WO2005029675A1 - バックアップ回路 - Google Patents

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Masahiro Matsumoto
Keiji Hanzawa
Hiroyasu Sukesako
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Hitachi, Ltd.
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    • H02J9/061Circuit arrangements for emergency or stand-by power supply, e.g. for emergency lighting in which the distribution system is disconnected from the normal source and connected to a standby source with automatic change-over, e.g. UPS systems for DC powered loads

Definitions

  • the present invention relates to a backup circuit that retains information stored in a storage circuit in a digital circuit at the moment of a power interruption, and more particularly to a backup circuit that can be configured by a standard CMOS process.
  • a backup circuit including a backup capacitor is provided between a power supply terminal and a digital circuit.
  • Those with are known.
  • the backup capacitor is charged, and when the voltage is cut off from the power supply terminal during a momentary power interruption, the voltage is digitalized by the charge in the backup capacitor. The information supplied to the circuit and stored in the storage circuit is retained.
  • a diode is arranged between the power supply terminal and the backup capacitor in order to prevent the voltage charged in the backup capacitor from being externally supplied from the power supply terminal.
  • the diode power supply terminal was connected to the power supply terminal, and the power supply terminal of the diode was connected to one of the terminals of the backup capacitor. In this case, the backflow of current from the backup capacitor to the power supply terminal is prevented.
  • An object of the present invention is to provide a backup circuit which can be configured by a standard CMOS process and has a small circuit scale.
  • the present invention is arranged between a digital circuit including a storage circuit and a power supply terminal for supplying power to the digital circuit, and the digital circuit is connected to the digital circuit upon a power interruption.
  • a backup circuit having a backup capacitor for supplying an backup voltage and holding information stored in the storage circuit, wherein the power supply terminal is disposed between the power supply terminal and the backup capacitor;
  • the power When the power is normally supplied to the digital circuit, it acts as a resistor.When the power is cut off, it acts as a diode that reverses the direction from the digital circuit to the power supply terminal.
  • An element that can be configured is provided. With such a configuration, the circuit can be configured by a standard CMOS process, and the circuit scale can be reduced.
  • the element is a MOS transistor, and a gate terminal of the MOS transistor is connected to a ground potential.
  • the plurality of MOS transistors are connected in series.
  • a transition means for transitioning the digital circuit to a low power consumption state when the voltage of the power supply terminal falls below a predetermined voltage. is there.
  • the transition means is voltage detection means for detecting the voltage of the power supply terminal, and when the voltage falls below a predetermined voltage, the digital circuit is set to a standby state. It is a thing to shift.
  • the transition means is an oscillator driven by a voltage supplied from the power supply terminal, and the digital circuit is driven by a clock signal output from the oscillator. Also, when the voltage supplied from the power supply terminal reaches a predetermined voltage, oscillation is stopped.
  • a reset means for resetting the digital circuit when the voltage of the power supply terminal becomes equal to or lower than a predetermined voltage.
  • the reset means resets the digital circuit with a predetermined time delay after the voltage of the power supply terminal becomes equal to or lower than a predetermined voltage. It was done. Brief Description of Drawings
  • FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of a backup circuit according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 shows a MOS transistor used in the backup circuit according to the first embodiment of the present invention. It is sectional drawing which shows the cross-sectional structure of a disk.
  • FIG. 3 is an operation explanatory diagram of the backup circuit according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 4 is a circuit diagram showing a specific configuration of the backup circuit according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 5 is a circuit diagram showing a configuration of a backup circuit according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a block diagram showing a configuration of a digital circuit to be backed up by the backup circuit according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 1 is a circuit diagram showing a configuration of a backup circuit according to the first embodiment of the present invention.
  • the backup circuit 10 includes p-MOS transistors MOS 1 and MOS 2 connected in series, a backup capacitor C 1, a voltage detection circuit 12, and a delay circuit 14.
  • the power source terminal K1 of the MOS transistor MOS1 is connected to the power supply terminal TIN.
  • the anode terminal A1 of the MOS transistor MOS1 is connected to the power source terminal K2 of the MOS transistor MS2.
  • MOS transistor MO 3 1 of the gate terminal 0 1 is connected to a power supply terminal TGND.
  • the power supply terminal T GND is a ground potential.
  • An external power supply is connected to the power supply terminals TIN and TGND, and the voltage VI is supplied.
  • the power source terminal K 2 of the MOS transistor MOS 2 is connected to the anode terminal A 1 of the MOS transistor MOS 1.
  • Anode terminal A 2 of MOS transistor MOS 2 is connected to power supply terminal VDD of digital circuit 20.
  • the gate terminal G2 of the MOS transistor MOS 2 is connected to the power supply terminal TGND.
  • the MOS transistors M ⁇ S 1 and MOS 2 are connected in series between the power supply terminal T IN and the power supply terminal VDD of the digital circuit 20.
