sensoren bzw. Sätze derarti¬ ger Sensoren, beispielsweise zyklisch, für sich fol¬ gende Gasprobenanalysen eingesetzt. Dies wird ange- steuert durch eine Steuereinheit, z.B. mit einem zyk¬ lischen Register 62 über Steuereingänge G' an Strö¬ mungsumschaltern 59. Bevorzugterweise wird überwacht, wie mit Komparatoreinheiten 64, ob das Ausgangssignal eines der Sensoren bzw. Satzes einen unzulässig hohen Wert einnimmt, und dieser eine Sensor bzw. Sensorsatz wird dann für eine vorbestimmte Zeit Z~ aus dem Zyklus ausgeschaltet.
Mithin sind Sätze 60a, b ... mit mindestens je einem Halbleitersensor vorgesehen, welche sequentiell für sich folgende Gasproben G verwendet werden. Schlägt das Ausgangssignal eines Halbleitersensors über einen an Komparatoreinheiten 64 vorgegebenen Schwellwert aus bzw. dessen zeitliche Ableitung, so wird der ent¬ sprechende Sensor bzw. Sensorsatz für eine vorgegebe¬ ne Anzahl nachfolgender Probegas esszyklen ausser Be¬ trieb gesetzt.
Wie gestrichelt dargestellt, ist es dabei ohne weite¬ res möglich, die Ausgangssignalwerte A, wie mit einem weiteren Komparator 65, zu überwachen und, wie für den Satz 60c als Beispiel dargestellt, die Zeitdauer, während welcher ein Halbleitergassensorsatz ausser Betrieb gesetzt bleiben soll, nach Massgabe des mo¬ mentanen Ausgangssignalwertes zu bestimmen. M.a.W. wird ein derartiger Sensorsatz erst wieder messwirk¬ sam in Betrieb genommen, wenn sein Ausgangssignalwert den an der Schwellwerteinheit 65 festgelegten Schwellwert wieder unterschreitet.
Ein weiteres Problem, mit Halbleitergassensoren oder gegebenenfalls auch eingesetzten Strahlungshalblei- tersensoren, wie für die Infrarot-Absorptionsmessung, besteht darin, dass einerseits Zuführleitungen für das Probegas G und Gehäuseanordnungen, worin die Sen¬ soren angeordnet sind, zu spülen sind, um den Ein- fluss einer vorangehenden Messung auf eine nachfol¬ gende zu minimalisieren, dass aber anderseits derar¬ tige Halbleitersensoren auf eine SpülgasStrömung s mit einem trägen AusgangsSignal reagieren, der Art, wie sie bei A in Fig. 1 dargestellt sind. Dies würde m.a.W. bedeuten, dass, wenn derartige Halbleitersen¬ soren gespült werden, insbesondere gasgespült werden, dabei bevorzugterweise mit gereinigter Luft, sie nach einem solchen Spülzyklus ebenso lange ausser Betrieb gesetzt bleiben müssen wie nach einem Messzyklus, d.h. es müsste die Anzahl vorgesehener Halbleitersen¬ sorsätze 60 gemäss Fig. 1 zum Erhalt gleicher Durch¬ sätze verdoppelt werden.
In Fig. 2a ist qualitativ über der Zeitachse _: eine SpülgasStrömung S dargestellt, schraffiert, und, strichpunktiert, der resultierende Verlauf des Aus¬ gangssignals A an einem Halbleitergassensor. Daraus ist ersichtlich, dass erst nach Verstreichen einer Ausklingzeit, mit der TestgasZuführung G ein neuerli¬ cher Messzyklus am betrachteten Halbleitergassensor gestartet werden kann. Anzustreben wäre aber, aus zeitökonomischen Gründen, Messzyklen an Spülzyklen, und umgekehrt, zu hängen.
