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Patentes

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Número de publicaciónWO2002005051 A2
Tipo de publicaciónSolicitud
Número de solicitudPCT/US2001/021317
Fecha de publicación17 Ene 2002
Fecha de presentación6 Jul 2001
Fecha de prioridad10 Jul 2000
También publicado comoEP1301838A2, US6552561, US20020050834, WO2002005051A3
Número de publicaciónPCT/2001/21317, PCT/US/1/021317, PCT/US/1/21317, PCT/US/2001/021317, PCT/US/2001/21317, PCT/US1/021317, PCT/US1/21317, PCT/US1021317, PCT/US121317, PCT/US2001/021317, PCT/US2001/21317, PCT/US2001021317, PCT/US200121317, WO 0205051 A2, WO 0205051A2, WO 2002/005051 A2, WO 2002005051 A2, WO 2002005051A2, WO-A2-0205051, WO-A2-2002005051, WO0205051 A2, WO0205051A2, WO2002/005051A2, WO2002005051 A2, WO2002005051A2
InventoresDouglas S. Olsen, David Stura
SolicitanteTemptronic Corporation
Exportar citaBiBTeX, EndNote, RefMan
Enlaces externos:  Patentscope, Espacenet
Apparatus and method for controlling temperature in a wafer and a device under test using integrated temperature sensitive diode
WO 2002005051 A2
Descripción  disponible en inglés
Reclamaciones  disponible en inglés
Citada por
Patente citante Fecha de presentación Fecha de publicación Solicitante Título
WO2017155707A1 *24 Feb 201714 Sep 2017Temptronic CorporationSystem and method for temperature forcing with conductive thermal probes
CN103364032A *15 Jul 201323 Oct 2013中国科学院半导体研究所半导体发光器件或模组在线多功能测试系统及方法
US909172117 Oct 201328 Jul 2015Institute Of Semiconductors, Chinese Academy Of SciencesMulti-functional online testing system for semiconductor light-emitting devices or modules and method thereof
Clasificaciones
Clasificación internacionalG01R31/28, G05D23/20, H01L27/04, H01L21/66, H01L21/822, G01R31/26, G01R31/30
Clasificación cooperativaG05D23/1934, G01R31/2891, G05D23/20
Clasificación europeaG05D23/20G4C2
Eventos legales
FechaCódigoEventoDescripción
17 Ene 2002AKDesignated states
Kind code of ref document: A2
Designated state(s): AE AG AL AM AT AU AZ BA BB BG BR BY BZ CA CH CN CO CR CU CZ DE DK DM DZ EE ES FI GB GD GE GH GM HR HU ID IL IN IS JP KE KG KP KR KZ LC LK LR LS LT LU LV MA MD MG MK MN MW MX MZ NO NZ PL PT RO RU SD SE SG SI SK SL TJ TM TR TT TZ UA UG US UZ VN YU ZA ZW
17 Ene 2002ALDesignated countries for regional patents
Kind code of ref document: A2
Designated state(s): GH GM KE LS MW MZ SD SL SZ TZ UG ZW AM AZ BY KG KZ MD RU TJ TM AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LU MC NL PT SE TR BF BJ CF CG CI CM GA GN GW ML MR NE SN TD TG
13 Mar 2002121Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
21 Mar 2002DFPERequest for preliminary examination filed prior to expiration of 19th month from priority date (pct application filed before 20040101)
5 Feb 2003WWEWipo information: entry into national phase
Ref document number: 2001950901
Country of ref document: EP
16 Abr 2003WWPWipo information: published in national office
Ref document number: 2001950901
Country of ref document: EP
22 May 2003REGReference to national code
Ref country code: DE
Ref legal event code: 8642
9 Sep 2005WWWWipo information: withdrawn in national office
Ref document number: 2001950901
Country of ref document: EP