  • the MOS transistors MOS 1 and MOS 2 function as resistors when power is normally supplied from the outside, and the digital circuit 20 operates when the power is cut off. This element works as a diode with the direction to the power supply terminal T IN being reversed.
  • One terminal of the backup capacitor C1 is connected to a connection point between the anode terminal A2 of the MOS transistor MOS2 and the power supply terminal VDD of the digital circuit 20.
  • One terminal of the backup capacitor C1 is connected to the power supply terminal TGND.
  • the backup capacitor C1 is charged with the power supply voltage supplied from the power supply terminals T IN and TGND to the power supply terminal VDD of the digital circuit 20.
  • the voltage detection circuit 12 detects the voltage between the power supply terminals T IN and TGND, and generates a signal for shifting the digital circuit 20 to a low power state (standby state).
  • the output of the voltage detection circuit 12 is input to the standby terminal STANBY of the digital circuit 20.
  • the digital circuit 20 stops supplying power to a CPU (arithmetic unit) and the like provided therein, and the digital circuit 20 Move 0 to low power state.
  • the storage element such as the ROM inside the digital circuit 20 holds the information stored by the voltage supplied from the power supply terminal VDD of the digital circuit 20.
  • the delay circuit 14 generates a delay signal obtained by delaying the output signal of the voltage detection circuit 12.
  • the output signal of the delay circuit 14 is supplied to the reset terminal RESET of the digital circuit 20.
  • the digital circuit 20 resets the internal CPU and the like, and resumes the operation of the digital circuit 20.
  • FIG. 2 is a sectional view showing a sectional structure of an MO transistor used in the backup circuit according to the first embodiment of the present invention.
  • the same reference numerals as those in FIG. 1 indicate the same parts.
  • N-WELLm2 and m2 which are separated from each other, are arranged on the P-SUB substrate m1, and the P + diffusion m4, m5, It is configured by arranging m6, m7 and gate electrodes m8, m9, and can be easily configured by a standard CMOS process.
  • FIG. 3 is an operation explanatory diagram of the backup circuit according to the first embodiment of the present invention.
  • the MOS transistors MOS 1 and MOS 2 are normally in the ON state because the gate terminals of the MOS transistors MOS 1 and MOS 2 are connected to the ground potential. It acts as a resistor and supplies the voltage supplied to the power supply terminals TIN and TGND to the digital circuit 20 with almost no voltage drop.
  • the resistance in the ON state of one MOS transistor is 2 ⁇
  • the resistance value of the two MOS transistors MOS1 and MOS2 is 4 ⁇ .
  • the current flowing through MOS transistors MOS 1 and MOS 2 is 10 mA
  • the voltage drop at MOS transistors MOS 1 and MOS 2 is only 04V.
  • the voltage V2 supplied to the power supply terminal VDD of the digital circuit 20 is only 0, compared to the external voltage V1 supplied to the power supply terminals TIN and TGND.
  • the voltage is as low as 04 V.
  • MOS transistor MS2 does not operate as a MOS transistor.
  • + Diffusion 1117 and — £ 1 ⁇ 1113 Operates as a diode, and MOS transistor MOS 1 also operates as a diode with P + diffusion m5 and N—WELLm2.
  • the storage device of the digital circuit 20 is composed of, for example, a flip-flop or a RAM, and these storage devices can maintain information even when the power supply voltage drops to about 0.5 V.
  • the backup circuit 10 of the present embodiment Therefore, by maintaining the power supply voltage supplied to the digital circuit 20 at about 1.2 V, which is the voltage of two forward voltages of the diode, the flip-flop inside the digital circuit can be stored in the RAM. Can be maintained. This allows the digital circuit 20 to operate normally even after recovery from the momentary power interruption.
  • a storage device can maintain information even when the power supply voltage drops to about 0.5 V.
  • only one MOS transistor may be used.
  • the power supply voltage is set to about 1.2 V, and the storage device is Even if there is a variation in the information, information is maintained.
  • the diode functions as a resistor when power is normally supplied from the outside, and as a diode that reverses the direction from the digital circuit 20 to the power supply terminal TIN when power is cut off.
  • the P-MOS transistors MOS1 and MOS2, which work, are connected to the power supply terminal TIN and the power supply terminal VDD of the digital circuit 20. Since MOS transistors can be configured by a standard MOS process, they can be integrated on the same semiconductor chip as digital circuits. In addition, MOS transistors have almost no voltage drop under normal circumstances. Furthermore, at the moment of a power interruption, it functions as a diode, so that backflow from the backup capacitor in the direction of the power supply terminal can be prevented.
  • MOS transistor has been described as a p-MOS, it can be configured using an n-MOS.
  • the voltage detection circuit 12 sets the digital circuit 20 in a low power consumption state in the event of a momentary power failure, so that the backup capacitor C 1 that backs up the power supply voltage extends the time during which the power supply voltage is held. I have.