Gemäss Fig. 2b im Zusammenhang mit Fig. 1 wird dies nun erfindungsgemäss dadurch möglich, dass Testgas¬ strömung G und Spülgasströmung S mit Strömungsstell- organen, wie schematisch in Fig. 1 bei V und V dar-
G S gestellt, so aufeinander abgestimmt werden, dass der Halbleitergassensor eine im wesentlichen kontinuier¬ lich konstante Strömung erlebt. Dabei wird bevorzug¬ terweise die Testgasströmung durch die Strömung eines Trägergases erzeugt, worin Gas aus dem Behältnis, das der Prüfung unterworfen ist, beigemengt ist. Als Spülgas wird dann bevorzugterweise das gleiche Gas eingesetzt wie als Trägergas, beispielsweise und vor¬ zugsweise für beide trockene, gereinigte Luft. Werden ungleiche Gase zum Spülen und als Trägergas einge¬ setzt, so hat es sich gezeigt, dass durch Veränderung des Strömungsverhältnisses von Testgas G und Spülgas S der Einfluss der unterschiedlichen Gasarten in wei¬ ten Grenzen kompensiert werden kann.
In Fig. 2b sind für gleiche Träger- und Spülgase Spülzyklen S, ein Messzyklus G mit unkonta iniertem Gas, mithin Trägergas, dann ein Messzyklus G mit kon¬ taminiertem Gas schematisch dargestellt. Der Abgleich wird unter Beobachtung der Halbleiter-Ausgangssignale so vorgenommen, dass bei den sich folgenden Zyklen Spülgas/Trägergas, bzw. unkontaminiertes Testgas, im wesentlichen kein Ausgangssignal oder gegebenenfalls ein im wesentlichen zeitkonstantes AusgangsSignal an den Halbleitergassensoren erscheint, womit ermöglicht ist, im obgenannten Sinne hintereinander zu testen und zu spülen.
Die Verwendung eines Trägergases erfolgt beispiels¬ weise, wie in Fig. 3 dargestellt, indem ein Träger¬ gastank 70 mit dem Behältnis 71, auf einer Förderein¬ richtung 72 dargestellt, verbunden wird, wie über ei¬ nen Dichtanschluss 74. Mittels einer Pumpe 76 wird Trägergas mit Behältnisinhaltsgas der Messeinrich¬ tung, wie bei 78 dargestellt, zugeführt. Selbstver¬ ständlich kann auch das Wasserstrahl-Pumpprinzip aus¬ genützt werden mit dem Trägergas als Pumpgas.
Verwendung des Trägergases als Spülgas ergibt sich beispielsweise in höchst einfacher Art und Weise da¬ durch, dass ein steuerbares Umschaltventil V vorge-
GS sehen wird, mittels welchem in Spülphasen das Behält¬ nis überbrückt wird.

Claims

Patentansprüche:
1. Verfahren zur Analyse mindestens einer Gasprobe mit einer Analyseanordnung, die mindestens einen Halbleitersensor umfasst, dadurch gekennzeichnet, dass das Ausgangssignal des Sensors in der Zeit dif¬ ferenziert wird und seine zeitliche Ableitung als Analyseausgangssignal weiter verwertet wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1 zur Analyse rasch hin¬ tereinander anfallender Gasproben, dadurch gekenn¬ zeichnet, dass mindestens zwei Sätze je mit minde¬ stens einem der Sensoren vorgesehen werden und sich aufeinander folgende Gasproben sequentiell je mit ei¬ nem der Sätze analysiert werden.
3. Verfahren nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass mehr als zwei Sätze vorgesehen sind.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, da¬ durch gekennzeichnet, dass, nach einer Gasprobenzu¬ führung an einen Sensor, der Sensor und die zugeord¬ neten Probenzuleitungen mit einem Gas gespült werden.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, da¬ durch gekennzeichnet, dass die Gasprobe mittels eines Trägergases dem Sensor zugeführt wird.
