Búsqueda Imágenes Maps Play YouTube Noticias Gmail Drive Más »
Iniciar sesión
Usuarios de lectores de pantalla: deben hacer clic en este enlace para utilizar el modo de accesibilidad. Este modo tiene las mismas funciones esenciales pero funciona mejor con el lector.

Patentes

  1. Búsqueda avanzada de patentes
Número de publicaciónWO1997005626 A1
Tipo de publicaciónSolicitud
Número de solicitudPCT/US1996/011354
Fecha de publicación13 Feb 1997
Fecha de presentación3 Jul 1996
Fecha de prioridad26 Jul 1995
También publicado comoDE69615568D1, DE69615568T2, EP0842516A1, EP0842516A4, EP0842516B1, US5568426, US5677879
Número de publicaciónPCT/1996/11354, PCT/US/1996/011354, PCT/US/1996/11354, PCT/US/96/011354, PCT/US/96/11354, PCT/US1996/011354, PCT/US1996/11354, PCT/US1996011354, PCT/US199611354, PCT/US96/011354, PCT/US96/11354, PCT/US96011354, PCT/US9611354, WO 1997/005626 A1, WO 1997005626 A1, WO 1997005626A1, WO 9705626 A1, WO 9705626A1, WO-A1-1997005626, WO-A1-9705626, WO1997/005626A1, WO1997005626 A1, WO1997005626A1, WO9705626 A1, WO9705626A1
InventoresFariborz F. Roohparvar, Michael S. Briner
SolicitanteMicron Quantum Devices, Inc.
Exportar citaBiBTeX, EndNote, RefMan
Enlaces externos:  Patentscope, Espacenet
Method and apparatus for performing memory cell verification on a nonvolatile memory circuit
WO 1997005626 A1
Descripción  disponible en inglés
Reclamaciones  disponible en inglés
Citas de patentes
Patente citada Fecha de presentación Fecha de publicación Solicitante Título
US5335198 *6 May 19932 Ago 1994Advanced Micro Devices, Inc.Flash EEPROM array with high endurance
US5386388 *28 Jun 199331 Ene 1995Intel CorporationSingle cell reference scheme for flash memory sensing and program state verification
US5408433 *29 Sep 199418 Abr 1995Nec CorporationNonvolatile semiconductor memory device
Otras citas
Referencia
1 *See also references of EP0842516A4
Clasificaciones
Clasificación internacionalG11C29/38, G11C16/06, G11C16/02, G11C16/34, G11C29/50, G11C29/52, G11C29/12
Clasificación cooperativaG11C29/52, G11C16/3436, G11C16/3445, G11C29/38, G11C16/3459
Clasificación europeaG11C16/34V2C, G11C16/34V4C, G11C29/52, G11C16/34V, G11C29/38
Eventos legales
FechaCódigoEventoDescripción
13 Feb 1997AKDesignated states
Kind code of ref document: A1
Designated state(s): AL AM AT AU AZ BB BG BR BY CA CH CN CZ DE DK EE ES FI GB GE HU IL IS JP KE KG KP KR KZ LK LR LS LT LU LV MD MG MK MN MW MX NO NZ PL PT RO RU SD SE SG SI SK TJ TM TR TT UA UG UZ VN AM AZ BY KG KZ MD RU TJ TM
13 Feb 1997ALDesignated countries for regional patents
Kind code of ref document: A1
Designated state(s): KE LS MW SD SZ UG AT BE CH DE DK ES FI FR GB GR IE IT LU MC NL PT SE BF BJ CF CG CI CM GA GN
17 Abr 1997DFPERequest for preliminary examination filed prior to expiration of 19th month from priority date (pct application filed before 20040101)
4 Jun 1997121Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
24 Ene 1998WWEWipo information: entry into national phase
Ref document number: 1019980700576
Country of ref document: KR
28 Ene 1998WWEWipo information: entry into national phase
Ref document number: 1996923678
Country of ref document: EP
20 May 1998WWPWipo information: published in national office
Ref document number: 1996923678
Country of ref document: EP
28 May 1998REGReference to national code
Ref country code: DE
Ref legal event code: 8642
26 Ene 1999NENPNon-entry into the national phase in:
Ref country code: CA
25 May 1999WWPWipo information: published in national office
Ref document number: 1019980700576
Country of ref document: KR
29 Jun 2000WWGWipo information: grant in national office
Ref document number: 1019980700576
Country of ref document: KR
26 Sep 2001WWGWipo information: grant in national office
Ref document number: 1996923678
Country of ref document: EP