  • the delay circuit 14 outputs a delay after the delay time of the delay circuit after returning from the momentary power interruption. It is provided to supply a reset signal to the digital circuit 20. As a result, even in the case of a digital circuit that may become unstable after returning from a momentary power interruption, it can be stabilized at the time of recovery.
  • FIG. 4 is a circuit diagram showing a specific configuration of the backup circuit according to the first embodiment of the present invention.
  • the same reference numerals as those in FIG. 1 indicate the same parts.
  • an inverter MOS circuit INV 1 is used as the voltage detection circuit 12, and an inverter MOS circuit INV 2 is used as the delay circuit 14.
  • the output of the inverter M ⁇ S circuit I N V 1 changes from low level to high level when the voltage V 1 of the power supply terminals T IN and TGND becomes 0 V at time t 3 in FIG.
  • the digital circuit 20 shifts to the standby state and shifts to the low power consumption state.
  • Inverter MOS circuit INV2 delays an input signal, and a plurality of inverters are connected in series. At time t1 in FIG. 3, it is assumed that the output of the inverter MOS circuit INV1 changes from low level to high level, and the digital circuit 20 sets the input signal of the reset terminal RESET from high to low. Assuming that the internal CPU and so on are reset in the event of a change, the number of inverters in the M ⁇ ⁇ S circuit INV 2 is an even number. In the digital circuit 20 that becomes unstable when returning after a momentary power failure, the delay is delayed until the instability is resolved.
  • the delay time of a single inverter is, for example, 10 ns
  • the number of inverters connected in series is set so that the delay time required until the digital circuit 20 stabilizes can be secured. . If this delay time is long, connect a capacitor C 2 to the output of the inverter MOS circuit INV 2 as shown in the figure, and secure the delay time only for the charge time of this capacitor C 2. You can also
  • the present embodiment when the voltage supplied from the power supply terminal decreases, it is possible to prevent the backflow of the current from the backup capacitor to the power supply terminal. Moreover, it can be manufactured using the standard CMOS process. is there. Further, the circuit scale can be reduced.
  • FIG. 5 is a circuit diagram showing a configuration of a backup circuit according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 6 is a block diagram showing a configuration of a digital circuit backed up by a backup circuit according to the second embodiment of the present invention.
  • the same reference numerals as those in FIG. 1 indicate the same parts.
  • the backup circuit 1 OA includes p-MOS transistors MOS 1 and MOS 2, a backup capacitor C 1, and an oscillator 16 connected in series.
  • the operations of the p-MOS transistors MOS 1 and MOS 2 and the backup capacitor C 1 are the same as those shown in FIG.
  • the oscillator 16 operates by the voltage between the power supply terminals TIN and TGND, and outputs a clock signal from the clock terminal CLK.
  • the clock signal is supplied to a clock terminal CLK of the digital circuit 20.
  • the oscillator 16 automatically stops oscillating when the voltage across the power supply terminals TIN and TGND decreases.
  • the digital circuit 2 OA includes a program counter 21, a ROM 22, a register group 23, a computing unit 24, and an input / output circuit 25.
  • Program counter 21 manages the execution of the program by repeatedly cycling from 0 to the maximum value.
  • the ROM 22 outputs a program stored in advance according to the output of the program counter 21.
  • the program code output from the ROM 22 is sent to the register group 23, the arithmetic unit 24, and the input / output circuit 25 via the control code bus CCB.
  • the register group 23 temporarily holds data, the arithmetic unit 24 executes calculations, and the input / output circuit 25 performs input / output.
  • the exchange of data between the register group 23, the computing unit 24, and the input / output circuit 25 is performed via a data bus DB.
  • the clock signal input from the oscillator 16 in FIG. 5 is supplied to the program counter 21, the ROM 22, the register group 23, the computing unit 24, and the input / output circuit 25, respectively.
  • the digital circuit to which the operating clock is supplied from the oscillator 43 The A program counter 21, ROM 22, register group 23, computing unit 24, and I / O circuit 25 also stop operating and enter the low power consumption state.
  • the digital circuit 2 OA since the digital circuit 2 OA circulates the program counter 21 and operates the program cyclically, even if the power supply is momentarily interrupted and the program operation runs away, it always returns because it is a cyclic operation. . That is, it is possible to return without performing the reset operation.
  • the present embodiment when the voltage supplied from the power supply terminal decreases, it is possible to prevent the backflow of the current from the backup capacitor to the power supply terminal. In addition, it can be manufactured using the standard CMOS process. Further, the circuit scale can be reduced. Industrial applicability
  • the circuit can be configured by the standard CMOS process, and the circuit scale can be reduced.