6. Verfahren nach den Ansprüchen 4 und 5, dadurch ge¬ kennzeichnet, dass das Trägergas sowie das Spülgas und/oder die Strömungen von Trägergas und Spülgas im Bereich des Sensors so aufeinander abgestimmt werden, dass, durch den Uebergang von Trägergas- zu Spülgas- beaufschlagung, ausgangsseitig des Sensors mindestens im wesentlichen keine Signaländerung auftritt.
7. Verfahren nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass als Spülgas das Trägergas eingesetzt wird.
8. Verfahren nach einem der Ansprüche 3 bis 7, da¬ durch gekennzeichnet, dass die Analyseausgangssignale der Sätze daraufhin geprüft werden, ob sie einen vor¬ gebbaren Grenzwert überschreiten, falls- ja, der ent¬ sprechende Satz für eine gegebene, allenfalls vom Mass der Ueberschreitung abhängige Zeitspanne still¬ gesetzt wird.
9. Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, dass die AusgangsSignale der Sätze vorzugsweise vor Differenzierung daraufhin geprüft werden, ob und wann sie einen vorgebbaren Grenzwert wieder unterschrei¬ ten, und darnach der entsprechende Satz für die Ana¬ lyse freigegeben wird.
10. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 9, da¬ durch gekennzeichnet, dass der Halbleitersensor ein Halbleitergassensor ist, der direkt auf Gaskomponen¬ ten und ihre Konzentration in der Gasprobe anspricht.
11. Verfahren nach .Anspruch 5, dadurch gekennzeich¬ net, dass als Trägergas Luft gewählt wird.
12. Analyseanordnung für Gasproben mit mindestens ei¬ nem Halbleitersensor für mindestens eine das Gas mit¬ qualifizierende Grosse, dadurch gekennzeichnet, dass der Ausgang des Sensors einer Differentiationseinheit (61) zugeführt ist, deren Ausgang (A ) einer Aus¬ werteeinheit zugeführt ist.
13. Anordnung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeich¬ net, dass mindestens zwei Sätze (60a, b) mit je min¬ destens einem der Sensoren vorgesehen sind und Zulei¬ tungen (G) für Gasproben je zu den Sätzen mit einer steuerbaren Strömungsschaltanordnung (59) , mittels welcher die Gasproben selektiv den Sätzen zuführbar sind, weiter mit einer Takteinheit (62) , die die Strömungsschaltorgane (59) so ansteuert, dass die Sätze abwechselnd mit hintereinander anfallenden Gas¬ proben beaufschlagt werden.
14. Anordnung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeich¬ net, dass mehr als zwei sequentiell beaufschlagbare Sätze (60a, b, c) vorgesehen sind.
15. Anordnung nach einem der Ansprüche 13 oder 14, dadurch gekennzeichnet, dass Zuleitungen für ein Spülgas (S) über steuerbare Umschaltorgane (59) mit den Zuleitungen für Gasproben (G) verbunden sind und dass die Takteinheit (62) nach Ansteuerung (G1) eines Strömungsschaltorganes zur Verbindung eines Satzes mit der Zuleitung für eine Gasprobe (G) diesen Satz über das zugeordnete Umschaltorgan (59) mit der Zu¬ leitung für Spülgas (S) verbindet (S').
16. Anordnung nach einem der Ansprüche 12 bis 15, da¬ durch gekennzeichnet, dass eine Trägergasquelle (70) vorgesehen ist, die mit einem Behältnis (71) für die Gasprobe und mit den Zuleitungen für die Gasprobe (G) verbunden ist.
17. Anordnung nach einem der Ansprüche 15 oder 16, dadurch gekennzeichnet, dass Strömungsstellorgane
(V , V ) in den Zuleitungen für die Gasprobe (G) und-
G S oder für das Spülgas (S) vorgesehen sind, um das
Strömungsverhältnis von Gas aus diesen Zuleitungen an einem jeweiligen Satz einzustellen.
18. Anordnung nach einem der Ansprüche 16 oder 17, dadurch gekennzeichnet, dass die Zuleitungen für das Spülgas (s) mit einer Spülgasquelle (70) verbunden sind, die dasselbe Gas wie die Trägergasquelle (70) abgibt.
19. Anordnung nach einem der Ansprüche 14 bis 18, da¬ durch gekennzeichnet, dass die Ausgänge der Differen¬ tiationseinheiten (61) der Sätze (60) auf eine schwellwertsensitive Einheit (64) geführt sind, deren Ausgang auf die Takteinheit (62) wirkt und über diese und die Strömungsschaltorgane (59) die Gasprobenzu¬ leitung zu einem Satz für eine vorgebbare Zeitspanne sperrt, falls der mindestens eine Ausgang der Diffe¬ rentiationseinheit (61) dieses Satzes den Schwellwert (64) überschreitet.
20. Anordnung nach Anspruch 19, dadurch gekennzeich¬ net, dass die Ausgänge der Sätze auf eine weitere schwellwertsensitive Einheit (65) geführt sind, wel¬ che über die Takteinheit (62) sowie die Strömungs¬ schaltorgane (59) die Gasprobenzuleitung zu einem ge¬ sperrten Satz wieder freigibt, nachdem der Ausgang dieses Satzes unter den Schwellwert der weiteren schwellwertsensitiven Einheit abgefallen ist.
21. Anordnung nach einem der Ansprüche 12 bis 20, da¬ durch gekennzeichnet, dass der Halbleitersensor ein Halbleitergassensor ist, welcher direkt auf Gaskompo¬ nenten und ihre Konzentration anspricht.
22. Testanlage mit einer Analyseanordnung nach einem der Ansprüche 12 bis 21 und einer Fördereinrichtung für in einem Strom anfallende Kunststoffflaschen, de¬ ren Innengas als Gasprobe zu analysieren ist.
23. Verwendung des Verfahrens nach einem der Ansprü¬ che 1 bis 11 bzw. der Anordnung nach einem der An¬ sprüche 12 bis 21 für die Analyse von Gasproben aus rasch hintereinander anfallenden Behältnissen.
24. Verwendung nach Anspruch 23 für die Analyse von Gasproben aus rasch hintereinander anfallenden Kunst¬ stoffflaschen vor ihrer Abfüllung mit einem Getränk.
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0609709A1 (de) * 1993-01-30 1994-08-10 KHS Maschinen- und Anlagenbau Aktiengesellschaft Verfahren zur Bestimmung von Kontaminaten in Behältern

Families Citing this family (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4121429C2 (de) * 1991-06-28 1996-09-12 Krieg Gunther Verfahren und Vorrichtung zur Untersuchung von Gasphasen in Getränkeflaschen
DE4126885A1 (de) * 1991-08-14 1993-02-18 Michael Rupp Verfahren und vorrichtung zum untersuchen von behaeltnissen auf fremdstoffe
DE4205722C2 (de) * 1992-02-25 1994-07-14 Krieg Gunther Verfahren und Vorrichtung zur Identifikation und Unterscheidung zwischen Schadstoffen und Inhaltsstoffen in Behältern
US5352611A (en) * 1992-06-01 1994-10-04 The Coca-Cola Company Method and system for sampling and determining the presence of compounds in containers
FI96903C (fi) * 1993-01-12 1996-09-10 Environics Oy Menetelmä kaasun vierasainepitoisuuden määrittämiseksi ja laitteisto sitä varten
GB9316280D0 (en) * 1993-08-05 1993-09-22 Capteur Sensors & Analysers Gas sensors
DE4343058A1 (de) * 1993-12-19 1995-06-22 Robert Prof Dr Ing Massen Multisensorielle Kamera für die Qualitätssicherung
US6980381B2 (en) * 1998-09-21 2005-12-27 William F. Gray Apparatus and method for predicting failure of a disk drive