Abstract

本発明の目的は、標準CMOSプロセスで構成することができ、回路規模の小さなバックアップ回路を提供することにある。バックアップ回路(10)は、記憶回路を含むデジタル回路(44)とこのデジタル回路に電源を供給する電源供給端子(TIN,TGND)との間に配置される。電源供給端子(TIN,TGND)とバックアップコンデンサ(C1)との間には、直列接続されたMOSトランジスタ(MOS1,MOS2)が配置される。MOSトランジスタ(MOS1,MOS2)は、電源供給端子に電源が正常に供給されている時には抵抗として働き、電源が遮断された時には前記デジタル回路から前記電源供給端子への方向を逆方向とするダイオードとして働く。

Description

バックアップ回路 技術分野
本発明は、 電源瞬断時にデジタル回路の中の記憶回路に記憶された情報を保持 するバックアップ回路に係り、 特に、 標準 C MO Sプロセスで構成可能なバック アップ回路に関する。
背景技術
従来のデジタル回路では、 例えば、 特開 2書 0 0 1— 3 2 7 1 0 1号公報に記載 されているように、 電源供給端子とデジタル回路との間にバックアップコンデン サからなるバックアップ回路を備えたものが知られている。 電源供給端子から電 圧が供給されているとき、 バックアップコンデンサはチャージされ、 電源瞬断時 に電源供給端子から電圧が遮断されると、 バックァップコンデンザにチャージさ れた電荷により、 電圧がデジタル回路に供給され、 記憶回路に記憶された情報を 保持するようにしている。
そして、 バックアップコンデンサにチャージされた電圧が、 電源供給端子から 外部に供給されるのを防止するために、 電源供給端子とバックアップコンデンサ との間に、 ダイオードを配置することが知られている。 ここで、 ダイオードのァ ノ一ドが電源供給端子に接続され、 ダイォ一ドの力ソードがバックアツプコンデ ンサの一方の端子に接続されることにより、 電源供給端子から供給される電圧が 低下した場合にはバックアツプコンデンザから電源供給端子への電流の逆流を防 止する。
しかしながら、 ダイオードを用いるものでは、 ダイオードとデジタル回路を同 一の L S Iチップに構成するには標準 C M〇 Sプロセスでは不可能であるため、 S O Iプロセス等の特殊なプロセスが必要となる。 このため、 デジタル回路を標 準 C MO Sプロセスで構成した場合には、 ダイオードは外部素子になるという問 題があった。 また、 ダイオードを用いる場合には、 通常動作時においてもダイォ ードが電圧降下を発生させるという問題があった。
それに対して、 ダイオードに代えて、 発振器とチャージポンプで駆動される M O Sトランジスタを用いるものも知られている。 この構成では、 電源供給端子か ら供給される電圧により発振器を駆動し、 この発振器の出力によりチャージボン プを駆動する。 また、 MO Sトランジスタのアノードが電源供給端子に接続され、 MO Sトランジス夕の力ソードがバックアツプコンデンサの一方の端子に接続さ れる。 チャージポンプの出力は、 MO Sトランジスタのゲートに供給される。 そ して、 電源供給端子から供給される電圧が低下した場合には発振器が停止し、 チ ヤージポンプから MO Sトランジスタのゲートに印加する電圧を低下させて、 M O S卜ランジス夕をオフにし、 バックアップコンデンサから電源供給端子に電流 が逆流することを防止する。 この構成では、 標準 C MO Sプロセスで構成するこ とができるので、 デジタル回路と同一半導体チップに集積化することができ、 ま た、 電圧降下もほとんど生じないものである。 発明の開示
しかしながら、 発振器とチャージポンプと MO Sトランジスタを用いるもので は、 発振器とチャージポンプを構成するために約 1 5点のトランジスタ素子が必 要であり、 素子数が多くなるため、 回路規模が大きくなるという問題があった。 本発明の目的は、 標準 C MO Sプロセスで構成することができ、 回路規模の小 さなバックアツプ回路を提供することにある。
( 1 ) 上記目的を達成するために、 本発明は、 記憶回路を含むデジタル回路と このデジタル回路に電源を供給する電源供給端子との間に配置され、 電源瞬断時 に前記デジタル回路にバックアツプ電圧を供給するバックアツプコンデンサを有 し、 前記記憶回路に記憶された情報を保持するパックアップ回路において、 前記 電源供給端子と前記バックアツプコンデンザとの間に配置され、 前記電源供給端 子に電源が正常に供給されている時には抵抗として働き、 電源が遮断された時に は前記デジタル回路から前記電源供給端子への方向を逆方向とするダイオードと して働くとともに、 標準 C MO Sプロセスで構成することができる素子を備える ようにしたものである。 かかる構成により、 標準 CMOSプロセスで構成することができ、 回路規模を 小さくし得るものとなる。
(2) 上記 (1) において、 好ましくは、 前記素子は、 MOSトランジスタで あり、 この MOSトランジスタのゲート端子がグランド電位に接続するようにし たものである。