DE10146434B4 (de) * 2001-09-20 2004-08-19 Wma Airsense Analysentechnik Gmbh Vorrichtung zur Identifikation kontaminierter Behälter
US7222537B2 (en) * 2004-07-20 2007-05-29 Martin Lehmann Method of monitoring pressure of a gas species and apparatus to do so
CN100399015C (zh) * 2005-07-07 2008-07-02 中国科学院化学研究所 一种用单传感器检测气体的方法和装置
US8024133B2 (en) * 2006-11-29 2011-09-20 California Institute Of Technology System for detecting and estimating concentrations of gas or liquid analytes
JP5589351B2 (ja) * 2009-11-02 2014-09-17 パナソニック株式会社 流量計測装置
DE102011007665A1 (de) * 2011-04-19 2012-10-25 Siemens Aktiengesellschaft Detektion und Analyse von ölbasierten Kontaminanten in organischem Material
DE102012200976A1 (de) * 2012-01-24 2013-07-25 Krones Ag Qualitätskontrolle von Behälterbeschichtungen
DE102012211215A1 (de) 2012-06-28 2014-04-10 Msa Auer Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Detektion der Konzentration mindestens einer gasförmigen Zielsubstanz und Verwendung einer Vorrichtung
CN102896095B (zh) * 2012-10-30 2014-07-30 济南力诺玻璃制品有限公司 安瓿瓶在线全自动检测设备
US9743987B2 (en) 2013-03-14 2017-08-29 Board Of Regents Of The University Of Nebraska Methods, systems, and devices relating to robotic surgical devices, end effectors, and controllers
WO2015007342A1 (en) * 2013-07-19 2015-01-22 Wilco Ag Method of in-line testing devices and testing apparatus
JP6140591B2 (ja) 2013-11-21 2017-05-31 東洋エンジニアリング株式会社 蒸留装置
CN105372438B (zh) * 2015-12-02 2017-04-05 甘肃省分析测试中心 食品检测装置及其检测方法
US10329022B2 (en) 2016-10-31 2019-06-25 Honeywell International Inc. Adjustable sensor or sensor network to selectively enhance identification of select chemical species
US10722319B2 (en) 2016-12-14 2020-07-28 Virtual Incision Corporation Releasable attachment device for coupling to medical devices and related systems and methods
CN108872262A (zh) * 2018-05-08 2018-11-23 丹凤县荣毅电子有限公司 一种电子元件检测方法
DK3608667T3 (da) * 2018-11-15 2022-05-02 Holcim Technology Ltd Fremgangsmåde og indretning til at analysere prøver af en gas i en cementdrejeovn
CN112697218B (zh) * 2020-12-05 2021-08-27 中国水利水电科学研究院 一种水库库容曲线重构方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3327519A (en) * 1963-05-14 1967-06-27 Exxon Research Engineering Co Piezoelectric fluid analyzer
US3857771A (en) * 1967-02-27 1974-12-31 Beckman Instruments Inc Rate sensing batch analyzer
WO1985001351A1 (en) * 1983-09-15 1985-03-28 Paul Kevin Clifford Selective gas detection and measurement system
WO1988000862A1 (en) * 1986-08-04 1988-02-11 The Coca-Cola Company Methods of discriminating between contaminated and uncontaminated containers
EP0306307A2 (de) * 1987-09-02 1989-03-08 The Coca-Cola Company Untersuchungsprozess für Plastikbehälter

Family Cites Families (21)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3537297A (en) * 1963-12-09 1970-11-03 Phillips Petroleum Co Venting of undesired components in chromatographic analyzer
US3266292A (en) * 1964-06-08 1966-08-16 Nat Distillers Chem Corp Method for detecting volatile organic contaminants in reusable containers
US3321954A (en) * 1966-07-20 1967-05-30 Nat Distillers Chem Corp Contaminant detection apparatus
FR2353848A1 (fr) * 1975-02-18 1977-12-30 Raffinage Cie Francaise Procede de detection quantitative specifique des composes soufres et dispositifs pour la mise en oeuvre de ce procede
ZA783198B (en) * 1978-06-05 1979-09-26 Sphere Invest Improvements relating to sorting systems
DE2906864A1 (de) * 1979-02-22 1980-09-04 Draegerwerk Ag Verfahren zur bestimmung des alkoholgehaltes in der atemluft
DE2916178C2 (de) * 1979-04-21 1982-04-22 Dornier System Gmbh, 7990 Friedrichshafen Sonde zur Messung des Sauerstoffpartialdrucks in Gasen
US4312180A (en) * 1979-09-28 1982-01-26 Battelle Development Corporation Detecting particles
US4309898A (en) * 1980-06-19 1982-01-12 Phillips Petroleum Co. Signal-to-noise ratio in chromatographic analysis
JPS5766347A (en) * 1980-10-09 1982-04-22 Hitachi Ltd Detector for mixture gas
CA1199076A (en) * 1981-07-06 1986-01-07 Takeshi Tanabe Microwave heating appliance with simplified user's operation
JPS58155346A (ja) * 1982-03-10 1983-09-16 Fuigaro Giken Kk ガス検出方法
US4507558A (en) * 1983-02-22 1985-03-26 Honeywell Inc. Selective leak-detector for natural gas
DE3405292A1 (de) * 1984-02-15 1985-09-05 Eppendorf Gerätebau Netheler + Hinz GmbH, 2000 Hamburg Verfahren zum durchfuehren von probenanalysen sowie rack zur durchfuehrung des verfahrens
US4818348A (en) * 1987-05-26 1989-04-04 Transducer Research, Inc. Method and apparatus for identifying and quantifying simple and complex chemicals
US5551278A (en) * 1987-07-08 1996-09-03 Thermedics Inc. Vapor collector/desorber with non-conductive tube bundle
US5116764A (en) * 1988-07-26 1992-05-26 Raymond Annino Dual-column, dual-detector gas detector and analyzer
US5082789A (en) * 1988-08-23 1992-01-21 Simon Fraser University Bismuth molybdate gas sensor
US5268302A (en) * 1990-05-29 1993-12-07 Thermedics Inc. Selective, high speed detection of vapors with analysis of multiple GC-separated portions
FI89210C (fi) * 1990-06-08 1993-08-25 Instrumentarium Oy Foerfarande foer identifiering av gaser
US5363091A (en) * 1991-08-07 1994-11-08 Ford Motor Company Catalyst monitoring using ego sensors

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3327519A (en) * 1963-05-14 1967-06-27 Exxon Research Engineering Co Piezoelectric fluid analyzer
US3857771A (en) * 1967-02-27 1974-12-31 Beckman Instruments Inc Rate sensing batch analyzer
WO1985001351A1 (en) * 1983-09-15 1985-03-28 Paul Kevin Clifford Selective gas detection and measurement system
WO1988000862A1 (en) * 1986-08-04 1988-02-11 The Coca-Cola Company Methods of discriminating between contaminated and uncontaminated containers
EP0306307A2 (de) * 1987-09-02 1989-03-08 The Coca-Cola Company Untersuchungsprozess für Plastikbehälter

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 7, no. 278 (P-242)(1423) 10. Dezember 1983 & JP,A,58 155 346 ( FUIGARO GIKEN K.K. ) 16. September 1983 *

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0609709A1 (de) * 1993-01-30 1994-08-10 KHS Maschinen- und Anlagenbau Aktiengesellschaft Verfahren zur Bestimmung von Kontaminaten in Behältern

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ZA919596B (en) 1992-08-26
TW198749B (de) 1993-01-21
DE4038993C2 (de) 1995-07-06
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AU8914491A (en) 1992-07-08
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