(3) 上記 (2) において、 好ましくは、 前記 MOSトランジスタは、 複数個 直列に接続されたものである。
(4) 上記 (1) において、 好ましくは、 前記電源供給端子の電圧が予め定め られた電圧以下になった場合に前記デジタル回路を低消費電力状態に移行させる 移行手段を備えるようにしたものである。
(5) 上記 (4) において、 好ましくは、 前記移行手段は、 前記電源供給端子 の電 を検出する電圧検出手段であり、 予め定められた電圧以下になった場合に 前記デジタル回路をスタンバイ状態に移行させるものである。
(6) 上記 (4) において、 好ましくは、 前記移行手段は、 前記電源供給端子 から供給される電圧によって駆動される発振器であり、 この発振器から出力され るクロック信号により、 前記デジタル回路を駆動するとともに、 前記電源供給端 子から供給される電圧が予め定められた電圧になると、 発振を停止するものであ る。
(7) 上記 (1) において、 好ましくは、 前記電源供給端子の電圧が予め定め られた電圧以下になった場合に前記デジタル回路をリセットするリセット手段を 備えるようにしたものである。
(8) 上記 (7) において、 好ましくは、 前記リセット手段は、 前記電源供給 端子の電圧が予め定められた電圧以下になった後、 所定時間遅延して前記デジ夕 ル回路をリセットするようにしたものである。 図面の簡単な説明
図 1は、 本発明の第 1の実施形態によるバックアップ回路の構成を示す回路図で ある。
図 2は、 本発明の第 1の実施形態によるバックアップ回路に用いる MOSトラン ジス夕の断面構造を示す断面図である。
図 3は、 本発明の第 1の実施形態によるバックアップ回路の動作説明図である。 図 4は、 本発明の第 1の実施形態によるバックアップ回路の具体的な構成を示す 回路図である。
図 5は、 本発明の第 2の実施形態によるバックアツプ回路の構成を示す回路図で ある。
図 6は、 本発明の第 2の実施形態によるバックアツプ回路によってバックァップ されるデジタル回路の構成を示すプロック図である。 発明を実施するための最良の形態
以下、 図 1〜図 4を用いて、 本発明の第 1の実施形態によるバックアップ回路 の構成および動作について説明する。
最初に、 図 1を用いて、 本実施形態によるバックアップ回路の構成について説 明する。
図 1は、 本発明の第 1の実施形態によるバックアップ回路の構成を示す回路図 である。
バックアップ回路 10は、 直列に接続された p— MOSトランジスタ MOS 1, MOS 2と、 バックアップコンデンサ C 1と、 電圧検出回路 12と、 遅延回路 1 4とから構成される。
MOSトランジスタ MOS 1の力ソード端子 K1は、 電源供給端子 TINに接続 されている。 MOSトランジスタ MOS 1のアノード端子 A1は、 MOSトラン ジス夕 M〇S 2の力ソード端子 K 2に接続されている。 MOSトランジスタ MO 31のゲート端子01は、 電源供給端子 TGNDに接続されている。 電源供給端子 T GNDは接地電位である。 電源供給端子 TIN, TGNDには、 外部電源が接続され、 電 圧 VIが供給される。
MOSトランジスタ MOS 2の力ソード端子 K 2は、 MOSトランジスタ MO S 1のアノード端子 A 1に接続されている。 MOSトランジスタ MOS 2のァノ ード端子 A 2は、 デジタル回路 20の電源供給端子 VDDに接続されている。 MO Sトランジスタ MOS 2のゲート端子 G2は、 電源供給端子 TGNDに接続されてい る。 これによつ,て、 MO Sトランジスタ M〇S 1 , MO S 2は、 電源供給端子 T INと、 デジタル回路 2 0の電源供給端子 VDDの間に直列に接続されている。
直列接続された!)一 MO Sトランジスタ MO S 1, MO S 2は、 図 2を用いて 後述するように、 外部から電源が正常に供給されている時には抵抗として働き、 電源が遮断された時にはデジタル回路 2 0から電源供給端子 T INへの方向を逆方 向とするダイオードとして働く素子である。
バックアップコンデンサ C 1の一方の端子は、 MO Sトランジスタ MO S 2の アノード端子 A 2と、 デジタル回路 2 0の電源供給端子 VDDとの接続点に接続さ れている。 バックアップコンデンサ C 1の一方の端子は、 電源供給端子 TGNDに接 続されている。 バックアップコンデンサ C 1には、 電源供給端子 T IN, TGNDから デジタル回路 2 0の電源供給端子 VDDに供給される電源電圧を充電する。
電圧検出回路 1 2は、 電源供給端子 T IN, TGNDの両端電圧を検出し、 デジタル 回路 2 0を低電力状態 (スタンバイ状態) に移行させる信号を発生する。 電圧検 出回路 1 2の出力は、 デジタル回路 2 0のスタンバイ端子 STANBYに入力する。 デ ジタル回路 2 0のスタンバイ端子 STANBYの入力信号がハイレベルになると、 デジ タル回路 2 0は、 その内部に備えられている C P U (演算器) 等への電力供給を 停止して、 デジタル回路 2 0を低電力状態に移行する。 なお、 このとき、 デジ夕 ル回路 2 0の内部の R OMなどの記憶素子は、 デジタル回路 2 0の電源供給端子 VDDから供給される電圧によって記憶されている情報を保持する。
遅延回路 1 4は、 電圧検出回路 1 2の出力信号を遅延させた遅延信号を発生す る。 遅延回路 1 4の出力信号は、 デジタル回路 2 0のリセット端子 RESETに供給さ れる。 デジタル回路 2 0は、 リセット端子 RESETの入力信号がローレベルからハイ レベルに変化すると、 内部の C P U等にリセットをかけ、 デジタル回路 2 0の動 作を復帰させる。
次に、 図 2を用いて、 本実施形態によるバックアップ回路に用いる MO Sトラ ンジス夕の断面構造について説明する。
図 2は、 本発明の第 1の実施形態によるバックアツプ回路に用いる MO トラ ンジス夕の断面構造を示す断面図である。 なお、 図 1と同一符号は、 同一部分を 示している。 p— MOSトランジスタ MOS 1, MOS 2は、 P— S UB基板 m 1に互いに 分離された N— WELLm2, m2を配置し、 この N— WELLm2, m 3にそ れぞれ P+拡散 m4, m5, m6, m 7とゲート電極 m 8, m 9を配置すること により構成され、 標準 CMOSプロセスで容易に構成できるものである。
次に、 図 1および図 3を用いて、 本実施形態によるバックアップ回路の動作に ついて説明する。
図 3は、 本発明の第 1の実施形態によるバックアップ回路の動作説明図である。 図 1に示したバックアップ回路 10において、 通常時には、 MOSトランジス 夕 MOS l, MOS 2のゲート端子がグランド電位に接続されているので、 MO Sトランジスタ MOS 1, MOS 2はオン状態であるため、 微小抵抗として働き、 ほとんど電圧降下を発生させずに電源供給端子 TIN, TGNDに供給された電圧をデ ジタル回路 20に供給する。 ここで、 1個の MOSトランジスタのオン状態にお ける抵抗を 2 Ωとすると、 2個の MOSトランジスタ MOS 1, MOS 2の抵抗 値は 4Ωである。 MOSトランジスタ MOS 1, MOS 2を流れる電流を 10m Aとすると、 MOSトランジスタ MOS 1, MOS 2における電圧ドロップは、 わずか 04Vである。
したがって、 図 3に示すように、 通常時は、 電源供給端子 TIN, TGNDに供給さ れる外部電圧 V 1に対して、 デジタル回路 20の電源供給端子 VDDに供給される 電圧 V2は、 わずか 0. 04 V程度低い電圧である。
一方、 電源瞬断時には、 MOSトランジスタ M〇S 2は、 MOSトランジスタ としての動作はせず、 ?+拡散1117と — £1^ 1113にょりダィォードとして 動作し、 MOSトランジスタ MOS 1も P+拡散 m5と N— WELLm2により ダイオードとして動作する。
このため、 図 3に示すように、 時刻 t 1において電源瞬断となると、 電源供給 端子 TIN, TGNDの電圧 V 1が 0Vになっても、 デジタル回路 20に供給される電 圧 V 2はダイオードの順方向電圧 Vdの 2個分の電圧 2 Vd (約 1. 2 V) が維 持される。 一般にデジタル回路 20の記憶装置は、 例えばフリップフロップや R AMから構成され、 これらの記憶装置は、 電源電圧が 0. 5 V程度まで低下して も情報を維持することができる。 つまり、 本実施形態のバックアップ回路 10に よって、 デジタル回路 20に供給する電源電圧をダイオードの順方向電圧 2個分 の電圧である約 1. 2 Vに維持させておくことで、 デジタル回路内部にあるフリ ップフ口ップゃ RAMの情報を維持させることができる。 このことにより、 電源 瞬断の回復後もデジタル回路 20を正常に動作させることができるようになる。 なお、 一般的に記憶装置は電源電圧が 0. 5 V程度まで低下しても情報を維持 できるものであり、 そのためには、 MOSトランジスタは 1個だけ用いるように してもよいものである。 ただし、 記憶装置は、 製造時のばらつきにより情報を維 持できる電圧にもばらつきがあるため、 本実施形態では、 MOSトランジスタを 2個直列接続して、 電源電圧を約 1. 2Vとして、 記憶装置にばらつきがあって も情報が維持できるようにしている。
以上説明したように、 本実施形態では、 外部から電源が正常に供給されている 時には抵抗として働き、 電源が遮断された時にはデジタル回路 20から電源供給 端子 TINへの方向を逆方向とするダイオードとして働く素子である P—MOSト ランジス夕 MOS 1, MOS 2を、 電源供給端子 TINとデジタル回路 20の電源 供給端子 VDDに接続している。 MOSトランジスタは、 標準 MOSプロセスによ つて構成することができるため、 デジタル回路と同一半導体チップに集積化する ことができる。 また、 MOSトランジスタは、 通常時には電圧降下もほとんど生 じないものである。 さらに、 電源瞬断時には、 ダイオードとして機能するため、 バックァップコンデンザから電源供給端子方向への逆流を防止することができる。 また、 2個の MOSトランジスタを用いるだけであるため、 発振器とチャージポ ンプと MOSトランジスタを用いる従来のものに比べて、 発振器とチャージボン プが不要になり、 MOSトランジスタが 1個追加されるだけであるため、 素子数 を少なくでき、 結果として、 回路規模は約 1/2にすることができる。
なお、 MOSトランジスタは、 p— MOSとして説明したが、 n—MOSを用 いて構成することも可能である。
また、 電圧検出回路 12は、 電源瞬断時に、 デジタル回路 20を低消費電力状 態にするようにして、 電源電圧をバックアップするバックアップコンデンサ C 1 が電源電圧を保持する時間を長くするようにしている。
また、 遅延回路 14は、 電源瞬断からの復帰後に遅延回路の遅延時間後に、 デ ジタル回路 2 0にリセット信号を供給するようにするために設けられている。 こ れによって、 電源瞬断からの復帰後不安定になる恐れのあるデジタル回路の場合 にも、 復帰時に安定化することができる。
次に、 図 4を用いて、 本実施形態によるバックアップ回路の具体的な構成につ いて説明する。
図 4は、 本発明の第 1の実施形態によるバックアップ回路の具体的な構成を示 す回路図である。 なお、 図 1と同一符号は、 同一部分を示している。
図 4においては、 電圧検出回路 1 2として、 インバー夕 MO S回路 I N V 1を 用い、 遅延回路 1 4として、 インバー夕 MO S回路 I N V 2を用いている。 イン バ一タ M〇 S回路 I N V 1の出力は、 図 3の時刻 t 3において、 電源供給端子 T IN, TGNDの電圧 V 1が 0 Vになったとき、 ローレベルからハイレベルに変化する。 ィンバータ MO S回路 I N V 1の出力がハイレベルになることにより、 デジタル 回路 2 0は、 スタンバイ状態に移行して、 低消費電力状態に移行する。
インバー夕 MO S回路 I N V 2は、 入力信号を遅延させるものであり、 複数の インバー夕が直列接続されている。 図 3の時刻 t 1において、 インバ一タ MO S 回路 I N V 1の出力がローレベルからハイレベルに変化するものとし、 デジタル 回路 2 0は、 リセット端子 RESETの入力信号が口一レベルからハイレベルに変化し た場合に、 内部の C P U等にリセットをかけるものとすると、 インバー夕 M〇S 回路 I N V 2を構成するインバー夕の個数は、 偶数個とする。 電源瞬断後からの 復帰時に不安定になるデジタル回路 2 0においては、 この不安定さが解消される までの時間だけ遅延させる。 単一のインバ一夕による遅延時間が、 例えば、 1 0 n sとすると、 デジタル回路 2 0の安定化まで必要とされる遅延時間が確保でき るように、 直列接続するインバー夕の個数を設定する。 また、 この遅延時間が長 い場合には、 図示するように、 インバー夕 MO S回路 I N V 2の出力にコンデン サ C 2を接続し、 このコンデンサ C 2のチャージ時間だけ、 遅延時間を確保する ようにすることもできる。
以上説明したように、 本実施形態によれば、 電源供給端子から供給される電圧 が低下した場合にはバックアツプコンデンザから電源供給端子への電流の逆流を 防止することができる。 しかも、 標準 C MO Sプロセスで製造することが可能で ある。 さらに、 回路規模を小さくすることが可能である。
次に、 図 5および図 6を用いて、 本発明の第 2の実施形態によるバックアップ 回路の構成および動作について説明する。
図 5は、 本発明の第 2の実施形態によるバックアップ回路の構成を示す回路図 である。 図 6は、 本発明の第 2の実施形態によるバックアップ回路によってバッ クアップされるデジタル回路の構成を示すブロック図である。 なお、 図 5におい て、 図 1と同一符号は、 同一部分を示している。
図 5において、 バックアップ回路 1 OAは、 直列に接続された p—MOSトラ ンジス夕 MOS 1, MOS 2と、 バックアップコンデンサ C 1と、 発振器 16と から構成される。 p—MOSトランジスタ MOS 1, MOS 2および、 バックァ ップコンデンサ C 1の動作は、 図 1に示したものと同様である。
発振器 16は、 電源供給端子 TIN, TGNDの両端電圧によって動作し、 クロック 端子 CLKからクロック信号を出力する。 クロック信号は、 デジタル回路 20のクロ ック端子 CLKに供給される。 発振器 16は、 電源供給端子 TIN, TGNDの両端電圧 が低下すると、 発振を自動的に停止する。
図 6において、 デジタル回路 2 OAは、 プログラムカウンタ 21と、 ROM 2 2と、 レジスタ群 23と、 演算器 24と、 入出力回路 25とから構成される。 プ ログラムカウン夕 21は、 0から最大値までを繰り返し巡回しプログラムの実行 を管理する。 ROM 22は、 プログラムカウンタ 21の出力に応じて予め格納さ れたプログラムを出力する。 ROM22から出力されるプログラムコードは、 制 御コードバス CCBを介して、 レジスタ群 23, 演算器 24, 入出力回路 25に 送られる。 レジス夕群 23は一時的にデータを保持するものであり、 演算器 24 は演算を実行するものであり、 入出力回路 25は入出力を行うものである。 なお、 レジス夕群 23と演算器 24と入出力回路 25の間のデータのやり取りは、 デ一 夕バス DBを介して行われる。
図 5の発振器 16から入力したクロック信号は、 それぞれ、 プログラムカウン 夕 21, ROM22, レジスタ群 23, 演算器 24, 入出力回路 25に供給され ている。 電源供給端子 TIN, TGNDの両端電圧が低下して、 発振器 43が発振を自 動的に停止すると、 発振器 43から動作クロックを供給されるデジタル回路 20 Aのプログラムカウンタ 2 1, R OM 2 2 , レジスタ群 2 3 , 演算器 2 4, 入出 力回路 2 5も動作停止して、 低消費電力状態になる。
また、 デジタル回路 2 O Aは、 プログラムカウンタ 2 1を巡回させて、 プログ ラムを巡回動作させるものであるため、 電源が瞬断してプログラム動作が暴走し ても巡回動作であるために必ず復帰する。 すなわち、 リセット動作を行うことな く、 復帰することができる。
以上説明したように、 本実施形態によれば、 電源供給端子から供給される電圧 が低下した場合にはバックアツプコンデンサから電源供給端子への電流の逆流を 防止することができる。 しかも、 標準 C MO Sプロセスで製造することが可能で ある。 さらに、 回路規模を小さくすることが可能である。 産業上の利用可能性
本発明によれば、 標準 C MO Sプロセスで構成することができ、 回路規模を小 さくすることができる。

Claims

請求の範囲
1 . 記憶回路を含むデジタル回路(20)とこのデジタル回路に電源を供給する電源 供給端子 (TIN,TGND)との間に配置され、 電源瞬断時に前記デジタル回路にバック ァップ電圧を供給するバックアツプコンデンサ (C1)を有し、 前記記憶回路に記憶 された情報を保持するバックアップ回路において、
前記電源供給端子 (TIN, TGND)と前記バックアップコンデンサ (C1)との間に配置 され、 前記電源供給端子に電源が正常に供給されている時には抵抗として働き、 電源が遮断された時には前記デジタル回路から前記電源供給端子への方向を逆方 向とするダイオードとして働くとともに、 標準 C MO Sプロセスで構成すること ができる素子 (M0S1 , M0S2)を備えたことを特徴とするバックアップ回路。
2 . 請求項 1記載のバックアップ回路において、
前記素子は、 MO Sトランジスタ(M0S1,M0S2)であり、
この M O Sトランジスタのゲート端子 (G1,G2)がグランド電位に接続されること を特徴とするバックアップ回路。
3 . 請求項 2記載のバックアップ回路において、
前記 M O Sトランジスタ(M0S1,M0S2)は、 複数個直列に接続されたことを特徴と するバックアップ回路。
4 . 請求項 1記載のバックアップ回路において、 さらに、
前記電源供給端子の電圧が予め定められた電圧以下になった場合に前記デジ夕 ル回路を低消費電力状態に移行させる移行手段(12)を備えたことを特徴とするバ ックアツプ回路。
5 . 請求項 4記載のバックアップ回路において、
前記移行手段(12)は、 前記電源供給端子の電圧を検出する電圧検出手段であり、 予め定められた電圧以下になった場合に前記デジタル回路をスタンバイ状態に移 行させることを特徴とするバックアツプ回路。
6 . 請求項 4記載のバックアップ回路において、
前記移行手段 α 2)は、 前記電源供給端子から供給される電圧によって駆動され る発振器であり、 この発振器から出力されるクロック信号により、 前記デジタル 回路を駆動するとともに、 前記電源供給端子から供給される電圧が予め定められ た電圧になると、 発振を停止することを特徴とするバックアップ回路。
7 . 請求項 1記載のバックアップ回路において、 さらに、
前記電源供給端子の電圧が予め定められた電圧以下になった場合に前記デジ夕 ル回路をリセッ卜するリセット手段(14)を備えたことを特徴とするバックアップ 回路。
8 . 請求項 7記載のバックアップ回路において、
前記リセット手段(14)は、 前記電源供給端子の電圧が予め定められた電圧以下 になった後、 所定時間遅延して前記デジタル回路をリセッ卜することを特徴とす るバックアップ回路。
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